用於測試貼片式二極體焊接拉力的檢測裝置的製作方法

2023-05-11 14:23:36 1

專利名稱：用於測試貼片式二極體焊接拉力的檢測裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及半導體晶片測試領域，具體涉及一種用於測試貼片式二極體焊接拉力的檢測裝置。
背景技術：
現有技術在二極體晶片製造過程中沒有對晶片進行焊接拉力的測試裝置，晶片投入到二極體封裝的時候出現合格率波動很大，對公司的效益損失相當大，更是造成社會資源的浪費。現有貼片式二極體對焊接爐的參數設定或焊料的搭配只是憑經驗而定，並沒有具體的數據作為依據，難免造成同種規格的二極體封裝在同樣的設備條件下採用不同的參數設定或不同焊料的搭配，這樣就會增加了影響二極體失效的因素。此外，如果沒有規定焊接拉力標準，當一個二極體雖然焊接上了，但是拉力很小，此時其它的電性也沒有問題，但是VF值會處於臨界狀態，在通電的時候一方面會耗電，另一方面器件會發出很高的熱量， 經過這類惡性循環，溫度超過晶片的結溫，導致晶片擊穿。這類的客戶抱怨經常發生。上述的描述是指當拉力的薄弱環節在焊料的時候發生的結果，還有一種情況是當拉力的薄弱環節在晶片本身的時候。晶片的構造是有很多金屬層疊加起來，如果金屬層不牢固，焊接拉力也會很小，一樣會造成上述的不良結果。因此設計一種用於測試晶片耐壓力的檢測裝置顯得很重要。發明內容
本發明提供一種用於測試貼片式二極體焊接拉力的檢測裝置，此檢測裝置實現了晶片和引線框焊接拉力的測量，且結構簡單，方便測試人員操作，能有效固定晶片和引線框且保證了測試數據準確性，從而提高了良率。
為達到上述目的，本發明採用的技術方案是一種用於測試貼片式二極體焊接拉力的檢測裝置，此檢測裝置的待測組件包括至少一個晶片、分別具有若干相間排列引腳條的第一引線框和第二引線框，第一引線框的引腳條一端為晶片支撐區，另一端固定連接到第一連筋，第二引線框的引腳條一端為晶片支撐區， 另一端固定連接到第二連筋，所述晶片焊接於第一引線框的晶片支撐區和第二引線框的晶片支撐區之間，所述檢測裝置包括一中空的固定基座和固定於此固定基座上表面的固定板，此固定板一側安裝有下端具有頂塊的用於測試壓力的推拉力計，位於固定基座上方且在推拉力計正下方設置有升降臺，此升降臺上端具有倒「T」型安裝槽，一位於固定基座內的槓桿通過固定轉軸與固定基座定位，一頂杆固定於所述升降臺下端面，此一頂杆另一端位於槓桿一端上方，槓桿另一端安裝於一調節螺母下方，調節螺母上下行進時可帶動槓桿繞固定轉軸旋轉；一組件固定座的下端部嵌入所述倒「T」型安裝槽內，此組件固定座上端部具有位於其中央的讓位槽，此讓位槽的兩側且位於組件固定座上端部表面分別設有第一定位銷和第二定位銷，工作狀態下，第一定位銷和第二定位銷分別嵌入第一引線框的相鄰引腳條和第二引線框的相鄰引腳條之間的間隙中，從而固定待測組件並使得所述晶片和一側引腳條的部分區域位於讓位槽正上方，所述頂塊位於此引腳條的部分區域正上方。
上述技術方案中的進一步改進方案如下I、上述方案中，所述第一定位銷和第二定位銷各自的數目均為兩個，兩個此第一定位銷之間留有可供引腳條嵌入的間隙，兩個此第二定位銷之間留有可供引腳條嵌入的間隙。
2、上述方案中，所述頂杆與槓桿接觸的端部形狀為圓弧形。
3、上述方案中，所述組件固定座形狀為「工」字形。
4、上述方案中，所述頂杆嵌入固定基座的導套內。
