一種射頻洩漏測試方法
2023-04-27 21:10:21
專利名稱：一種射頻洩漏測試方法
技術領域：
本發明涉及電子測試與射頻洩漏量測試技術領域，是ー種射頻洩漏測試方法。
背景技術：
近年來，在電磁兼容及通信領域，對於產品的抗電磁幹擾性能要求越來越高，由於各類電子產品的電磁幹擾輻射頻段越來越寬，高頻段幹擾頻率越來越多，這使得一些射頻連接機構等相關產品的抗電磁幹擾能力要求越來越嚴格，而決定其空間抗電磁幹擾的能力往往取決於其設備腔體自身的對外洩漏量，由於現代電子設備朝向小型化發展，從而使得ー些射頻連接器、波導或波導轉換開關等射頻器件無法準確測試出其自身的射頻洩漏量。因此，迫切需要ー種射頻洩漏測試方法驗證ー些射頻連接器、波導或波導轉換開關等射頻器件的射頻洩漏量。
發明內容
本發明的目的是提供ー種射頻洩漏測試方法，通過使用接收天線及射頻轉換裝置組合，適用於射頻連接器、波導或波導轉換開關等射頻器件的射頻洩漏測試。本發明的技術方案是ー種射頻洩漏測試方法，它的設備包括射頻轉換裝置、接收天線、接收儀、信號源、同軸線纜和屏蔽室，其特徵是射頻轉換裝置通過同軸線纜與信號源導通，它們設置在屏蔽室外，射頻轉換裝置通過法蘭固定在屏蔽室牆體的測試過孔處；接收天線通過同軸線纜與接收儀導通，它們設置在屏蔽室內，接收天線正對屏蔽室牆體的測試過孔，接收天線頂端與測試過孔間的距離為D ;這種射頻洩漏測試方法按照如下的步驟進行
步驟1，測直通值；信號源發出信號，經過射頻轉換裝置將入射波沿屏蔽室的測試過孔傳入屏蔽室的內部，並由接收天線接收，在接收儀處得到直通值；
步驟2，測實際值；將被測器件設置在屏蔽室內的測試過孔處，被測器件與屏蔽室牆體的接觸面之間加裝屏蔽襯墊；設置好被測器件後，信號源發出信號，經過射頻轉換裝置將入射波沿屏蔽室的測試過孔傳入屏蔽室的內部，入射波通過被測器件後，由接收天線接收，在接收儀處得到實際值；
步驟3，計算射頻洩漏量；用步驟I得到的直通值減去步驟2得到的實際值，計算得出射頻洩漏量。所述的射頻轉換裝置是波導同軸轉換裝置、雙向射頻連接器或雙向金屬屏蔽電連接器，其中部設置有金屬法蘭盤，通過螺絲與屏蔽室的外牆體固定，金屬法蘭盤與屏蔽室的外牆體之間加裝導電襯墊。所述的接收天線為環形磁場測試天線、半波振子天線或微波喇叭天線，其接收測試頻段為9KHz至40GHz。所述的接收儀是接收機或頻譜儀。所述的信號源是函數信號發生器、調製信號發生器或寬頻信號源。
所述的同軸線纜是能夠滿足9KHz至40GHz測試的同軸線纜。所述的屏蔽室是電磁屏蔽室、屏蔽暗室或半電波暗室。所述的接收天線頂端與測試過孔間的距離D小於等於30釐米。本發明的特點是通過射頻轉換裝置、屏蔽室的隔離、接收儀可有效測試出被測器件的射頻洩漏量，由於採用了直通值(無被測器件時接收儀接收到的值)減去實際接收值的測試方法，使得測試最終結果精度高、誤差小。
下面將結合實施例對本發明作進ー步的說明。圖I是無被測器件時，射頻洩漏測試的結構示意圖。
圖2是有被測器件時，射頻洩漏測試的結構示意圖。圖中1、射頻轉換裝置；2、接收天線；3、接收儀；4、信號源；5、同軸線纜；6、屏蔽室；7、被測器件；D、接收天線頂部與測試過孔的距離。
具體實施例方式ー種射頻洩漏測試方法，它使用的設備包括射頻轉換裝置I、接收天線2、接收儀3、信號源4、同軸線纜5和屏蔽室6。如圖I所示，射頻轉換裝置I通過同軸線纜5與信號源4導通，它們設置在屏蔽室6外。射頻轉換裝置I通過固定在屏蔽室6牆體的測試過孔處，其中部設置有金屬法蘭盤，通過螺絲與屏蔽室6的外牆體固定，金屬法蘭盤與屏蔽室6的外牆體之間加裝導電襯墊。射頻轉換裝置I是波導同軸轉換裝置、雙向射頻連接器或雙向金屬屏蔽電連接器。信號源4是函數信號發生器、調製信號發生器或寬頻信號源。接收天線2通過同軸線纜5與接收儀3導通，它們設置在屏蔽室6內。接收天線2正對屏蔽室6牆體的測試過孔，接收天線2頂端與測試過孔間的距離為D，且D小於等於30cmo接收天線2為環形磁場測試天線、半波振子天線或微波喇叭天線，其接收測試頻段為 9KHz 至 40GHz。接收儀3是接收機或頻譜儀。裝置中連接各部分的同軸線纜5是能夠滿足9KHz至40GHz測試的同軸線纜。屏蔽室6是電磁屏蔽室、屏蔽暗室或半電波暗室，其目的是防止入射信號直接對接收儀3和接收天線2進行幹擾，進而影響測試的真實性而採用的ー種隔離環境。當射頻轉換裝置I、發射天線2、接收儀3、信號源4、同軸線纜5和屏蔽室6按照上述的方法設置完畢後，可以進行射頻洩漏的測試。這種射頻洩漏測試方法按照如下的步驟進行
