槽型等離子體顯示板老練前介質耐壓情況的測試方法
2023-11-30 23:39:01 2
專利名稱：槽型等離子體顯示板老練前介質耐壓情況的測試方法
技術領域：
本發明涉及一種槽型等離子體顯示板的製造方法，尤其是一種防止因 老練而造成顯示板報廢的前處理方法，具體地說是一種槽型等離子體顯示 板老練前介質耐壓情況的測試方法。
背景技術：
20世紀90年代初興起的等離子體平板顯示器(PDP)，以其數位化，大 屏幕，高解析度，高清晰度，寬視角以及厚度薄，重量輕等優點受到廣泛 關注。
目前現有的PDP屏都採用三電極交流等離子體平板顯示器(AC-PDP)， 3個電極呈正交狀分布於前後基板上，放電則在兩個基板之間進行，前基板 上水平分布著維持電極(X電極)和掃描電極(Y電極)，兩者一起被稱為 顯示電極，在後基板上豎直分布著尋址電極(A電極)，X電極和Y電極相 互平行並與A電極正交。在AC-PDP顯示中，在維持期，X電極和Y電極交 替加上高壓，使在尋址期積累了壁電荷的單元產生放電。從而實現圖像的 顯示。
槽型等離子體顯示板(SMPDP)中採用的是二個電極，分別是前基板上 的維持電極(X電極)，後基板上的尋址電極(A電極)的交流對向放電模 式。X電極和A電極正交，在SMPDP顯示中，在維持期，只在X電極上加正 負交替的高壓使尋址期積累了壁電荷的單元產生放電，從而實現圖像顯示。
槽型等離子體顯示板(SMPDP)的老練製程是在新製成的顯示板的維持 電極(X電極)和尋址電極(A電極)上加載高頻率(20kHz)交流電壓， 持續一段時間，達到穩定屏的工作特性、降低點火電壓的效果。
現有的槽型等離子體顯示板(SMPDP)的老練是在顯示板製成以後，直 接在維持電極(X電極)和尋址電極(A電極)上加載高頻率(20kHz)交流電壓，進行老練，而不先進行介質耐壓測試。由於是高頻率電壓，流過 顯示板的電流比較大，如果介質某一點的耐壓達不到要求，不能承受維持
電極(X電極)和尋址電極(A電極)上所加載的電壓，則會出現打火，並 在瞬間從打火點開始燒毀一段電極，導致整張顯示板報廢。採用測試槽型 等離子體顯示板介質耐壓情況的方法，在老練之前使用低頻率的交流電加 載於維持電極(X電極)和尋址電極(A電極)上，由於電壓頻率低，通過 顯示板上的電流很小，而且具有過流保護裝置的低頻交流電源能夠在過流 時立即回降電壓。若顯示板介質上某點的耐壓達不到要求，出現打火現象， 此時由於電流很小，而電壓也在過流保護裝置的控制下瞬間回降了，故只 會將耐壓達不到要求的點擊穿，而不會燒毀與打火點相連的電極，導致整 張顯示板報廢，降低了製造成本。
發明內容
本發明的目的是針對現有的槽型等離子體顯示板(SMPDP)在老練時因 介質上某點耐壓達不到要求而導致燒毀電極，進而導致整張顯示板報廢的 問題，提供一種槽型等離子體顯示板老練前介質耐壓情況的測試方法，以 提高顯示板的成品率。
本發明的技術方案是-
一種槽型等離子體顯示板老練前介質耐壓情況的測試方法，其特徵是 在所述的顯示板老練之前，先在顯示板的維持電極和尋址電極上加載帶有 過流保護裝置的低頻交流電壓，並逐漸使電壓升高至老練時使用的電壓，在 逐漸升高電壓的過程中將顯示板上介質耐壓達不到要求的點先行擊穿，以 使對應的電極在進行高頻老練時不受影響，從而防止進行高頻交流老練時 造成打火而使顯示板報廢現象的發生。
在逐漸使電壓升高的過程中，電壓頻率可以在50Hz lkHz範圍內連續 變化。
所述的低頻交流電壓的值可以線性遞增或線性遞減。 所述的低頻交流電壓的值可以指數遞增或指數遞減。所述的低頻交流電壓可以是隨時間變化的正弦波、方波、三角波或鋸 齒波。
也就是說對顯示板介質耐壓情況的測試必須在老練之前進行，並在測 試過程中將介質耐壓達不到要求的點去除。測試所使用的電源為低頻率交 流電源並具有過流保護裝置。由於電壓頻率低，且具有過流保護裝置，當 因介質耐壓能力不夠發生打火時，電壓立即回降，耐壓不夠的點被擊穿， 但與之相連的電極卻不會受到影響。
