一種dc/dc模塊老化測試電路的製作方法

2023-05-09 03:50:31 3

專利名稱：一種dc/dc模塊老化測試電路的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及老化測試電路，更具體地說，涉及一種DC/DC模塊老化 測試電路。
背景技術：
目前電源產品的老化測試一般用電阻或回饋模塊作為電源產品的負載來 老化，但電阻做負載的缺點是老化成本高，電能完全損耗掉，回饋模塊做負載 的缺點是設備成本高，且回饋效率低。
實用新型內容
本實用新型要解決的技術問題在於，針對現有技術的上述缺陷，提供一種 DC/DC模塊老化測試電路。
本實用新型解決其技術問題所採用的技術方案是構造一種DC/DC模塊 老化測試電路，被測試的DC/DC模塊的輸出端通過回饋電路連接到輸入端。
在本實用新型所述的DC/DC模塊老化測試電路中，所述回饋電路是一可 調電阻，所述可調電阻連接在所述DC/DC模塊的正輸出端和正輸入端之間或 連接在所述DC/DC模塊的負輸出端和負輸入端之間。所述可調電阻包括:MOS 管和控制電路；所述MOS管的源極與所述DC/DC模塊的正輸出端相連、漏 極連接到所述DC/DC模塊的正輸入端、柵極連接到所述控制電路；或所述 MOS管的源極與DC/DC模塊的負輸出端相連、漏極連接到DC/DC模塊的負 輸入端、柵極連接到所述控制電路。
在本實用新型所述的DC/DC模塊老化測試電路中，所述回饋電路是可調 電阻，所述可調電阻的第一輸入端與所述DC/DC模塊的正輸出端連接、第一 輸出端與所述DC/DC模塊的正輸入端連接，第二輸入端與所述DC/DC模塊 的負輸出端連接、第二輸出端與所述DC/DC模塊的負輸入端連接。所述可調 電阻包括:第一、二MOS管和控制電路;所述第一MOS管的源極與所述DC/DC 模塊的正輸出端相連、漏極連接到所述DC/DC模塊的正輸入端、柵極連接到 所述控制電路；所述第二 MOS管的源極與所述DC/DC模塊的負輸出端相連、 漏極連接到所述DC/DC模塊的負輸入端、柵極連接到所述控制電路。
在本實用新型所述的DC/DC模塊老化測試電路中，所述回饋電路是固定 電阻，所述固定電阻連接在所述DC/DC模塊的正輸出端和正輸入端之間，在 電源的正輸入端和所述DC/DC模塊的正輸入端之間連接有可調電阻；或所述 固定電阻連接在所述DC/DC模塊的負輸出端和負輸入端之間，在電源的負輸 入端和所述DC/DC模塊的負輸入端之間連接有所述可調電阻。所述可調電阻 包括MOS管和控制電路，所述MOS管的源極與電源正輸入端連接、漏極與 所述DC/DC模塊的正輸入端連接、柵極連接到所述控制電路；或所述MOS 管的源極與電源負輸入端連接、漏極與所述DC/DC模塊的負輸入端連接、柵 極連接到所述控制電路。
在本實用新型所述的DC/DC模塊老化測試電路中，所述回饋電路包括第 一、二固定電阻；所述第一固定電阻連接在所述DC/DC模塊的正輸出端和所 述DC/DC模塊的正輸入端之間，所述第二固定電阻連接在所述DC/DC模塊 的負輸出端和所述DC/DC模塊的負輸入端之間；在電源的輸入端和所述 DC/DC模塊的輸入端之間連接有可調電阻。所述可調電阻包括第一、二MOS 管和控制電路；所述第一 MOS管的源極與電源正輸入端連接、漏極與所述 DC/DC模塊的正輸入端連接、柵極連接至+所述控偉l他路；所述第二MOS管的 源極與電源負輸入端連接、漏極與所述DC/DC模塊的負輸入端連接、柵極連 接到所述控制電路。
在本實用新型所述的DC/DC模塊老化測試電路中，所述DC/DC模塊包 括一個DC/DC變換器或串聯連接的至少兩個DC/DC變換器。
實施本實用新型的DC/DC模塊老化測試電路，具有以下有益效果電能 利用率高，設備成本低，且回饋效率高。


下面將結合附圖及實施例對本實用新型作進一步說明，附圖中
圖1是本實用新型DC/DC模塊老化測試電路第一實施例的邏輯框圖2是本實用新型DC/DC模塊老化測試電路第二實施例的邏輯框圖3是本實用新型DC/DC模塊老化測試電路第三實施例的邏輯框圖4是本實用新型DC/DC模塊老化測試電路第四實施例的邏輯框圖5是本實用新型DC/DC模塊老化測試電路第五實施例的邏輯框圖6是本實用新型DC/DC模塊老化測試電路第六實施例的邏輯框圖-,
