光讀出裝置的製作方法
2023-04-28 21:15:11
專利名稱：光讀出裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及對象作為信息信號的記錄媒體的光碟那樣的光學記錄媒體進行信息信號的寫入或讀出用的光讀出裝置。
背景技術：
目前，作為用於讀出在如光磁碟那樣的光碟上記錄的信息信號的光讀出裝置，使用如
圖1所示結構的裝置。
如圖1所示，這種光讀出裝置，包括半導體雷射器2和物鏡3，前者是出射照射光碟1的光束L1的光源，後者是將從半導體雷射器出射的光束L1加以聚焦並照射光碟。
如圖1和圖2所示，在從半導體雷射器2到物鏡3的光束L1的光路中，位於半導體雷射器2的側面、將該半導體雷射器2出射的光束L1分離成0次及±1次光的至少3束衍射光光束的光柵。
為說明簡單起見，在圖1及圖2中用1束光束表示至少3束衍射光束，圖中將總共3束衍射光束簡單地稱為光束。
而且，在從光柵4到物鏡3的光路中，設置有分離從半導體雷射器2出射的光束L1和由光碟1反射、通過物鏡入射的光束L2的光束分離器(分束器)5，和將通過分束器5的光束L1偏轉90°、入射到物鏡上，同時將光碟1反射、通過物鏡3的光束L2偏轉90°入射到分束器上的反射鏡6。
在該光讀出裝置中，設置有由檢測從光碟反射回來的光束L2、讀出光碟1上記錄的信息信號、同時檢測聚焦誤差信號和循跡誤差信號的光電二極體等光檢測元件組成的光檢測器7。該光檢測器7在與半導體雷射器2至物鏡3的光路相正交的位置上與分束器5相對地配設，使能檢測上分束器5的分界面5a所反射、光路變更90°返回的光束L2。分束器5的分界面5a對於入射到分束器5的光束的光軸成45°傾斜，使入射到該分束器5上的光束的光路變更90度。
在從分束器5到光檢測器7的光路中，配設有檢測由光碟反射回來的光束的克爾(kerr)旋轉角的偏光稜鏡(渥拉斯頓稜鏡)8和光束L2產生像差用的圓柱形透鏡9。偏光稜鏡成一體地安裝於分束器5上。
該光讀光裝置中為控制半導體雷射器2使半導體雷射器2出射的光束輸出級大致為一定值，設置檢測從半導體雷射器2的前面一側出射的光束L1的一部分的光電二極體10。光電二極體10配置在與半導體雷射器2至物鏡3的光路成正交的位置上的與分束器相對的位置上，使能檢測由分束器5的分界面5a所反射和光路變更90°的半導體雷射器出射的光束L1的一部分。
光電二極體10的輸出供給自動輸出控制電路，控制由驅動半導體雷射器2的驅動源11提供的驅動電流的大小。自動輸出控制電路12根據光電管10的輸出，控制驅動源11提供的驅動電流使半導體雷射器2出射一定輸出級的光束L1。
入射到光檢測器7的返回光束L2與入射到光電二極體10的從半導體雷射器2出射的光束L1的一部分L3，由於由一個分束器5的共用分界面5a所反射，變更光路，因此如圖2所示，光檢測器7與光電二極體10在把分束器5夾在中間的相對位置上使光軸一致地加以配設。
含有這樣結構的光讀出裝置，由驅動源提供的驅動電流一經驅動半導體雷射器2，就從半導體雷射器2出射光束L1。從半導體雷射器前面出射的光束L1，通過光柵分離成至少3束衍射光束，然後入射到分束器5。入射到分束器5的光束L1，其一部分L3由分束器5的分界面5a所反射使光路變更90°。由分束器5的分界面5a 90°變更光路的半導體雷射器來的出射光束L1的一部分L3由光電二極體10接收，將光束L1的強度變換成電信號加以檢測。該檢測輸出供給控制電路12，控制由驅動源11供給半導體雷射器2的驅動電流，控制半導體雷射器2的驅動使半導體雷射器出射的光束L1成一定的輸出級。
沒有被分束器5的分界面5a反射、透過分束器5的光束L1入射到反射鏡6上，通過該反射鏡光路90°變更，入射到物鏡3上。反射鏡反射的光束L1由物鏡3聚焦在光碟1的信號記錄面上。由光碟1的信號記錄面反射的光束L2，再次通過物鏡3入射到反射鏡6上，再由反射鏡6變更光路90°，經反射鏡6變更90°光路的光束L2入射到分束器5，這次由分界面5a所反射。經分界面5a 90°反射的光束L2，入射到偏光稜鏡進行克爾效應檢測後，通過圓柱形透鏡由光檢測器7接收。
