一種檢測器件有無鍍層的方法

2023-05-27 00:30:41 1

專利名稱：一種檢測器件有無鍍層的方法
技術領域：
本發 明涉及材料的成份分析技術領域。
背景技術：
在金屬或者其他材料製件的表面附有一層金屬膜的鍍層，可以起到防止腐蝕，提高機械性能，增進美觀等作用。在檢測器件表面是否有金屬鍍層時，常用的方法是先做切片，然後用光學顯微鏡觀察器件表面是否有鍍層，但該方法對鍍層較厚的比較容易分辨，對於鍍層小於2微米的就很難分辨出有無鍍層。因此，如何快速準確分辨出器件表面是否有鍍層成為材料成份分析領域亟待解決的問題。

發明內容
為解決現有技術很難分辨出器件表面是否有小於2微米的鍍層的問題，本發明提供以下技術方案
一種檢測器件有無鍍層的方法，該方法包括以下步驟
A、使用掃描電鏡和能譜儀對器件的表面元素進行成份分析；
B、將器件的表層去除，使用俄歇電子能譜儀對器件的基材元素成份進行分析；
C、比較器件表面元素成份和基材的元素成份，如果器件表面的元素成份和基材的元素成份相同，則說明沒有鍍層，否則說明有鍍層。作為本發明的一種優選方案，所述步驟A分析得到器件表面元素的種類及其含量百分比。作為本發明的另一種優選方案，所述步驟B分析得到器件基材元素的種類及其含
量百分比。本發明有如下優點本發明方法操作步驟少，操作簡便，可快速準確判斷出器件表面是否有鍍層。


圖1本發明表面成份分析能譜圖。
具體實施例方式
下面對該工藝實施例作詳細闡述，以使本發明的優點和特徵能更易於被本領域技術人員理解，從而對本發明的保護範圍作出更為清楚明確的界定。本實施例對某種金屬器件是否存在鍍層進行檢測，具體檢測步驟如下
A、使用掃描電鏡和能譜儀對器件的表面元素進行成份分析，得到能譜圖如圖1所示， 各元素成份及含量如表一；
權利要求
1.一種檢測器件有無鍍層的方法，其特徵在於該方法包括以下步驟A、使用掃描電鏡和能譜儀對器件的表面元素進行成份分析；B、將器件的表層去除，使用俄歇電子能譜儀對器件的基材元素成份進行分析；C、比較器件表面元素成份和基材的元素成份，如果器件表面的元素成份和基材的元素成份相同，則說明沒有鍍層，否則說明有鍍層。
2.根據權利要求1所述的一種檢測器件有無鍍層的方法，其特徵在於所述步驟A分析得到器件表面元素的種類及其含量百分比。
3.根據權利要求1所述的一種檢測器件有無鍍層的方法，其特徵在於所述步驟B分析得到器件基材元素的種類及其含量百分比。
全文摘要
本發明提供了一種檢測器件有無鍍層的方法，該方法包括以下步驟A、使用掃描電鏡和能譜儀對器件的表面元素進行成份分析；B、將器件的表層去除，使用俄歇電子能譜儀對器件的基材元素成份進行分析；C、比較器件表面元素成份和基材的元素成份，如果器件表面的元素成份和基材的元素成份相同，則說明沒有鍍層，否則說明有鍍層。本發明有如下優點本發明方法操作步驟少，操作簡便，可快速準確判斷出器件表面是否有鍍層。
文檔編號G01V9/00GK102323625SQ20111025165
公開日2012年1月18日 申請日期2011年8月30日 優先權日2011年8月30日
發明者閆武傑 申請人:上海華碧檢測技術有限公司