一種小靈通行動電話基站信號故障綜合測試裝置的製作方法
2023-05-11 10:42:41 3
專利名稱:一種小靈通行動電話基站信號故障綜合測試裝置的製作方法
技術領域:
本實用新型涉及一種電信領域的測試裝置,特別涉及一種小靈通行動電話基站信號的綜合測試裝置。
背景技術:
目前電信部門所使用的「小靈通」行動電話通信系統在「小靈通」行動電話通信系統的基站控制器(RPC)和基站(RP)之間採用ISDN連接方式。基站(RP)和通信的終端「小靈通」行動電話通過射頻方式交換相互的信息後,就通過普通市話通信電纜採用ISDN方式連接到基站控制器(RPC)。基站控制器(RPC)對來自各路的信息進行處理後送到另一基站(RP),或送到有線公用電話網(PSTN),或是送到移動公司、聯通公司的無線移動網去,實現「小靈通」行動電話和固定市話、行動電話的互聯互通。在這種「小靈通」行動電話通信系統中,無論是基站控制器(RPC)出現故障,或是基站(RP)出現故障,以及傳輸電纜出現故障,均可能導致整個系統癱瘓。當出現這些傳輸信號的故障時,維護人員很難確定故障到底是來源於哪個環節。通常採取的分析排除故障的方法是停止另一套正常工作的「小靈通」行動電話通信系統的工作,把兩套系統的基站控制器(RPC)和基站(RP)分別進行互換後,觀察故障是否排除,以確定故障原因。但這樣的分析排除故障方法會造成一套正常的系統停止運行,影響用戶的通信質量,引起用戶投訴。而且這種方法會給維修人員帶來繁重的勞動,不能在最短的時間內恢復正常運行。
發明內容
為了克服現有的「小靈通」行動電話通信系統中維護基站控制器(RPC)和基站(RP)出現的信號故障,以及傳輸線路的故障,本實用新型的目的在於提供一種小靈通行動電話基站信號的綜合測試裝置,該裝置不僅能仿真出基站控制器(RPC)和基站(RP)所發出的信號,還可以測試信號傳輸線路的一些環阻、絕緣、噪聲、衰減等參數。
本實用新型的目的是這樣實現的一種小靈通行動電話基站信號故障綜合測試裝置,它包括中央處理器CPU、基站控制器RPC和基站RP仿真電路、衰減噪聲測試電路、衰減測試信號源電路、電壓測試電路、環阻測試電路、絕緣測試電路、電容測試電路、按鍵輸入電路和液晶輸出電路,其特徵在於中央處理器CPU分別和各單元電路相連接。
本實用新型的有益效果是由於採用了中央處理器和集成電路技術,本裝置克服了一般小靈通行動電話通信系統的測試裝置不能仿真基站控制器(RPC)和基站(RP)所發出的信號,以及不能全面測試出線路參數、且測試數據不準的缺陷,使「小靈通」行動電話通信系統的基站控制器(RPC)和基站(RP),以及傳輸線路的維護工作方便、確定故障準確、測試數據科學、裝置體積小巧,是一種具有較高的智能化程度,適合小靈通行動電話通信系統的基站控制器(RPC)、基站(RP),以及傳輸線路的日常維修。檢測時只需要斷開可能出現故障的基站控制器(RPC)和基站(RP),接入本裝置,就可以測試出故障的原因是否在基站控制器(RPC)、基站(RP),或者傳輸線路。
以下結合附圖和實施例對本實用新型作進一步說明。
圖1是本實用新型的方框圖。
圖2是本實用新型的基站控制器RPC和基站RP仿真電路原理圖。
圖3是本實用新型的衰減噪聲測試電路原理圖。
圖4是本實用新型的衰減測試信號源電路原理圖。
具體實施方式
實施例參見上述附圖,一種小靈通行動電話基站信號故障綜合測試裝置,它包括中央處理器CPU、基站控制器RPC和基站RP仿真電路、衰減噪聲測試電路、衰減測試信號源電路、電壓測試電路、環阻測試電路、絕緣測試電路、電容測試電路、按鍵輸入電路和液晶輸出電路,其特徵在於中央處理器CPU分別和各單元電路相連接。