這時，按照物鏡3與光碟1的信號記錄面之間的距離變化，由圓柱形透鏡對分界面5a 90°反射的光束L2產生像差。結果，隨著光碟1的信號記錄面與物鏡3之間的距離的變化，光檢測器7的受光面上光點的形狀起變化，因此能夠根據光檢測器7的輸出信號產生聚焦誤差信號。另一方面，將光碟1的信號記錄面上照射的上述0次衍射光的光點夾在中間的前後±次衍射光的各光點由於相對於光碟1的記錄磁軌的某種程度偏移，在光檢測器7的受光面上相對應的±1次衍射光的各光點就移動。結果由於光檢測器的輸出信號起變化，因此能產生根據該光檢測器7的輸出信號的變化的循跡誤差信號。而且，根據接收來自光檢測器7的0次衍射光的輸出信號能夠讀出光碟1上記錄的信息信號。
為了控制半導體雷射器2出付的光束L1成為一定的輸出級，如上述構成的光讀出裝置將檢測半導體雷射器2出射光光束L1的光電二極體10配設於從半導體雷射器2到物鏡3的光束L1的光路側面上。光電二極體10因為是檢測由分束器5分界面5a反射的光束L1的一部分的，因此要配置在相對於自半導體雷射器2至物鏡3的光束L1的光路成正交的位置上，而且要配置在與檢測光碟反射回來的光束L2的光檢測器7把分束器5夾在中間的相對的位置上。
如果這樣地配置光電二極體10，則與自半導體雷射器2至物鏡3的光路相正交的方向的寬度就變大，光讀出裝置本身也大型化了。如果光讀出裝置大型化了，則採用這種光讀出裝置的光碟記錄和/或復現裝置也大型化。
因此，謀求光讀出裝置本身的小型化，使採用光讀出裝置時光碟記錄和/或復現裝置的小型化成為可能，同時設計如圖3所示的結構的裝置作為防止出射光束輸出級變動，能夠大致為一定值地進行控制的光讀出裝置。
圖3所示的光讀出裝置，在半導體雷射器2的置放盒內設置接收在半導體雷射器2的背面出射的光束的光電二極體15，由該光電二極體15檢測在半導體雷射器背面一側出射的光束強度。這一檢測輸出供給控制由驅動源11提供的驅動半導體雷射器2的驅動電流的大小的自動控制電路12。自動控制電路12根據光電二極體15檢測的輸出控制由驅動源11提供的驅動電流的大小。這樣，通過根據半導體雷射器2出射光束強度控制驅動電流大小並驅動，半導體雷射器2總是出射一定輸出等級的光束L1。
通過設置檢測在半導體雷射器2背面一側出射的光束的光電二極體15，由於不必設置檢測在半導體雷射器2前面一側出射的光束L1的一部分的光電二極體10，因此與自半導體雷射器2至物鏡3的光路相正交方向的寬度能減小，能使光讀出裝置自身小型化。謀求採用這種光讀出裝置的光碟記錄和/或復現裝置的小型化也就可能。
然而，從半導體雷射器2出射、入射到分束器5的光束L1的一部分由分束器5的分界面5a所反射。由5a反射的光束L1的一部分L3，光路變更90°，轉向支持分束器5和光柵等光學零件的基座16等。由於基座由鋁等金屬製成，反射率高。因此，轉向基座16的光束L3，由基座16的表面所反射，再次返回分束器5一側。反射到分束器5的光束L3，成為雜光，通過分束器5入射到光檢測器7。在光檢測器7上除光碟1反射的返回光束L2外，作為光束L3的雜光一入射到光檢測器7，就不能由檢測器7正確地檢測返回光束L2。
如果不能正確地進行返回光束L2的檢測，就不能正確地檢測聚焦誤差信號和循跡誤差信號，就不能進行使物鏡3在光軸方向上變位的聚焦控制和使物鏡3在與該物鏡3光軸方向正交的平面內變位的循跡控制，就不能由通過物鏡3聚焦在光碟1上照射信號記錄面的光束L1正確地掃描形成於光碟1上的磁軌，就不能進行信息信號的正確讀出。
