攝像頭晶片清理檢測裝置的製作方法

2023-07-15 20:24:16 3

本發明涉及攝像頭領域，尤其涉及一種攝像頭晶片清理檢測裝置。

背景技術：

目前在製造攝像頭時，會使用晶片對攝像頭進行控制，而目前在製造晶片時，需要對晶片表面進行清理，並檢測晶片上的元件的位置，以保證晶片質量良好，目前對攝像頭晶片進行清理並檢測元件位置，通常是人工進行，但是人工進行工作效率不高且容易漏檢，導致晶片表面汙染進入下一道工序，影響晶片的使用壽命。因此，解決攝像頭晶片表面清理及元件位置檢測工作效率不足的問題就顯得尤為重要了。

技術實現要素：

針對上述現有技術存在的問題，本發明的目的是提供一種攝像頭晶片清理檢測裝置，通過放置臺對晶片進行放置，並且由檢測頭對晶片元件位置進行檢測，並通過清理裝置上的吸塵裝置對晶片進行清理，避免人工清理帶來的弊端，解決了攝像頭晶片表面清理及元件位置檢測工作效率不足的問題。

本發明提供一種攝像頭晶片清理檢測裝置，包括放置臺，所述放置臺上設置有位置固定裝置，所述放置臺上方設置有檢測板，所述檢測板上設置有檢測頭，通過檢測頭對晶片元件位置進行檢測，所述放置臺上一側設置有清理裝置，所述清理裝置上設置有吸塵裝置，所述清理裝置一端設置有位移裝置，通過位移裝置將清理裝置移動至放置臺上方。

進一步改進在於：所述清理裝置上設置有卡置裝置，通過卡置裝置對放置臺上的晶片位置進行卡置，進而固定清理裝置的位置。

進一步改進在於：所述放置臺上還設置有熱風發生裝置，所述熱風發生裝置下端設置有轉向裝置。

進一步改進在於：所述檢測板上設置有自動調整裝置，通過自動調整裝置對晶片元件位置進行調整。

本發明的有益效果是：通過放置臺對晶片進行放置，並且由檢測頭對晶片元件位置進行檢測，並通過清理裝置上的吸塵裝置對晶片進行清理，避免人工清理帶來的弊端，並且設置熱風發生裝置對晶片進行輔助清理，提高工作效率，避免漏檢錯檢。

附圖說明

圖1是本發明的結構示意圖。

其中：1-放置臺，2-位置固定裝置，3-檢測板，4-檢測頭，5-清理裝置，6-吸塵裝置，7-位移裝置，8-卡置裝置，9-熱風發生裝置，10-轉向裝置，11-自動調整裝置。

具體實施方式

為了加深對本發明的理解，下面將結合實施例對本發明作進一步詳述，該實施例僅用於解釋本發明，並不構成對本發明保護範圍的限定。

如圖1所示，本實施例提供了一種攝像頭晶片清理檢測裝置，包括放置臺1，所述放置臺1上設置有位置固定裝置2，所述放置臺1上方設置有檢測板3，所述檢測板3上設置有檢測頭4，通過檢測頭4對晶片元件位置進行檢測，所述放置臺1上一側設置有清理裝置5，所述清理裝置5上設置有吸塵裝置6，所述清理裝置5一端設置有位移裝置7，通過位移裝置7將清理裝置5移動至放置臺1上方。所述清理裝置5上設置有卡置裝置8，通過卡置裝置8對放置臺1上的晶片位置進行卡置，進而固定清理裝置5的位置。所述放置臺1上還設置有熱風發生裝置9，所述熱風發生裝置9下端設置有轉向裝置10。所述檢測板3上設置有自動調整裝置11，通過自動調整裝置11對晶片元件位置進行調整。通過放置臺1對晶片進行放置，並且由檢測頭4對晶片元件位置進行檢測，並通過清理裝置5上的吸塵裝置6對晶片進行清理，避免人工清理帶來的弊端，並且設置熱風發生裝置9對晶片進行輔助清理，提高工作效率，避免漏檢錯檢。