用於光學記錄驅動器的實時功率控制的製作方法

2023-07-08 06:56:01 2

專利名稱：：用於光學記錄驅動器的實時功率控制的製作方法
技術領域：
：本發明涉及適用於在諸如DVD或BD格式的光碟之類的相關光學載體上記錄數據的光學記錄驅動器。本發明還涉及用於操作光學記錄驅動器的相應方法以及控制光學記錄驅動器的相應處理裝置。
背景技術：
：在光碟或光學載體的光學記錄期間，對於可重寫介質而言，根據待寫入到光碟或光學載體上的數據施加雷射束來有選擇地使相變材料結晶或去結晶。同樣，對於一次寫入介質而言，根據待寫入到光碟或光學載體上的數據施加雷射束來有選擇地改變材料/燒掉材料/使材料變形(染色)或者不改變材料/燒掉材料/使材料變形(染色)。光學介質記錄所需的雷射功率的最佳量首先取決於特定的介質、記錄速度並且甚至可能取決於介質上的位置。非常重要的是施加正確的功率，因為不正確的雷射功率設置可能導致不正確的光學效應，例如太小或太大的效應。雷射功率控制(LPC)可以通過採樣來自光電二極體的雷射束反饋信號來實現，這稱為前向感測(FS)。可替換地，雷射功率可以通過連續地("奔跑(running)，，)或者半連續地("行走(walking)")回讀介質本身上的寫入數據來控制。在當代DVD(數字通用盤)驅動器和下一代BD(藍光)驅動器中，通常應用"行走"回讀方法。在內徑處(例如在功率校準區(PCA)中)進行第一次功率最優化之後，在找到的最佳設置下測量非對稱性和抖動。在寫入若干軌道(最多100個軌道)之後，回讀最後的軌道並且再次測量非對稱性和抖動。當該軌道看起來具有比找到的最佳值更高的非對稱性時，降低寫入功率，類似地，如果該軌道具有太小的非對稱性，則增大寫入功率。這種半連續地調節寫入功率的方法稱為"行走"最優功率控制(OPC),因為只在規定的步長(位置)處修改寫入功率。在圖1中，對於一次寫入盤可以找到抖動和非對稱性相對於雷射功率(功率指數)的典型最優化曲線。在US2004/0156286中，公開了一種奔跑OPC控制記錄技術。盤驅動器利用光斑照射盤並且檢測反射光斑的空間上分離的前後功率電平。基於採樣時間下前後功率電平之間的電平差值，獲得光斑中的功率估計。這種技術因此基於光碟疊層中的凹坑形成期間反射率的變化提供了用於光學記錄驅動器的奔跑OPC。然而，該參考文獻的教導局限於相當簡單的寫入過程，其中雷射功率在凹坑形成期間持續"打開"。然後，在檢測的功率信號中的瞬變之後，執行對於前後功率電平的採樣。因此，除了非常簡單的塊類型寫入之外，這種OPC技術實際上沒有應用寫入策略。寫入策略的應用，即將編碼數據轉換成具有高時間解析度和多功率電平的脈衝串，對於在許多光碟上、尤其是在可重寫盤上進行可靠的記錄是必不可少的。因此，US2004/0156286中公開的技術局限於利用有限數目的一次寫入盤進行的光學記錄，並且可能僅局限於以相對較高的旋轉速度進行的記錄，其中光碟疊層內的功耗更加有限。因此，一種改進的光學記錄驅動器將是有利的，尤其是更加有效和/或可靠的光學記錄驅動器將是有利的。
