訪問盤中的數據的方法、分配盤的區域的方法及再現設備的製作方法
2023-08-04 06:15:56 1
專利名稱：訪問盤中的數據的方法、分配盤的區域的方法及再現設備的製作方法
技術領域：
本發明涉及盤缺陷管理，更具體地講，涉及一種用於使用臨時缺陷管理區域(TDMA)來管理盤缺陷的方法和設備，以及一種在其中使用該方法和設備來執行缺陷管理的盤。
背景技術：
缺陷管理是重寫存儲在在其中產生缺陷的盤的用戶數據區域中的數據的處理。數據被重寫到盤的數據區域的新部分，從而補償另外由缺陷導致的數據丟失。通常，使用線性替換方法或滑移替換方法來執行缺陷管理。在線性替換方法中，使用不具有缺陷的備用數據區域來替換在其中存在缺陷的用戶數據區域。在滑移替換方法中，具有缺陷的用戶數據區域被滑移過，並且使用下一個不具有缺陷的用戶數據區域。
線性替換和滑移替換方法二者僅僅可應用到在其上可以重複記錄數據並且可以使用隨機存取方法來執行記錄的盤如DVD-RAM/RW。換言之，線性替換和滑移替換方法很難應用到在其上僅僅允許一次記錄的一次寫入盤。
通常，通過將數據記錄在盤上並且然後確認數據是否已經被正確地記錄在盤上來檢測盤中的缺陷的存在。然而，一旦數據被記錄在一次寫入盤上，則不可能蓋寫新數據和管理其中的缺陷。
在CD-R和DVD-R的發展以後，引入了具有幾十GB的記錄容量的高密度一次寫入盤。由於這種類型的盤不貴並且允許實現快速記錄操作的隨機存取，所以這種類型的盤可以使用作為備份盤。然而，由於對於一次寫入盤不可以進行缺陷管理，所以當在備份操作期間檢測到缺陷區域(即，存在缺陷的區域)時，備份操作被中止。通常，由於當沒有頻繁地使用系統時，如在系統管理員不作業系統的夜間執行備份操作，所以更加可能當備份操作因為檢測到一次寫入盤的缺陷區域而被停止時，中止的備份操作將整個夜間保持中止，從而沒有完全地執行該備份操作。
發明內容
本發明提供了一種可以被應用到盤的缺陷管理方法和設備以及一種使用該缺陷管理方法來管理缺陷的盤。
本發明還提供了一種缺陷管理方法和設備，即使在記錄操作期間檢測到缺陷該方法和設備仍可以管理盤缺陷，實現無中斷記錄操作，以及一種具有該方法的盤。
將在接下來的描述中部分闡述本發明另外的方面和/或優點，還有一部分通過描述將是清楚的，或者可以經過本發明的實施而得知。
根據本發明的一方面，盤包括數據區域，在其中記錄用戶數據；和臨時缺陷管理區域，存在於引入區域和引出區域中的至少一個中，並且在其中記錄關於記錄在數據區域中的用戶數據的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息。
最好，但不必需，對在其中用戶數據被記錄在數據區域中的每個記錄操作記錄臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息。
另外，最好，但不必需，臨時缺陷信息包含指示在其中記錄相應的用戶數據的數據區域的缺陷區域的位置的信息，或包含指示作為缺陷區域的替代的替換區域的位置的信息。
根據本發明的另一方面，提供了一種管理盤中的盤缺陷的方法，該方法包括將關於根據記錄操作記錄在盤的數據區域中的數據的缺陷信息作為臨時缺陷信息記錄在存在於盤的引入區域和引出區域中的至少一個中的臨時缺陷管理區域中；和將用於管理臨時缺陷信息的管理信息作為臨時缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區域中。
最好，但不必需，該方法還包括對每個記錄操作重複記錄缺陷信息和記錄管理信息；和將最終記錄的臨時缺陷管理信息和臨時缺陷信息記錄在存在於引入區域和引出區域的至少一個中的缺陷管理區域中。
根據本發明的一方面，在盤的最後完成期間，執行最終記錄的臨時缺陷信息的記錄。
