一種用於離子遷移譜進樣器的進樣薄片的製作方法

2023-07-19 14:51:31 2

一種用於離子遷移譜進樣器的進樣薄片的製作方法
【專利摘要】一種用於離子遷移譜進樣器的進樣薄片，由片狀薄片和凹槽構成；凹槽可以為進樣薄片表面上方凸起一個凹槽形狀；凹槽也可以為進樣薄片表面下方深陷加工一個凹槽形狀；還可以為進樣薄片加工一個通孔，然後在通孔一端使用一種膠粘在通孔一側，另一側形成一個深陷的凹槽形狀。凹槽底部加工成非光滑表面，可以滿足液體樣品平鋪於取樣薄片凹槽內，與熱解析進樣器聯用。此組件用做離子遷移譜進樣器進樣組件，適用於固體或液體樣品的進樣分析。
【專利說明】一種用於離子遷移譜進樣器的進樣薄片
【技術領域】
[0001 ] 本實用新型應用於離子遷移譜熱解析進樣器進樣組件，適用於固體或液體樣品的進樣分析。
【背景技術】
[0002]離子遷移譜(1n Mobility Spectrometry, IMS)技術20世紀70年代出現的一種分離檢測技術，與傳統的質譜、色譜儀器相比，具有結構簡單，靈敏度高，分析速度快，結果可靠的特點。
[0003]熱解析進樣器是用於多功能離子遷移譜快速檢測儀中的必備部件，它的性能好壞，直接決定了進樣效率和離子遷移譜的整體性能。其加熱都是通過加熱棒溫控加熱，加熱溫度屬於恆溫控制模式，加熱時間依據加熱棒功率不同有差異。
[0004]用於熱解析進樣器的進樣薄片目前沒有商品化儀器，各研究單位都是根據不同儀器的使用要求，不斷設計改進新的進樣薄片。例如專利申請號ZL201220716604.2所發明的一種用於熱解析進樣器的進樣片；當使用熱解析進樣片分析粉末狀顆粒或是液體樣品時，原有的平面採樣片會造成樣品殘留，汙染進樣器。
實用新型內容
[0005]本實用新型設計了一種用於離子遷移譜進樣器的進樣薄片；目的是解決原有的平面進樣片當樣品塗於表面時，很容易汙染進樣器，造成檢測系統樣品殘留的問題。
[0006]一種用於離子遷移譜熱解析進樣器的進樣薄片包括一片狀的薄片，於薄片表面設有用於盛放樣品的凹槽。
[0007]所述薄片為可耐高溫500°C的耐高溫聚四氟乙烯材料進樣薄片。
[0008]薄片表面加工的盛放樣品的凹槽結構是於薄片一側表面設有環形凸起，由環形凸起與薄片表面圍成的中心下凹的凹槽形狀；
[0009]或薄片表面加工的盛放樣品的凹槽結構是於薄片一側表面設有向下凹陷，於薄片底部形成一個凹槽形狀；
[0010]或薄片表面加工的盛放樣品的凹槽結構是於一片進樣薄片表面加工成一個通孔，然後在通孔處的進樣薄片一側表面粘附上另一個進樣薄片，這樣由通孔和另一個進樣薄片形成一個進樣凹槽結構。
[0011]所述薄片凹槽與熱源進樣器熱解析位置相匹配，是以0.5-1.2cm為半徑、深度為
0.5-3mm的凹槽圓孔。
[0012]所述兩張進樣薄片粘合在一起的複合進樣薄片，其中加工帶有通孔結構的進樣薄片選擇1-3_厚的四氟板；另一張選擇聚四氟乙烯高溫布，其厚度小於0.2mm ;這樣有利於進樣口的密封。複合式進樣薄片靠膠水粘連在一起。膠水是耐高溫的矽橡膠膠水，耐溫3000C ;並且凹槽底部通孔區域，不必塗膠水。
[0013]進樣薄片凹槽底部加工成非光滑表面有利於樣品平鋪。【專利附圖】