本發明的實質是在槽型等離子體顯示板製成之後進行老練之前，在顯
示板的維持電極(X電極)和尋址電極(A電極)上加載低頻率交流電壓， 在逐漸增加電壓的過程中將顯示板上介質耐壓達不到要求的點擊穿，防止 介質耐壓達不到要求的點在加載高頻率交流電壓時引起打火、燒毀電極而 導致整張顯示板報廢的情況發生，降低了成本。
本發明的有益效果
本發明為槽型等離子顯示板的介質耐壓情況提供了一種測試方法，並 在槽型等離子體顯示板老練之前將耐壓達不到要求的點排除，避免因介質 耐壓不夠而燒毀電極並導致顯示板報廢的情況發生，降低了成本。
具體實施方式
下面結合實施例對本發明作進一步的說明。
在顯示板製成以後，先對顯示板進行介質耐壓能力測試。將顯示
板的維持電極(X電極)和尋址電極(A電極)分別與50Hz交流電源的正 負極相連接，接好之後，開始增加電源的輸出電壓，在增加電壓的過程中， 由於電壓頻率低，顯示板中的氧化鎂(介質層)受到激發的程度較低，並 產生形成壁電荷積累，產生微弱放電，故對顯示板的性能不會產生不良影 響。 一般情況下，要求顯示板的介質耐壓能夠達到250V，在增加電壓至250V 的過程中，介質中耐壓不夠250V的點會產生打火，打火點被擊穿，但由於 流過顯示板的電流很小，而且打火時電壓瞬間回降，與打火點相連的電極 並不會受打火點的影響。再重新增加電壓，介質中耐壓達不到要求的點， 在逐漸增加電壓的過程中會被逐一擊穿，但與這些點相連的電極卻不會受到影響，直至電壓加至250V，保持此狀態5分鐘，若顯示板不再出現打火， 則此時顯示板的耐壓能夠滿足要求，可以結束介質耐壓測試，使用20kHz 的老練系統進行老練。
具體實施時所述的低頻率交流電源的頻率可以是50Hz，也可以是 50Hz lKHz範圍中的任一頻率。低頻交流電壓的值可以線性遞增或線性遞 減，還可以是指數遞增或指數遞減。電壓波形可以是隨時間變化的正弦波、 方波、三角波或鋸齒波等各種波形。
凡依本發明權利要求書所作的變化與修飾，皆應屬於發明專利的涵蓋 範圍。
權利要求
1、一種槽型等離子體顯示板老練前介質耐壓情況的測試方法，其特徵是在所述的顯示板老練之前，先在顯示板的維持電極和尋址電極上加載帶有過流保護裝置的低頻交流電壓，並逐漸使電壓升高至老練時使用的電壓，在逐漸升高電壓的過程中將顯示板上介質耐壓達不到要求的點先行擊穿，以使對應的電極在進行高頻老練時不受影響，從而防止進行高頻交流老練時造成打火而使顯示板報廢現象的發生。
2、 根據權利要求1所述的槽型等離子體顯示板老練前介質耐壓情況的測試 方法，其特徵是在逐漸使電壓升高的過程中，頻率可以在50Hz lkHz範圍 內連續變化。
3、 根據權利要求1所述的槽型等離子體顯示板老練前介質耐壓情況的測試 方法，其特徵是所述的低頻交流電壓的值可以線性遞增或線性遞減。
4、 根據權利要求1所述的槽型等離子體顯示板老練前介質耐壓情況的測試 方法，其特徵是所述的低頻交流電壓的值可以指數遞增或指數遞減。
5、 根據權利要求1所述的槽型等離子體顯示板老練前介質耐壓情況的測試 方法，其特徵是所述的低頻交流電壓可以是隨時間變化的正弦波、方波、 三角波或鋸齒波。
全文摘要
一種槽型等離子體顯示板老練前介質耐壓情況的測試方法，其特徵是在所述的顯示板老練之前，先在顯示板的維持電極和尋址電極上加載帶有過流保護裝置的低頻交流電壓，並逐漸使電壓升高至老練時使用的電壓，在逐漸升高電壓的過程中將顯示板上介質耐壓達不到要求的點先行擊穿，以使對應的電極在進行高頻老練時不受影響，從而防止進行高頻交流老練時造成打火而使顯示板報廢現象的發生。本發明有助於降低槽型等離子體顯示板(SMPDP)的製造成本。
文檔編號G01R31/12GK101308190SQ20081012338
公開日2008年11月19日 申請日期2008年6月16日 優先權日2008年6月16日
發明者張興寧, 張海周, 朱立鋒, 李辰遠, 雯 汪, 研 鄒, 鄭姚生 申請人:南京華顯高科有限公司