最好，但不必需，記錄缺陷信息還包括記錄指示包含相應的用戶數據的數據區域的缺陷區域的位置的信息作為臨時缺陷信息；記錄指示作為缺陷區域的替代的替換區域的位置的信息作為臨時缺陷信息；或從臨時缺陷信息區域的起始開始，順序地將臨時缺陷信息記錄在包括在臨時缺陷管理區域中的臨時缺陷信息區域中。
最好，但不必需，記錄管理信息包括從臨時缺陷管理信息區域的結束開始，順序地將缺陷信息記錄在包括在臨時缺陷管理區域中的臨時缺陷管理信息區域中。
根據本發明的另一方面，提供了一種與盤一起使用的記錄和/或再現設備，該設備包括記錄/讀單元，將數據記錄在盤上或從盤上讀取數據；和控制器，控制記錄/讀單元以將關於根據記錄操作記錄在盤的數據區域中的數據的缺陷信息作為臨時缺陷信息記錄在存在於盤的引入區域和引出區域中的至少一個中的臨時缺陷管理區域中，和將用於管理臨時缺陷信息的管理信息作為臨時缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區域中。
最好，但不必需，控制器控制記錄/讀單元以對每個記錄操作將臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區域中，並且在盤的最後完成期間，將最終記錄的臨時缺陷信息和最終記錄的臨時缺陷管理信息記錄在存在於盤的引入區域和引出區域中的至少一個中的缺陷管理區域中。
根據本發明的另一方面，提供了一種與盤一起使用的記錄設備，該設備包括記錄/讀單元，將數據記錄在盤上或從盤上讀取數據；和控制器，控制記錄/讀單元以將關於根據第一記錄操作記錄在盤的數據區域中的第一數據的缺陷信息作為第一臨時缺陷信息記錄在存在於盤的引入區域和引出區域的至少一個中的臨時缺陷管理區域中，將用於管理第一臨時缺陷信息的第一缺陷管理信息作為第一臨時缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區域中，將關於根據第二記錄操作記錄數據區域中的第二數據的第二缺陷信息作為第二臨時缺陷信息記錄在臨時缺陷管理區域中，並且將用於管理第二臨時缺陷信息的缺陷管理信息作為第二臨時缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區域中。
圖1是根據本發明實施例的記錄和/或再現設備的方框圖。
圖2A和2B示出根據本發明實施例的盤的結構。
圖3示出根據本發明實施例的圖2A和2B的盤的數據結構。
圖4A到4D示出根據本發明實施例的缺陷管理區域的數據結構。
圖5示出根據本發明實施例的將數據記錄在用戶數據區域和備用區域中。
圖6A、6B和圖7示出根據本發明實施例的臨時缺陷信息TDFL#0和TDFL#1的數據結構。
圖8是示出根據本發明實施例的缺陷管理方法的流程圖。
圖9是示出根據本發明另一實施例的缺陷管理方法的流程圖。
具體實施例方式
現在將詳細討論本發明的本實施方式，其例子在附圖中示出，其中，相同附圖標記始終指定同一部件。以下通過參考附圖來描述實施例以解釋本發明。
圖1是根據本發明實施例的記錄和/或再現設備的方框圖。參考圖1，該記錄和/或再現設備包括記錄/讀單元1、控制器2和存儲器3。記錄/讀單元1將數據記錄在作為根據本發明第一實施例的信息存儲介質的盤100上，並且從盤100讀回數據以校驗記錄的數據的準確性。控制器2執行根據本發明實施例的缺陷管理。在示出的實施例中，控制器2使用寫後校驗方法，在該方法中，以預定的數據單位將數據記錄在盤100上，並且校驗記錄的數據的準確性以檢測記錄的數據中的缺陷。換言之，控制器2以記錄操作為單位將用戶數據記錄在盤100上，並且校驗記錄的用戶數據以檢測其中存在缺陷的盤100的區域(即，缺陷區域)。在以預定單位記錄數據以後，控制器2創建指示盤100的缺陷區域的位置的信息作為臨時缺陷信息，並且將創建的臨時缺陷信息存儲在存儲器3中。如果存儲的信息的量達到預定水平，則控制器2將存儲的信息作為缺陷信息記錄在盤100上。
