一種多路纖芯測試裝置及方法

2023-05-08 06:38:01

一種多路纖芯測試裝置及方法
【專利摘要】本發明提供一種多路纖芯測試裝置及方法，該裝置包括：脈衝發生器、光源、光路開關、定向耦合器、光電檢測器、信號處理裝置、MCU晶片及主時鐘；所述的光路開關設有多個光傳輸埠，每一光傳輸埠連接一備用光纖；脈衝發生器產生電脈衝信號，並發送至光源；光源將電脈衝信號轉換為光脈衝信號，通過定向耦合器發送至光路開關；光路開關連接對應光傳輸埠的備用光纖，將光脈衝信號傳送給該備用光纖並接收回饋的光信號，通過定向耦合器傳輸至光電檢測器；光電檢測器將光信號轉換為電信號，輸出至信號處理裝置；信號處理裝置根據電信號生成發光強度-距離性能曲線，傳輸至MCU晶片；MCU晶片根據該性能曲線對備用光纖的性能參數進行比對，生成測試結果。
【專利說明】-種多路纖巧測試裝置及方法

【技術領域】
[0001] 本發明是關於電力系統中的光纖通信技術，具體地，是關於一種多路纖巧測試裝 置及方法。

【背景技術】
[0002] 光纖通信是W光纖作為傳輸通道，利用光作為信息載體的通信方式。由於光纖具 有較高的可靠性、信息的保密性、優越的機械性能和成本較低等顯著特點，光纖成為了電力 系統信號傳輸的重要媒介。
[0003] 光纖通信中廣泛採用OTDR(光時域反射儀）對光纖的傳輸衰減和故障定位進行判 斷。OTDR是通過發射光脈衝到光纖內，然後在OTDR埠接收返回的信息來進行的。當光脈 衝在光纖內傳輸時，會由於光纖本身的性質、連接器、結合點、彎曲或其他類似的事件而發 生散射、反射。其中一部分的散射和反射就會回到OTDR中，有用信息由OTDR的探測器進行 測量。從發射信號到返回信號所用的時間，再確定光在玻璃物質中的速度，就可W計算出反 射距離，同時在儀器屏幕上顯示出光纖的性能曲線圖。
[0004] OTDR具有便於攜帶、光纖性能測試準確和故障診斷位置精確等優點，但同時也具 有一些缺陷。傳統OTDR只具備一個光模塊，一次只能對一根光纖進行發光和性能測試；待 查看並保存該根光纖性能參數後，才能對下一根纖巧繼續測試。在實際電力通信生產作業 中，通信運維人員會對變電站通信機房的0DF備用纖巧進行測試，檢查纖巧好壞並將測試 數據記錄下來，而針對備用線巧的測試耗時最長；〇TDR操作使用不便捷，測試記錄工序反 復，需要兩人W上結合作業。站點之間線路數量少時需兩小時左右，線路多時則耗時接近一 天。"插光纖一 OTDR測試一數據記錄一拔光纖一插下一根光纖"的機械式纖巧測試模式嚴 重降低了運維人員的工作效率，且在反覆連續插拔一根光纖時，工作人員容易造成測試纖 巧的錯插和對左右所帶業務光纖造成的誤碰。因此，需要提出一種新的針對OTDR多路纖巧 的測試方案，W提高整個測試過程的效率，並降低人為操作所導致的誤差。


【發明內容】

[0005] 本發明實施例的主要目的在於提供一種多路纖巧測試裝置及方法，釋放了人力， 降低了勞動強度，可提高對待測光纖的整個測試過程的效率，並可降低人為操作所導致的 誤差。
[0006] 為了實現上述目的，本發明實施例提供一種多路纖巧測試裝置，所述的多路纖巧 測試裝置包括：脈衝發生器、光源、光路開關、定向禪合器、光電檢測器、信號處理裝置、MCU 巧片及主時鐘；所述的光路開關設有多個光傳輸埠，每一光傳輸埠連接一備用光纖； 其中，所述的主時鐘向所述的脈衝發生器發送一時鐘信號，並向所述的信號處理裝置發送 一頻率信號；所述的MCU巧片向所述的脈衝發生器發送一周期發射時間信號，並向所述的 光路開關發送一開關切換信號；所述的脈衝發生器根據所述時鐘信號產生電脈衝信號，並 根據所述周期發射時間信號將所述的電脈衝信號發送至所述的光源；所述的光源將所述的 電脈衝信號轉換為光脈衝信號，並將所述的光脈衝信號發送至所述的定向禪合器；所述的 