Pcb測試中實現單雙密度共用的連線方法
2023-04-27 08:23:26
專利名稱：Pcb測試中實現單雙密度共用的連線方法
PCB測試中實現單雙密度共用的連線方法技術領城本發明屬於印刷電路板(Printed Circuit Board; PCB)測試領域，尤其是指 一種網格與測試通道組的連線方法。背景技術：
根據所分布測試點的密度來區分，PCB通用測試中所採用的網格具有單密 度網格、雙密度網格等不同規格，其中，單密度網格每平方英寸有100個測試 點，兩個測試點的間距為100mil;雙密度網格每平方英寸有200個測試點，兩 個測試點的間距為70mil。常見的單密度測試機是配置單密度網格和與之配合的單密度測試通道組的，網格上的測試點與測試通道組中的測試通道--對應連接， 一個測試點連接一個測試通道，而在現有測試中，撒針的最大斜率可做到 600mil,則能測的PCB的最大密度為374點/平方英寸，超過此密度的PCB則不 能在單密度測試機上進行測試，而必須另外購置密度更高的測試機一一例如雙 密度測試機、四密度測試機等——才能進行有效測試，這就導致了PCB測試成 本的升高。
發明內容本發明的目的在於提供一種PCB測試中實現單雙密度共用的連線方法，用 於連接雙密度設置的網格與單密度設置的測試通道組，以實現測試通道組以單 密度設置的測試機可以進行單密度測試和雙密度測試兩種測試。本發明的目的是這樣實現的 一種PCB測試中實現單雙密度共用的連線方 法，提供有一雙密度網格及一單密度測試通道組，將所述雙密度網格均分為第 一區域、第二區域、第三區域及第四區域，所述第一區域上的奇數測試點列、 偶數測試點列分別與所述第二區域上的偶數測試點列、奇數測試點列順次對應， 所述第三區域上的奇數測試點列、偶數測試點列分別與所述第四區域上的偶數 測試點列、奇數測試點列順次對應，相對應的兩列上的測試點一一對應連接， 相連接的兩個測試點連接於所述單密度測試通道組中的一個測試通道。
上述PCB測試中實現單雙密度共用的連線方法中，所速第一區域、第二區 域、第三區域及第四區域上相對應的兩個測試點列，前一列的測試點與後一列 的測試點按照測試點的列順序依次--連接。上迷PCB測:汰+賣iE見單^又密皮共用的連線方法中，所迷第一區i或、第二區 域、第三區域及第四區域上相對應的兩個測試點列，前一列的奇數測試點與後 一列的偶數測試點順次——連接，前一列的偶數測試點與後一列的奇數測試點 順次--連接。本發明的有益效果在於本發明所公開的PCB測試中實現單雙密度共用的 連線方法基於現有的單密度測試機而對其進行改造，將其單密度網格更換成雙 密度網格，並按照本發明所述將雙密度網格與單密度測試機的單密度測試通道 組連接，進行PCB單密度測試時，選用雙密度網格上的奇數測試點列，而偶數 測試點列懸空，所有的奇數測試點列構成了單密度網格，且使每個測試通道對 應檢測一個測試點，故可進行單密度測試，進行PCB雙密度測試時，選用雙密 度網格上的第二區域和第三區域，而第一區域和第四區域懸空，第二區域和第 三區域上的測試點構成了雙密度網格，且使每個測試通道對應檢測一個測試點， 故可進行雙密度測試，從而實現測試通道組以單密度設置的測試機可以進行單 密度測試和雙密度測試兩種測試，降低了 PCB測試的成本。
下面結合附圖及實施例對本發明做進一步說明。圖1是本發明的網格與測試通道組的連線示意圖。圖2是本發明的網格與測試通道組的部分連線示意圖。圖3是本發明的另 一 實施例的網格與測試通道組的連線示意圖。圖4是本發明的與圖3同一實施例的網格與測試通道組的部分連線示意圖。
