一種增加撥號器測試功能的裝置及其控制方法
2023-07-11 16:58:51 1
專利名稱：一種增加撥號器測試功能的裝置及其控制方法
技術領域：
本發明是有關於一種增加撥號器測試功能的裝置及其控制方法，特別是有關於一種利用振蕩器輸入與輸出的相位關係決定系統各種測試模式的裝置及其控制方法。
一般集成電路於製造完成後都必須經過測試以確定其功能正確無誤。由於集成電路的功能日趨繁雜，測試成本佔整個生產成本的比例逐漸上升，而集成電路的管腳愈多則封裝成本愈高，因此如何在不增加集成電路的管腳前提下，方便快速地產生各種測試模式，即為製造者努力的目標之一。
在熟知技術中，關於撥號器測試功能電路的技術，主要有二種(1)在集成電路中增加一測試專用管腳，此種測試方式最為簡易快速，但其缺點為管腳增加，使製造成本上升。
(2)利用鍵盤上某些按鍵的組合，經過一段時間的確認後進入測試模式。此熟知方式雖可在不增加管腳的情況下進行測試，但其缺點為使用者常在無意間進入測試模式，造成操作上的不便；其次，由於鍵盤按鍵必須等待一段時間，待噪聲雜波消失後始能確認被按下鍵的位置，如此將延長測試時間，無法符合快速簡易的要求。
有鑑於此，本發明的目的是為了解決上述問題而提供一種增加撥號器測試功能的控制方法，由於撥號器的原理是利用一振蕩器輸出/輸入裝置提供撥號器的系統時鐘脈衝，因此本方法是利用將設定信號輸入振蕩器的輸入端，並比較與振蕩器輸出的相位變化，進而將前述相位關係輸入各測試裝置以產生各種測試模式及模擬聽筒掛上/取下的動作。本發明增加撥號器測試功能的裝置包括一測試信號輸出裝置，系統欲進入測試模式，須有效測試信號為邏輯1電位的輸出，始可執行各種測試模式；一振蕩器輸出/輸入裝置，當有效測試信號為邏輯1並反饋至振蕩器輸出/輸入裝置時，將具有特定關係的信號輸入振蕩器的輸入管腳，則振蕩器的輸入與輸出靠不同的相應變化即可控制系統執行各種測試模式或模擬聽筒掛上/取下的動作；一聽筒掛上/取下模似電路，由電位為邏輯1的有效測試信號負責啟動該電路，並利用振蕩器的輸入與輸出間的相位變化模擬聽筒掛上/取下的動作；及一測試模式產生電路，亦由電位為邏輯1的有效測試信號所啟動，並利用振蕩器的輸入與輸出間的相位變化進行各種測試模式的動作；及一抑制信號產生電路，由聽筒取下的信號啟動，經過數個振蕩器周期後，輸出抑制信號，進而使系統不能進入測試模式。
由上述控制方法，配合本發明裝置，本發明具有三項優點(1)因是利用振蕩器輸入/輸出的相位關係使系統進入各種測試模式，故可不局限在電話系統中使用。
(2)不須額外增加一測試專用管腳，可降低生產成本。
(3)可避免使用者誤入測試模式，且可縮短測試時間，增加測試功能。
為讓本發明的上述目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉一較佳實施例，並配合附圖，作詳細說明如下
圖1是顯示本發明的功能方塊圖；圖2為依照本發明一較佳實施例所實施的增加撥號器測試功能的裝置電路圖；及圖3是顯示本發明的脈衝時序圖。
現請參照圖1，本發明的一種增加撥號器測試功能的裝置，其構造如圖1的功能方塊圖所示，其包括一測試信號輸出裝置20，用以輸出測試信號TEST至各裝置及其它測試電路，並決定系統是否進入測試模式；一振蕩器輸出/輸入裝置10，於正常操作時，由外加振蕩器與內部反饋電路產生系統時鐘脈衝，而欲進行測試時，則由外部將系統時鐘脈衝輸入振蕩器輸出端以形成振蕩器輸出OSCO並依靠將設定信號輸入振蕩器輸入端以形成振蕩器輸入OSCI，比較兩者的相位變化，並將前述的相位關係輸入其它測試裝置以產生各種測試模式及模擬聽筒掛上/取下的動作；一聽筒掛上/取下模擬電路30，由來自測試信號輸出裝置20的測試信號TEST啟動，並依靠振蕩器輸入OSC工與輸出OSCO間的相位關係決定聽筒掛上/取下的動作；一測試模式產生電路40，由來自測試信號輸出裝置20的測試信號TEST啟動，並依靠振蕩器輸入OSCI與輸出OSCO間的相位關係決定各種測試模式；及一抑制信號產生電路50，由聽筒取下信號PWDN啟動，經過8個振蕩器周期後，輸出邏輯1的抑制信號INHIBIT，進而使系統不能進入測試模式。