定向禪合器將所述光脈衝信號輸出至所述的光路開關；所述的光路開關接收所述的光脈衝 信號及所述開關切換信號，根據所述開關切換信號連接對應光傳輸埠的備用光纖，然後 將所述光脈衝信號傳送給所述對應光傳輸埠的備用光纖並接收回饋的光信號，將所述光 信號傳送給所述的定向禪合器；所述的定向禪合器接收所述光信號，並將所述光信號輸出 至所述的光電檢測器；所述的光電檢測器將所述光信號轉換為電信號，並將所述電信號輸 出至所述的信號處理裝置；所述的信號處理裝置接收所述頻率信號及電信號，根據所述的 頻率信號將所述的電信號轉換為數位訊號，根據所述的數位訊號生成發光強度-距離性能 曲線，並將所述的發光強度-距離性能曲線傳輸至所述的MCU巧片；所述MCU巧片根據所述 的發光強度-距離性能曲線對所述對應光傳輸埠的備用光纖的性能參數進行比對，生成 測試結果。
[0007] 在一實施例中，上述的MCU巧片具體用於：根據所述的發光強度-距離性能曲線獲 取所述對應光傳輸埠的備用光纖的測試距離誤差及衰耗值；判斷所述測試距離誤差與一 標準誤差值的大小，並判斷所述衰耗值與一標準衰耗值的大小；當所述測試距離誤差大於 所述標準誤差值，和/或所述衰耗值大於所述標準衰耗值時，判斷所述對應光傳輸埠的 備用光纖為問題光纖；否則，判斷所述對應光傳輸埠的備用光纖為正常光纖；輸出對所 述對應光傳輸埠的備用光纖的判斷結果作為所述的測試結果。
[000引在一實施例中，上述的多路纖巧測試裝置還包括；放大器，所述的放大器連接於所 述的光電檢測器與信號處理裝置之間，所述的放大器接收所述光電檢測器輸出的所述電信 號，將所述的電信號進行放大後傳輸至所述的信號處理裝置。
[0009] 在一實施例中，上述的多路纖巧測試裝置還包括；數據輸出裝置，所述的數據輸出 裝置與所述MCU巧片連接，接收並輸出所述的測試結果。
[0010] 在一實施例中，上述的多路纖巧測試裝置還包括；顯示器，所述的顯示器與所述的 數據輸出裝置連接，接收並顯示所述的發光強度-距離性能曲線及測試結果。
[0011] 本發明實施例還提供一種多路纖巧測試方法，應用於上述的多路纖巧測試裝置， 其特徵在於，所述的多路纖巧測試方法包括；所述脈衝發生器產生一電脈衝信號，並將所述 的電脈衝信號發送至所述的光源；所述光源將所述的電脈衝信號轉換為光脈衝信號，並通 過所述的定向禪合器將所述光脈衝信號發送至所述的光路開關；所述光路開關根據所述 MCU巧片發送的一開關切換信號連接對應光傳輸埠的備用光纖，將所述光脈衝信號傳輸 至所述對應光傳輸埠的備用光纖並接收回饋的光信號，然後通過所述定向禪合器將所述 光信號傳輸至所述的光電檢測器；所述光電檢測器將所述光信號轉換為電信號，並將所述 電信號輸出至所述的信號處理裝置；所述信號處理裝置接收所述電信號，根據所述的電信 號生成發光強度-距離性能曲線，並將所述的發光強度-距離性能曲線傳輸至所述的MCU 巧片；所述MCU巧片根據所述的發光強度-距離性能曲線對所述對應光傳輸埠的備用光 纖的性能參數進行比對，生成測試結果。
[0012] 在一實施例中，上述的MCU巧片根據所述的發光強度-距離性能曲線對所述對應 光傳輸埠的備用光纖的性能參數進行比對，生成測試結果，包括：所述MCU巧片根據所述 的發光強度-距離性能曲線獲取所述對應光傳輸埠的備用光纖的測試距離誤差及衰耗 值；判斷所述測試距離誤差與一標準誤差值的大小，並判斷所述衰耗值與一標準衰耗值的 大小；當所述測試距離誤差大於所述標準誤差值，和/或所述衰耗值大於所述標準衰耗值 時，判斷所述對應光傳輸埠的備用光纖為問題光纖；否則，判斷所述對應光傳輸埠的備 用光纖為正常光纖；輸出對所述對應光傳輸埠的備用光纖的判斷結果作為所述的測試結 果。