具體實施方式本發明所公開的PCB測試中實現單雙密度共用的連線方法，其用於連接雙 密度網格和單密度測試通道組，可對現有的單密度測試機進行改進，將其單密 度網格替換設置為雙密度網格，使經過改進後的單密度測試機既可執行單密度 測試，也可執行雙密度測試。
參考圖1和圖2所示，本發明提供有一雙密度網格IO及一單密度測試通道 組20,將雙密度網格10均分為第一區域12、第二區域14、第三區域16及第四 區域18等四個區域，每個區域上的測試點100的數目相同。第一區域12上的 奇數測試點列與第二區城14上的偶數測試點列順次對應，即第一區域12上的第1測試點列121、第3測試點列123、第5測試點列125.......分別對應於第二區域14上的第2測試點列142、第4測試點列144、第6測試點列146...…， 相對應的兩列上的測試點按照測試點的列順序依次連接，即第1測試點列121 上的第一個測試點與第2測試點列142上的第一個測試點連接，第1測試點列 121上的第二個測試點與第2測試點列142上的第二個測試點連接，……，依此 類推，而實現所對應的兩列上的測試點的一一對應連接，相連"t妻的兩個測試點 連接於單密度測試通道組20中的一個測試通道200;第一區域12上的偶數測試 點列與第二區域14上的奇數測試點列順次對應，即第一區域12上的第2測試點列122、第4測試點列124、第6測試點列126.......分別對應於第二區域14上的第1測試點列141、第3測試點列143、第5測試點列145.......，相對應的兩列上的測試點按照測試點的列順序依次連接，即第2測試點列122上的第 一個測試點與第1測試點列141上的第一個測試點連接，第2測試點列122上 的第二個測試點與第1測試點列141上的第二個測試點連接，……，依此類推， 而實現所對應的兩列上的測試點的——對應連接，相連接的兩個測試點連接於 單密度測試通道組20中的一個測試通道200。按照第一區域12與第二區域14的連線方法，以實現第三區域16與第四區 域18的連接，第三區域16上的奇數測試點列與第四區域18上的偶數測試點列 順次對應，相對應的兩列上的測試點按照測試點的列順序依次連接，相連接的 兩個測試點連接於單密度測試通道組20中的一個測試通道200;第三區域16上 的偶數測試點列與第四區域18上的奇數測試點列順次對應，相對應的兩列上的 測試點按照測試點的列順序依次連接，相連接的兩個測試點連接於單密度測試 通道組20中的一個測試通道200。基於現有的單密度測試機，將其單密度網格更換成雙密度網格，使用本發 明所涉及的PCB測試中實現單雙密度共用的連線方法將雙密度網絡連接於單密 度測試機上的單密度測試通道組，進行PCB單密度測試時，選用雙密度網格上 的奇數測試點列，而偶數測試點列懸空，所有的奇數測試點列構成了單密度網 格，且使每個測試通道對應檢測一個測試點，故可進行單密度測試，進行PCB 雙密度測試時，選用雙密度網格上的第二區域和第三區域，而第一區域和第四 區域懸空，第二區域和第三區域上的測試點構成了雙密度網格，且使每個測試 通道對應檢測一個測試點，故可進行雙密度測試，從而實現測試通道組以單密度設置的測試機可以進行單密度測試和雙密度測試兩種測試，降低了 PCB測試 的成本。結合圖3和圖4，以說明本發明的另一實施例，提供有一雙密度網格30及 一單密度測試通道組40,將雙密度網格30均分為第一區域32、第二區域34、 第三區域36及第四區域38等四個區域。第一區域32上的奇數測試點列與第二 區域34上的偶數測試點列順次對應，相對應的兩列上，前一列的奇數測試點與 後一列的偶數測試點順次連接，前一列的偶數測試點與後一列的奇數測試點順次連接，即第一區域32的第1測試點列321的第l個測試點、第3個測試點.......