而且，由基座16表面所反射、再次入射到分束器5的光束L3的一部分被分束器5的分界面5a所反射，其光路變更90°轉向半導體雷射器2一側。在半導體雷射器2一側，返回光束L3與半導體雷射器2出射的光束L1互相影響產生共振，發生所謂自耦光讀出器(scoop，self coupling Optical Pick-up)噪聲。而且，從半導體雷射器2出射的光束L1的輸出級成為不穩定，光檢測器7檢測的返回光束L2的輸出級成功不穩定，不能由光檢測器7正確地檢測聚焦誤差信號和循跡誤差信號，不能正確讀出信息信號。
發明概述本發明的目的在於提供能通過物鏡正確檢測入射光束的光讀出裝置。
本發明的另一個目的在於提供能除去光源出射的光束在通過分束器之時生成的雜光成分，由光檢測器正確地檢測通過物鏡入射的光束的光讀出裝置。
本發明的另外其他的目的在於提供能夠出射穩定的輸出級的光束，進行信息信號的正確讀出的光讀出裝置。
本發明的另外其他的目的在於提供可調整分離光源出射的光束和通過物鏡入射的光束的分束器的安裝位置，能進行對光檢測器的光束的正確入射的光讀出裝置。
本發明的另外其他的目的在於提供謀求裝置本身小型化，從而有助於光碟記錄和/或復現裝置的小型化的光讀出裝置。
為達到上述目的，與設計的本發明相關的光讀出裝置是一種設有下列部分的裝置使光源出射的光束聚焦的物鏡；配置於光源與物鏡之間、分離來自光源出射的光束與通過物鏡入射的光束的分束器；接收由分束器分離的通過物鏡入射的光束的光檢測器；以及除去光源出射的光束在通過分束器之際產生的雜光成分的除去裝置。
這種光讀出裝置還包括至少保持分束器的支架。在該支架的分束器相對的位置上設有除去光束通過分束器之際產生的雜光成分的除去裝置。
光讀光裝置還包括至少安裝光源和光檢測器的基座。設置除了雜光成分的除去手段的支架，設置在從光源來的光束進入的開口部，和在通過該開口部分的直線位置上安裝分束器的安裝部。與支架的基座相接觸的面形成平坦的面，相對於基座可能調整移動安裝的位置。
光讀出裝置還包括配置於分束器與光檢測器之間的光學元件，這個光學元件大致與通過支架的開口部的直線正交，且夾著分束器配置在與雜光成分除去手段相對的位置上。
除去光源出射光束在通過分束器之際產生的雜光成分的除去裝置，由形成於支架側面的凹凸部所構成。
另外，除去雜光成分的除去裝置由形成於支架側面的傾斜面所構成。
本發明的其他的目的、通過本發明能得到的具體優點，將從下面所說明的實施例進一步了解。
附圖簡要說明圖1表示為構成現有光讀出裝置的半導體雷射器和光學元件的配置結構的立體圖。
圖2表示上述光讀出裝置的平面圖。
圖3表示現有光讀出裝置另一例的平面圖。
圖4表示與本發明相關的光讀出裝置的立體圖。
圖5表示上述光讀出裝置的分解立體圖。
圖6表示上述光讀出裝置的光束的光路平面圖。
圖7表示上述光讀出裝置的光束的光路側面圖。
圖8表示保持分束器的支架的立體圖。
圖9表示上述支架的剖視圖。
圖10表示保持分束器的支架的另一例的剖視圖。
實施本發明的最佳方式下面，參照附圖對與本發明相關的光讀出裝置的實施例進行說明。
實施例如圖4和圖5所示，本發明的光讀出裝置包括，作為出射光束的光源的半導體雷射器21，及聚焦半導體雷射器21出射的光束L1並照射作為光記錄媒體的光碟20的信號記錄面的物鏡。
如圖6和圖7所示，在從半導體雷射器21至物鏡的光束L1的光路中，包括位於半導體雷射器21一側，將從半導體雷射器21一側出射的光束L1分離成0次光及±1次光至少3束衍射光束的光柵23。
為說明簡單起見，在圖6及圖7中，用1束光束表示至少3束衍射光束，圖中總共3束衍射光束簡單地稱為光束。
如圖6和圖7所示，在自光柵23至物鏡22的光路中，設有分離半導體雷射器21出射的光束L1和由光碟20反射的通過物鏡22入射的光束L2的分束器24，和將通過分束器的光束L1作90度偏轉、入射到物鏡22上，同時將由光碟20反射的通過物鏡的光束L2作90度偏轉入射到分束器的反射鏡25。