【附圖說明】
[0014]下面結合附圖進一步詳細描述。
[0015]圖1 (I)為一種用於離子遷移譜進樣器的進樣薄片(上凸)結構示意圖；
[0016]圖1 (2)為一種用於離子遷移譜進樣器的進樣薄片(上凸)結構沿中間軸線切割刨面示意圖；
[0017]圖2 (I)為一種用於離子遷移譜進樣器的進樣薄片(下凹)結構示意圖；
[0018]圖2 (2)為一種用於離子遷移譜進樣器的進樣薄片(下凹)結構沿中間軸線切割刨面示意圖；
[0019]圖3為一種用於離子遷移譜進樣器的進樣薄片(複合式)結構示意圖；
[0020]I為進樣薄片表面加工為一個凹槽形狀；2為進樣薄片表面下端加工為一個凹槽形狀；3為進樣薄片加工一個通孔，一端粘進樣薄片，在另一端形成一個凹槽。
【具體實施方式】
[0021]一種用於離子遷移譜熱解析進樣器的進樣薄片，內含一個凹槽。凹槽內，可以盛放一定體積的液體或固體樣品平鋪於進樣薄片的固定位置取樣處。樣品上表面不會接觸正上方組件，同時增大了載氣與樣品表面的接觸面積，進一步提高了採樣效率。
[0022]實施例1
[0023]進樣薄片為一片狀的耐高溫聚四氟乙烯材料薄片，於薄片表面加工有用於盛放樣品的凹槽。薄片表面加工的盛放樣品的凹槽結構是於薄片一側表面設有環形凸起，由環形凸起與薄片表面圍成的中心下凹的凹槽形狀；凹槽內可以平鋪盛放一定體積的液體或固體樣品。
[0024]實施例2
[0025]進樣薄片為一片狀的耐高溫聚四氟乙烯材料薄片，薄片表面加工的盛放樣品的凹槽結構是於薄片一側表面加工有向下凹陷結構，於薄片底部形成一個凹槽形狀。
[0026]實施例3
[0027]複合式進樣薄片結構是於一片進樣薄片表面加工成一個通孔，然後在進樣薄片一側表面粘附上另一個進樣薄片；這樣由通孔和另一個進樣薄片形成一個進樣凹槽結構。進樣薄片厚度小於3_，另一個進樣薄片厚度建議小於0.08_。目的是可以最大容量的盛放樣品。
【權利要求】
1.一種用於離子遷移譜熱解析進樣器的進樣薄片，其特徵在於:包括一片狀的薄片，於薄片表面設有用於盛放樣品的凹槽； 所述薄片為可耐高溫500°c的耐高溫聚四氟乙烯材料進樣薄片； 薄片表面加工的盛放樣品的凹槽結構是於薄片一側表面設有環形凸起，由環形凸起與薄片表面圍成的中心下凹的凹槽形狀； 或薄片表面加工的盛放樣品的凹槽結構是於薄片一側表面設有向下凹陷，於薄片底部形成一個凹槽形狀； 或薄片表面加工的盛放樣品的凹槽結構是於一片進樣薄片表面加工成一個通孔，然後在通孔處的進樣薄片一側表面粘附上另一個進樣薄片，這樣由通孔和另一個進樣薄片形成一個進樣凹槽結構。
2.根據權利要求1所述的進樣薄片，其特徵在於:凹槽與熱源進樣器熱解析位置相匹配，是以0.5-1.2cm為半徑、深度為0.5-3mm的凹槽圓孔。
3.根據權利要求1所述的進樣薄片，其特徵在於:兩張進樣薄片粘合在一起的複合進樣薄片，其中加工帶有通孔結構的進樣薄片選擇1-3_厚的四氟板；另一張選擇聚四氟乙烯高溫布，其厚度小於0.2mm ;這樣有利於進樣口的密封。
4.根據權利要求1所述的進樣薄片，其特徵在於:凹槽底部加工成非光滑表面有利於樣品平鋪。
【文檔編號】H01J49/04GK203491212SQ201320577522
【公開日】2014年3月19日 申請日期:2013年9月17日 優先權日:2013年9月17日
【發明者】王新, 彭麗英, 渠團帥, 李京華, 李海洋 申請人:中國科學院大連化學物理研究所