分別與第二區域34的第2測試點列342的第2個測試點、第4個測試點.......連接，第一區域32的第1測試點列321的第2個測試點、第4個測試點.......分別與第二區域34的第2測試點列342的第1個測試點、第3個測試點.......連接，......，依此類推，實現所對應的兩列上的測試點的——對應連接，相連接的兩個測試點連接於單密度測試通道組40中的一個測試通道400;第一區域 32上的偶數測試點列與第二區域34上的奇數測試點列順次對應，相對應的兩列 上，前一列的奇數測試點與後一列的偶數測試點順次連接，前一列的偶數測試 點與後一列的奇數測試點順次連接，相連接的兩個測試點連接於單密度測試通 道組40中的一個測試通道400。按照第一區域32與第二區域34的連線方法， 以實現第三區域36與第四區域38的連接，第三區域36上的奇數測試點列與第 四區域38上的偶數測試點列順次對應，相對應的兩列上，前一列的奇數測試點 與後 一列的偶數測試點順次連接，前一列的偶數測試點與後 一列的奇數測試點 順次連接，相連接的兩個測試點連接於單密度測試通道組40中的一個測試通道 400;第三區域36上的偶數測試點列與第四區域38上的奇數測試點列順次對應， 相對應的兩列上，前一列的奇數測試點與後一列的偶數測試點順次連接，前一 列的偶數測試點與後一列的奇數測試點順次連接，相連接的兩個測試點連接於 單密度測試通道組40中的一個測試通道400。此實施例所描述的連線方法，其 對於單密度測試機的改造，相同於上一實施例所述。
權利要求
1. 一種PCB測試中實現單雙密度共用的連線方法，其特徵在於提供有一雙密度網格及一單密度測試通道組，將所述雙密度網格均分為第一區域、第二區域、第三區域及第四區域，所述第一區域上的奇數測試點列、偶數測試點列分別與所述第二區域上的偶數測試點列、奇數測試點列順次對應，所述第三區域上的奇數測試點列、偶數測試點列分別與所述第四區域上的偶數測試點列、奇數測試點列順次對應，相對應的兩列上的測試點一一對應連接，相連接的兩個測試點連接於所述單密度測試通道組中的一個測試通道。
2. 如權利要求1所述的PCB測試中實現單雙密度共用的連線方法，其特徵 在於所述第一區域、第二區域、第三區域及第四區域上相對應的兩個測試點 列，前一列的測試點與後一列的測試點按照測試點的列順序依次——連接。
3. 如權利要求1所述的PCB測試中實現單雙密度共用的連線方法，其特徵 在於所述第一區域、第二區域、第三區域及第四區域上相對應的兩個測試點 列，前一列的奇數測試點與後一列的偶數測試點順次——連接，前一列的偶數 測試點與後 一列的奇數測試點順次——連接。
全文摘要
本發明公開一種PCB測試中實現單雙密度共用的連線方法，提供有一雙密度網格及一單密度測試通道組，將雙密度網格均分為第一區域、第二區域、第三區域及第四區域，第一區域上的奇數測試點列、偶數測試點列分別與第二區域上的偶數測試點列、奇數測試點列順次對應，第三區域上的奇數測試點列、偶數測試點列分別與第四區域上的偶數測試點列、奇數測試點列順次對應，相對應的兩列上的測試點一一對應連接，相連接的兩個測試點連接於所述單密度測試通道組中的一個測試通道。本發明用於連接雙密度設置的網格與單密度設置的測試通道組，而實現測試通道組以單密度設置的測試機可以進行單密度測試和雙密度測試兩種測試，從而降低PCB測試的成本。
文檔編號G01R1/02GK101210939SQ20061017059
公開日2008年7月2日 申請日期2006年12月26日 優先權日2006年12月26日
發明者張亞民 申請人:張亞民