大平片光譜測試儀的光學系統的製作方法
2023-05-15 00:33:36 1
專利名稱：大平片光譜測試儀的光學系統的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及物質成分分析的光譜儀器領域，具體講就是涉及一種可以對大尺寸樣品小通光孔進行垂直測試的大平片光譜測試儀的光學系統。
背景技術：
大平片光譜測試儀的基本工作原理是溶液中的物質在光的照射激發下，產生了對光的吸收效應，物質對光的吸收是具有選擇性的。各種不同的物質都具有其各自的吸收光譜，因此當某單色光通過溶液時，其能量就會被吸收而減弱，光能量減弱的程度和物質的濃度有一定的比例關係，大平片光譜測試儀就是利用這一原理來對被分析樣品和標樣光強度的對比來分析物質成分的。 大平片光譜測試儀在農產品、食品、衛生、醫藥、化工、人民生活等各個領域都有著廣泛的應用，是現代工業、農業、科學研究不可缺少的分析儀器。大平片光譜測試儀基本結構由光源、單色器、樣品室、光電檢測裝置和信號指示裝置五部分組成。大平片光譜測試儀樣品室是放置被檢測樣品的地方，傳統的測試儀器樣品室體積較小，一旦待測試樣品為板型樣品時，樣品只能豎立在測試平臺上，不利於樣品的定位，嚴重地的影響了測試精度和測試準確性，如果需要測試尺寸大於80mmX IOOmm的樣品時，還需要將大塊樣品進行破壞，裁剪成小於80mmX IOOmm的尺寸才能測試，操作複雜，無法測試尺寸較大且不允許破壞的樣品。同時目前傳統的測試儀器在測試過程中，測試光斑較大，不適用於現有越來越多科學技術領域對測試光斑的要求。
實用新型內容本實用新型的目的提供一種大平片光譜測試儀的光學系統，通過對現有光路的改變，使傳統大平片光譜測試儀中光路傳輸方向發生改變，縮小測試光斑，實現了大尺寸待測樣品的小通光孔測試。同時使待測樣品可以直接放在工作檯上測試，保證了測試精度和測試準確性，操作簡便，又可以不破壞測試樣品，節約了成本。技術方案為了實現上述的技術目的，本實用新型設計一種大平片光譜測試儀的光學系統，包括鶴燈光源，鶴燈光源的光發散到第一球面鏡上，光從第一球面鏡反射出後，反射光路上裝有入射光狹縫，光線經入射光狹縫射出射到第一反射鏡，光被第一反射鏡反射後，進入反射光路上的第二球面鏡，經由第二球面鏡反射光路上的光柵色散後射至第三球面鏡，光經第三球面鏡射出後進入裝在射出光路上的出射光狹縫，光線從出射光狹縫射出後射至濾光片，從濾光片射出的單色光至第一透鏡，單色光經第一透鏡射出後到達第二反射鏡，從第二反射鏡射出的單色光通過射出光路上的測試樣品臺後射至第二透鏡，從第二透鏡射出的單色光最後到達接收器，其特徵在於所述第二反射鏡與入射光成45°角。[0010]所述入射光狹縫和出射光狹縫都為可變超小圓形狹縫。有益效果本實用新型在光路上進行了新的設計，單色光經透鏡再經45°的反射鏡將單色光垂直穿透過樣品再射到光電接收器上，從而實現了樣品可以直接平放在工作檯上進行測試，確保了小孔徑樣品的定位，保證了測試精度和準確性。
附圖I是本實用新型的結構示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖和具體實施例，對本實用新型做進一步說明。如附圖I所示，一種大平片光譜測試儀的光學系統，包括鎢燈光源1，鎢燈光源I的光發散到第一球面鏡2上，光從第一球面鏡2反射出後，經可變超小圓形狹縫的入射光狹縫3射到第一反射鏡4，光被第一反射鏡4反射後經由第二球面鏡5後射到光柵6，經光柵6色散後射至第三球面鏡7，再經第三球面鏡7射出後依次經可變超小圓形狹縫的出射光狹縫8和濾光片9射出的單色光至第一透鏡10，單色光經第一透鏡10射出後到達與入射光成45°角第二反射鏡11，從第二反射鏡11射出的單色光通過放置有樣品的測試樣品臺12後射至第二透鏡13，從第二透鏡13射出的光最後到達接收器14，接收器14分析得到物質成分。本實用新型在光路上進行了新的設計，單色光經透鏡再經45°的第二反射鏡11將單色光垂直穿透過樣品再射到光電接收器12上，從而實現了樣品可以直接平放在工作檯上進行測試，確保了小孔徑樣品的定位，提高了測試精度和準確性。
權利要求1.一種大平片光譜測試儀的光學系統，包括鎢燈光源(I)，鎢燈光源(I)的光發散到第一球面鏡(2)上,光從第一球面鏡(2)反射出後,反射光路上裝有入射光狹縫(3),光線經入射光狹縫(3)射出到第一反射鏡(4)，光被第一反射鏡(4)反射後，進入反射光路上的第二球面鏡(5)，經由第二球面鏡(5)反射光路上的光柵(6)色散後射至第三球面鏡(7)，光經第三球面鏡(7)射出後進入裝在射出光路上的出射光狹縫(8)，光線從出射光狹縫(8)射出後射至濾光片(9)，從濾光片(9)射出的單色光至第一透鏡(10)，單色光經第一透鏡(10)射出後到達第二反射鏡(11)，從第二反射鏡(11)射出的單色光通過射出光路上的測試樣品臺(12)後射至第二透鏡(13)，從第二透鏡(13)射出的單色光最後到達接收器(14)，其特徵在於 所述第二反射鏡(11)與入射光成45°角。
2.如權利要求I所述的一種大平片光譜測試儀的光學系統，其特徵在於所述入射光 狹縫(3)和出射光狹縫(8)都為可變超小圓形狹縫。
專利摘要一種大平片光譜測試儀的光學系統，包括鎢燈光源，鎢燈光源的光發散到第一球面鏡上，光從第一球面鏡反射出後，經入射光狹縫射到第一反射鏡，光被第一反射鏡反射後經由第二球面鏡後射到光柵，經光柵色散後的光射至第三球面鏡，再經第三球面鏡射出後依次經出射光狹縫和濾光片射出的單色光至第一透鏡，單色光經第一透鏡射出後到達第二反射鏡，從第二反射鏡射出的單色光通過測試樣品臺後射至第二透鏡，從第二透鏡射出的單色光最後到達接收器，其特徵在於所述第二反射鏡與入射光成45°角。本實用新型實現了樣品直接平放在工作檯上進行測試，確保了小孔徑樣品的定位，保證了測試精度和準確性。
文檔編號G02B7/182GK202512053SQ20122011578
公開日2012年10月31日 申請日期2012年3月23日 優先權日2012年3月23日
發明者馮邁東 申請人:上海欣茂儀器有限公司