於此，記錄操作是根據用戶的意圖所確定的工作的單位，或者是將被執行的記錄工作。根據這個實施例，記錄操作指示在其中盤100被裝入記錄和/或再現設備，數據被記錄在盤100上，並且將盤100從記錄和/或再現設備取出的過程。在該記錄操作中，數據被記錄和校驗至少一次。通常，數據被記錄和校驗幾次。使用寫後校驗方法獲得的缺陷信息被臨時存儲在存儲器3中。
當在記錄數據以後用戶按下記錄和/或再現設備的彈出按鈕(沒有示出)以移出盤100時，控制器2期待記錄操作被終止。接下來，控制器2讀取存儲在存儲器3中的信息，將讀取的數據提供到記錄/讀單元1，並且控制記錄/讀單元1以將讀取的數據記錄在盤100上。
如果完成將數據記錄在盤100上(即，不再有數據將被記錄在盤100上並且盤100將被最後完成)，則控制器2將臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息記錄在盤100的缺陷管理區域中。
在再現期間，記錄和/或再現設備利用缺陷管理區域和/或臨時缺陷管理區域中的缺陷信息和缺陷管理信息以訪問記錄的用戶數據。儘管根據圖1示出的記錄和/或再現設備描述，但應該理解該設備可以是單獨的記錄或再現設備或者是記錄和再現設備。
圖2A和2B示出根據本發明實施例的圖1中的盤100的結構。圖2A詳細示出具有記錄層L0的盤100的單記錄層盤表示。盤100包括引入區域、數據區域、和引出區域。引入區域位於盤100的內側部分，引出區域位於盤100的外側部分。數據區域存在於引入區域和引出區域之間，並且被分割成用戶數據區域和備用區域。
用戶數據區域是記錄用戶數據的數據區域的區域。備用區域是作為用於具有缺陷的用戶數據區域的一部分的替換區域的除用戶數據區域以外的數據區域的區域。備用區域用於補償由用戶數據區域中的缺陷導致的記錄區域的丟失。假設在盤100內可能產生缺陷，最好但不必需，備用區域佔用盤100的整個數據容量的5％，從而大量的數據可以被記錄在盤100上。
圖2B示出具有兩個記錄層L0和L1的盤100的雙記錄層盤表示。從第一記錄層L0的內側部分到第一記錄層L0的外側部分順序地形成引入區域、數據區域、和外部區域。另外，從第二記錄層L1的外側部分到第二記錄層的內側部分順序地形成外部區域、數據區域、和引出區域。與圖2A的單記錄層盤100不同，引出區域存在於圖2B的盤100的內側部分中。即，圖2B的盤100具有從第一記錄層L0的引入區域開始並且連續到第一記錄層L0的外部區域，並且從第二記錄層L1的外部區域連續到第二記錄層L1的引出區域記錄數據的逆向軌道路徑(OTP)。備用區域被分配到記錄層L0和L1的每個中。
在圖2A和2B的實施例中，備用區域存在於用戶數據區域和引出區域之間以及用戶數據區域和外部區域之間。如果需要，用戶數據區域的一部分可以被使用作為另一個備用區域。具體地講，多於一個備用區域可以存在於引入區域和引出區域之間。
圖3示出根據本發明實施例的盤100的結構的細節。參考圖3，臨時缺陷管理區域存在於盤100的引入區域、引出區域和外部區域中的至少一個中。另外，臨時缺陷管理區域存在於引入區域和引出區域中的至少一個中。
通常，關於管理盤100中的缺陷的信息被記錄在缺陷管理區域中。這種信息包括用於缺陷管理的盤100的結構、缺陷信息的位置、是否執行缺陷管理、和備用區域的位置和大小。在一次寫入盤的情況下，根據本發明的一方面，當先前記錄的數據改變時，新數據通常記錄在先前記錄的數據之後。
通常，當盤被裝入如圖1示出的記錄/再現設備時，該設備從盤100的引入區域和引出區域讀取數據以確定如何管理盤100，並且將數據記錄在盤100上或從盤100讀取數據。然而，如果記錄在引入區域中的數據量增加，則在裝入盤以後，將花費較長時間來記錄或再現數據。因此，本發明建議臨時缺陷管理信息和臨時缺陷信息。臨時缺陷管理信息和臨時缺陷信息被記錄在形成於引入區域和/或引出區域中的臨時缺陷管理區域中。