發明內容據此，本發明優選地尋求單獨地或者以任意組合地減輕、緩解或消除一個或多個上述缺點。特別地，可視為本發明的目的的是，提供利用對施加的輻射束進行的功率控制解決上迷現有技術問題的光學記錄驅動器。在本發明的第一方面中，這個目的和若干其他目的是通過提供適於在相關光學載體上記錄數據的光學記錄驅動器來達到的，該光學記錄驅動器包括-能夠發出輻射束的輻射源，所述輻射束適於在光學載體上寫入作為光學可糹企測效應的信息，-寫入策略發生器，其能夠向輻射源提供用於光學可檢測效應的寫入策略，所述輻射源被設置成發出用於寫入該光學可檢測效應的相應寫入脈衝串，所述寫入脈沖串至少包括高功率電平和4氐功率電平，-光電檢測裝置，其被設置成檢測來自光學載體的反射輻射，所述光電檢測裝置能夠檢測來自寫入脈衝串的起始時間部分的第一反射輻射脈沖並且產生指示所述第一脈沖中的功率的相應第一信號，光電檢測裝置還能夠檢測來自寫入脈沖串的結束時間部分的第二反射輻射脈沖並且產生指示所述第二脈沖中的功率的相應第二信號，以及-處理裝置，用於比較所述第一信號和所述第二信號以便獲得對於由寫入脈衝串中的功率電平傳遞的光學可檢測效應(90)中的接收功率的指示。.本發明特別地但不只是有利於獲得對於由所述脈沖串的功率電平於可重寫光學載體(RE或RW)和一次寫入光學載體(R)的"奔跑"OPC。相比於迄今已知的OPC方法，所述接收功率還可以針對大範圍的載體旋轉速度而獲得。此外，比較單個寫入脈沖串內的第一和第二反射脈衝的效應在於，所述接收功率的指示有效地從光學載體上的單個局部位置的反射光(即形成的寫入效應)獲得，並且從而可能補償或者避免來自光學載體上的大尺度變化(即低頻變化)的影響。所述變化可以包括光學載體上的指紋、光學載體疊層內的製造變化(厚度、材料不均勻性等等)。應當強調的是，本發明能夠估計所述載體的光學可檢測效應(例如凹坑或標記)中的實際接收功率而不僅僅是到來的寫入脈沖串的功率電平，儘管所述接收功率當然由到來的寫入脈沖串傳遞。如果例如正確地調節了寫入脈沖串的功率電平，載體上指紋的存在仍然可以減少用於在載體的疊層中寫入凹坑或標記的傳輸輻射，如果未加補償，這導致寫入失敗。通過本發明，對光學可檢測效應中的實際接收功率進行估計，從而以快速而有效的方式對例如可能的指紋進行補償。此外，本發明的應用可以避免或者降低對光學載體上的專用功率校準區(PCA)的需要。本發明基於將新穎的見識用於光學載體疊層中的凹坑/標記形成的動力學之中。光從形成的凹坑/標記的反射是有待深入理解的複雜過程，這尤其歸因於形成期間的凹坑/標記強烈依賴於所施加的輻射功率本身這一事實。然而，如下面將會更加明顯的是，本發明的發明人已經進行了一系列實驗研究，不中的接收功率的指示。對由單個寫入脈沖串產生的反射光部分的比較使得光電檢測裝置有必要具有足夠的時間解析度以便在不同的時間採樣第一和第二反射輻射脈衝。因此，本發明根據記錄條件、特別是所應用的寫入策略要求光電檢測裝置具有一定的最小時間解析度。在一個實施例中，處理裝置可以適於通過計算所述第一信號和所述第二信號之比來比較第一和第二信號。通過計算例如信號的高度參數之比，因而可以補償通過載體的傳輸(T)的減小。此外，通過在執行的功率估計中計算所述比值，可以降低(可能消除)缺陷或指紋對栽體的影響。在一個可替換實施例中，處理裝置可以適於通過計算所述第一信號和所述第二信號之差來比較第一信號和第二信號。在一個有利的實施例中，第一和第二信號可以是來自光學載體的中心孔徑信號(CA)。中心孔徑(CA)信號通常在讀出期間從光學載體中獲取，並且因而本發明可以通過對現有光學記錄驅動器進行適度的修改來容易地實現。有利的是，所述光學驅動器可以適於通過在寫入期間分析中心孔徑(CA)信號來識別第一和第二信號。通過使用待寫入數據的編碼方案使其變為可能，下面將對其進行更詳細的解釋。在一個實施例中，所述光學驅動器可以附加地或者可替換地適於根據提供給寫入策略發生器的數據(例如不歸零(NRZ)數據)來識別寫入脈衝串的第一和第二信號。