又一種增加撥號器測試功能的控制方法，其控制方法如圖1的功能方塊圖所示，是利用已有振蕩器的輸出/輸入裝置10，在不增加輸入管腳且不影響正常操作的情況下，依靠振蕩器輸入OSCI與振蕩器輸出OSCO的相位關係控制測試信號輸出裝置20，並配合與信號HK同步的聽筒取下信號PWDN，在抑制信號INHIBIT設定的振蕩器周期數內使測試信號輸出裝置20產生有效測試信號TEST，該有效測試信號TEST配合振蕩器輸入OSCI與振蕩器輸出OSCO的相位變化控制聽筒掛上/取下模擬電路30和測試模式產生電路40。
現請參照圖2所示本發明增加撥號器測試功能的裝置，其包括一測試信號輸出裝置20，其可在下列二狀況操作(1)系統正常操作，測試信號TEST保持為邏輯0輸出，各測試裝置均不動作；(2)系統欲進入測試模式，須先將聽筒取下，此時，抑制信號會保持電位為邏輯0達8個振蕩器周期，此為系統可用以進入測試模式的時間，之後，抑制信號INHIBIT提升至邏輯1，系統即被抑制而不能進入測試模式。當聽筒又取下後，信號HK將與聽筒取下信號PWDN同步由邏輯1變成邏輯0，此時輸入系統的振蕩器輸入OSCI保持在高電位，並于振蕩器輸出OSCO的第二個脈衝正沿激發時確認系統進入測試模式，並使測試信號TEST由邏輯0變為有效電位邏輯1，並反饋回測試信號輸出裝置20及振蕩器輸出/輸入裝置10，同時測試信號TEST亦被傳送至其它測試裝置；而上述動作是通過門電路的傳輸組合，經觸發器D1與D2的作用而由觸發器D2的輸出Q傳送測試信號TEST至各裝置。
一振蕩器輸出/輸入裝置10，其可在下列二狀況操作(1)系統正常操作，反饋的測試信號TEST為邏輯0，且振蕩器輸入OSCI與振蕩器輸出OSCO的相位相反，並經內部振蕩器線路的反饋產生振蕩，其作用為提供系統時鐘脈衝；(2)系統欲進入測試模式時，由外部將系統時鐘脈衝輸入振蕩器輸出OSCO，並將振蕩器輸入OSCI保持邏輯1直至測試信號TEST亦變為邏輯1，之後，兩者即可依相位的變化控制各測試裝置使系統模擬聽筒掛上/取下的動作或進入各種測試模式。
一聽筒掛上/取下模擬電路30，是由測試信號TEST的邏輯1電位啟動，通過門電路的傳輸組合，振蕩器輸入OSCI與振蕩器輸出OSCO同時被輸入聽筒掛上/取下模擬電路30以比較其相應關係，並利用觸發器T1的正相輸出EMUOFF與聽筒取下信號PWDN共同決定聽筒掛上/取下的模擬動作POD。
一測試模式產生電路40，亦由測試信號TRST的邏輯1電位啟動，通過門電路的傳輸組合，振蕩器輸入OSCI與振蕩器輸出OSCO的反相輸出OSCO同時被輸入測試模式產生電路40以比較其相位關係，並利用觸發器D3的輸出Q與反相輸出QB，配合觸發器D4的輸出Q與反相輸出QB共同決定系統的3種測試模式如TEST1、TEST2和TEST3。
一抑制信號產生電路50，是由4個觸發器T2、T3、T4及D5串聯而成，其靠一聽筒取下信號PWDN啟動，振蕩器輸出OSCO則作為觸發器T2的時鐘脈衝輸入，用以使觸發器D5經過8個振蕩器周期後，輸出一邏輯1的抑制信號INHIBIT，進而將該邏輯1的抑制信號INHIBIT傳送至測試信號輸出裝置20，進而使系統不能進入測試模式。
