電路板測試線的製作方法
2023-06-12 16:19:06 1
專利名稱：電路板測試線的製作方法
技術領域：
本發明有關一種電路板測試線。
電腦及電子產業已成為我國的主力產業，就現況而言，我國的電子產業的製造技術已達到世界級的水準，而使我國成為最大的電腦及電子產品的輸出國，也奠定我國電腦及電子產業的技術基礎，在技術基礎落實後，品質管制成為極為重要的一環，而於電子產品的主機板領域中，測試工作的精確與否是與所述電子產品的品質有著息息相關的關係。
煩請參閱
圖1所示，在一般測試主機板1的方法中，主機板1的多餘板邊2上纏繞特定長度的測試線(coupon)3，測試線3的測試端35可供一時域分析儀4通過一測試棒45連接來測試所述主機板1的特性阻抗，但若主機板1的面積太小而導致測試線3的繞線長度不足，則無法實施所述方法，一般主機板製造廠商於是利用另一種加大多餘板邊2的方法來實施，該方法是於主機板1的剩餘不用的多餘板邊2以單面來纏繞數圈的測試線3，藉以加長測試線3的長度以達到可測試的標準，以此種方式旋繞的測試線存在極大的缺點，一為浪費主機板1的板材，而使生產的成本增加；另一為測試線3纏繞軌跡的空間不足，有可能於測量的過程中影響測試的結果，因此，急待從事行業者克服將此種測試線的缺點。
基於解決以上所述現有技術的缺點，本發明的主要目的在於提供一種電路板測試線，它可減少必須的電路板板材的面積而可節約生產的成本，但能滿足測試儀器所需要的測試長度，而使所述電路板的阻抗特性可得到精確的測量。
為實現上述目的，本發明的電路板測試線，它纏繞數圈於電路板周圍的多餘板邊上，其特點是所述多餘邊板上穿鑿至少一個的透孔，所述測試線纏繞於所述多餘邊板的正、反二面，以達到一測試儀器所需要的測試長度。
藉助上述的結構，由於測試纏繞多餘板邊的正、反二面只利用到一測試線直徑寬度來纏繞多餘板邊即可達到可作精確測試阻抗的長度，而比較起傳統的以多餘板邊單面纏繞測試線而言，可節省二至三倍的多餘板邊的面積，因此同時也節省了不少的電路板的多餘板邊的板材，從而達到節省生產成本的目的，另一方面可有效克服現有技術的測試線並列纏繞所造成軌跡空間不足而有可能於測量的過程中影響測試結果的缺點，而本發明可獲得良好的測試阻抗特性的效果。
為更清楚理解本發明的目的、特點和優點，下面將結合附圖對本發明的較佳實施例進行詳細說明。
圖1是具有現有技術繞線方式的電路板測試線的結構示意圖；圖2是具有本發明繞線方式的電路板測試線的較佳實施例的結構示意圖。
本發明是提出一種電路板測試線，它纏繞於所述電路板的正、反二面以達到配合測試儀器所需要的測試線的測試長度。
請參閱圖2所示為本發明的電路板測試線繞線結構的較佳實施例示意圖。它是於一個人數字助理(PDA)電路板5的周圍設置有多餘板邊6，於多餘板邊6的適當處穿鑿有一透孔61，所述透孔61可使一測試線(coupon)7由多餘板邊6的前方穿置於其中，並繞線至多餘板邊6的後方，而測試線7的另一端的測試端75可供一測試儀器8通過一測試棒85進行一連接測試，所述測試儀器可為一時域反射分析儀(Tlme Domaln Reflector)或者是一網絡分析器(Network Analysis)，皆可將電路板5的阻抗特性通過測試求出。
藉助上述的結構，測試線7於纏繞多餘板邊6的正、反二面時，只利用到一測試線直徑寬度來纏繞多餘板邊6，(多餘板邊6的單面長度大於十公分，以測試線7纏繞多餘板邊6的正、反二面時，約可使測試線7的測試長度達到十六公分以上)，即可達到可作精確測試阻抗的長度(一般測試線的長度需在十五公分以上)，而比較起傳統的以多餘板邊單面纏繞測試線而言，可節省二至三倍的多餘板邊的面積，因此同時也節省了不少的電路板5的多餘板邊6的板材，而達到節省生產成本的目的，另一方面來說可有效克服現有技術的測試線並列纏繞所造成軌跡空間不足而有可能於測量的過程中影響測試結果的缺點，而本發明可獲得良好的測試阻抗特性的效果。
本發明已通過較佳實施例進行了詳細說明以清楚揭示本發明的結構特點，顯然本發明的應用範圍不僅限於個人數位助理(PDA)的電路板測量，其更可擴大應用於一般電腦、筆記本電腦以及其他電子產品的電路板，可達到同等的功效。
上述僅為本發明的較佳實施例而已，並非用於限定本發明的範圍，凡是熟悉本技術的人員在不違背本發明的精神的前提下還可作出種種的等效變化和等效替換，這些等效變化和等效替換皆應包括在本發明申請的專利保護範圍內。
權利要求
1.一種電路板測試線，它纏繞數圈於電路板周圍的多餘板邊上，其特徵在於所述多餘邊板上穿鑿至少一個的透孔，所述測試線纏繞於所述多餘邊板的正、反二面，以達到一測試儀器所需要的測試長度。
2.如權利要求1所述的電路板測試線，其特徵在於，所述測試儀器為一時域反射分析儀。
3.如權利要求1所述的電路板測試線，其特徵在於，所述測試儀器為一網絡分析器。
全文摘要
一種電路板測試線，它纏繞數圈於電路板周圍的多餘板邊上，其特點是多餘邊板上穿鑿至少一個的透孔，測試線纏繞於多餘邊板的正、反二面，以達到一測試儀器所需要的測試長度。藉助上述的結構，可大大節省多餘板邊的面積而節省了不少的電路板的多餘板邊的板材，從而大大節省生產成本，並可有效克服現有技術的測試線並列纏繞所造成軌跡空間不足而有可能於測量的過程中影響測試結果的缺點，因此本發明可獲得良好的測試阻抗特性的效果。
文檔編號G06F11/00GK1393697SQ0112265
公開日2003年1月29日 申請日期2001年6月27日 優先權日2001年6月27日
發明者楊志祥 申請人:神達電腦股份有限公司