一種x螢光光譜鍍層分析儀的裝配結構的製作方法

2023-05-19 07:28:31 1

專利名稱：一種x螢光光譜鍍層分析儀的裝配結構的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種X螢光光譜鍍層分析儀，具體涉及一種x螢光光譜鍍層分析
儀的裝配結構。
背景技術：
X螢光光譜分析儀器是使用X射線照射試樣，對產生的X射線螢光進行解析，用以 分析試樣元素和含量的裝置。由於X螢光光譜儀器使用方便、快捷，精度高，成本低等特點， 已經在很多行業得到廣泛的應用。 現有技術中，其分析樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用於煉 鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定 性分析，並能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。 X螢光光譜鍍層分析儀器是X螢光光譜分析儀中的一種，主要用於對尺寸範圍較 大的部件上進行鍍層厚度分析和含量的逐點測試，其主要原理是光源系統發射出X螢光，X 螢光作用在樣品上後，樣品中的各個X會被激發出特徵X螢光，這些X螢光被探測器系統所 接收，分析轉化為電信號，電信號經過系統模塊的處理，進而得到用戶所需要的分析信息。 針對上述原理，本發明人於2006年申請了名稱為一種自動定位X螢光能量色散光 譜儀的專利，專利的申請號為200620014536. X。其主要部件，包括光源放射系統、探測器系 統以及信號處理系統均固定於一金屬框架上，這個框架由很粗的鋼條組成，不僅重量重，而 且組裝和拆卸其主要部件十分繁瑣，影響了機器的裝配效率和售後服務的方便性。 因此對現有的X螢光光譜鍍層分析儀的裝配結構進行改進已成為本技術領域中 亟待解決的技術問題。

實用新型內容本實用新型的目的在於克服上述技術的不足，提供一種X螢光光譜鍍層分析儀的 裝配結構，其解決了原有X螢光光譜鍍層分析儀的裝配結構存在的技術缺陷和設計弊端。
本實用新型為滿足上述目的，採用以下技術方案一種X螢光光譜鍍層分析儀的 裝配結構，包括機座、固定座，所述機座上設有卡鉤，所述固定座上設有套孔，所述固定座通 過所述套孔套設於所述卡鉤以實現所述機座與所述固定座的固定。 更進一步，所述固定座上設有兩隔板。 更進一步，所述隔板上設有固定孔。 基於上述設計，本實用新型的優點在於整個裝配結構簡單；方便儀器的組裝與 拆卸；提高了售後服務維護的效率；減輕了儀器的整機質量。 本實用新型的其他目的和優點可以從本實用新型所揭露的技術特徵中得到進一 步的了解。為讓本實用新型之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例 並配合所附圖式，作詳細說明如下。
圖1是本實用新型之一實施例的一種X螢光光譜鍍層分析儀的裝配結構爆炸示意 圖； 圖l中的標號說明機座1、固定座2、卡鉤3、套孔4、隔板5、電源系統6、光源系統 7、高壓系統8、固定孔9。
具體實施方案 請參考圖1所示，本實用新型的一種X螢光光譜鍍層分析儀的裝配結構，包括機座 1、固定座2，機座1上設有卡鉤3，固定座2上設有套孔4，固定座2通過套孔4套設於卡鉤 3以實現機座1與固定座2的固定，固定座2上設有兩隔板5將固定座分隔成三個隔室，電 源系統6、光源系統7以及高壓系統8被分別設在這三個隔室內，隔板5上設有固定孔9，電 源系統6、光源系統7以及高壓系統8中的元件上都設有螺紋孔，通過螺絲或螺釘將這些原 件固定在固定座2上。 本實用新型的X螢光光譜鍍層分析儀的固定座為薄板，質量很輕，使整個儀器的 整機質量相比原先減少了 1/3，而且儀器的主要元件拆卸十分方便。
權利要求一種X螢光光譜鍍層分析儀的裝配結構，包括機座、固定座，其特徵在於所述機座上設有卡鉤，所述固定座上設有套孔，所述固定座通過所述套孔套設於所述卡鉤以實現所述機座與所述固定座的固定。
2. 如權利要求1所述的X螢光光譜鍍層分析儀的裝配結構，其特徵在於所述固定座 上設有兩隔板。
3. 如權利要求2所述的X螢光光譜鍍層分析儀的裝配結構，其特徵在於所述隔板上 設有固定孔。
專利摘要本實用新型涉及一種X螢光光譜鍍層分析儀的裝配結構，包括機座、固定座，機座上設有卡鉤，固定座上設有套孔，固定座通過套孔套設於卡鉤以實現機座與固定座的固定，固定座上設有兩隔板將固定座分隔成三個隔室，電源系統、光源系統以及高壓系統被分別設在這三個隔室內，隔板上設有固定孔。整個裝配結構簡單；方便儀器的組裝與拆卸；提高了售後服務維護的效率；減輕了儀器的整機質量。其適用於環境保護、臨床醫學、農業、地質冶金、製藥行業、石化等行業的X螢光光譜鍍層分析儀之用。
文檔編號G01N23/223GK201540265SQ20092023468
公開日2010年8月4日 申請日期2009年8月12日 優先權日2009年8月12日
發明者黃清華 申請人:江蘇天瑞儀器股份有限公司