根據本發明的實施例，使用線性替換方法來執行缺陷管理。因此，臨時缺陷信息包括指示盤100的缺陷區域的位置的信息、和指示可以作為用於缺陷區域的替換區域的盤100的一部分的信息。臨時缺陷管理信息被用於管理臨時缺陷信息，並且包括指示記錄臨時缺陷信息的盤100的點的信息。
根據本發明實施例，每次記錄操作結束時記錄臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息。臨時缺陷管理區域包括臨時缺陷信息#0和臨時缺陷信息#1。臨時缺陷信息#0包括關於在記錄操作#0期間記錄的數據中產生的缺陷的信息和關於替換區域的信息。臨時缺陷信息#1包括關於在記錄操作#1期間記錄的數據中的缺陷的信息和關於作為臨時缺陷信息#1的替換區域的信息。此外，臨時缺陷管理區域包括臨時缺陷管理信息#0、#1。臨時缺陷管理信息#0、#1包括用於管理臨時缺陷管理信息#0、#1的相應的信息。
如果不再有數據可以或將被記錄在盤100上，或如果用戶不想在盤100上記錄更多數據(即，盤1 00需要最後完成)，則記錄在臨時缺陷信息區域中的臨時缺陷信息和記錄在臨時缺陷管理信息區域中的臨時缺陷管理信息被記錄在缺陷管理區域中。
現在將解釋將臨時缺陷管理信息和臨時缺陷信息再次記錄在缺陷管理區域(DMA)中的原因。當沒有更多數據將被記錄在盤100上(即，盤100需要被最後完成)時，被更新幾次的臨時缺陷管理信息和臨時缺陷信息被移動到引入區域的缺陷管理區域，從而實現記錄在盤100中的信息的快速讀取。另外，可以通過將缺陷管理信息記錄在多個區域中來增加信息的可靠性。
在本發明的實施例中，記錄在臨時缺陷信息區域#0到#i-1中的缺陷信息被累積地記錄在臨時缺陷信息區域#i中。因此，在盤的最後完成期間，從最終記錄的臨時缺陷信息#i來讀取缺陷信息，並且再次將讀取的信息記錄在DMA中就足夠了。
對於具有幾十GB的記錄容量的高密度盤，通常期望將簇分配到在其中記錄臨時缺陷管理信息#i的區域，並且將四個到八個簇分配到在其中記錄臨時缺陷信息#i的區域。這是因為儘管臨時缺陷信息#i的量是僅僅幾KB，但是通常最好當記錄的最小物理單位是簇時，以簇為單位記錄新數據以更新信息。在盤100中允許的缺陷的總量最好大約是盤記錄容量的5％。例如，考慮到關於缺陷的信息大約是8位元組長並且簇的大小是64KB長，需要四個到八個簇來記錄臨時缺陷信息#i。
根據本發明的一方面，可以對臨時缺陷信息#i和臨時缺陷管理信息#i執行寫後校驗方法。當檢測到缺陷時，可以使用線性替換方法將記錄在包含缺陷的盤100的缺陷區域中的信息記錄在備用區域中，或者可以使用滑移替換方法將其記錄在與缺陷區域相鄰的區域中。
圖4A到4D示出根據本發明實施例的臨時缺陷管理區域(TDMA)的數據結構。參考圖4A，臨時缺陷管理區域被邏輯地分割成兩個部分臨時缺陷信息區域、和臨時缺陷管理信息區域。從臨時缺陷信息區域的起始到其結束，臨時缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2被順序地記錄在臨時缺陷信息區域中。從臨時缺陷管理信息區域的起始到其結束，臨時缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、TDDS#2被順序地記錄。臨時缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、和TDDS#2分別相應於臨時缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2。
