自動雷射測尺儀的製作方法

2023-05-23 10:30:21 3

專利名稱：自動雷射測尺儀的製作方法
技術領域：
本實用新型涉及材料的檢測設備，具體地說是一種自動雷射測尺儀，可應用於金屬材料試樣在拉伸或衝擊試驗前對其截面尺寸的精確和快速地檢測，也可用於需進行精確測量截面尺寸的其它非金屬材料的檢測。
背景技術：
為了得到金屬材料的力學性能，需要對金屬材料試樣在拉伸或衝擊試驗前進行精確的最小截面檢測。拉伸試驗是檢驗金屬力學性能的最基本、最重要的試驗項目。金屬材料的主要應力計算公式如下:
權利要求1.一種自動雷射測尺儀，其特徵在於:包括夾緊裝置(I)、電動執行器(4)、滑臺板(6)、水平雷射測試元件(9)、垂直雷射測試元件(10)、殼體(19)及控制系統，其中水平雷射測試元件(9)和垂直雷射測試元件(10)分別安裝在殼體(19)上，水平雷射測試元件(9)和垂直雷射測試元件(10)發出的雷射相互垂直且共面；所述滑臺板(6)與安裝在殼體(19)內的電動執行器(4)相連，由該電動執行器(4)驅動在殼體(19)上往復運動，所述滑臺板(6)的運動軌跡在水平雷射測試元件(9)和垂直雷射測試元件(10)之間穿過；所述滑臺板(6)上安裝有將待檢試樣(8)固定在滑臺板(6)上的夾緊裝置(I )，該夾緊裝置(I)及侍檢試樣(8)均隨滑臺板(6)運動；所述電動執行器(4)、水平雷射測試元件(9)和垂直雷射測試元件(10)分別與位於殼體(19)內的控制系統連接，由水平雷射測試元件(9)和垂直雷射測試元件(10)檢測出的數據傳給控制系統。
2.按權利要求1所述的自動雷射測尺儀，其特徵在於:所述滑臺板(6)上安裝有滑臺板上滑軌(3)，滑臺板(6)的前後兩端分別設有前固定塊(2)及後固定塊(7)，其中前固定塊(2)靠近滑臺板上滑軌(3)的前端，所述後固定塊(7)通過滑塊在滑臺板上滑軌(3)上往復運動，固定不同規格的待檢試樣(8 )。
3.按權利要求2所述的自動雷射測尺儀，其特徵在於:所述滑臺板上滑軌(3)為兩根，相互平行，兩根滑臺板上滑軌(3)之間的滑臺板(6)上開有通孔；所述待檢試樣(8)位於通孔上方，待檢試樣(8)的前後兩端分別固定在前固定塊(2)及後固定塊(7)上，其中待檢試樣(8 )的前端由所述夾緊裝置(I)夾緊固定。
4.按權利要求1、2或3所述的自動雷射測尺儀，其特徵在於:所述夾緊裝置(I)包括前固定塊(2 )、上定位塊(12)、彈簧軸(13 )、夾緊塊(14 )及彈簧(15 )，其中上定位塊(12 )安裝在前固定塊 (2)的一端，所述前固定塊(2)上開有第一條形孔(18)，該第一條形孔(18)與前固定塊(2)中空的內部相連通，所述彈簧軸(13)容置在前固定塊(2)的內部，並與前固定塊(2)螺紋連接，所述夾緊塊(14)的下部由第一條形孔(18)穿入、並套設在彈簧軸(13)上；在夾緊塊(14)的下部與彈簧軸(13) 一端端部之間設有套在彈簧軸(13)上的彈簧(15)，為夾緊塊(14)提供夾緊待檢試樣(8)的夾緊力。
5.按權利要求4所述的自動雷射測尺儀，其特徵在於:所述彈簧軸(13)的軸向截面為「T」形，夾緊塊(14)的下部開有供彈簧軸(13)穿過的圓孔。
6.按權利要求4所述的自動雷射測尺儀，其特徵在於:所述夾緊塊(14)的上部露在前固定塊(2)的外面，夾緊塊(14)露出部分的下表面與所述前固定塊(2)的上表面相接觸。
7.按權利要求1所述的自動雷射測尺儀，其特徵在於:所述殼體(19)的上面板(16)上安裝有至少一根滑臺板下滑軌(11)，滑臺板(6)通過滑塊在滑臺板下滑軌(11)上運動，實現待檢試樣(8 )的檢測。
8.按權利要求1所述的自動雷射測尺儀，其特徵在於:所述水平雷射測試元件(9)和垂直雷射測試元件(10)分別通過固定板(20)安裝在殼體(19)上，該固定板(20)垂直於所述殼體(19)的上面板(16)，在固定板(20)與上面板(16)相接觸的底部中間開有供滑臺板(6)及滑臺板(6)上待檢試樣(8)通過並檢測的孔。
9.按權利要求1所述的自動雷射測尺儀，其特徵在於:所述滑臺板(6)通過滑臺連接板(5)與電動執行器(4)相連接，殼體(19)的上面板(16)上設有第二條形孔(21)，滑臺連接板(5)的上端由所述第二條形孔(21)穿出、連接至滑臺板(6)的下表面。
10.按權利要求1所述的自動雷射測尺儀，其特徵在於:所述殼體(19)上安裝有與控制系統相連的觸摸 屏(17),殼體(19)的一端設有掃碼器。
專利摘要本實用新型涉及材料的檢測設備，具體地說是一種自動雷射測尺儀，包括夾緊裝置、電動執行器、滑臺板、水平雷射測試元件、垂直雷射測試元件、殼體及控制系統，水平雷射測試元件和垂直雷射測試元件分別安裝在殼體上，滑臺板與安裝在殼體內的電動執行器相連，由電動執行器驅動在殼體上往復運動；滑臺板上安裝有將待檢試樣固定在滑臺板上的夾緊裝置，夾緊裝置及侍檢試樣均隨滑臺板運動；電動執行器、水平雷射測試元件和垂直雷射測試元件分別與位於殼體內的控制系統連接。本實用新型結構簡單，可對同一試樣進行固定間距的點進行測量，也可對樣件進行多點連續測量，使測量結果更接近真實的最小值，消除了傳統測量方式中人為因素的影響，提高檢測精度。
文檔編號G01B11/00GK203163685SQ20132008445
公開日2013年8月28日 申請日期2013年2月25日 優先權日2013年2月1日
發明者孫永革, 唐炫宇, 程寶軍, 毛權 申請人:瀋陽普瑞森科學儀器設備有限公司