由於上述技術方案運用，本發明與現有技術相比具有下列優點和效果I、本發明克服了現有技術只是考慮晶片的電性能力，並沒有考慮晶片的機械能力，也沒有相關的設備對晶片的機械能力進行檢測。同時現有技術也沒有相關的設備對晶片和引線框之間的焊接拉力進行測試的缺陷，有針對性的設計一種檢測裝置結構簡單，方便測試人員操作，能有效固定半導體晶片且測試數據準確的檢測裝置；其次，對晶片的焊接拉力進行測試，根據積累的經驗可以知道晶片應該承受多大的力才能在封裝的過程中良率比較高，從而制定相關的晶片測試規範，對晶片的採購或製造進行嚴格把關，最大程度避免後面封裝的損失。
2、本發明組件固定座形狀為「工」字形，可以有足夠的空間放置引線框，又可以與下面的部件進行定位和組裝，此方法可以讓該裝置整體外觀簡潔；其次，頂杆與槓桿接觸的端部形狀為圓弧形，避免了頂杆與槓桿臺階的幹涉從而獲得升降臺上下運動順暢；再次，頂杆嵌入固定基座的導套保證了升降臺上下運動順暢。


附圖I為本發明檢測裝置結構示意圖；附圖2為附圖I中A處局部放大圖；附圖3為附圖I中B處局部放大圖；附圖4為本發明組件固定座結構示意圖；附圖5為附圖4的俯視圖。
以上附圖中I、固定基座；2、固定板；3、頂塊；4、推拉力計；5、升降臺；6、倒「T」 型安裝槽、槓桿；8、固定轉軸；9、頂杆；10、調節螺母；11、組件固定座；12、讓位槽；13、待測組件；14、導套；15、晶片；16、引腳條；17、第一引線框；18、第二引線框；19、晶片支撐區；20、第一連筋；21、第二連筋；22、第一定位銷；23、第二定位銷。
具體實施方式
下面結合附圖及實施例對本發明作進一步描述實施例一種用於測試貼片式二極體焊接拉力的檢測裝置，此檢測裝置的待測組件13 包括至少一個晶片15、分別具有若干相間排列引腳條16的第一引線框17和第二引線框 18，第一引線框17的引腳條16—端為晶片支撐區19，另一端固定連接到第一連筋20，第二引線框18的引腳條一端為晶片支撐區19，另一端固定連接到第二連筋21，所述晶片15焊接於第一引線框17的晶片支撐區19和第二引線框18的晶片支撐區19之間，所述檢測裝置包括一中空的固定基座I和固定於此固定基座I上表面的固定板2,此固定板2 —側安裝有下端具有頂塊3的用於測試壓力的推拉力計4，位於固定基座I上方且在推拉力計4正下方設置有升降臺5，此升降臺5上端具有倒「T」型安裝槽6，一位於固定基座I內的槓桿 7通過固定轉軸8與固定基座I定位，一頂杆9固定於所述升降臺5下端面，此一頂杆9另一端位於槓桿7 —端上方，槓桿7另一端安裝於一調節螺母10下方，調節螺母10上下行進時可帶動槓桿7繞固定轉軸8旋轉；一組件固定座11的下端部嵌入所述倒「T」型安裝槽6內，此組件固定座11上端部具有位於其中央的讓位槽12，此讓位槽12的兩側且位於組件固定座11上端部表面分別設有第一定位銷22和第二定位銷23，工作狀態下，第一定位銷22和第二定位銷23分別嵌入第一引線框17的相鄰引腳條16和第二引線框18的相鄰引腳條之間的間隙中，從而固定待測組件並使得所述晶片15和一側引腳條的部分區域位於讓位槽12正上方，所述頂塊3位於此引腳條的部分區域正上方。
上述第一定位銷22和第二定位銷23各自的數目均為兩個，兩個此第一定位銷22 之間留有可供引腳條16嵌入的間隙，兩個此第二定位銷23之間留有可供引腳條16嵌入的間隙。
上述頂杆9與槓桿7接觸的端部形狀為圓弧形。
上述組件固定座11形狀為「工」字形。
上述頂杆9嵌入固定基座I的導套14內。
上述實施例只為說明本發明的技術構思及特點，其目的在於讓熟悉此項技術的人士能夠了解本發明的內容並據以實施，並不能以此限制本發明的保護範圍。凡根據本發明精神實質所作的等效變化或修飾，都應涵蓋在本發明的保護範圍之內。