參考圖4B，如圖4A所示，臨時缺陷管理區域被邏輯地分割成兩個部分臨時缺陷信息區域和臨時缺陷管理信息區域。然而，將信息記錄在臨時缺陷信息區域和臨時缺陷管理信息區域中的順序與將信息記錄在圖4A的臨時缺陷信息區域和臨時缺陷管理信息區域中的順序不同。詳細地講，從臨時缺陷信息區域的結束到其起始，臨時缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、TDFL#2被順序地記錄。從臨時缺陷管理信息區域的結束到其起始，臨時缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、TDDS#2被順序地記錄。臨時缺陷管理信息TDDS#0、TDDS#1、和TDDS#2分別相應於臨時缺陷信息TDFL#0、TDFL#1、和TDFL#2。
參考圖4C，相應的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息是在記錄在臨時缺陷管理區域(DMA)中的相應的臨時管理信息中的一對信息。即，從臨時缺陷管理區域的起始開始到其結束點，臨時管理信息TDMA#0、TDMA#1、TDMA#2被順序地記錄。臨時管理信息TDMA#0包含相應的一對臨時缺陷管理信息TDDS#0和臨時缺陷信息TDFL#0。臨時管理信息TDMA#1包含相應的一對臨時缺陷管理信息TDDS#1和臨時缺陷信息TDFL#1。臨時管理信息TDMA#2包含相應的一對臨時缺陷管理信息TDDS#2和臨時缺陷信息TDFL#2。
參考圖4D，與圖4C的臨時缺陷管理區域相比，相應的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息是在記錄在臨時缺陷管理區域中的相應的臨時管理信息中的一對信息，但是記錄信息的順序不同。即，從臨時缺陷管理區域的結束到其起始，順序地記錄臨時管理信息TDMA#0、TDMA#1、TDMA#2。臨時管理信息TDMA#0、TDMA#1、TDMA#2分別包含一對相應的臨時缺陷管理信息TDDS#0和臨時缺陷信息TDFL#0、一對相應的臨時缺陷管理信息TDDS#1和臨時缺陷信息TDFL#1、和一對相應的臨時缺陷管理信息TDDS#2和臨時缺陷信息TDFL#2。
圖5示出根據本發明實施例的將數據記錄在用戶數據區域A和備用區域B中。可以以扇區或簇為單位來處理數據。扇區表示可以在計算機的文件系統中或應用程式中管理的數據的最小單位。簇表示可以一次物理地記錄在盤上的數據的最小單位。通常，一個或多個扇區組成一個簇。
有兩種類型的扇區物理扇區和邏輯扇區。物理扇區是一扇區的數據將被記錄在其上的盤上的區域。用於檢測物理扇區的地址被稱作物理扇區號(PSN)。邏輯扇區是以其可以在文件系統或應用程式中管理數據的單位。用於檢測邏輯扇區的地址被稱作邏輯扇區號(LSN)。如圖1所示的盤記錄/再現設備使用PSN來檢測數據的記錄位置，並且當將數據記錄在盤100上時，以LSN為單位在計算機或應用程式中管理全部數據，並且使用LSN來檢測數據的位置。基於是否盤100包含缺陷和記錄數據的初始位置，由記錄/再現設備的控制器2改變LSN和PSN之間的關係。
參考圖5，A表示用戶數據區域，B表示在其中PSN以升序分配到多個扇區(沒有示出)的備用區域。通常，每個LSN相應於至少一個PSN。然而，由於LSN以升序分配到非缺陷扇區，所以即使物理扇區的大小與邏輯扇區的大小相同，當盤100具有缺陷區域時，PSN和LSN之間的對應也沒有被保持。
在數據區域A中，區段(section)1001到1007表示在其中執行寫後校驗方法的數據的預定單位。記錄設備將用戶數據記錄在區段1001中，返回到區段1001的起始，並且檢查用戶數據是否被正確地記錄或缺陷是否存在於區段1001中。如果在區段1001的一部分中檢測到缺陷，則該部分被指定為缺陷#1。記錄在缺陷#1中的用戶數據還被記錄在備用區域B的一部分上。於此，在其中重寫記錄在缺陷#1的數據的備用區域B的一部分被稱作替換#1。
