一種遠距離高精度檢測位移系統的製作方法
2023-04-30 02:22:01
本發明涉及一種遠距離高精度檢測位移系統，屬於檢測領域。
背景技術：
隨著社會發展和建築業的不斷崛起，高樓、橋梁和鐵路的建造變得越來越頻繁，但是這些建築物在建造過程中需要進行精密的測量，來防止其傾斜，從而影響使用壽命，然而傳統的測量基本是由直尺或者量角器來進行，難以測量出高精度的位移量。
技術實現要素：
針對現有技術的不足，本發明提供了一種遠距離高精度檢測位移系統。
一種遠距離高精度檢測位移系統，包括主MCU、傳感器、雷射發射器和後臺，其特徵在於：所述主MCU電連有輔MCU，所述主MCU內設置有無線收發裝置一，所述主MCU通過無線收發裝置一對傳感器進行控制，所述傳感器內設置有無線收發裝置二，所述傳感器通過無線收發裝置二為主MCU進行信息傳輸，所述雷射發射器上設置有無線接收裝置，所述後臺通過無線收發裝置一與主MCU進行通信。
優選的，所述傳感器為CMOS圖像傳感器，用於接收雷射信號且將光信號轉換為電信號
通過上述技術方案，CMOS傳感器的屏對於雷射的感光監控，能夠進行實時監測，即時性強。
優選的，所述CMOS圖像傳感器可接收微米級的位移距離。
通過上述技術方案，可以接收微米級別的光感移動，高精度的測量位移量。
優選的，所述無線接收裝置一用於接收主MCU的控制信號，控制雷射發射器的啟停和與後臺進行信息傳輸。
通過上述技術方案，主MCU可通過無線方式控制雷射發射裝置的啟停，節省雷射控制器的能耗。
優選的，所述輔MCU用於輔助主MCU進行數據處理和延時設置工作。
通過上述技術方案，輔助MCU幫助主MCU進行數據處理等運算，採用雙MCU聯動，能夠大大提高運算速度和運算精度。
本發明結構簡單，能夠通過紅外雷射的定點射擊，CMOS傳感器對於雷射的接收，若發生位移，則會將兩個在COMS傳感器上接收到的點間距發送至雙MCU上，通過數據處理和判斷，並可將數據通過無線收發裝置一進行信息的發射，發送給後臺，實現遠距離測量。本發明能夠監測到微米級別的細微變化，可以應用於地基位移變化、樓宇外形變化、車輛移動等場合。
附圖說明
圖1為本發明的原理圖；
圖2為本發明投入使用示意圖一；
圖3為本發明投入使用示意圖二。
附圖標記：1、主MCU；2、傳感器；3、雷射發射器；4、後臺；5、輔MCU；6、無線收發裝置一；7、無線收發裝置二；8、無線接收裝置；9、雷射；10、樓宇。
具體實施方式
下面將參考附圖對本發明一種遠距離高精度檢測位移系統進行詳細說明。
如圖1所示的一種遠距離高精度檢測位移系統，包括主MCU1、傳感器2、雷射發射器3和後臺4，其特徵在於：所述主MCU1電連有輔MCU5，所述主MCU1內設置有無線收發裝置一6，所述主MCU1通過無線收發裝置一6對傳感器2進行控制，所述傳感器2內設置有無線收發裝置二7，所述傳感器2通過無線收發裝置二7為主MCU1進行信息傳輸，所述雷射發射器3上設置有無線接收裝置8，所述後臺4通過無線收發裝置一6與主MCU1進行通信。
進一步的，所述傳感器2為CMOS圖像傳感器，用於接收雷射信號且將光信號轉換為電信號。
通過上述技術方案，CMOS傳感器的屏對於雷射的感光監控，能夠進行實時監測，即時性強。
進一步的，所述CMOS圖像傳感器可接收微米級的位移距離。
通過上述技術方案，可以接收微米級別的光感移動，高精度的測量位移量。
進一步的，所述無線接收裝置一6用於接收主MCU1的控制信號，控制雷射發射器3的啟停和與後臺4進行信息傳輸。
通過上述技術方案，主MCU可通過無線方式控制雷射發射裝置的啟停，節省雷射控制器的能耗。
進一步的，所述輔MCU5用於輔助主MCU1進行數據處理和延時設置工作。
通過上述技術方案，輔助MCU幫助主MCU進行數據處理等運算，採用雙MCU聯動，能夠大大提高運算速度和運算精度。
本發明結構簡單，能夠通過紅外雷射的定點射擊，CMOS傳感器對於雷射的接收，若發生位移，則會將兩個在COMS傳感器上接收到的點間距發送至雙MCU上，通過數據處理和判斷，並可將數據通過無線收發裝置一進行信息的發射，發送給後臺，實現遠距離測量。本發明能夠監測到微米級別的細微變化，可以應用於地基位移變化、樓宇外形變化、車輛移動等場合。
本發明在工作時，如圖2，將本發明的傳感器2固定在樓宇10上，雷射發射器3外置，使得雷射發射器3的雷射9發射點發射在傳感器2的中心，這樣一來無論是樓宇10左右移動或者沉降都能夠全面進行檢測；如圖3，若樓宇10進行沉降，則雷射9投射的點會位於初始雷射9的上方，傳感器2將這兩點之間的間距發送主MCU1，由輔MCU5對主MCU1進行輔助，雙MCU就可以進行數據分析，測得樓宇10的位移量，實時監測的數據可以通過無線收發裝置一6傳輸至後臺4。同樣的，傳感器2也可以安裝在需要檢測位移量的物體上，例如橋梁、汽車等。
以上所述僅是本發明的優選實施方式，本發明的保護範圍並不僅局限於上述實施例，凡屬於本發明思路下的技術方案均屬於本發明的保護範圍。應當指出，對於本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明原理前提下的若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應視為本發明的保護範圍。