上述基站控制器RPC和基站RP仿真電路由ISDN晶片IC11、線圈變壓器T11、二極體D11~D14、電阻R11~R15、電容C11~C14組成;ISDN晶片IC11的第12腳經電阻R14接電源;ISDN晶片IC11的第13腳經電阻R15接電源;ISDN晶片IC11的第26腳和第27腳均和電源相接;ISDN晶片IC11的第28腳和第29腳之間接有電容C14;ISDN晶片IC11的第32腳和第33腳之間並聯接有電容C12;ISDN晶片IC11的第32腳還與二極體D11、D13的負極相接,並連接至線圈變壓器T11的第9腳;ISDN晶片IC11的第32腳還經電阻R11和第36腳相接;ISDN晶片IC11的第33腳還與二極體D12、D14的負極相接,並連接至線圈變壓器T11的第7腳;ISDN晶片IC11的第33腳還經電阻R12和第39腳相接;ISDN晶片IC11的第34腳和第35腳之間接有電容C13;ISDN晶片IC11的第42腳和第43腳均連接電源;ISDN晶片IC11的第44腳經電阻R13接電源;ISDN晶片IC11的第44腳還與中央處理器相接;ISDN晶片IC11的第1、2、3、4、17、18、21、22、23、24、44腳均和中央處理器對應相接;線圈變壓器T11的第2腳和第5腳之間接有電容C11;二極體D11、D12的正極接數字地。
上述衰減噪聲測試電路由集成電路IC21A、IC22、電阻R21~R25;電容C21~C28組成;集成電路IC21A的第1腳和電容C21的負極相接,電容C21的正極接模擬地;集成電路IC21A的第2腳分別連接電阻R22和R23的一端,電阻R23的另一端接模擬地,電阻R22的另一端通過電阻R21接模擬地;電阻R21一端接衰減測試信號源電路;集成電路IC21A的第3腳接模擬地;集成電路IC21A的第4腳和電容C22的負極相接,電容C22的正極接模擬地;;集成電路IC21A的第4腳和第5腳間接有電容C25,第4腳接C25的負極。第5腳接C25的正極;集成電路IC21A的第6腳和第8腳之間接有電容C24;;集成電路IC21A的第6腳還經電阻R24和集成電路IC22的第2腳相接;集成電路IC21A的第6腳同時還連接電容C23的負極,電容C23的正極接模擬地;集成電路IC21A的第7腳接電源;集成電路IC21A的第8腳接模擬地;電容C27和C28串聯後,接在集成電路IC22的第1腳和第8腳之間;電阻R25和電容C26並聯後,接在集成電路IC22的第2腳和第6腳之間,第6腳還與中央處理器相接;集成電路IC22的第3腳接模擬地;集成電路IC22的第4腳接負5伏電壓;集成電路IC22的第5腳接中央處理器;集成電路IC22的第7腳接電源。
上述衰減測試信號源電路由集成電路IC31A、IC32、繼電器JDQ31、電位器DWQ1、R36、電阻R31~R35、電阻R37、R38、電容C31~C33組成;集成電路IC31A的第2腳經電阻R33與集成電路IC32的第2腳相接;集成電路IC31A的第4腳經電阻R32與電位器DWQ1的滑動臂相接;集成電路IC31A的第5腳經電阻R31與電位器DWQ1的滑動臂相接;集成電路IC31A的第6腳與電位器DWQ1的一固定臂相接;集成電路IC31A的第7腳和第8腳相接;集成電路IC31A的第10腳經電容C33接負5伏電壓;集成電路IC31A的第11腳接負5伏電壓;集成電路IC31A的第12腳經電阻R33接負5伏電壓;電容C32和C33串聯後接在集成電路IC32的第1腳和第8腳之間;集成電路IC32的第2腳經電阻R34和電位器R36的一固定臂相接;電位器R36的滑動臂接集成電路IC32的第6腳;集成電路IC32的第3腳和第5腳接中央處理器;集成電路IC32的第4腳接負5伏電壓;集成電路IC32的第6腳和電位器R36的滑動臂相接,第6腳還經電阻R37和繼電器JDQ31的第3腳動片相接;集成電路IC32的第7腳接電源;繼電器JDQ31的第1腳和第10腳接電源;繼電器JDQ31的第4腳定片和第7腳定片接衰減噪聲測試電路的輸入端電阻R21兩端,第4腳還接中央處理器的TIP端,第7腳還接中央處理器的RING端;繼電器JDQ31的第5腳和第6腳接中央處理器;繼電器JDQ31的第8腳動片經電阻R38接模擬地。