接下來，記錄設備將用戶數據記錄在區段1002中，返回到區段1002的起始，並且檢查數據是否被正確地記錄或缺陷是否存在於區段1002中。如果在區段1002的一部分中檢測到缺陷，則該部分被指定為缺陷#2。另外，與缺陷#2相應的替換#2形成於備用區域B中。此外，在用戶數據區域A的區段1003和備用區域B中分別指定缺陷#3和替換#3。在區段1004中，沒有產生缺陷，並且沒有指定缺陷區域。
在將數據記錄到區段1004並且校驗區段1004的數據以後，即，當用戶按下記錄設備的彈出按鈕或完成在記錄操作中分配的用戶數據的記錄時，當記錄操作#0被期待結束時，記錄設備將關於在區段1001到1003中產生的缺陷#1、#2和#3的信息作為臨時缺陷信息TDFL#0記錄在臨時缺陷管理區域中。另外，用於管理臨時缺陷信息TDFL#0的缺陷管理信息作為臨時缺陷管理信息TDDS#0被記錄在臨時缺陷管理區域中。
當記錄操作#1開始時，如關於區段1001到1004解釋，數據記錄在區段1005到1007中，並且缺陷#4和#5以及替換#4和#5分別形成於用戶數據區域A和臨時缺陷管理區域中的備用區域B中。如果第二記錄操作被期待結束，則記錄設備記錄關於缺陷#4和#5的信息作為臨時缺陷信息TDFL#1，並且再次記錄包含在臨時缺陷信息TDFL#0中的信息。其後，用於管理臨時缺陷信息TDFL#1的缺陷管理信息被記錄在臨時缺陷管理區域中。
圖6A和6B示出根據本發明實施例的臨時缺陷信息TDFL#0和TDFL#1的數據結構。圖7示出關於缺陷#i的信息的數據結構。
參考圖6A和6B，臨時缺陷信息TDFL#0包含關於缺陷#1到#3的信息。詳細地講，關於缺陷#1的信息指示在其中存在缺陷#1的區域的位置和在其中記錄替換#1的區域的位置。關於缺陷#2的信息指示在其中存在缺陷#2的區域的位置和在其中記錄替換#2的區域的位置。關於缺陷#3的信息指示在其中存在缺陷#3的區域的位置和在其中記錄替換#3的區域的位置。
除了包含在臨時缺陷信息TDFL#0的信息以外，臨時缺陷信息TDFL#1還包含關於缺陷#4和#5的信息。即，臨時缺陷信息TDFL#1包括關於缺陷#1的信息、關於缺陷#2的信息、關於缺陷#3的信息、關於缺陷#4的信息、和關於缺陷#5的信息。
參考圖7，關於缺陷#i的信息描述指向缺陷#i的指針和指向替換#i的指針。詳細地講，用於缺陷#i的指針指定缺陷#i的起始和結束點，並且用於替換#i的指針指定替換#i的起始和結束點。
以下，將參考圖8來描述根據本發明實施例的缺陷管理方法。參考圖8，在操作801中，記錄設備將關於根據第一記錄操作記錄的數據的缺陷信息作為第一臨時缺陷信息記錄在盤的臨時缺陷管理區域中。這個過程用於管理盤缺陷。在操作802中，將用於管理第一臨時缺陷信息的管理信息作為第一臨時缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區域中。
在操作803中，檢查盤是否需要被最後完成。在操作804中，如果在操作803中確定盤不需要被最後完成，則操作801和802被重複，同時將分給記錄操作、臨時缺陷信息、和臨時缺陷管理信息的索引增加1。然而，應該理解，其它數字可以用於該數字用於區分記錄的數據集的範圍的索引。
在操作805中，如果在操作803中確定盤需要被最後完成，則最終記錄的臨時缺陷管理信息和最終記錄的臨時缺陷信息被記錄在缺陷管理區域中。即，最終記錄的臨時缺陷管理信息和最終記錄的臨時缺陷信息作為最終的臨時缺陷管理信息和臨時缺陷信息被記錄在缺陷管理區域(DMA)中。根據本發明的一方面，最終的臨時缺陷管理信息和臨時缺陷信息可以被重複記錄，從而提高數據檢測的可靠性。