光讀出裝置中設有由檢測光碟20反射的返回光束L2、進行光碟20所記錄的信息信號的讀出，同時檢測聚焦誤差信號和循跡誤差信號的光電二極體的光檢測元件組成的光檢測器26。這種光檢測器如圖6和圖7所示在與自半導體雷射器21至物鏡22的光路相關的位置上與分束器對向配設，使能檢測由分束器24的分界面24a反射的光路變更90度的返回光束L2。還有，分束器24的分界面24a相對於入射到分束器的光束L2的光軸傾斜45度，使入射到該分束器24的光束的光路能變更90度。
如圖6和圖7所示，從分束器24至光檢測器26的光路中，配設有檢測光碟反射的返回光束L2的克爾旋轉角的偏光稜鏡27，和用來對返回光束L2產生像差的圓柱形透鏡28。偏光稜鏡27一體地安裝在分束器24上。
如圖6和圖7所示，本發明的光讀出裝置，在置放半導體雷射器21的置放盒29內設置接收在半導體雷射器21背面一側出射的光束的光電二極體30，通過該光電二極體30檢測半導體雷射器21背面一側出射的光束的強度。這一檢測輸出供給控制驅動源31提供的驅動半導體雷射器21的驅動電流大小的自動控制電路32。該自動控制電路32根據光電二極體30檢測的輸出控制驅動源31供給的驅動電流的大小。這樣，通過根據半導體雷射器21出射的光束強度控制驅動電流的大小並驅動，總是出射一定輸出級的光束L1。
如圖4和圖5所示，本發明的光讀出裝置，當配設到光碟記錄和/或復現裝置上時，包括被支持在光碟記錄和/或復現裝置一側設置的導軌機構上的基座33。基座33採用鋁合金的模鑄件或者耐熱性好、剛性高的合成樹脂材料形成大致為矩形的框。即基座33包括相對向一對側壁33a、33b、側壁33a、33b的一側之間相連設置的底板33c、另一側之間相連設置的蓋板33d。底板33c設於側壁33a、33b的一端側，蓋板33d設置於側壁的另一端側，對著底板33c和蓋板33d的面是開放的。而且在基座33的一端側上設有形成軸孔34、35的一對支持片36、37，軸孔被插入在光碟記錄和/或復現裝置上設置的導軌機構的導軸。在基座33的另一端上設有斷面為コ字形的導軌支持部38，導軌支持部38支持與導軸一起構成導軌機構的導軌部。
本發明的光讀出裝置通過將軸孔插通光碟記錄和/或復現裝置上互相平行配設的導軸，並由導軌支持部38支持導軌部，在導軸方向上可以移動地加以支持。
構成光讀出裝置30半導體雷射器21如圖5所示安裝於基座33的另一端側。在基座33中，光柵23、分束器24及反射鏡25使光軸一致地加以配設。光柵23用粘接劑粘接到光柵架39上，通過光柵架39裝入基座33的蓋板33d內未圖示的安裝部。光柵架39為防止其反射光和外部光入射到光柵23；採用不透明的黑色樹脂形成。
分束器24如上所述與偏光稜鏡27一體地安裝，與圓柱形透鏡28一起裝到支架41上，通過該支架41裝到基座33中。
安裝分束器24的支架41，採用鋁、鎂合金等金屬或耐熱性好剛性高的合成樹脂形成筐形體，如圖5和圖8所示。在支架41上，半導體雷射器21出射的光束L1進入的開口部42設在其一側面上。支架41內部，在通過第1開口部42的直線位置上設有安裝分束器24的第1安裝部43。分束器24與偏光稜鏡裝成一體，用粘接劑粘接到第1安裝部43上。
與形成第1開口部的一側面相對的支架41的另一側面上設有開口部44，用於使通過分束器24的光束L1通過，並使光碟20反射的返回光束L2入射到分束器24上。
在支架41內，與第1安裝部43並排地設有第2安裝部45，用於安裝配設於分束器24與光檢測器26之間的光學元件圓柱形透鏡28。圓柱形透鏡28安裝到第2安裝部45上，其光軸正交正通過從第1開口部42至第2開口部44的直線，並與安裝在分束器24上的偏光稜鏡24相對向。圓柱透鏡也用粘接劑裝到第2安裝部45上。
在與設置第1、第2開口部42、44的側面垂直的支架41的一個端面上，設置使通過圓柱形透鏡28的光束L2入射到光檢測器用的第3開口部46。