現請參照圖3，本發明增加撥號器測試功能的控制方法，可利用脈衝時序圖顯示其步驟如下a.正常操作下，測試信號TEST為邏輯0，振蕩器輸入OSCI與輸出OSCO相位相反，並經內部的反饋產生振蕩，此時整個測試電路並不動作。(該步驟未顯示於圖中)b.當系統要進入測試模式時，首先將聽筒取下，即信號HK由邏輯1變成邏輯0，促使聽筒取下信號PWDN亦由邏輯1變成邏輯0，另從振蕩器輸出端OSCO中輸入系統時鐘脈衝，此時抑制信號INHIBIT會保持邏輯0達8個振蕩器周期，系統因而可以進入測試模式。(直至抑制信號INHIBIT變為邏輯1後，系統即無法進入測試模式)c.此時將振蕩器輸入OSCI保持在邏輯1電位，則在振蕩器輸出OSCO的第二個脈衝正沿觸發時，觸發器D2的輸出會使測試信號TEST變為邏輯1，其後振蕩器輸入OSCI與輸出OSCO保持高阻抗狀態，系統即進入測試模式。
d.當振蕩器輸出OSCO為邏輯0時，在振蕩器輸入OSCI處輸入一個脈衝，此時觸發器T1的正相輸出EMUOFF即由邏輯0變為邏輯1，系統即模擬聽筒掛上的動作。
e.當振蕩器輸出OSCO為邏輯1時，在振蕩器輸入OSCI處輸入一個脈衝，此時觸發器D4的輸出使第一測試模式TEST1由邏輯0變成邏輯1，系統即執行第一測試模式的功能。
f.重複e的步驟，此時觸發器D3的反相輸出使第二測試模式TEST2由邏輯0變成邏輯1，系統即執行第二測試模式的功能，而原第一測試模式TEST1再由邏輯1變成邏輯0，系統自動取消其測試功能，至於其它測試模式的選擇，則亦依上述動作類推。
g.重複d步驟，觸發器T1的正相輸出EMUOFF再由邏輯1變為邏輯0，系統即模擬聽筒取下的動作。
綜合上述，由於本發明是利用在振蕩器輸入/輸出的管腳中輸入有相位關係的信號，如此在正常操作下，使用者不會進入測試模式，並且不需額外增加一測試管腳也能縮短進入各種測試模式的時間，此外於測試模式中，亦可產生其它諸如聽筒掛上/取下模擬動作的信號，故其應用更為廣泛，實用性也較高。
雖然本發明以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟悉此項技術者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許改進，因此本發明的保護範圍當視後附的權利要求所規定為準。
權利要求
1.一種增加撥號器測試功能的裝置，其包括一測試信號輸出裝置，用以輸出測試信號至各裝置及其它測試電路，並決定系統是否進入測試模式；一振蕩器輸出/輸入裝置，當系統維持正常操作，振蕩器輸出/輸入裝置的功能是提供系統時鐘脈衝，若系統欲進入測試模式，則由外部將系統時鐘脈衝輸入振蕩器輸出管腳，並將設定信號輸入振蕩器輸入管腳，比較兩者的相位變化，並將前述的相位關係分別傳送至測試信號輸出裝置及其它測試電路，用以使測試信號輸出裝置輸出有效的測試信號，並使系統執行各種測試模式及模擬聽筒掛上/取下的動作；一聽筒掛上/取下模擬電路，其中該電路由測試信號啟動，並依靠振蕩器的輸入與輸出的相位關係決定聽筒掛上/取下的模擬動作；一測試模式產生電路，其中該電路由測試信號啟動，並依靠振蕩器的輸入與輸出的相位關係決定各種測試模式；及一抑制信號產生電路，其由聽筒取下信號啟動，該電路用以決定系統進入測試模式的時間長短。
2.如權利要求1所述的增加撥號器測試功能的裝置，其中測試信號輸出裝置包括多個邏輯門，用以處理輸入信號的組合(1)抑制信號，決定系統可進入測試模式的振蕩器周期數；(2)振蕩器輸入，作為觸發器的輸入信號；(3)振蕩器輸出，作為觸發器的時鐘脈衝；(4)反饋的測試信號，使系統確定是否持續執行測試模式；及多個反相器，其連結有多個邏輯門，並藉此將輸入的信號組合以控制多個觸發器，而測試信號則由最後一級觸發器的輸出產生。