具體實施方式
如圖1、 2、 3、 4、 5、 6所示，在本實用新型的DC/DC模塊老化測試電 路中，被測試的DC/DC模塊1的輸出端通過回饋電路2連接到輸入端。
如圖1所示的實施方式中，所述回饋電路2是一可調電阻，所述可調電阻 連接在所述DC/DC模塊1的正輸出端和正輸入端之間。所述可調電阻包括 MOS管和控制電路；所述MOS管的源極與所述DC/DC模塊1的正輸出端相 連、漏極連接到所述DC/DC模塊1的正輸入端、柵極連接到所述控制電路。
如圖2所示的實施方式中，所述回饋電路2是一可調電阻，所述可調電阻 連接在所述DC/DC模塊1的負輸出端和負輸入端之間。所述可調電阻包括 MOS管和控制電路；所述MOS管的源極與DC/DC模塊1的負輸出端相連、 漏極連接到DC/DC模塊1的負輸入端、柵極連接到所述控制電路。
如圖3所示的實施方式中，進一步地，所述回饋電路2是可調電阻，所述 可調電阻的第一輸入端與所述DC/DC模塊1的正輸出端連接、第一輸出端與 所述DC/DC模塊1的正輸入端連接，第二輸入端與所述DC/DC模塊1的負 輸出端連接、第二輸出端與所述DC/DC模塊1的負輸入端連接。所述可調電 阻包括第一、二 MOS管和控制電路；所述第一 MOS管的源極與所述DC/DC 模塊1的正輸出端相連、漏極連接到所述DC/DC模塊1的正輸入端、柵極連 接到所述控制電路；所述第二 MOS管的源極與所述DC/DC模塊1的負輸出 端相連、漏極連接到所述DC/DC模塊1的負輸入端、柵極連接到所述控制電 路。
如圖4所示的實施方式中，所述回饋電路2是固定電阻，所述固定電阻連接在所述DC/DC模塊1的正輸出端和正輸入端之間，在電源的正輸入端和所 述DC/DC模塊1的正輸入端之間連接有可調電阻；所述可調電阻包括MOS 管和控制電路，所述MOS管的源極與電源正輸入端連接、漏極與所述DC/DC 模塊1的正輸入端連接、柵極連接到所述控制電路。
如圖5所示的實施方式中，所述固定電阻連接在所述DC/DC模塊1的負 輸出端和負輸入端之間，在電源的負輸入端和所述DC/DC模塊1的負輸入端 之間連接有所述可調電阻。所述可調電阻包括MOS管和控制電路，所述MOS 管的源極與電源負輸入端連接、漏極與所述DC/DC模塊1的負輸入端連接、 柵極連接到所述控制電路。
如圖6所示的實施方式中，進一步地，所述回饋電路2包括第一、二固定 電阻；所述第一固定電阻連接在所述DC/DC模塊1的正輸出端和所述DC/DC 模塊1的正輸入端之間，所述第二固定電阻連接在所述DC/DC模塊1的負輸 出端和所述DC/DC模塊1的負輸入端之間；在電源的輸入端和所述DC/DC 模塊1的輸入端之間連接有可調電阻。所述可調電阻包括第一、二MOS管和 控制電路；所述第一MOS管的源極與電源正輸入端連接、漏極與所述DC/DC 模塊l的正輸入端連接、柵極連接到所述控制電路；所述第二MOS管的源極 與電源負輸入端連接、漏極與所述DC/DC模塊1的負輸入端連接、柵極連接 到所述控制電路。
在本實用新型所述的DC/DC模塊老化測試電路中，所述DC/DC模塊1 包括一個DC/DC變換器或串聯連接的至少兩個DC/DC變換器。
如DC/DC變換器為700W，效率為86%，那麼輸入電壓為54V的情況下，
輸入電流為15A，兩個模塊輸入電流為30A，如果我們設置調節電阻為(56-54)
/24=0.083歐姆，那麼回饋電流為24A，同樣老化功率的情況下，輸入電流只
需要6A。老化700W的DC/DC變換器原來需要輸入功率54*15=810\￥，現在
只需要54*3=162百，節能80%。
實際上一次電源的輸出是可調節的，我們考慮二次模塊的輸出誤差為
O.IV，那麼兩個串聯的誤差為0.2V， 一次電源系統的輸出誤差為O.IV，再考
慮到接觸電阻壓差，線上損耗，那麼一次電源輸出和兩個DC/DC變換器的串
聯電壓差為IV，那麼兩個DC/DC變換器的1400W輸出功率，除了
25A"V二25W損耗外，其餘的1375W都回饋了，效率98.2%。
進一步地，在本實用新型的DC/DC模塊老化測試電路中用一智能器件(單 片機或D S P )控制功率器件在線性狀態，並採樣DC/DC模塊的輸出電流， 輸出電壓和其他老化信息，將採集到的信息上報給運行於P C機的後臺軟體， 可以做到老化監控和老化模式的柔性(老化負載可動態跳變)。