步驟1，測直通值；信號源4發出信號，經過射頻轉換裝置I將入射波沿屏蔽室6的測試過孔傳入屏蔽室6的內部，並由接收天線2接收，在接收儀3處得到直通值，即在沒有被測器件7時，接收儀3處得到的數值並記錄
步驟2，測實際值；如圖2所示，將被測器件7設置在屏蔽室6內的測試過孔處，被測器件7與屏蔽室6牆體的接觸面之間加裝屏蔽襯墊；設置好被測器件7後，信號源4發出信號，經過射頻轉換裝置I將入射波沿屏蔽室6的測試過孔傳入屏蔽室6的內部，入射波通過被測器件7後，由接收天線2接收，在接收儀3處得到實際值並記錄；
步驟3，計算射頻洩漏量；用步驟I得到的直通值減去步驟2得到的實際值，所得結果為被測器件7的射頻洩漏量。這種採用直通值(無被測器件時接收儀接收到的值)減去實際接收值的測試方法，使得測試最終結果精度高、誤差小。本實施例沒有詳細敘述的部件和結構屬本行業的公知部件和常用結構或常用手·段，這裡不一一敘述。
權利要求
1.一種射頻洩漏測試方法，它的設備包括射頻轉換裝置(I)、接收天線(2)、接收儀(3)、信號源(4)、同軸線纜(5)和屏蔽室(6)，其特徵是射頻轉換裝置(I)通過同軸線纜(5)與信號源(4)導通，它們設置在屏蔽室(6)外，射頻轉換裝置(I)通過法蘭固定在屏蔽室(6)牆體的測試過孔處；接收天線(2)通過同軸線纜(5)與接收儀(3)導通，它們設置在屏蔽室(6)內，接收天線(2)正對 屏蔽室(6)牆體的測試過孔，接收天線(2)頂端與測試過孔間的距離為D ;這種射頻洩漏測試方法按照如下的步驟進行步驟1，測直通值；信號源(4)發出信號，經過射頻轉換裝置(I)將入射波沿屏蔽室(6)的測試過孔傳入屏蔽室(6)的內部，並由接收天線(2)接收，在接收儀(3)處得到直通值； 步驟2，測實際值；將被測器件(7)設置在屏蔽室(6)內的測試過孔處，被測器件(7)與屏蔽室(6)牆體的接觸面之間加裝屏蔽襯墊；設置好被測器件(7)後，信號源(4)發出信號，經過射頻轉換裝置(I)將入射波沿屏蔽室(6)的測試過孔傳入屏蔽室(6)的內部，入射波通過被測器件(7)後，由接收天線(2)接收，在接收儀(3)處得到實際值； 步驟3，計算射頻洩漏量；用步驟I得到的直通值減去步驟2得到的實際值，計算得出射頻洩漏量。
2.根據權利要求I中所述的一種射頻洩漏測試方法，其特徵是所述的射頻轉換裝置(I)是波導同軸轉換裝置、雙向射頻連接器或雙向金屬屏蔽電連接器，其中部設置有金屬法蘭盤，通過螺絲與屏蔽室(6)的外牆體固定，金屬法蘭盤與屏蔽室(6)的外牆體之間加裝導電襯墊。
3.根據權利要求I中所述的一種射頻洩漏測試方法，其特徵是所述的接收天線(2)為環形磁場測試天線、半波振子天線或微波喇叭天線，其接收測試頻段為9KHz至40GHz。
4.根據權利要求I中所述的一種射頻洩漏測試方法，其特徵是所述的接收儀(3)是接收機或頻譜儀。
5.根據權利要求I中所述的一種射頻洩漏測試方法，其特徵是所述的信號源(4)是函數信號發生器、調製信號發生器或寬頻信號源。
6.根據權利要求I中所述的一種射頻洩漏測試方法，其特徵是所述的同軸線纜(5)是能夠滿足9KHz至40GHz測試的同軸線纜。
7.根據權利要求I中所述的一種射頻洩漏測試方法，其特徵是所述的屏蔽室(6)是電磁屏蔽室、屏蔽暗室或半電波暗室。
8.根據權利要求I中所述的一種射頻洩漏測試方法，其特徵是所述的接收天線(2)頂端與測試過孔間的距離D小於等於30釐米。
全文摘要
本發明涉及電子測試與射頻洩漏量測試技術領域，是一種射頻洩漏測試方法。它的設備包括射頻轉換裝置、接收天線、接收儀、信號源、同軸線纜和屏蔽室，其特徵是射頻轉換裝置通過同軸線纜與信號源導通，它們設置在屏蔽室外，射頻轉換裝置通過法蘭固定在屏蔽室牆體的測試過孔處；接收天線通過同軸線纜與接收儀導通，它們設置在屏蔽室內，接收天線正對屏蔽室牆體的測試過孔，接收天線頂端與測試過孔間的距離為D；並按照測直通值、測實際值、計算射頻洩漏量三個步驟進行射頻洩漏的測試。這種射頻洩漏測試方法採用了直通值減去實際接收值的測試方法，使得測試最終結果精度高、誤差小。
文檔編號G01R29/08GK102955085SQ20121041262
公開日2013年3月6日 申請日期2012年10月25日 優先權日2012年10月25日
發明者宋博 申請人:西安開容電子技術有限責任公司