使半導體雷射器出射的光束L1的光軸與分束器24的光軸對準地將支架41裝入基座33中。支架41與半導體雷射器21、分束器39一起通過安裝到基座33上的支架支持板47被壓接支持到基座33的蓋板33d上。
支架支持板47，由彈性金屬板衝孔彎曲而成，如圖5所示，在將半導體雷射器21和光柵39按壓支持到基座33的蓋板33d一側上的平板形支持部48的兩側，伸出一對嵌合到基座33兩對壁33a、33b的外側上的嵌合片49、50。而且在支架支持板47上設有衝孔支持部48的一部分形成一對光柵支架支持片51。51。在支持部48的一側上還設有一對支架支持片52、52。
支架支持板47通過將一對嵌合片49、50嵌合到基座33的側壁33a、33b的外側被裝到基座上。這時，通過將側壁33a、33b的外側上突出設立的卡合突起55卡進嵌合片49、50上的卡孔53、54，支架支持板相對於基座33的安裝位置加以安裝。
通過支架支持板裝配到基座33上，半導體雷射器21和光柵支架39通過支持部48被按壓到基座33的蓋板33d一側，實現了相對基座33安裝位置的定位。而且，藉助於通過光柵支架支持片51、51支持著與光柵23的光軸相正交的面，光柵支架39被定位於相對通過支架41安裝於基座33上的分束器24的安裝位置上。然後藉助於通過支持部38上突起設置的一對支架支持片52、52的支持，按壓支持到基座33的蓋板33d一側，由此，支架41相對於基座33的安裝位置加以定位。
通過支架41與基座33的蓋板33d相接觸的面41a和支架支持片52、52所支持的面41b、41c做成平坦的面，可相對基座33移動調整。通過在支架支持板47支持狀態下進行裝配位置的調整以後，支架41用粘接劑固定在基座33上。通過支架41的可能移動調整，能夠調整支架41上安裝的分束器24與光檢測器26之間的距離，能夠調整光束L2的光檢測器26的受光面上的受光狀態。
基座33的底板33c上設置反射鏡25，反射鏡25將半導體雷射器21出射、通過分束器24的光束L1偏轉90°方向入射到物鏡上，同時將由光碟20反射、通過物鏡22的光束L2偏轉90°方向入射到分束器24上。通過嵌入基座33的底板33c上穿透的裝配孔，反射鏡25對分隔器光軸對準，反射面25a相對於從分束器24至反射鏡25的光軸成精確的45°角度裝配。
在基座33的一方側壁33a上，通過光檢測器支架裝配光檢測器26。光檢測器因是檢測由分束器24的分界面24a所反射、光路90度變更的由光碟20反射的返回光束L2的，因此在與自半導體雷射器21至物鏡22的光路正交的位置上與分束器相對向地裝在一方側壁33a上。側壁33a的相對向光檢測器26的部分，穿透設置使返回光束L2通過用的通孔。
在支架41的內表面上，半導體雷射器21出射光束L1的一部分經分束器24的分界面24a反射，成為向分束器24的外面方向的雜光成分的光束L3散射，設有構成除去入射到分束器24和光檢測器26的雜光的雜光除去機構的凹凸部61。該凹凸部61被設置在光束L3前進方向上，因為半導體雷射器出射的光束L1的一部分經分束器24的分界面24a反射，使光束L3在分束器24的向外方向上散射。即是，如圖6和圖9所示，凹凸部61在與半導體雷射器21出射的光束L1的光軸相正交的位置，夾著分束器24與圓柱透鏡28相對向的支架41的內表面60上加以設置。通過在支架41內表面60上這樣設置凹凸部61，從半導體雷射器21出射、經分束器24的分界面24a反射、朝向分束器24的外方的光束L3由凹凸部61所散射，或者改變行進方向，防止入射到分束器24一側，同時防止作為雜光朝向光檢測器26行進。
這種場合，凹凸部61與可設置在支架41的全部內表面上。而且，凹凸部61形成適當的大小，使能散射朝向分束器24外方向的光束L3。
支架41的內表面和外表面都著上黑色，抑制經分束器24的分界面反射、朝向分束器24的外方行進的光束L3由於支架41內表面所反射的量，抑制入射到分束器24一側的量，抑制作為雜光向光檢測器26行進的量。而且藉助於支架41的內外表面著成黑色，也能夠抑制從支架41的外部入射到支架內部的光。
