雷射打標高精度校準測量裝置製造方法
2023-05-22 02:39:26 2
專利名稱:雷射打標高精度校準測量裝置製造方法
【專利摘要】本實用新型公開一種雷射打標高精度校準測量裝置，包括平臺、清洗機、帶有PCI控制板卡的工控機和電器控制箱，所述工控機的信號輸出端與電器控制箱的信號輸入端連接，所述電器控制箱的第一信號輸出端和第二信號輸出端分別與清洗機和平臺的信號輸入端連接，所述平臺的信號輸出端與工控機的信號輸入端連接，所述平臺上表面設有標刻測試紙，所述清洗機的X軸與Y軸形成XY振鏡，所述XY振鏡下方設有平場透鏡，所述平場透鏡平面與平臺平行，所述平臺上方設有相機，相機下表面設有鏡頭，所述鏡頭下表面設有照明光環。本實用新型測量精度高，能達到10~5um級，平臺精度高，精度為5um。
【專利說明】雷射打標高精度校準測量裝置
【技術領域】
[0001]本實用新型屬於測量領域，具體涉及一種雷射打標高精度校準測量裝置。
【背景技術】
[0002]當前只要涉及到雷射打標行業中，振鏡掃描範圍都會出現有畸變現象，這種畸變要通過坐標點來進行處理。由于振鏡在掃描時因為光路和聚焦透鏡的畸變會引起定位失真，所以就需對這種失真進行校準，校準工作需要雷射設備在出廠前就需要完成，校準一旦完成，就不需要再次進行，除非使用很長時間後，精度不能滿足要求時，可以再校準，校準是比較精細的調整，建議非專業人員不要進行，否則適得其反。
【發明內容】
[0003]本實用新型所要解決的技術問題便是針對上述現有技術的不足，提供一種雷射打標高精度校準測量裝置，測量精度高，能達到10~5um級，平臺精度高，精度為5um。
[0004]本實用新型所採用的技術方案是:一種雷射打標高精度校準測量裝置，包括平臺、清洗機、帶有PCI控制板卡的工控機和電器控制箱，所述工控機的信號輸出端與電器控制箱的信號輸入端連接，所述電器控制箱的第一信號輸出端和第二信號輸出端分別與清洗機和平臺的信號輸入端連接，所述平臺的信號輸出端與工控機的信號輸入端連接，所述平臺上表面設有標刻測試紙，所述清洗機的X軸與Y軸形成XY振鏡，所述XY振鏡下方設有平場透鏡，所述平場透鏡平面與平臺平行，所述平臺上方設有相機，相機下表面設有鏡頭，所述鏡頭下表面設有照明光環。
[0005]作為優選，所述照明光環為LED光環。
[0006]作為優選，標刻測試紙為相紙或墨紙。
[0007]本實用新型的有益效果在於:通過PCI控制板卡控制平臺的移動，同時控制清洗機的X軸和Y軸，以調整XY振鏡。電器控制箱為整個系統提供動力。標刻測試紙用於在上面形成雷射點。
【附圖說明】
[0008]圖1為本實用新型結構示意圖。
[0009]圖中:1、平臺；2、清洗機；3、工控機；4、電器控制箱；5、標刻測試紙；6、XY振鏡；7、平場透鏡；8、相機；9、鏡頭；10、照明光環。
【具體實施方式】
[0010]下面將結合附圖及具體實施例對本實用新型作進一步詳細說明。
[0011]如圖1所示，一種雷射打標高精度校準測量裝置，包括平臺1、清洗機2、帶有PCI控制板卡的工控機3和電器控制箱4，所述工控機3的信號輸出端與電器控制箱4的信號輸入端連接，所述電器控制箱4的第一信號輸出端和第二信號輸出端分別與清洗機2和平臺I的信號輸入端連接，所述平臺I的信號輸出端與工控機3的信號輸入端連接，所述平臺I上表面設有標刻測試紙5，所述清洗機2的X軸與Y軸形成XY振鏡6，所述XY振鏡6下方設有平場透鏡7，所述平場透鏡7平面與平臺I平行，所述平臺I上方設有相機8，相機8下表面設有鏡頭9，所述鏡頭9下表面設有照明光環10。作為優選，所述照明光環10為LED光環。作為優選，標刻測試紙5為相紙或墨紙。
[0012]通過PCI控制板卡控制平臺I的移動，同時控制清洗機2的X軸和Y軸，以調整XY振鏡6。電器控制箱4為整個系統提供動力。標刻測試紙5用於在上面形成雷射點。
【權利要求】
1.一種雷射打標高精度校準測量裝置，其特徵在於:包括平臺、清洗機、帶有PCI控制板卡的工控機和電器控制箱，所述工控機的信號輸出端與電器控制箱的信號輸入端連接，所述電器控制箱的第一信號輸出端和第二信號輸出端分別與清洗機和平臺的信號輸入端連接，所述平臺的信號輸出端與工控機的信號輸入端連接，所述平臺上表面設有標刻測試紙，所述清洗機的X軸與Y軸形成XY振鏡，所述XY振鏡下方設有平場透鏡，所述平場透鏡平面與平臺平行，所述平臺上方設有相機，相機下表面設有鏡頭，所述鏡頭下表面設有照明光環。2.根據權利要求1所述的雷射打標高精度校準測量裝置，其特徵在於:所述照明光環為LED光環。3.根據權利要求1或2所述的雷射打標高精度校準測量裝置，其特徵在於:標刻測試紙為相紙或墨紙。
【文檔編號】G01C25-00GK204286458SQ201420765225
【發明者】何劉, 黃永忠, 王德友, 黃波, 趙書閣 [申請人]成都萊普科技有限公司