[0013] 在一實施例中，上述的光路開關根據所述MCU巧片發送的一開關切換信號連接對 應光傳輸埠的備用光纖，包括；所述光路開關根據多個所述的開關切換信號的接收時間 順序分別單獨連接每一所述對應光傳輸埠的備用光纖，W分別測試每一備用光纖。
[0014] 在一實施例中，上述的脈衝發生器產生一電脈衝信號，並將所述的電脈衝信號發 送至所述的光源，包括：所述脈衝發生器接收所述主時鐘發送的一時鐘信號，並接收所述 MCU巧片發送的一周期發射時間信號；所述的脈衝發生器根據所述時鐘信號產生所述電脈 衝信號，並根據所述周期發射時間信號將所述的電脈衝信號發送至所述的光源。
[0015] 在一實施例中，上述的信號處理裝置接收所述電信號，根據所述的電信號生成發 光強度-距離性能曲線，並將所述的發光強度-距離性能曲線傳輸至所述的MCU巧片，包 括：所述的信號處理裝置接收所述電信號及所述主時鐘發送的一頻率信號；所述的信號處 理裝置根據所述的頻率信號將所述的電信號轉換為數位訊號，根據所述的數位訊號生成所 述發光強度-距離性能曲線，並將所述的發光強度-距離性能曲線傳輸至所述的MCU巧片。
[0016] 本發明實施例的有益效果在於，通過本發明，能夠在實際的生產工作中，減少備用 纖巧測試需要的人員數量和儀器操作重複性，也一定程度上避免了在纖巧插拔過程中造成 的錯插和誤碰，降低勞動強度，顯著提高作業效率。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0017] 為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例描述 中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些 實施例，對於本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可W根據該些 附圖獲得其他的附圖。
[0018] 圖1為根據本發明實施例的多路纖巧測試裝置100的結構示意圖；
[0019] 圖2為根據本發明實施例的備用光纖的示意圖；
[0020] 圖3A及圖3B為根據本發明實施例對備用光纖進行測試所得性能曲線示意圖；
[0021] 圖4為根據本發明實施例的多路纖巧測試方法的流程圖。

【具體實施方式】
[0022] 下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完 整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基於 本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他 實施例，都屬於本發明保護的範圍。
[0023] 本發明實施例提供一種多路纖巧測試裝置及方法。W下結合附圖對本發明進行詳 細說明。
[0024] 本發明實施例提供一種多路纖巧測試裝置，W對備用光纖進行性能測試。如圖1 所示，該多路纖巧測試裝置100包括；脈衝發生器1、光源2、定向禪合器3、光路開關4、光電 檢測器5、信號處理裝置6、MCU巧片7及主時鐘8。
[0025] 在測試開始階段，上述的主時鐘8向脈衝發生器1發送一時鐘信號，並向信號處理 裝置6發送一頻率信號；上述的MCU巧片7向脈衝發生器1發送一周期發射時間信號，並向 光路開關3發送一開關切換信號。其中，該時鐘信號用W使脈衝發生器1 W-定頻率產生 電脈衝信號；頻率信號用W為信號處理裝置6提供工作頻率，使信號處理裝置6的工作頻率 與脈衝發生器1產生的電脈衝信號的頻率保持同步；周期發射時間信號用W控制脈衝發生 器1產生電脈衝信號的周期發射時間；開關切換信號則用W控制光路開關4的切換。
[0026] 在接收到上述的時鐘信號及周期發射時間信號後，脈衝發生器1根據該時鐘信號 產生電脈衝信號，並根據該周期發射時間信號將產生的電脈衝信號發送至光源2。
