自動測試設備實現匹配測試的方法
2023-05-15 20:23:11
專利名稱：自動測試設備實現匹配測試的方法
技術領域：
本發明涉及一種自動測試設備的測試方法，特別是涉及一種自動測試 設備對於時鐘異步電路的測試方法。
背景技術：
數字電路通過測試向量(test vector)進行測試，測試向量由一個輸 入和對應該輸入的期待輸出組成。針對一個測試向量，將其中的輸入作為 待測電路的輸入，如果實際輸出與期待輸出一致，表示測試通過；否則表 示測試失敗。通常，待測電路的輸入或輸出都可以用1位或n位的二進位 數表示。在最壞的情況下， 一個n輸入的組合電路需要2"個測試向量，以 窮舉所有可能出現的輸入。
對於某些特殊的數字電路，例如時鐘異步電路，其對於同一個輸入可 能有多種不同輸出，因此只要在允許的次數內出現至少一次期待輸出即可。 針對這些特殊的數字電路需要採用匹配測試，請參閱圖1。所謂匹配測試就 是對同一個測試向量進行多次重複測試，重複測試的次數為該待測電路允 許該輸入的匹配次數，其中只要有一次實際輸出與期待輸出一致即表示匹 配測試通過；否則表示匹配測試失敗。
現有的自動測試設備(ATE， Automated Testing Equipment)中，有 些根本沒有匹配測試功能，有些僅具有簡單的匹配測試功能，例如限制同 一輸入的匹配測試次數等，這對晶片的測試造成了很大的制約。如果採用具有完備匹配測試功能的自動測試設備，則需要高昂的購買及維護費用， 操作也較為複雜、繁瑣。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是提供一種自動測試設備實現匹配測試的方法。
為解決上述技術問題，本發明自動測試設備實現匹配測試的方法包括 下列步驟-
第1步，形成測試向量，所述測試向量包括多個重複的向量段，每個 向量段包括待測電路的一個輸入以及對應的期待輸出；
第2步，通過自動測試設備對待測電路運行該測試向量，將每個向量 段的實際輸出與期待輸出進行比較，並將比較結果輸出為文件；
第3步，分析輸出文件，當至少有一個向量段的實際輸出與期待輸出 相同即表示匹配測試成功，否則表示匹配測試失敗。
本發明可以使不具有或僅具有簡單匹配測試功能的自動測試設備實現 匹配測試功能，從而滿足某些特殊晶片的測試要求，擴展自動測試設備的 應用範圍。
下面結合附圖和實施例對本發明作進一步詳細的說明 圖1是現有的自動測試設備實現匹配測試的方法的流程圖； 圖2是本發明自動測試設備實現匹配測試的方法的流程圖； 圖3是本發明自動測試設備實現匹配測試的方法的示意圖。
具體實施方式
請參閱圖2，本發明自動測試設備實現匹配測試的方法包括下列步驟 第1步，形成測試向量，所述測試向量包括多個重複的向量段，每個 向量段包括待測電路的一個輸入以及對應的期待輸出。傳統的匹配測試是 對一個向量段進行多次重複測試，本發明的這一步構建的測試向量是將一 個向量段多次重複形成的。
第2步，通過自動測試設備對待測電路運行該測試向量，將每個向量 段的實際輸出與期待輸出進行比較，並將比較結果輸出為文件。傳統的匹 配測試需要得到自動測試設備的支持，對於不支持匹配測試的自動測試設 備，運行本發明第1步形成的測試向量實質上相當於多次重複運行其中的 向量段。
第3步，分析輸出文件，當一個或多個向量段的實際輸出與期待輸出 相同即表示匹配測試成功，否則表示匹配測試失敗。傳統的匹配測試中只 要有一次通過即表示匹配測試成功，本發明的測試向量中只要有一個向量 段通過即表示匹配測試成功。
下面茲以一具體實施例對本發明所述方法進行詳細的說明。
請參閱圖3，需要對某時鐘異步電路進行匹配測試，測試的向量段為 (5,5)，其中5為該電路的一個輸入，5為該電路對輸入5的期待輸出。如果 該電路是一個m輸入n輸出的電路結構，那麼5就是一個m位的二進位數， S就是一個n位的二進位數。該電路允許對向量段(5j)進行匹配的次數為3 次，可是自動測試設備不支持匹配測試，按照下列步驟即可由該自動測試 設備實現匹配測試第1步，形成測試向量(5,5,5,5,5,5)，測試向量(5，6,5,S,S,5)是按照匹配次 數3次重複向量段(5,5)得到的。測試向量(5,5，5,5,5，S)存儲在自動測試設備 中，並且每個向量段(5,S)存儲在不同的存儲地址。