為使支架41的內外表面成黑色，除在支架41的內外表面塗布黑色塗料以外，也可用黑色的合成樹脂材料形成支架41。
為了防止半導體雷射器21出射的、經分束器24的分界面24a反射、向分束器24的外方向行進的光束L3在支架41的內表面上反射、入射到分束器24一側，進而作為雜光向光檢測器26行進，如圖10所示，支架41的與分束器24相對向的面也可以做成相對於自分束器24至光檢測器的光軸傾斜的傾斜面。這樣，通過將與分束器24相對向的面做成傾斜面，從半導體雷射器21出射、經分束器24的分界面24a反射、朝向分束器24的外方向的光束L3能夠不向分束器24的方向的反射，入射到分束器一側的束得以防止，同時防止了作為雜光傳向光檢測器。這時也可在傾斜面上形成微小的凹凸64，由於這些凹凸64使傳向分束器24的外方向的光束L3散射。
將由反射鏡25反射的半導體雷射器21出射的光束L1聚焦併入射到光碟20上，並將光碟20反射的光束L2入射到反射鏡25上的物鏡22，使其光軸與自半導體雷射器21至反射鏡25的光軸正交與反射鏡對向地配設。物鏡22由物鏡驅動裝置66所支持，使得可以在與物鏡22的光軸平行的方向的聚焦方向上和與物鏡22的光軸成正交的平面方向的循跡方向上改變位置。
物鏡驅動裝置66如圖5所示，保持物鏡22，同時包括，安裝供給使物鏡22在聚焦方向變位的聚焦誤差信號的聚焦線圈67和使物鏡在循跡方向變位的一對循跡線圈68、68的線圈架，和成線形狀的多個彈性支持體71，該彈性支持體71在固定部70上支持所述線圈架69使可在聚焦方向上和循跡方向上變位。
線圈架69由耐熱性好剛性高的合成樹脂材料例如PPS樹脂成形，形成的線圈架上半部72與線圈架下半部73用粘接劑粘合或連結構成。線圈架72前端設物鏡安裝單元74、基端部一側設コ字形的線圈安裝單元75。線圈部下半部73在中央部設中空的線圈安裝孔76，形成大致矩形的框狀，使線圈安裝孔76對應線圈安裝單元75接合到線圈架上半部72上。然後，物鏡22嵌入物鏡安裝部74上設置的圓形的透鏡安裝孔，裝配。聚焦線圈67繞在矩形的圓管上，裝配在線圈架上半部72的線圈安裝單元75與線圈架下半部73的線圈安裝孔之間。一對循跡線圈68、68，繞成平板的矩形狀，安裝在聚焦線圈67外周側的一側面上，通過聚焦線圈67裝到線圈架69上。
固定單元70也將固定單元上半部78與固定單元下半部79用粘接劑粘合或連接而成。固定單元70的上半部78與線圈架69的上半部72之間，以及固定單元70的下半部79與線圈架69的下半部73之間分別用各一對互相平行的彈性支持體71相連接。
通過多個彈性支持體71支持線圈架69的固定單元70，如圖5所示，在コ字形形成的安裝基板81的開口端設置的安裝片82、82間安裝。在安裝基板81的基端側設置的連接單元81a的一側上，安裝磁軛85，磁軛85上安裝共同供給聚焦線圈67聚焦誤差信號和供給循跡線圈68、68循跡誤差信號，從而產生在聚焦方向和循跡方向上使物鏡驅動變位的驅動力的一對磁鐵83、84。磁軛85，在連接片86的兩側上伸出形成一對安裝片87、88，在與連接片86的安裝片87、88被形成的側面垂直的邊上相對方向，向上伸出形成一對磁鐵安裝片89、90。磁軛85，將一對安裝片87、88嵌合到安裝基板81的兩側，被安裝到安裝基板81的下面一側，磁軛85用焊接將一對安裝片固定裝配到安裝基板81上。然後，一對磁鐵83、84在一對磁鐵安裝片89、90的相對的面上分別用粘接劑粘接裝配。一對磁鐵安裝片89、90，如圖4所示，在這些磁鐵安裝片89、90的前端一側上由連接軛91加以連接。該連接軛91通過支持一對磁鐵安裝片89、91，使一對磁鐵83、84之間的間隔保持一定。