權利要求1、一種DC/DC模塊老化測試電路，其特徵在於，被測試的DC/DC模塊(1)的輸出端通過回饋電路(2)連接到輸入端。
2、 根據權利要求1所述的DC/DC模塊老化測試電路，其特徵在於，所 述回饋電路(2)是一可調電阻，所述可調電阻連接在所述DC/DC模塊(1) 的正輸出端和正輸入端之間或連接在所述DC/DC模塊(1 )的負輸出端和負輸 入端之間。
3、 根據權利要求2所述的DC/DC模塊老化測試電路，其特徵在於，所 述可調電阻包括MOS管和控制電路；所述MOS管的源極與所述DC/DC模 塊(1)的正輸出端相連、漏極連接到所述DC/DC模塊(1)的正輸入端、柵 極連接到所述控制電路；或所述MOS管的源極與DC/DC模塊(1 )的負輸出 端相連、漏極連接到DC/DC模塊(1)的負輸入端、柵極連接致所述控帝J電路。
4、 根據權利要求1所述的DC/DC模塊老化測試電路，其特徵在於，所 述回饋電路(2)是可調電阻，所述可調電阻的第一輸入端與所述DC/DC模塊(1)的正輸出端連接、第一輸出端與所述DC/DC模塊(1)的正輸入端連接， 第二輸入端與所述DC/DC模塊(1)的負輸出端連接、第二輸出端與所述DC/DC 模塊(1)的負輸入端連接。
5、 根據權利要求4所述的DC/DC模塊老化測試電路，其特徵在於，所 述可調電阻包括第一、二MOS管和控制電路；所述第一MOS管的源極與 所述DC/DC模塊(1)的正輸出端相連、漏極連接到所述DC/DC模塊(1) 的正輸入端、柵極連接到所述控制電路;所述第二MOS管的源極與所述DC/DC 模塊(1)的負輸出端相連、漏極連接到所述DC/DC模塊(1)的負輸入端、 柵極連接到所述控制電路。
6、 根據權利要求1所述的DC/DC模塊老化測試電路，其特徵在於，所 述回饋電路(2)是固定電阻，所述固定電阻連接在所述DC/DC模塊(1)的 正輸出端和正輸入端之間，在電源的正輸入端和所述DC/DC模塊(1)的正輸 入端之間連接有可調電阻；或所述固定電阻連接在所述DC/DC模塊(1)的負輸出端和負輸入端之間，在電源的負輸入端和所述DC/DC模塊(1)的負輸入 端之間連接有所述可調電阻。
7、 根據權利要求6所述的DC/DC模塊老化測試電路，其特徵在於，所 述可調電阻包括MOS管和控制電路，所述MOS管的源極與電源正輸入端連 接、漏極與所述DC/DC模塊(1 )的正輸入端連接、柵極連接到所述控制電路; 或所述MOS管的源極與電源負輸入端連接、漏極與所述DC/DC模塊(1)的 負輸入端連接、柵極連接到所述控制電路。
8、 根據權利要求1所述的DC/DC模塊老化測試電路，其特徵在於，所 述回饋電路(2)包括第一、二固定電阻；所述第一固定電阻連接在所述DC/DC 模塊(1)的正輸出端和所述DC/DC模塊(1)的正輸入端之間，所述第二固 定電阻連接在所述DC/DC模塊(1)的負輸出端和所述DC/DC模塊(1)的 負輸入端之間；在電源的輸入端禾U所述DC/DC模塊(1)的輸入端之間連接有 可調電阻。
9、 根據權利要求8所述的DC/DC模塊老化 試電路，其特徵在於，所 述可調電阻包括第一、二MOS管和控制電路；所述第一MOS管的源極與電 源正輸入端連接、漏極與所述DC/DC模塊(1)的正輸入端連接、柵極連接到 所述控制電路；所述第二 MOS管的源極與電源負輸入端連接、漏極與所述 DC/DC模塊(1)的負輸入端連接、柵極連接到所述控制電路。
10、 根據權利要求1 9任意所述的DC/DC模塊老化測試電路，其特徵 在於，所述DC/DC模塊(1)包括一個DC/DC變換器或串聯連接的至少兩個 DC/DC變換器。
專利摘要本實用新型涉及一種DC/DC模塊老化測試電路，被測試的DC/DC模塊的輸出端通過回饋電路連接到輸入端。實施本實用新型的DC/DC模塊老化測試電路電能利用率高，設備成本低，且回饋效率高。
文檔編號G01R31/40GK201072437SQ20072012134
公開日2008年6月11日 申請日期2007年7月9日 優先權日2007年7月9日
發明者田志文 申請人:艾默生網絡能源有限公司