3.如權利要求1所述的增加撥號器測試功能的裝置，其中聽筒掛上/取下模擬電路包括多個邏輯門，用以處理振蕩器輸入與輸出間的相位關係；及一觸發器，其連結多個邏輯門且由測試信號啟動，配合上述的相位關係決定觸發器的輸出，此輸出同時與聽筒取下信號比較以決定聽筒掛上/取下的模擬動作。
4.如權利要求1所述的增加撥號器測試功能的裝置，其中測試模式產生電路包括多個邏輯門，用以處理振蕩器輸入與輸出間的相位關係；及多個觸發器，其連結多個邏輯門且由測試信號啟動，配合上述的相位關係決定多個觸發器的各輸出端的輸出，並由各輸出的組合決定各種測試模式。
5.如權利要求1所述的增加撥號器測試功能的裝置，其中，抑制信號產生電路由多個觸發器串聯而成，振蕩器輸出則為抑制信號產生電路的時鐘脈衝輸入，用以使觸發器能在多個振蕩器周期後，輸出一抑制信號至測試信號輸出裝置，進而使系統不能進入測試模式。
6.一種增加撥號器測試功能的控制方法，是利用一已有的振蕩器輸出/輸入裝置，來產生各種測試模式及聽筒掛上/取下的模擬動作，其包括如下步驟(1)在聽筒取下後，從振蕩器輸出端輸入系統時鐘脈衝，並將振蕩器輸入端接至第一電位，經過數個振蕩器周期後，系統即確認進入測試模式；(2)進入測試模式後，在振蕩器輸出端為第二電位時，從振蕩器輸入端輸入一脈衝，使系統模擬聽筒掛上/取下動作；(3)進入測試模式後，在振蕩器輸出端為第一電位時，從振蕩器輸入端輸入一脈衝，系統即執行設定的測試模式。
7.如權利要求6所述的增加撥號器測試功能的控制方法，其中第一電位是指高電位，而第二電位是指低電位。
8.一種增加撥號器測試功能的控制方法，包括如下步驟(1)正常操作下，測試信號為邏輯0，振蕩器輸入與輸出相位相反，並經內部的反饋產生振蕩，此時整個測試電路並不動作。(2)當系統要進入測試模式時，首先將聽筒取下，即信號由邏輯1變成邏輯0，並從振蕩器輸出端中輸入系統時鐘脈衝，此時抑制信號會保持邏輯0達8個振蕩器周期，使系統可以進入各種測試模式。(直至抑制信號變為邏輯1，系統即無法進入測試模式)(3)此時將振蕩器輸入保持在邏輯1電位，則在振蕩器輸出的第二個脈衝正沿觸發時，測試信號輸出裝置的觸發器的輸出會使測試信號變為邏輯1，其後振蕩器的輸入與輸出保持高阻抗狀態，系統即進入測試模式。(4)當振蕩器輸出為邏輯0時，在振蕩器輸入端輸入一個脈衝，此時聽筒掛上/取下模擬電路的觸發器的反相輸出隨之由邏輯0變為邏輯1，系統即模擬聽筒掛上的動作。(5)當振蕩器輸出為邏輯1時，在振蕩器輸入端輸入一個脈衝，此時測試模式產生電路的觸發器的輸出使第一測試模式由邏輯0變成邏輯1，系統即執行第一測試模式的功能。(6)重複(5)的步驟，此時測試模式產生電路的觸發器的反相輸出使第二測試模式由邏輯0變成邏輯1，系統即執行第二測試模式的功能，而原第一測試模式再由邏輯1變成邏輯0，系統因而自動取消第一測試模式的測試功能，至於其它測試模式的選擇，則亦依上述動作類推。(7)重複步驟(4)，此時聽筒掛上/取下模擬電路的觸發器的反相輸出再由邏輯1變為邏輯0，系統即模擬聽筒取下的動作。
全文摘要
一種增加撥號器測試功能的裝置，包括測試信號輸出和振蕩器輸出/輸入裝置；聽筒掛上/取下模擬、測試模式產生及抑制信號產生電路。一種增加撥號器測試功能的控制方法為在聽筒取下後，將系統時鐘脈衝輸入振蕩器輸出端並將振蕩器輸入端接至高電位，經過數個振蕩器周期後進入測試模式；振蕩器輸出低電位時，從振蕩器輸入端輸入一脈衝，系統模擬聽筒掛上/取下；振蕩器輸出高電位時，從振蕩器輸入端輸入一脈衝，系統進行下一測試模式。
文檔編號H04M1/26GK1125372SQ9411353
公開日1996年6月26日 申請日期1994年12月27日 優先權日1994年12月27日
發明者吳其昌, 劉祖俊 申請人:聯華電子股份有限公司