一種壓制x-射線螢光分析測試樣片的樣品託的製作方法

2023-07-20 15:25:41 1

專利名稱：一種壓制x-射線螢光分析測試樣片的樣品託的製作方法
技術領域：
一種壓制x-射線螢光分析測試樣片的樣品託技術領域一種壓制x-射線螢光分析測試樣片的樣品託，涉及用於x-射線螢光分析技術中難以壓製成型的固體物料樣片製備的樣品託。
技術背景目前，x-射線螢光分析技術已經成為碳素、冶金、地質、食品、醫藥、鋼鐵等領域固體物料分析中主要的檢驗方法，特別是對疑難雜樣的半定量分析檢驗、 判斷有獨特的優勢。在粉狀樣品分析檢驗過程中，需要將樣品壓製成片狀後， 再進行測量。在測量成分分布不均勻的固體樣品時，通常也需要將樣固體樣品破碎成粉狀，再壓製成分布均勻品片，才能在X-射線螢光光譜儀儀器上進行檢驗。傳統的制樣方法，是將測試樣品粉狀物料放入壓片模具內，再加入硼酸等 等化學試劑，進行壓制；將測試樣品粉狀物料壓製成片，並在成片的測試樣片 一形成環狀或倒扣的盒狀硼酸等化學試劑層；利用這種方法製得的樣品片經常 會出現測試樣品樣片與硼酸等化學試劑層間偏心、跑料、花面現象，或使樣品 的高度不夠，或硼酸等化學試劑層壞損現象，導致分析測量數據不準；由於樣 片表面、外觀不合格，樣品的實際厚度沒有達到儀器分析的要求，會嚴重影響 分析質量和分析結果的判定。發明內容本實用新型的目的就是針對上述已有技術存在的不足，提供一種能有效克 服樣片偏心、跑料、花面現象，或使樣品的高度不夠，或硼酸等化學試劑層壞 損現象，有效提高分析測量數據準確性的壓制x-射線螢光分析測試樣片的樣品託。本實用新型的目的是通過以下技術方案實現的。一種壓制x-射線螢光分析測試樣片的樣品託，其特徵在於其樣品託的結構為外壁與壓片模具內腔壁相配合的、上端敞口的盒狀樣品託。本實用新型的一種壓制x-射線螢光分析測試樣片的樣品託，其特徵在於所述的樣品託的壁厚度為0.2.-0.5mm。本實用新型的盒狀樣品託可由價格低廉的易拉罐等廢鋁片壓制而成，代替了 成本較高的化學試劑，由於化學試劑做的環厚度一般為l-1.5mm，而本實用新型 的壓制而成的樣品片環面厚度只有0.2,0.5111111，有效增大了測量面增大；其樣品 託樣品託與壓片機的內筒大小一樣，不會發生跑料現象；且由於制樣方法的改 進，也改變了測量面，由測量壓制樣品片下表面變成了測量壓制樣品片上表面。 測量表面的變化，使得操作人員對壓制測量面的模具，更加容易清理，減少了 壓制樣品片被汙染的可能性，減少了測量的誤差，減少了樣片表面的花面、表 面跑料、表面不均勻、提高樣片表面的光滑度、解決樣片高度不夠和內部不均 勻、減少操作難度、降低分析成本、提高了分析速度。


圖1為本實用新型的結構示意圖。 圖2為圖1的俯視圖。
具體實施方式
一種壓制x-射線螢光分析測試樣片的樣品託，其樣品託的結構為外壁與壓 片模具內腔壁相配合的、上端敞口的盒狀樣品託1，樣品託的壁厚度為 0,2廣0.5mm。 實施例1測試碳素樣品，先在壓片模具內放入與壓片模具內腔尺寸相配合的盒狀樣 品託，再放入待測試樣品的粉狀物料進行模壓製片；由新的制樣方法製成的樣 品片和普通方法製成的樣品片，經過比較，新的制樣方法製成的測試樣品厚度 在4-5個毫米之間，可以保證X-射線螢光光譜儀的測量要求(4個毫米)；普通 方法製成的樣品片厚度不均勻，厚度在3-4之間，不能保證在X-射線螢光光譜 儀上測量要求。
權利要求1.一種壓制x-射線螢光分析測試樣片的樣品託，其特徵在於其樣品託的結構為外壁與壓片模具內腔壁相配合的、上端敞口的盒狀樣品託。
2. 根據權利要求1所述的一種壓制x-射線螢光分析測試樣片的樣品託，其特 徵在於所述的樣品託的壁厚度為0.2.-0.5mm。
專利摘要一種壓制x-射線螢光分析測試樣片的樣品託，涉及用於x-射線螢光分析技術中難以壓製成型的固體物料樣片製備的樣品託。其特徵在於其樣品託的結構為外壁與壓片模具內腔壁相配合的、上端敞口的盒狀樣品託。本實用新型的盒狀樣品託可由價格低廉的易拉罐等廢鋁片壓制而成，代替了成本較高的化學試劑，減少了壓制樣品片被汙染的可能性，減少了測量的誤差，減少了樣片表面的花面、表面跑料、表面不均勻、提高樣片表面的光滑度、解決樣片高度不夠和內部不均勻、減少操作難度、降低分析成本、提高了分析速度。
文檔編號G01N23/22GK201122138SQ20072019085
公開日2008年9月24日 申請日期2007年12月17日 優先權日2007年12月17日
發明者孫洪斌, 倩 梁, 勇 石 申請人:中國鋁業股份有限公司