第2步，由自動測試設備運行測試向量(5,S,5，S，5,S)，在運行過程中將 每個向量段(5,S)的實際輸出S,、 S2、 53和期待輸出S的比較結果
(SiA^，S,^,S)實時傳輸到指定的存儲器。在運行結束後再將該比較結果 (、,5,52，5,53^)輸出為文^牛。
輸出文件(^5，52^53,6)可以包括每個向量段的實際輸出與期待輸出一 致和不一致的部分，或者僅包括每個向量段的實際輸出與期待輸出一致的 部分，或者僅包括每個向量段的實際輸出與期待輸出不一致的部分。例如，
S,、 S2、 53和5都是11位二進位數，其中5,和5僅有1位不同，62和5僅有3 位不同，63和5各位均相同。那麼輸出文件(5,，5，^，S，S3，S)可以包括S,和S、 ^和S、 53和5的全部比較結果；或者僅包括、和5、 ^和5、 ^和5的不一 致的結果即^和5不相同的1位、52和6不相同的3位；或者僅包括、和5、 52和6、 ^和S的一致的結果即S,和S相同的n-l位、^和5相同的n-3位、 ^和5相同的n位。
輸出文件(^5,S2,S,S3,5)還包括一個或多個向量段的存儲地址，並將每
個向量段的實際輸出與期待輸出的比較結果指向該向量段的存儲地址。例 如，輸出文件(&,S，^，S,^，5)還包括每個向量段(5,S)的存儲地址，並且將、和 S的比較結果指向第一個向量段(5,5)的存儲地址，將S2和5的比較結果指向
第二個向量段(S,S)的存儲地址，將^和S的比較結果指向第二個向量段(5，S)的存儲地址。
第3步，分析輸出文件(^5，^,5,63,S)，發現只有第三個向量段(5,5)的 實際輸出53和期待輸出S相同，那麼匹配測試成功。
由此，本發明可以使不支持匹配測試的自動測試設備實現匹配測試功 能，從而擴展了這些設備的應用範圍，避免了購置新設備的花費。
權利要求
1. 一種自動測試設備實現匹配測試的方法，其特徵是所述方法包括下列步驟第1步，形成測試向量，所述測試向量包括多個重複的向量段，每個向量段包括待測電路的一個輸入以及對應的期待輸出；第2步，通過自動測試設備對待測電路運行該測試向量，將每個向量段的實際輸出與期待輸出進行比較，並將比較結果輸出為文件；第3步，分析輸出文件，當至少有一個向量段的實際輸出與期待輸出相同即表示匹配測試成功，否則表示匹配測試失敗。
2. 根據權利要求l所述的自動測試設備實現匹配測試的方法，其特徵 是所述測試向量包括向量段的數目等於待測電路允許該向量段進行匹配 的次數。
3. 根據權利要求l所述的自動測試設備實現匹配測試的方法，其特徵 是:該方法的第2步中，所述自動測試設備先將所述比較結果實時傳輸到 指定的存儲器，待測試向量運行完畢後再將所述比較結果輸出為文件。
4. 根據權利要求l所述的自動測試設備實現匹配測試的方法，其特徵 是所述輸出文件僅包括每個向量段的實際輸出與期待輸出一致的部分， 或者僅包括每個向量段的實際輸出與期待輸出不一致的部分。
5. 根據權利要求l所述的自動測試設備實現匹配測試的方法，其特徵 是該方法的第2步中，所述測試向量存儲在自動測試設備中，並且每個 向量段存儲在不同的存儲地址。
6. 根據權利要求5所述的自動測試設備實現匹配測試的方法，其特徵是該方法的第2步中，所述輸出文件還包括一個或多個向量段的存儲地 址，並將每個向量段的實際輸出與期待輸出的比較結果指向該向量段的存 儲地址。
全文摘要
本發明公開了一種自動測試設備實現匹配測試的方法，所述方法包括下列步驟第1步，形成測試向量，所述測試向量包括多個重複的向量段，每個向量段包括待測電路的一個輸入以及對應的期待輸出；第2步，通過自動測試設備對待測電路運行該測試向量，將每個向量段的實際輸出與期待輸出進行比較，並將比較結果輸出為文件；第3步，分析輸出文件，當至少有一個向量段的實際輸出與期待輸出相同即表示匹配測試成功，否則表示匹配測試失敗。本發明可以使不具有或僅具有簡單匹配測試功能的自動測試設備實現匹配測試功能，從而滿足某些特殊晶片的測試要求，擴展自動測試設備的應用範圍。
文檔編號G01R31/317GK101458301SQ200710094440
公開日2009年6月17日 申請日期2007年12月13日 優先權日2007年12月13日
發明者夏奇峰, 桑浚之, 辛吉升, 婷 陳 申請人:上海華虹Nec電子有限公司