上述ISDN晶片IC11的型號為MC145572;上述集成電路IC21A的型號為AD737JN,集成電路IC22的型號為ICL7650;上述集成電路IC31A的型號為ICL8038,集成電路IC32的型號為ICL7650。
本例中的電壓測試電路、環阻測試電路、絕緣測試電路、電容測試電路、按鍵輸入電路和液晶輸出電路均是採用現有技術做成。
本實用新型的簡要工作過程如下根據初步判斷是RPC,或是RP,或傳輸電纜線路出了故障,將本裝置設於相應的功能。例如要進行基站控制器(RPC)的仿真測試,就將RPC與線路斷開,並接入本裝置,使其與基站(RP)通過電纜線路連接。這時,本裝置內部ISDN晶片在工作的情況下會每隔15秒試圖與基站(RP)建立同步,若2分鐘後仍未建立同步,則說明RP或者電纜線路有問題。其後再進行基站(RP)的仿真測試,方法與RPC的仿真測試大體相同。對電纜線路測試時,都是進行A/D採集並通過中央處理器計算,然後送液晶顯示。
測試還包括小靈通系統協議層分析和物理層參數測試。系統協議層分析測試主要是基於135歐姆阻抗匹配,系統協議層測試包括RPC和RP的同步分析及誤碼率測試,經過專用協議層分析晶片獲得同步和誤碼率等各項參數傳給處理器。電纜物理層參數測試包括線路電壓,環阻,絕緣,電容,衰減,噪聲,並考慮頻率特性和阻抗匹配。電纜物理層參數測試均通過數據採集放大,然後經A/D轉換進行各種運算,最後得出運算結果。
權利要求1.一種小靈通行動電話基站信號故障綜合測試裝置,它包括中央處理器CPU、基站控制器RPC和基站RP仿真電路、衰減噪聲測試電路、衰減測試信號源電路、電壓測試電路、環阻測試電路、絕緣測試電路、電容測試電路、按鍵輸入電路和液晶輸出電路,其特徵在於中央處理器CPU分別和各單元電路相連接。
2.根據權利要求1所述的小靈通行動電話基站信號故障綜合測試裝置,其特徵在於所述基站控制器RPC和基站RP仿真電路由ISDN晶片IC11、線圈變壓器T11、二極體D11~D14、電阻R11~R15、電容C11~C14組成;ISDN晶片IC11的第12腳經電阻R14接電源;ISDN晶片IC11的第13腳經電阻R15接電源;ISDN晶片IC11的第26腳和第27腳均和電源相接;ISDN晶片IC11的第28腳和第29腳之間接有電容C14;ISDN晶片IC11的第32腳和第33腳之間並聯接有電容C12;ISDN晶片IC11的第32腳還與二極體D11、D13的負極相接,並連接至線圈變壓器T11的第9腳;ISDN晶片IC11的第32腳還經電阻R11和第36腳相接;ISDN晶片IC11的第33腳還與二極體D12、D14的負極相接,並連接至線圈變壓器T11的第7腳;ISDN晶片IC11的第33腳還經電阻R12和第39腳相接;ISDN晶片IC11的第34腳和第35腳之間接有電容C13;ISDN晶片IC11的第42腳和第43腳均連接電源;ISDN晶片IC11的第44腳經電阻R13接電源;ISDN晶片IC11的第44腳還與中央處理器相接;ISDN晶片IC11的第1、2、3、4、17、18、21、22、23、24、44腳均和中央處理器對應相接;線圈變壓器T11的第2腳和第5腳之間接有電容C11;二極體D11、D12的正極接數字地。