權利要求
1.一種用於測試貼片式二極體焊接拉力的檢測裝置，此檢測裝置的待測組件(13)包括至少一個晶片(15)、分別具有若干相間排列引腳條(16)的第一引線框(17)和第二引線框(18)，第一引線框(17)的引腳條(16)—端為晶片支撐區(19)，另一端固定連接到第一連筋(20)，第二引線框(18)的引腳條一端為晶片支撐區(19)，另一端固定連接到第二連筋(21)，所述晶片(15)焊接於第一引線框(17)的晶片支撐區(19)和第二引線框(18)的晶片支撐區(19)之間，其特徵在於所述檢測裝置包括一中空的固定基座(I)和固定於此固定基座(I)上表面的固定板(2)，此固定板(2)—側安裝有下端具有頂塊(3)的用於測試壓力的推拉力計(4)，位於固定基座(I)上方且在推拉力計(4)正下方設置有升降臺(5)，此升降臺(5)上端具有倒「T」型安裝槽(6), —位於固定基座(I)內的槓桿(7)通過固定轉軸(8) 與固定基座(I)定位，一頂杆(9)固定於所述升降臺(5)下端面,此一頂杆(9)另一端位於槓桿(7) —端上方，槓桿(7)另一端安裝於一調節螺母(10)下方，調節螺母(10)上下行進時可帶動槓桿(7 )繞固定轉軸(8 )旋轉；一組件固定座(11)的下端部嵌入所述倒「T」型安裝槽(6)內，此組件固定座(11)上端部具有位於其中央的讓位槽(12 )，此讓位槽(12 )的兩側且位於組件固定座(11)上端部表面分別設有第一定位銷(22)和第二定位銷(23)，工作狀態下，第一定位銷(22)和第二定位銷(23)分別嵌入第一引線框(17)的相鄰引腳條(16)和第二引線框(18)的相鄰引腳條之間的間隙中，從而固定待測組件並使得所述晶片(15)和一側引腳條的部分區域位於讓位槽(12)正上方，所述頂塊(3)位於此引腳條的部分區域正上方。
2.根據權利要求I所述的檢測裝置，其特徵在於所述第一定位銷(22)和第二定位銷(23)各自的數目均為兩個，兩個此第一定位銷(22)之間留有可供引腳條(16)嵌入的間隙， 兩個此第二定位銷(23 )之間留有可供引腳條(16 )嵌入的間隙。
3.根據權利要求I所述的檢測裝置，其特徵在於所述頂杆(9)與槓桿(7)接觸的端部形狀為圓弧形。
4.根據權利要求I所述的檢測裝置，其特徵在於所述組件固定座(11)形狀為「工」字形。
5.根據權利要求I所述的檢測裝置，其特徵在於所述頂杆(9)嵌入固定基座(I)的導套(14)內。
全文摘要
本發明公開一種用於測試貼片式二極體焊接拉力的檢測裝置，包括下端具有頂塊的用於測試壓力的推拉力計，升降臺上端具有倒「T」型安裝槽，一位於固定基座內的槓桿通過固定轉軸與固定基座定位，一頂杆固定於所述升降臺下端面，此一頂杆另一端位於槓桿一端上方，槓桿另一端安裝於一調節螺母下方，調節螺母上下行進時可帶動槓桿繞固定轉軸旋轉；一組件固定座的下端部嵌入所述倒「T」型安裝槽內，此組件固定座上端部具有位於其中央的讓位槽，此讓位槽的兩側且位於組件固定座上端部表面分別設有第一定位銷和第二定位銷。本發明檢測裝置實現了晶片和引線框焊接拉力的測量，且結構簡單，方便測試人員操作，能有效固定晶片和引線框且保證了測試數據準確性，從而提高了良率。
文檔編號G01N19/04GK102539324SQ201210017530
公開日2012年7月4日 申請日期2012年1月19日 優先權日2012年1月19日
發明者任志龍, 張洪海, 葛永明, 韋德富 申請人:蘇州固鎝電子股份有限公司