根據本發明的一方面，可以對最終臨時缺陷管理信息和最終臨時缺陷信息執行寫後校驗方法。如果從最終臨時缺陷管理信息和最終臨時缺陷信息檢測到缺陷，則在其中產生缺陷的盤的區域和記錄在該具有缺陷的區域之後的數據可被認為是不可用的(即，最終臨時缺陷管理信息和最終臨時缺陷信息的區域被指定為缺陷區域)，並且最終臨時缺陷管理信息和最終臨時缺陷信息可以被再次記錄在該缺陷區域之後。
圖9是示出根據本發明另一個實施例的盤缺陷管理方法的流程圖。參考圖9，記錄設備以數據的單位將用戶數據記錄在數據區域中以便於寫後校驗方法(操作901)。在操作902中，在操作901中記錄的用戶數據被校驗以檢測在盤100的任何區域中的缺陷的存在。在操作903中，圖1的控制器2指定具有缺陷的區域為缺陷區域，將記錄在缺陷區域中的用戶數據重寫在備用區域中以創建替換區域，並且創建分別指向缺陷區域和替換區域的指針信息。在操作904中，指針信息作為第一臨時缺陷信息被存儲在圖1的存儲器3中。在操作905中，檢查記錄操作是否被期待結束。如果在操作905中確定記錄操作不期待結束，則操作901到904被重複。
然而，在操作906中，如果在操作905中確定記錄操作期待結束(即，當通過用戶輸入或根據記錄操作來完成用戶數據的記錄時)，則控制器2從存儲器3讀取臨時缺陷信息#0，並且將臨時缺陷信息#0作為臨時缺陷信息TDFL#0記錄在臨時缺陷管理區域中。在操作907中，用於管理臨時缺陷信息TDFL#0的管理信息作為臨時缺陷管理信息TDDS#0記錄在臨時缺陷管理區域中。
在操作908中，檢查盤100是否需要被最後完成。如果在操作908中確定盤100不需要被最後完成，則操作901到907被重複同時將分給記錄操作、臨時缺陷信息、和臨時缺陷管理信息的索引增加1。然而，應該理解，其它數字可以用於該數字用於區分記錄的數據集的範圍的索引。
在操作910中，如果在操作908中確定需要盤100的最後完成，則最終記錄的臨時缺陷信息TDFL#i和最終記錄的臨時缺陷管理信息TDDS#i作為缺陷信息DFL和缺陷管理信息DDS被記錄在缺陷管理區域(DMA)中。根據本發明的一方面，缺陷信息DFL和缺陷管理信息DDS可以被重複記錄幾次以提高數據檢測的可靠性。
此外，根據本發明的一方面，可以對缺陷信息DFL和缺陷管理信息DDS執行寫後校驗方法。如果從這些DFL和DDS檢測到缺陷，則具有缺陷和記錄在具有缺陷的區域之後的數據的區域可被認為不可用(即，包括DFL和DDS的區域被指定為缺陷區域)，並且缺陷管理信息和缺陷信息可以被再次記錄在缺陷區域之後。
上述缺陷管理方法可以被實現為可以由計算機運行的電腦程式。本領域的技術人員可以容易地推出組成電腦程式的代碼和代碼段。程序被存儲在計算機可讀介質中。當由計算機讀取和運行程序時，由計算機執行根據本發明的缺陷管理方法。於此，計算機可讀介質可以是磁記錄介質、光記錄介質、載波介質固件、或其它可記錄介質。
儘管不是在所有方面必需，但應該理解控制器2可以是使用在計算機可讀介質上編碼的電腦程式來實現該方法的計算機。計算機可以被實現為具有固件的晶片，或者可以是一般或特殊目的可編程以執行該方法的通用或專用計算機。
此外，應該理解，為了實現幾十十億字節的記錄容量，記錄和/或再現單元1可以包括可用於在盤100上記錄幾十十億字節的數據的低波長高數值孔徑類型單元。這些單元的例子包括，但不限於那些使用405nm的光波長並具有0.85的數值孔徑的單元、那些與藍光碟兼容的單元、和/或那些與先進光碟(AOD)兼容的單元。
產業上的可利用性如上所述，本發明提供可應用到盤的盤缺陷管理。根據本發明的一方面，臨時缺陷信息區域存在於引入區域和/或引出區域中，從而可以累積地記錄缺陷信息。另外，在盤的最後完成期間，僅僅最終記錄的臨時缺陷信息從臨時缺陷管理區域被讀取，並且被記錄在缺陷管理區域中，從而實現缺陷管理區域的有效使用。因此，可能在將數據記錄在一次寫入盤上的同時執行缺陷管理，從而可以更加穩定地無中斷執行備份操作。