然後，安裝基板81通過該基板81上裝配的磁軛85裝到基座33的底板33c上。也即，安裝基板81，使磁軛85連接片上穿孔設置的一對定位孔92、93卡合到基座33的底板33c上直立的一對定位梢94、95，對基座33的安裝位置被定位而得以安裝。
如圖4所示，線圈架69通過固定單元70被支持在裝有磁軛85的安裝基板81上時，在磁軛85上安裝的一方磁鐵83插入筒狀聚焦線圈67內，另一方磁鐵84在聚焦線圈67的一個側面一側與安裝的循跡線圈68、68相對。
這樣構成的物鏡驅動裝置66，一當對聚焦線圈供給聚焦誤差信號時，就產生使線圈架89在與物鏡22的光軸相平行的方向上變位的驅動力，使物鏡22在平行於光軸的方向上變位，進行聚焦控制，而一當對循跡線圈68、68供給循跡誤差信號時，就產生使線圈架89在與物鏡22的光軸正交的平面方向上變位的驅動力，使物鏡22在垂直於物鏡22光軸的平面方向上變位，進行循跡控制。
在基座33的上表面一側，由蓋板97加以覆蓋。
如上所述構成的光讀出裝置，從半導體雷射器21前面一側出射的光束L1，以原樣的發散光入射到光柵23。入射到光柵23的光束L1依靠光柵23分散成0次和±1次光至少3束衍射光。還有，圖6和圖7中為說明簡單起見，用1束光來表示。與圖相一致，以後的說明假設將0次光和±1次光至少3束衍射光簡單地稱為光束。由光柵輸出的光束L1通過分束器24至反射鏡25。在通過分束器24之際，根據前述的理由，因分束器24的分界面24a，半導體雷射器21出射的光束L1的一部分雖被反射朝向支架41的分束器24相對的內表面60上，但大部分透過分束器24的分界面到達反射鏡25。這時，在分束器24相對的內表面60上，藉助於形成上述的凹凸部61或傾斜面65，由分界面24a反射的來自反導體雷射器21的光束L3被散射，由於其行進方向被改變，作為雜光不向位於支架41的反射側的光檢測器行進。而且，支架41的內外表面被著上黑色，因此衰減了由分界面24a反射的來自半導體雷射器21的光束L3，能夠抑制到達光檢測器26上的雜光。
入射到反射鏡25的光束L1，由反射鏡變更90度光路，導向物鏡22。由反射鏡25反射的光束L1由物鏡22聚焦於光碟20的信號記錄面20a上。由光碟20的信號記錄面20a反射的光束L2，再次通過物鏡入射到光讀出裝置內，由反射鏡25再次變更90度光路。由反射鏡25變更90度光路的光束L2入射到分束器24，這次由分界面24a 90度反射。由分界面90度反射的光束L2經偏光稜鏡27檢測克爾旋轉角，進而通過圓柱形透鏡28由光檢測器受光。
這時，對由分束器24的分界面24a 90度反射的光束L2，由圓柱形透鏡按照物鏡22與光碟20的信號記錄面20a之間的距離變化產生像差。結果由於隨著信號記錄面20a與物鏡22之間的距離變化，光檢測器26的受光面上的光點形狀變化，因此能根據光檢測器26輸出信號產生聚焦誤差信號。另一方面，根據夾著照射在光碟20的信號記錄面20a的上述0次衍射光光點的前後±1次衍射光的光點相對光碟20的記錄磁軌20b偏離到何等程度，與光檢測器26的受光面上的±1次衍射光對應的各光點作移動。結果由於光檢測器26輸出信號起變化，因此能根據該光檢測器26輸出信號的變化產生循跡誤差信號。將這樣地生成的聚焦誤差信號和循跡誤差信號供給物鏡驅動裝置66的聚焦線圈67和循跡線圈68、68。結果依靠聚焦線圈67和循跡線圈68、68與磁鐵83、84，能進行使線圈架69在聚焦方向和循跡方向上移動的聚焦控制和循跡控制。
根據光檢測器26接收的0次衍射光的輸出信號能從光檢測器26讀出光碟20所記錄的信息信號。