3.根據權利要求1所述的小靈通行動電話基站信號故障綜合測試裝置,其特徵在於所述衰減噪聲測試電路由集成電路IC21A、IC22、電阻R21~R25;電容C21~C28組成;集成電路IC21A的第1腳和電容C21的負極相接,電容C21的正極接模擬地;集成電路IC21A的第2腳分別連接電阻R22和R23的一端,電阻R23的另一端接模擬地,電阻R22的另一端通過電阻R21接模擬地;電阻R21一端接衰減測試信號源電路;集成電路IC21A的第3腳接模擬地;集成電路IC21A的第4腳和電容C22的負極相接,電容C22的正極接模擬地;;集成電路IC21A的第4腳和第5腳間接有電容C25,第4腳接C25的負極。第5腳接C25的正極;集成電路IC21A的第6腳和第8腳之間接有電容C24;;集成電路IC21A的第6腳還經電阻R24和集成電路IC22的第2腳相接;集成電路IC21A的第6腳同時還連接電容C23的負極,電容C23的正極接模擬地;集成電路IC21A的第7腳接電源;集成電路IC21A的第8腳接模擬地;電容C27和C28串聯後,接在集成電路IC22的第1腳和第8腳之間;電阻R25和電容C26並聯後,接在集成電路IC22的第2腳和第6腳之間,第6腳還與中央處理器相接;集成電路IC22的第3腳接模擬地;集成電路IC22的第4腳接負5伏電壓;集成電路IC22的第5腳接中央處理器;集成電路IC22的第7腳接電源。
4.根據權利要求1所述的小靈通行動電話基站信號故障綜合測試裝置,其特徵在於所述衰減測試信號源電路由集成電路IC31A、IC32、繼電器JDQ31、電位器DWQ1、R36、電阻R31~R35、電阻R37、R38、電容C31~C33組成;集成電路IC31A的第2腳經電阻R33與集成電路IC32的第2腳相接;集成電路IC31A的第4腳經電阻R32與電位器DWQ1的滑動臂相接;集成電路IC31A的第5腳經電阻R31與電位器DWQ1的滑動臂相接;集成電路IC31A的第6腳與電位器DWQ1的一固定臂相接;集成電路IC31A的第7腳和第8腳相接;集成電路IC31A的第10腳經電容C33接負5伏電壓;集成電路IC31A的第11腳接負5伏電壓;集成電路IC31A的第12腳經電阻R33接負5伏電壓;電容C32和C33串聯後接在集成電路IC32的第1腳和第8腳之間;集成電路IC32的第2腳經電阻R34和電位器R36的一固定臂相接;電位器R36的滑動臂接集成電路IC32的第6腳;集成電路IC32的第3腳和第5腳接中央處理器;集成電路IC32的第4腳接負5伏電壓;集成電路IC32的第6腳和電位器R36的滑動臂相接,第6腳還經電阻R37和繼電器JDQ31的第3腳動片相接;集成電路IC32的第7腳接電源;繼電器JDQ31的第1腳和第10腳接電源;繼電器JDQ31的第4腳定片和第7腳定片接衰減噪聲測試電路的輸入端電阻R21兩端,第4腳還接中央處理器的TIP端,第7腳還接中央處理器的RING端;繼電器JDQ31的第5腳和第6腳接中央處理器;繼電器JDQ31的第8腳動片經電阻R38接模擬地。
5.根據權利要求2、3或4所述的小靈通行動電話基站信號故障綜合測試裝置,其特徵在於所述ISDN晶片IC11的型號為MC145572;所述集成電路IC21A的型號為AD737JN,集成電路IC22的型號為ICL7650;所述集成電路IC31A的型號為ICL8038,集成電路IC32的型號為ICL7650。
專利摘要一種小靈通行動電話基站信號故障綜合測試裝置,它包括中央處理器CPU、基站控制器RPC和基站RP仿真電路、衰減噪聲測試電路、衰減測試信號源電路、電壓測試電路、環阻測試電路、絕緣測試電路、電容測試電路、按鍵輸入電路和液晶輸出電路,其特徵在於中央處理器CPU分別和各單元電路相連接。本裝置可方便小靈通行動電話通信系統的基站控制器(RPC)和基站(RP),以及傳輸線路的維護工作、確定故障準確、測試數據科學、裝置體積小巧,是一種具有較高的智能化程度,適合小靈通行動電話通信系統的基站控制器(RPC)、基站(RP),以及傳輸線路的日常維修。
文檔編號H04W24/00GK2896757SQ20062011039
公開日2007年5月2日 申請日期2006年4月20日 優先權日2006年4月20日
發明者汪帆 申請人:重慶東電通信技術有限公司