一種微型飛針測試頭的製作方法

2023-07-03 12:52:21 4

本實用新型涉及飛針測試裝置，特別涉及一種微型飛針測試頭。

背景技術：

飛針測試機是針對元件布置高密度、層數多、布線密度大、測點距離小的 PCB 板 （印刷電路板）進行測試的一種儀器，主要測試線路板的絕緣和導通值。測試儀一般採用「真 值比較定位法」，能對測試過程和故障點進行實時監控，保證測試的準確性。飛針測試機具 有精細節距，不受網格限制，測試靈活，速度快等特點。現有測試針上連接線容易被勾斷，測試針的彈性不足易損傷。

技術實現要素：

針對現有技術的不足，本實用新型的目的是提供一種微型飛針測試頭。

本實用新型解決其技術問題所採用的技術方案是：一種微型飛針測試頭，包括主體、設置在所述主體上的後接板塊、設置在所述主體上的探頭組件，所述探頭組件包括設置在所述主體頭部兩側的擋塊、設置在所述擋塊上且向上延伸的支架、設置在所述支架頂部且向前延伸的探針本體，所述支架包括底座、設置在所述底座前後兩側且向上延伸的立柱、連接立柱頂端的針座，所述針座與立柱連接處的前後設有弧形缺口，所述立柱與所述底座連接處前後設有弧形缺口，所述擋塊上設有延伸至立柱之間的限位爪，兩個所述支架組成開口向下的「八」字狀，即所述支架頂部之間距離小於所述支架底部之間距離，所述主體俯視圖為T形，所述主體兩側為斜面，所述擋塊與所述斜面貼合。

上述設計中僅通過T形的主體有效減小測試頭的體積及重量，結構簡單，支架組成開口向下的「八」字狀防止探針本體相互幹涉，提高測試精度。

作為本設計的進一步改進，所述限位爪位於所述立柱高度的1/2處，有效對立柱限位，保證探針本體測試的準確性。

作為本設計的進一步改進，所述後接板塊一端與所述主體頂面連接，進一步縮小所述主體的體積。

作為本設計的進一步改進，所述針座設有放置所述探針本體的放置槽，所述針座上設有連通所述放置槽的連接孔，便於安裝探針本體且探針本體電連接的穩定性。

作為本設計的進一步改進，前方所述立柱長度較後方所述立柱長，便於支架以確定路徑變形，防止探針本體劃傷PCB板。

作為本設計的進一步改進，所述支架之間的夾角為45°，進一步防止探針本體之間幹涉。

本實用新型的有益效果是：本實用新型通過T形的主體有效減小測試頭的體積及重量，結構簡單，支架組成開口向下的「八」字狀防止探針本體相互幹涉，提高測試精度。

附圖說明

下面結合附圖和實施例對本實用新型進一步說明。

圖1是本實用新型的立體結構示意圖。

在圖中1.主體，2.後接板塊，3.擋塊，4.支架，5.底座，6.弧形缺口，7.立柱，8.限位爪，9.探針本體，10.連接孔，11.針座，12.斜面，13.放置槽。

具體實施方式

下面將結合附圖以及具體實施例來詳細說明本實用新型，其中的示意性實施例以及說明僅用來解釋本實用新型，但並不作為對本實用新型的限定。

實施例：一種微型飛針測試頭，包括主體1、設置在所述主體1上的後接板塊2、設置在所述主體1上的探頭組件，所述探頭組件包括設置在所述主體1頭部兩側的擋塊3、設置在所述擋塊3上且向上延伸的支架4、設置在所述支架4頂部且向前延伸的探針本體9，所述支架4包括底座5、設置在所述底座5前後兩側且向上延伸的立柱7、連接立柱7頂端的針座11，所述針座11與立柱7連接處的前後設有弧形缺口6，所述立柱7與所述底座5連接處前後設有弧形缺口6，所述擋塊3上設有延伸至立柱7之間的限位爪8，兩個所述支架4組成開口向下的「八」字狀，即所述支架4頂部之間距離小於所述支架4底部之間距離，所述主體1俯視圖為T形，所述主體1兩側為斜面12，所述擋塊3與所述斜面12貼合。

上述設計中僅通過T形的主體1有效減小測試頭的體積及重量，結構簡單，支架4組成開口向下的「八」字狀防止探針本體9相互幹涉，提高測試精度。

作為本設計的進一步改進，所述限位爪8位於所述立柱7高度的1/2處，有效對立柱7限位，保證探針本體9測試的準確性。

作為本設計的進一步改進，所述後接板塊2一端與所述主體1頂面連接，進一步縮小所述主體1的體積。

作為本設計的進一步改進，所述針座11設有放置所述探針本體9的放置槽13，所述針座11上設有連通所述放置槽13的連接孔10，便於安裝探針本體9且探針本體9電連接的穩定性。

作為本設計的進一步改進，前方所述立柱7長度較後方所述立柱7長，便於支架4以確定路徑變形，防止探針本體9劃傷PCB板。

作為本設計的進一步改進，所述支架4之間的夾角為45°，進一步防止探針本體9之間幹涉。

以上所述僅為本實用新型的實施例，並非因此限制本實用新型的專利範圍，凡是利用本實用新型說明書及附圖內容所作的等效結構或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關的技術領域，均同理包括在本實用新型的專利保護範圍內。