一種光源老化壽命試驗系統的製作方法

2023-08-04 00:56:41

專利名稱：一種光源老化壽命試驗系統的製作方法
技術領域：
一種光源老化壽命試驗系統技術領域：
[0001]本實用新型屬於光輻射測量領域，具體涉及一種光源老化壽命試驗系統。背景技術：
[0002]近年來，LED等具有長壽命特點的新型光源不斷湧現，如何準確評價此類新型光源的壽命特性成為研究的新熱點。以最為典型的LED為例，新近發布的國際國內標準一致認為，加速壽命試驗是正確評價LED可靠性和壽命的較好解決方案。[0003]目前對LED等新型光源的加速壽命試驗都存在不同的缺陷，實驗室階段的試驗， 一次試驗僅能測量數量較少的光源，不能滿足工業產線上大規模的老化篩選、可靠性預測及壽命試驗的要求；或者只能提供一種試驗環境，靈活性差，不能滿足不同測量標準的要求，適用範圍窄且兼容性差，性價比低；或者只能監測被測光源的光、熱、色、電等的某一種或幾種參數，若同時需要測量上述參數，則需要不同的設備，測量複雜且成本高。
實用新型內容[0004]為了克服現有技術中存在的上述缺陷，本發明旨在提供測量參數齊全、適用範圍廣且成本低的光源壽命試驗系統。[0005]為達到上述目的，本實用新型採用了以下技術方案[0006]一種光源老化壽命試驗系統，其特徵在於，包括溫控箱、儀表箱、工控機和工控機箱，所述的溫控箱設置在儀表箱和工控機箱之間，所述的工控機設置在工控機箱的內部，所述的工控機與顯示屏、鍵盤、滑鼠等配件電連接，所述的顯示屏、鍵盤、滑鼠設置於溫控箱的側旁，用以操作和顯示試驗結果；所述溫控箱內部設置裝夾被測光源的夾具和採集被測光源的光輻射信號的取樣裝置。[0007]儀表箱內設置與取樣裝置相連接的測量被測光源光信號的測光儀表、為被測光源供電並監控其點亮或熄滅狀態的電學儀表、以及監控被測光源溫度的溫度巡檢儀，上述測量儀表均與工控機電連接；所述的儀表箱的數量為一個，測光儀表、電學儀表和溫度巡檢儀等不同的測量儀表設置在同一個儀表箱中；或者所述的儀表箱的數量為兩個或兩個以上， 測光儀表、電學儀表和溫度巡檢儀可任意組合設置在不同的儀表箱中。通過將各種測量儀表集成到儀表箱中，單臺測量系統即可實現被測光源的光色熱電等參數的測量，測量方便且測量參數齊全。[0008]實際測量時，僅單個溫控箱內就可以設置多個被測光源，被測光源被裝夾在多路夾具上，且可以進一步通過設置多個溫控箱擴展可測光源的數量，電學儀表為各個被測光源供電並監控其電學參數的多路電源開關控制器；溫度巡檢儀為多路溫度巡檢儀，它監控各個被測光源的實時溫度，並將溫度數據傳送至工控機；取樣裝置將各個被測光源的光信號傳至測光儀表；測光儀表測量並分析各個被測光源的光信號，從而實現被測光源光、色、 熱、電等參數的測量，特別適用於工業生產中批量光源的老化篩選、可靠性預測和壽命試驗等領域。[0009]作為優選，所述的溫控箱的數量為兩個或兩個以上，其中一個溫控箱設置在工控機箱和儀表箱之間，其他溫控箱獨立設置或者設置在兩個儀表箱之間。例如當溫控箱的數量為兩個時，儀表箱的數量為三個，其中一個溫控箱設置在工控機箱和儀表箱之間，另外一個溫控箱設置在其他兩個儀表箱之間；當溫控箱的數量為三個時，儀表箱的數量為三個，第一個溫控箱設置在工控機箱和儀表箱之間，第二個溫控箱設置在其他兩個儀表箱之間，第三個溫控箱獨立設置；當溫控箱的數量為三個時，儀表箱的數量為五個，第一個溫控箱設置在工控機箱和儀表箱之間，第二個溫控箱設置在其他兩個儀表箱之間。[0010]當溫控箱的數量為兩個或兩個以上時，在實際工作時，不同的溫控箱可以設置相同的溫控範圍，或者不同的溫控箱內設置的控制溫度不同，這樣可以最大限度地滿足不同測量場合的要求，擴展性強，適用範圍廣。不同的溫控箱可以實現的溫控範圍可能不同，一般情況下，光源在進行老化壽命試驗時，需要的工作溫度條件相同，則多個溫控箱內設置的實際工作溫度必須一致，才能實現多個光源的同時老化壽命試驗，這種方式下，通過增加溫控箱的數量，即可增加被測光源的數量；但是，如果需要比較被測光源在不同的工作溫度條件下的老化試驗情況，通過將不同溫控箱內設置的實際控制溫度不同，只需進行一次試驗即可實現被測光源在不同工作溫度條件下的老化壽命試驗。[0011]作為優選，所述儀表箱上還可設置用於指示被測光源老化狀態的指示燈，指示燈與電學儀表電連接。指示燈點亮則表示被測光源處於點燃老化狀態，反之指示燈熄滅表示被測光源不處於老化狀態。[0012]作為優選，所述的被測光源為LED光源。[0013]本實用新型通過設置靈活配置溫控箱、儀表箱及其內部的測量儀表，實現被測光源的工作條件、數量、測量參數可調控，擴展性強，可以最大限度地滿足多種不同測量場合的要求，適用範圍廣，性價比高；僅單臺測量系統即可實現被測光源的光色熱電等參數的測量，測量參數齊全。