[0027] 光源2將接收到的電脈衝信號轉換為光脈衝信號，並將該光脈衝信號發送至定向 禪合器3。該定向禪合器3將光脈衝信號輸出至光路開關4。
[002引光路開關4上設有多個光傳輸埠，每一個光傳輸埠均對應連接有一待測試的 備用光纖。該備用光纖如圖2所示，圖2示出的是測試12根備用光纖，其中，第7根和第8 根光纖已被佔用，因此並不做測試。需要說明的是，圖2所示的12根備用光纖僅為舉例說 明，並非用W限制本發明，實際應用中，也可針對24、36或48等多根備用光纖進行測試。相 應地，光路開關4上的光傳輸埠的數量則可根據備用光纖的數量進行設置。
[0029] 光路開關4接收定向禪合器3傳輸的光脈衝信號W及MCU巧片7發送的開關切換 信號。其中，該開關切換信號包含有要進行測試的備用光纖所連接的光傳輸埠的信息。為 表述清楚，下文中將此光傳輸埠稱為光傳輸埠 a,將與該光傳輸埠 a對應連接的備用 光纖稱為備用光纖Ga。光路開關4根據該開關切換信號中包含的光傳輸埠 a的信息連接 對應該光傳輸埠 a的備用光纖Ga，然後將上述光脈衝信號傳送給與該光傳輸埠 a對應 連接的備用光纖Ga。並且，該光路開關4接收從該備用光纖Ga回饋的光信號，並將該光信 號傳送給上述的定向禪合器3。
[0030] 在實際應用中，光路開關4根據多個開關切換信號的接收時間順序，依次分別單 獨與每一根對應光傳輸埠的備用光纖連接，W分別向每一根備用光纖傳輸光脈衝信號， 並獲取每一根備用光纖反饋回的光信號，W對每一根備用光纖進行測試。
[0031] 在另一實施例中，光路開關4也可根據開關切換信號選擇其中幾根備用光纖依次 進行選擇並測試，例如，要測試12根備用光纖中的第1、2、3、5、6、9、10根，則可通過該選擇 開關4依次連接第1、2、3、5、6、9、10根備用光纖，並向上述的備用光纖傳輸光脈衝信號，並 接收相應的回饋信號，同時自動生成相應的數據並保存，本發明並不W此為限，可根據實際 的測試需要進行設置。
[0032] 定向禪合器3接收到光路開關4傳輸的光信號後，將該光信號輸出至上述的光電 檢測器5。光電檢測器5將接收到的光信號轉換為電信號，並將該電信號輸出至上述的信號 處理裝置6。
[0033] 信號處理裝置6接收到上述的頻率信號及電信號後，根據該頻率信號將該電信號 轉換為數位訊號，並根據該數位訊號中包含的關於備用光纖Ga的發光強度及測試距離等 性能參數生成該備用光纖Ga的發光強度-距離性能曲線，並將該發光強度-距離性能曲線 傳輸至上述的MCU巧片7。
[0034] 該MCU巧片7根據信號處理裝置6發送的發光強度-距離性能曲線對備用光纖Ga 的性能參數進行比對，生成測試結果。具體地，MCU巧片7根據該發光強度-距離性能曲線 獲取備用光纖Ga的測試距離誤差及衰耗值等性能參數，然後判斷該測試距離誤差與一標 準誤差值的大小，並判斷該衰耗值與一標準衰耗值的大小。實際應用中，可W設置該標準誤 差值為2. 00公裡，設置該標準衰耗值為0. 30地Am,但該兩個數值是用W舉例說明本發明 實施例中的標準誤差值及標準衰耗值，而並非用W限制本發明，可根據不同的應用環境設 置不同的標準誤差值及標準衰耗值。
[0035] 當MCU巧片7的判斷結果為"測試距離誤差大於標準誤差值"和"衰耗值大於標準 衰耗值"中的至少一個時，則判斷該備用光纖Ga為問題光纖；否則，則判斷該備用光纖Ga為 正常光纖。
[0036] 當MCU巧片7對備用光纖Ga判斷結束後，輸出對該備用光纖Ga的判斷結果作為 測試結果。
[0037] 通過W上描述可知，通過本發明實施例的多路纖巧測試裝置100,可減少備用纖巧 測試需要的人員數量和儀器操作重複性，也一定程度上避免了在纖巧插拔過程中造成的錯 插和誤碰，降低勞動強度，顯著提高作業效率。