儘管根據一次寫入盤來描述，但應該理解對於可重寫的介質或者當介質具有一次寫入和可重寫的部分時，該方法也可以使用。
儘管已經示出和描述了本發明的一些實施例，但本領域技術人員應該理解在不脫離本發明的原理和精神的情況下，可以在實施例中作出改變，本發明的範圍由權利要求及其等同物限定。
權利要求
1.一種訪問盤中的數據的方法，該盤包括數據區域、引入區域和引出區域，該方法包括從盤的臨時缺陷管理區域讀取臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息，其中，臨時缺陷信息包括盤的缺陷信息，並且臨時缺陷管理區域設置在引出區域和/或引入區域中；基於臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息訪問記錄的數據。
2.如權利要求1所述的方法，其中該盤還包括設置在引出區域和/或引入區域中的缺陷管理區域；該讀取包括讀取缺陷管理區域和/或臨時缺陷管理區域中的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息；並且該訪問包括基於讀取的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息訪問記錄的數據。
3.如權利要求1所述的方法，其中，臨時缺陷信息包括關於記錄在數據區域中的用戶數據的缺陷信息。
4.如權利要求1所述的方法，其中，臨時缺陷管理信息包括用於管理臨時缺陷信息的管理信息。
5.一種與包括數據區域、引入區域和引出區域的盤一起使用的再現設備，該設備包括讀單元，從盤讀取數據；控制器，控制讀單元從盤的臨時缺陷管理區域讀取臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息，其中，臨時缺陷信息包括盤的缺陷信息，臨時缺陷管理區域設置在引出區域和/或引入區域中，並且所述控制器控制讀單元基於臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息訪問記錄的數據。
6.如權利要求5所述的設備，其中，該盤還包括設置在引出區域和/或引入區域中的缺陷管理區域；該讀取包括讀取缺陷管理區域和/或臨時缺陷管理區域中的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息；並且該訪問包括基於讀取的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息訪問記錄的數據。
7.一種分配針對記錄和/或再現設備可使用的盤上的區域的方法，該方法包括分配其中記錄數據的數據區域；分配臨時缺陷管理區域，該臨時缺陷管理區域設置在引出區域和/或引入區域中並且包括臨時管理信息，其中，臨時管理信息包括臨時缺陷信息，包括盤的缺陷信息；臨時缺陷管理信息，用於管理臨時缺陷信息。
全文摘要
一種用於使用盤中的臨時缺陷管理區域來管理盤中的盤缺陷的方法和設備，以及盤，其中，該方法包括將用戶數據記錄在數據區域中；和將關於記錄在數據區域中的用戶數據的臨時缺陷信息和臨時缺陷管理信息記錄在存在於引入區域和引出區域的至少一個中的臨時缺陷管理區域中。因此，該方法和設備可應用到可記錄的盤並且能夠有效地使用缺陷管理區域。
文檔編號G11B20/18GK101083123SQ20071012696
公開日2007年12月5日 申請日期2003年9月23日 優先權日2002年10月10日
發明者高禎完, 李坰根, 黃盛凞 申請人:三星電子株式會社