[0014]附圖1是實施例1的結構示意圖；[0015]附圖2是實施例2的結構示意圖；[0016]附圖3是實施例3的結構示意圖；[0017]1-溫控箱；2-儀表箱；3-工控機；4-工控機箱；5-被測光源；6_取樣裝置；7_夾具；8-測光儀表；9-電學儀表；9-1-供電電源；9-2-智能控制器；10-溫度巡檢儀；11-顯示屏。
具體實施方式
[0018]實施例1[0019]如圖1所示為一種光源老化壽命試驗系統的結構示意圖。[0020]本實施例包括溫控箱1、儀表箱2、工控機3和工控機箱4，溫控箱1設置在工控機箱4和儀表箱2之間，工控機3設置在工控機箱4的內部，工控機3與顯示屏11、鍵盤、滑鼠電連接，顯示屏11、鍵盤、滑鼠設置於溫控箱1的側旁，用以操作和顯示試驗結果。[0021]本實施例中的被測光源5為LED光源，溫控箱1內設置裝載多個LED的多路夾具7和採集LED的光輻射信號的光纖6 ；儀表箱2內設置與光纖6相連接的測量LED光信號的光度計8、監控各個LED實時溫度的多路溫度巡檢儀10、電學儀表9，本實施例中電學儀表9 包括LED的供電電源9-1、實時監控各個LED供電狀態並測量各個LED的電學參數的多路智能控制器9-2 ；裝載多個LED的多路夾具7分別與多路智能控制器9-2和多路溫度巡檢儀 10電連接，多路智能控制器9-2與供電電源9-1電連接；多路智能控制器9-2、光度計8、多路溫度巡檢儀10均與工控機3電連接。[0022]實際測量時，多路智能控制器9-2通過控制供電電源9-1實現LED按照一定的時序工作，保證光度計8測量被點亮的LED的光信號；多路智能控制器9-2測量LED電學參數；多路溫度巡檢儀10監控LED的實時溫度；上述光度計8、多路智能控制器9-2、多路溫度巡檢儀10的測量數據均分別被傳送至工控機3，工控機3分析測量結果，從而實現各個LED 光、色、熱、電等參數的測量。[0023]實施例2[0024]如圖2所示為一種光源老化壽命試驗系統的結構示意圖。[0025]與實施例1不同的是，本實施例包括三個溫控箱1(分別記為溫控箱1-1，1-2， 1-3)、三個儀表箱2 (分別記為儀表箱2-1，2-2，2- 、工控機3和工控機箱4，其中溫控箱 1-1設置在工控機箱4和儀表箱2-1之間，溫控箱1-2設置在儀表箱2-2和2_3之間，溫控箱1-3獨立設置。[0026]每個溫控箱1內分別設置裝載多個被測光源5的多路夾具7和採集LED的光輻射信號的光纖6 ；儀表箱2-1內設置光譜儀8和多路智能控制器9-2，儀表箱2-2內設置兩臺光譜儀8和兩臺多路智能控制器9-2，儀表箱2-3內設置多路溫度巡檢儀10和供電電源 9-1。[0027]儀表箱2-1內的光譜儀8與溫控箱1-1中的光纖6電連接，多路智能控制器9-2 與溫控箱1-1中的多路夾具7電連接；儀表箱2-2內的兩臺光譜儀8分別與溫控箱1-2和 1-3中的光纖6電連接，多路智能控制器9-2分別與溫控箱1-2和1-3中的多路夾具7電連接；溫控箱1-1、1_2和1-3中的多路夾具7都分別與多路溫度巡檢儀10和供電電源9-1 電連接；儀表箱2中的光譜儀8、供電電源9-1、多路智能控制器9-2、多路溫度巡檢儀10均與工控機3電連接。[0028]實際測量時，儀表箱2-1和2-2中的多路智能控制器9-2都通過控制儀表箱2_3中的供電電源9-1，分別實現溫控箱1-1、1-2和1-3中的被測光源5按照一定的時序工作，並測量其內部被測光源5的電學參數；儀表箱2-1和2-2中的光譜儀8分別測量溫控箱1-1、 1-2和1-3中的被測光源5的光信號，儀表箱2-3中的溫度巡檢儀10同時監控三個溫控箱中各個被測光源5的實時溫度，上述光度計8、多路智能控制器9-2、多路溫度巡檢儀10的測量數據均分別被傳送至工控機3，工控機3分析測量結果，從而實現各個LED光、色、熱、電等參數的測量。