[003引在一實施例中，如圖1所示，本發明實施例的多路纖巧測試裝置100還可包括一放 大器9,該放大器9連接於光電檢測器5與信號處理裝置6之間，放大器9用於接收光電檢 測器5輸出的電信號，將該電信號進行放大後再傳輸至信號處理裝置6。由於該光電檢測器 5輸出的電信號的信號強度有可能較微弱，通過放大器9對該電信號進行放大，更便於後續 對該電信號進行處理。
[0039] 實際應用中，本發明實施例的多路纖巧測試裝置100還可包括一數據輸出裝置 10,該數據輸出裝置10與上述的MCU巧片7連接，用於接收並輸出MCU巧片7生成的測試 結果。
[0040] 進一步地，本發明實施例的多路纖巧測試裝置100還包括一顯示器11，顯示器11 與上述的數據輸出裝置10連接，用於接收並顯示上述的發光強度-距離性能曲線及測試結 果，使得測試人員能夠更加直觀地查看了解多路光纖的狀態，並及時作出調整。
[0041] W下結合一測試實例對本發明實施例的多路纖巧測試裝置進行具體說明。
[0042] 如下表一，是對如圖2所示的12根備用光纖進行測試的統計表格，其中，第7根和 第8根光纖已被佔用，因此並不做測試。
[00創表一 [0044]

【權利要求】
1. 一種多路纖芯測試裝置，其特徵在於，所述的多路纖芯測試裝置包括：脈衝發生器、 光源、光路開關、定向耦合器、光電檢測器、信號處理裝置、MCU晶片及主時鐘；所述的光路 開關設有多個光傳輸埠，每一光傳輸埠連接一備用光纖；其中， 所述的主時鐘向所述的脈衝發生器發送一時鐘信號，並向所述的信號處理裝置發送一 頻率信號； 所述的MCU晶片向所述的脈衝發生器發送一周期發射時間信號，並向所述的光路開關 發送一開關切換信號； 所述的脈衝發生器根據所述時鐘信號產生電脈衝信號，並根據所述周期發射時間信號 將所述的電脈衝信號發送至所述的光源； 所述的光源將所述的電脈衝信號轉換為光脈衝信號，並將所述的光脈衝信號發送至所 述的定向親合器； 所述的定向耦合器將所述光脈衝信號輸出至所述的光路開關； 所述的光路開關接收所述的光脈衝信號及所述開關切換信號，根據所述開關切換信號 連接對應光傳輸埠的備用光纖，然後將所述光脈衝信號傳送給所述對應光傳輸埠的備 用光纖並接收回饋的光信號，將所述光信號傳送給所述的定向耦合器； 所述的定向耦合器接收所述光信號，並將所述光信號輸出至所述的光電檢測器； 所述的光電檢測器將所述光信號轉換為電信號，並將所述電信號輸出至所述的信號處 理裝置； 所述的信號處理裝置接收所述頻率信號及電信號，根據所述的頻率信號將所述的電信 號轉換為數位訊號，根據所述的數位訊號生成發光強度-距離性能曲線，並將所述的發光 強度-距離性能曲線傳輸至所述的MCU晶片； 所述MCU晶片根據所述的發光強度-距離性能曲線對所述對應光傳輸埠的備用光纖 的性能參數進行比對，生成測試結果。
2. 根據權利要求1所述的多路纖芯測試裝置，其特徵在於，所述MCU晶片具體用於： 根據所述的發光強度-距離性能曲線獲取所述對應光傳輸埠的備用光纖的測試距 離誤差及衰耗值； 判斷所述測試距離誤差與一標準誤差值的大小，並判斷所述衰耗值與一標準衰耗值的 大小； 當所述測試距離誤差大於所述標準誤差值，和/或所述衰耗值大於所述標準衰耗值 時，判斷所述對應光傳輸埠的備用光纖為問題光纖；否則，判斷所述對應光傳輸埠的備 用光纖為正常光纖； 輸出對所述對應光傳輸埠的備用光纖的判斷結果作為所述的測試結果。
3. 根據權利要求2所述的多路纖芯測試裝置，其特徵在於，所述的多路纖芯測試裝置 還包括：放大器，所述的放大器連接於所述的光電檢測器與信號處理裝置之間，所述的放大 器接收所述光電檢測器輸出的所述電信號，將所述的電信號進行放大後傳輸至所述的信號 處理裝置。
