一種觸控板的布圖方法
2023-07-19 01:45:51
專利名稱：一種觸控板的布圖方法
技術領域：
本發明涉及一種觸控板，尤其是指在一種觸控板上的布圖方法。
背景技術：
觸控板由於體積小、成本低、消耗功率低以及使用壽命長等優點，目前已較為廣泛 的用於各類電子產品上，如手提式筆記本、個人數字助理甚至手機等，用於作為輸入裝置， 使用者僅僅利用手指或者觸控筆等導電對象在觸控面板上觸碰或者滑動，從而使光標產生 相應的絕對或者相對的移動，從而完成單擊、雙擊、拖拽、滾動等各種輸入動作。而傳統觸控板的布圖一般大多為對稱式結構，例如圖1所示的方形結構，其線跡 具有相同的形狀和面積，因此線跡的基本電容在觸控板感應器上的分布是對稱的，觸控對 象在觸控板感應器上造成感應量也是對稱且線形相等的。然而，隨著應用的不斷變化，觸控 板的布圖也需要隨之變化，所以會產生非對稱型觸控板的線跡布圖，而若使用非對稱型的 布圖結構，由於觸控板上每條線跡的充放電時間不同，所以必然會導致觸控對象在觸控板 上操作時容易引起誤判或者誤操作。為了消除上述缺點，保證觸控對象在觸控板上操作時更加精準，因此我們需要為 廣大用戶提供一種更加簡便的方法來解決以上問題。
發明內容
本發明實際所要解決的技術問題是如何提供一種新的觸控板的布圖方法，該方法 可使觸控對象在非對稱式線跡的布圖中一樣精確的操作。為了實現本發明的上述目的，本發明提供了一種新的觸控板布圖方法，包括以下 步驟計算第一線跡與第二線跡的電容差；確定觸控板上所述線跡充放電的時間常數；計 算所述第一線跡與第二線跡的電阻差；根據該電阻差值從而確定第二線跡在觸控板上的大 小長度，依次類推，最終確定整個觸控板的布圖。本發明所述觸控板的布圖方法，通過調節電容以及電阻的差值從而完成整個觸控 板的布圖，不但方法簡單，而且操作起來更加精確，克服了對非對稱式布局的觸控板而言， 觸控對象操作時容易引起的誤判或者誤操作問題。
圖1是現有觸控板的布圖結構；圖2是本發明觸控板布圖方法的流程圖；圖3是本發明觸控板線跡布圖的一個實施例；圖4是本發明觸控板線跡布圖的另一個實施例。
具體實施例方式下面結合附圖和實施例對本發明作進一步的說明。
請參考圖2所示，為本發明觸控板布圖方法的流程圖，首先需要選擇一個線跡，我 們可稱為第一線跡，然後計算出該第一線跡的電容值；找出與所述第一線跡相鄰的第二線 跡，並計算出該第二線跡的電容值；根據上述第一線跡和第二線跡的電容值，計算其電容差 值；接著，確定觸控板上所述線跡充放電的時間常數；由公司T= 1/RC(其中，T代表時間 常數，R代表電阻，C代表電容)可知當時間常數T確定的情況下，根據每根線跡上電阻值 的大小就可以調節電容值，從而保證了在非對稱型的布圖結構上每根線跡的充放電時間的 相同。由上述論述可知，在知道了所述第一線跡和第二線跡的電容差以及確定了所述線跡的充放電時間常數後，就可以計算所述第一線跡與第二線跡的電阻差，根據該電阻差值 從而就可以確定第二線跡在觸控板上的大小長度。再確定出第二線跡的大小長度後，同理 我們可以確定出第三線跡的大小長度，依次類推，最終確定出所述觸控板上所有線跡的大 小長度，得出整個觸控板上的布圖。請參考圖3所示，就是本發明的一個具體實施例。所述線跡的一端由觸控板上芯 片的各個引腳引出，另一端連接到所述觸控板的相應各條掃描線上。在連接到所述觸控板 的各條掃描線上時，若設置使各個線跡的寬度相同，那麼由上述理論可知，在確定了第一線 跡的長度後，為了保證觸控板上所有線跡的充放電時間常數相同，那麼我們就可以通過調 節除第一線跡外的所有線跡的長短來滿足上述要求，所以在各個線跡中，連接到掃描線上 的各個線跡的末尾長度就會有明顯變化，如可以是曲折線。晶片引腳連接到各對應掃描線 的線跡越長，其末端的曲折線越少，反之就越多。請參考圖4所示，為本發明的另一個具體實施例。其中，任意一線跡的一端均是由 觸控板上晶片的各個引腳引出，另一端連接到所述觸控板的各條掃描線上。為了保證觸控 板上所有線跡的充放電時間常數相同，在確定了第一線跡的大小長度後，我們就可以調節 除第一線跡外的所有線跡的大小長度來滿足上述要求，所以在各條線跡中，若將晶片引腳 直接連接到各條相應掃描線上時，其線跡的寬度就必然要求略有不同。晶片引腳到掃描線 的距離越長，線跡的寬度就越小，反之就越大。上述觸控板上線跡的衝放電時間用戶可根據需要進行設定，所以無論用哪種布圖 方式，只要是對非對稱型觸控板的線跡布圖，該方法均可實現使觸控對象在此觸控板中一 樣精確的操作。
權利要求
一種觸控板的布圖方法，包括以下步驟計算第一線跡與第二線跡的電容差；確定觸控板上所述線跡充放電的時間常數；計算所述第一線跡與第二線跡的電阻差；根據該電阻差值從而確定第二線跡在觸控板上的大小長度，依次類推，最終確定整個觸控板的布圖。
2.如權利要求1所述的方法，其特徵在於在計算第一線跡與第二線跡的電容差前，需 要先確定第一線跡與第二線跡的電容值。
3.如權利要求1或2所述的方法，其特徵在於所述第一線跡與第二線跡的電容差是 指相鄰兩個線跡的電容差。
4.如權利要求1所述的方法，其特徵在於所述充放電的時間常數用戶可根據需要進 行設定。
5.如權利要求1所述的方法，其特徵在於所述觸控板的布圖方法是指觸控板的線跡 布圖方法。
6.如權利要求1或2所述的方法，其特徵在於所述任意一線跡的一端均是由觸控板 上晶片的各個引腳引出，另一端連接到所述觸控板的各條掃描線上。
7.如權利要求6所述的方法，其特徵在於所述連接到各條掃描線上的線跡的末端可 以有多條曲折線。
8.如權利要求7所述的方法，其特徵在於所述晶片引腳連接到各對應掃描線的線跡 越長，其末端的曲折線越少。
9.如權利要求6所述的方法，其特徵在於所述各個線跡的寬度可以不完全相同。
10.如權利要求9所述的方法，其特徵在於所述晶片引腳到掃描線的距離越長，線跡 的寬度就越小。
全文摘要
本發明涉及一種觸控板的布圖方法，其包括以下步驟計算第一線跡與第二線跡的電容差；確定觸控板上所述線跡充放電的時間常數；計算所述第一線跡與第二線跡的電阻差；根據該電阻差值從而確定第二線跡在觸控板上的大小長度，依次類推，最終確定整個觸控板的布圖。本發明所述觸控板的布圖方法，通過調節電容以及電阻的差值從而完成整個觸控板的布圖，不但方法簡單，而且操作起來更加精確。
文檔編號G06F3/041GK101882021SQ20101019432
公開日2010年11月10日 申請日期2010年6月8日 優先權日2010年6月8日
發明者樊永召 申請人:蘇州瀚瑞微電子有限公司