[0029]實施例3[0030]如圖3所示為一種光源老化壽命試驗系統的結構示意圖。[0031]與實施例1不同的是，本實施例包括三個溫控箱1(分別記為溫控箱1-1，1-2， 1-3)、五個儀表箱2 (分別記為儀表箱2-1，2-2，2-3，2-4, 2-5)、工控機3和工控機箱4，其中溫控箱1-1設置在工控機箱4和儀表箱2-1之間，溫控箱1-2設置在儀表箱2-2和2_3之間，溫控箱1-3設置在儀表箱2-4和2-5之間。[0032]每個溫控箱1內分別設置裝載多個被測光源5的多路夾具7和採集LED的光輻射信號的光纖6 ；儀表箱2-1、2-2和2-3內分別設置光譜儀8和多路智能控制器9_2，儀表箱 2-4內設置多路溫度巡檢儀10和供電電源9-1，儀表箱2-5內不設置任何測量儀表。[0033]各個儀表箱內的光譜儀8與對應溫控箱中的光纖6電連接，多路智能控制器9-2 與對應溫控箱中的多路夾具7電連接；溫控箱1-1、1-2和1-3中的多路夾具7都分別與儀表箱2-4內的多路溫度巡檢儀10和供電電源9-1電連接；各個儀表箱中的光譜儀8、供電電源9-1、多路智能控制器9-2、多路溫度巡檢儀10均與工控機3電連接。[0034]實際測量時，儀表箱2-1、2-2、2_3中的多路智能控制器9-2都通過控制儀表箱2-4 中的供電電源9-1，分別實現溫控箱1-1、1-2和1-3中的被測光源5按照一定的時序工作， 並測量其內部被測光源5的電學參數；儀表箱2-1、2-2、2-3中的光譜儀8分別測量溫控箱 1-1、1-2和1-3中的被測光源5的光信號，儀表箱2-4中的溫度巡檢儀10同時監控三個溫控箱中各個被測光源5的實時溫度，上述光度計8、多路智能控制器9-2、多路溫度巡檢儀10 的測量數據均分別被傳送至工控機3，工控機3分析測量結果，從而實現各個LED光、色、熱、 電等參數的測量。
權利要求1.一種光源老化壽命試驗系統，其特徵在於，包括溫控箱(1)、儀表箱O)、工控機(3) 和工控機箱G)，所述的溫控箱(1)設置在儀表箱( 和工控機箱(4)之間，所述的工控機 (3)設置在工控機箱⑷的內部，所述的工控機⑶與顯示屏、鍵盤、滑鼠電連接，所述的顯示屏、鍵盤、滑鼠設置於溫控箱⑴的側旁，溫控箱⑴內設置裝夾被測光源(5)的夾具(7) 和採集被測光源(5)的光輻射信號的取樣裝置(6)。
2.如權利要求1所述的一種光源老化壽命試驗系統，其特徵在於，所述的儀表箱(2) 內設置與取樣裝置(6)相連接的測量被測光源(5)光信號的測光儀表(8)，為被測光源(5) 供電並監控其點亮或熄滅狀態的電學儀表(9)，以及監控被測光源( 溫度的溫度巡檢儀 (10)，上述測量儀表均與工控機(3)電連接。
3.如權利要求1所述的一種光源老化壽命試驗系統，其特徵在於，所述的溫控箱(1)的數量為兩個或兩個以上，其中一個溫控箱(1)設置在工控機箱(4)和儀表箱( 之間，其他溫控箱(1)獨立設置或者設置在兩個儀表箱( 之間。
4.如權利要求1所述的一種光源老化壽命試驗系統，其特徵在於，所述的溫控箱(1)的數量為兩個或兩個以上，在實際工作時，不同的溫控箱(1)內設置的控制溫度不同。
5.如權利要求2所述的一種光源老化壽命試驗系統，其特徵在於，所述的儀表箱(2)的數量為兩個或兩個以上，測光儀表(8)、電學儀表(9)和溫度巡檢儀(10)可任意組合設置在不同的儀表箱O)中。
6.如權利要求2所述的一種光源老化壽命試驗系統，其特徵在於，儀表箱(2)上設置指示被測光源( 老化狀態的指示燈，所述的指示燈與電學儀表(9)電連接，指示燈點亮表示被測光源( 處於點燃老化狀態，指示燈熄滅表示被測光源( 不處於老化狀態。
專利摘要本實用新型公開了一種光源老化壽命試驗系統，包括溫控箱、儀表箱和工控機箱，溫控箱設置在儀表箱和工控機箱之間，其內部設置裝夾被測光源的夾具和採集被測光源的光輻射信號的取樣裝置。本光源老化壽命試驗系統可實現被測光源的光色熱電等參數的測量，測量參數齊全，且配置靈活，被測光源的工作條件和數量可調控，可以滿足多種不同測量場合的要求，適用範圍廣，性價比高。
文檔編號G01M11/02GK202255835SQ20112031358
公開日2012年5月30日 申請日期2011年8月25日 優先權日2011年8月25日
發明者潘建根 申請人:杭州遠方光電信息股份有限公司