4. 根據權利要求3所述的多路纖芯測試裝置，其特徵在於，所述的多路纖芯測試裝置 還包括：數據輸出裝置，所述的數據輸出裝置與所述MCU晶片連接，接收並輸出所述的測試 結果。
5. 根據權利要求4所述的多路纖芯測試裝置，其特徵在於，所述的多路纖芯測試裝 置還包括：顯示器，所述的顯示器與所述的數據輸出裝置連接，接收並顯示所述的發光強 度-距離性能曲線及測試結果。
6. -種多路纖芯測試方法，應用於如權利要求1所述的多路纖芯測試裝置，其特徵在 於，所述的多路纖芯測試方法包括： 所述脈衝發生器產生一電脈衝信號，並將所述的電脈衝信號發送至所述的光源； 所述光源將所述的電脈衝信號轉換為光脈衝信號，並通過所述的定向耦合器將所述光 脈衝信號發送至所述的光路開關； 所述光路開關根據所述MCU晶片發送的一開關切換信號連接對應光傳輸埠的備用 光纖，將所述光脈衝信號傳輸至所述對應光傳輸埠的備用光纖並接收回饋的光信號，然 後通過所述定向耦合器將所述光信號傳輸至所述的光電檢測器； 所述光電檢測器將所述光信號轉換為電信號，並將所述電信號輸出至所述的信號處理 裝置； 所述信號處理裝置接收所述電信號，根據所述的電信號生成發光強度-距離性能曲 線，並將所述的發光強度-距離性能曲線傳輸至所述的MCU晶片； 所述MCU晶片根據所述的發光強度-距離性能曲線對所述對應光傳輸埠的備用光纖 的性能參數進行比對，生成測試結果。
7. 根據權利要求6所述的多路纖芯測試方法，其特徵在於，所述MCU晶片根據所述的發 光強度_距離性能曲線對所述對應光傳輸埠的備用光纖的性能參數進行比對，生成測試 結果，包括： 所述MCU晶片根據所述的發光強度-距離性能曲線獲取所述對應光傳輸埠的備用光 纖的測試距離誤差及衰耗值； 判斷所述測試距離誤差與一標準誤差值的大小，並判斷所述衰耗值與一標準衰耗值的 大小； 當所述測試距離誤差大於所述標準誤差值，和/或所述衰耗值大於所述標準衰耗值 時，判斷所述對應光傳輸埠的備用光纖為問題光纖；否則，判斷所述對應光傳輸埠的備 用光纖為正常光纖； 輸出對所述對應光傳輸埠的備用光纖的判斷結果作為所述的測試結果。
8. 根據權利要求7所述的多路纖芯測試方法，其特徵在於，所述光路開關根據所述MCU 晶片發送的一開關切換信號連接對應光傳輸埠的備用光纖，包括： 所述光路開關根據多個所述的開關切換信號的接收時間順序分別單獨連接每一所述 對應光傳輸埠的備用光纖，以分別測試每一備用光纖。
9. 根據權利要求8所述的多路纖芯測試方法，其特徵在於，所述脈衝發生器產生一電 脈衝信號，並將所述的電脈衝信號發送至所述的光源，包括： 所述脈衝發生器接收所述主時鐘發送的一時鐘信號，並接收所述MCU晶片發送的一周 期發射時間信號； 所述的脈衝發生器根據所述時鐘信號產生所述電脈衝信號，並根據所述周期發射時間 信號將所述的電脈衝信號發送至所述的光源。
10. 根據權利要求9所述的多路纖芯測試方法，其特徵在於，所述信號處理裝置接收所 述電信號，根據所述的電信號生成發光強度-距離性能曲線，並將所述的發光強度-距離性 能曲線傳輸至所述的MCU晶片，包括： 所述的信號處理裝置接收所述電信號及所述主時鐘發送的一頻率信號； 所述的信號處理裝置根據所述的頻率信號將所述的電信號轉換為數位訊號，根據所述 的數位訊號生成所述發光強度-距離性能曲線，並將所述的發光強度-距離性能曲線傳輸 至所述的MCU晶片。
【文檔編號】H04B10/071GK104485990SQ201410720243
【公開日】2015年4月1日 申請日期:2014年12月2日 優先權日:2014年12月2日
【發明者】宋偉, 趙慶凱, 邢寧哲, 袁衛國, 蘇丹, 李垠韜, 吳舜, 徐鑫, 龐思睿, 張姣姣, 蘆博, 閆磊, 李環媛, 楊睿, 吳佳, 高崧 申請人:國家電網公司, 國網冀北電力有限公司信息通信分公司