如上說明，本發明的光讀出裝置，由於從半導體雷射器21出射。由分束器24的分界面24反射、由支架41內表面反射的光束L3由凹凸部61和傾斜面65散射，因此能夠防止入射到分束器、再經分束器24的分界面24a反射、與半導體雷射器21出射的光束L1產生影響、發生共振，產生自耦光讀出器噪聲，而且防止作為雜光入射到光檢測器26。因此，光檢測器26能夠只正確地檢測由分束器24的分界面反射的來自光碟反射的光束L2，能進行高精度的聚焦誤差信號和循跡誤差信號的檢測，能夠在聚焦方向和循跡方向上正確地控制物鏡22。而且能夠依靠從物鏡22向光碟20照射的光束L1，正確掃描光碟20的記錄磁軌20b，進行光碟20上記錄的信息信號的正確讀出。而且，因為光檢測器26隻正確檢測由光碟20反射的光束L2，因此能正確讀出由光碟20記錄的信息信號。
工業上的實用性如上所述，本發明的光讀出裝置，由於使由半導體雷射器出射、由分束器的分界面反射、由支架的內表面反射的作為雜光成分的光束髮生散射，防止入射到光檢測器上，因此能夠由光檢測器檢測高精度的聚焦誤差信號和循跡誤差信號，能夠高精度地讀出由光碟記錄的信息信號。
權利要求
1.一種光讀出裝置，其特徵在於，包括光源；使從所述光源出射的光束聚焦的物鏡；配置於所述光源和所述物鏡之間、分離從所述光源出射的光束和通過所述物鏡入射的光束的分束器；接收由所述分束器分離的、通過所述物鏡入射的光束的光檢測器；以及除去從所述光源出射的光束在通過所述分束器時產生的雜光成分的除去裝置。
2.如權利要求1所述的光讀出裝置，其特徵在於，所述光讀出裝置還至少包括保持所述分束器的支架，在與所述支架的所述分束器相對的位置上設置所述除去裝置。
3.如權利要求2所述的光讀出裝置，其特徵在於，所述光讀出裝置還至少包括配置所述光源和所述光檢測器的基座，所述支架設置有光源來的光束進入的開口部和在通過開口部的直線位置上安裝所述分束器的安裝單元，同時與所述支架的所述基座的接觸面形成平坦的面，並在所述基座上可以移動地加以裝配。
4.如權利要求3所述的光讀出裝置，其特徵在於，所述光讀出裝置還包括配置於所述分束器與所述光檢測器之間的光學元件，所述光學元件大致正交於通過所述支架的所述開口部的直線，且夾所述分束器配置在所述除去裝置相對的位置上。
5.如權利要求2所述的光讀出裝置，其特徵在於，所述除去裝置由在所述支架的側面上形成的凹凸構成。
6.如權利要求2所述的光讀出裝置，其特徵在於，所述除去裝置由在所述支架側面上形成的傾斜面構成。
7.一種光讀出裝置，其特徵在於，包括光源；使從所述光源出射的光束聚焦的物鏡；配置於所述光源和所述物鏡之間、分離從所述光源出射的光束和通過所述物鏡入射的光束的分束器；接收由所述分束器分離的、通過所述物鏡入射的光束的光檢測器；至少配設所述光源和所述光檢測器的基座；以及設置從所述光源來的光束進入的開口部和在通過所述開口部的直線上安裝所述分束器的安裝單元，同時與所述基座相接觸的面形成平坦的面，可在所述基座上移動調整地安裝的支架。
8.如權利要求7所述的光讀出裝置，其特徵在於，所述光讀出裝置還包括配置於所述分束器和所述光檢測器之間的光學元件，所述光學元件大致正交於通過所述支架開口部的直線，且夾所述分束器配置在與所述支架相對的位置上。
9.如權利要求8所述的光讀出裝置，其特徵在於，在夾所述支架和所述分束器，與所述光學元件相對的位置上，設置除去所述光源出射的光束在通過所述分束器之際產生的雜光成分的除去裝置。
10.如權利要求9所述的光讀出裝置，其特徵在於，所述除去裝置由在所述支架側面上形成的凹凸構成。
11.如權利要求9所述的光讀出裝置，其特徵在於，所述除去裝置由在所述支架形成的傾斜面構成。
全文摘要
本發明揭示一種光讀出裝置,包括使從光源出射的光束聚焦的物鏡、配置於光源與物鏡之間分離來自光源出射的光束和通過物鏡入射的光束的分束器、接收由分束器分離的、通過所述物鏡入射的光束的光檢測器。這種光讀出裝置基於凹凸部或傾斜面,使光源出射的光束在通過分束器時產生的雜光成分散射,防止入射到光檢測器上,以謀得改善光檢測器的檢測精度。
文檔編號G11B7/135GK1195416SQ9719066
公開日1998年10月7日 申請日期1997年6月9日 優先權日1996年6月7日
發明者川上高, 葉田冬希郎 申請人:索尼株式會社