可替換地或者附加地，所述光學驅動器可以適於根據從寫入策略發生器提供的數據來識別寫入脈沖串的第一和第二信號。因此，從寫入策略發生器到輻射源的控制信號可以例如也傳送到處理裝置以便識別寫入脈沖串的第一和第二信號。在一個實施例中，處理裝置可以適於通過利用所述第一信號和所述第二信號的時間差來獲得對於由寫入脈沖串中的功率電平傳遞的光學可檢測效應中的接收功率的指示。如果例如所述第一信號相應於寫入脈衝串中的正好第一寫入脈沖並且類似地所述第二信號相應於寫入脈衝串中的正好最後的寫入脈沖，那麼所述時間差將與在光學載體上寫入的光學效應的行程時段接近。這可以簡化對第一和第二信號的識別。在一個實施例中，光電檢測裝置可以具有的所述第一和/或所迷第二信號的採樣頻率實質大於要在光學載體上記錄的數據的時鐘頻率。對於足夠的解析度而言，所述第一和/或所述第二信號的採樣頻率可以是待寫入數據的時鐘頻率的2、3、4、5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20、21、22、23、24或25倍。適用於BD記錄的第一和第二信號的通常的採樣頻率對於IX記錄速度可以是至少66MHz。BD記錄速度可以從1X到IOX。在一個實施例中，寫入脈沖串中的高功率電平可以適於擦除光學載體上的光學可檢測效應。因此，本發明也可以應用於諸如DVD±RE或BD士RE格式的載體之類的可重寫(RE)載體。在第二方面中，本發明涉及用於控制適於在光學載體上記錄數據的相關光學記錄驅動器的操作的處理裝置，所述光學驅動器包括-能夠發出輻射束的輻射源，所述輻射束適於在光學載體上寫入作為光學可^^測效應的信息，-寫入策略發生器，其能夠向輻射源提供用於光學可^H則效應的寫入策略，所述輻射源被設置成發出用於寫入該光學可檢測效應的相應寫入脈沖串，所述寫入脈衝串至少包括高功率電平和低功率電平，-光電檢測裝置，其被設置成檢測來自光學載體的反射輻射，所述光電檢測裝置能夠檢測來自寫入脈衝串的起始時間部分的第一反射輻射脈沖並且產生指示所述第一脈沖中的功率的相應第一信號，以及光電檢測裝置還能夠檢測來自寫入脈衝串的結束時間部分的第二反射輻射脈沖並且產生指示所述第二脈衝中的功率的相應第二信號，其中所述處理裝置適於比較所述第一信號和所迷第二信號以便獲率的指示。在第三方面中，本發明涉及用於操作適於在光學載體上記錄數據的光學記錄驅動器的方法，該方法包括步驟-通過輻射源發出輻射束，所迷輻射束適於在光學載體上寫入作為光學可^H則效應的信息，-向輻射源提供來自寫入策略發生器的用於寫入光學可檢測效應的寫入策略，所述輻射源被設置成發出用於寫入該光學可檢測效應的相應寫入脈沖串，所述寫入脈衝串至少包括高功率電平和低功率電平，-通過光電檢測裝置檢測來自光學載體的反射輻射，所述光電檢測裝置能夠檢測來自寫入脈沖串的起始時間部分的第一反射輻射脈衝並且產生指示所述第一脈沖中的功率的相應第一信號，-通過光電檢測裝置檢測來自寫入脈沖串的結束時間部分的第二反射輻射脈衝並且產生指示所迷第二脈衝中的功率的相應第二信號，以及-通過處理裝置比較所述第一信號和所述第二信號以便獲得對於由寫入脈沖串中的功率電平傳遞的光學可檢測效應中的接收功率的指示。在第四方面中，本發明涉及電腦程式產品，該電腦程式產品適於允許計算機系統依照本發明第三方面控制光學記錄驅動器，所述計算機系統包括至少一個具有與其關聯的數據存儲裝置的計算機。本發明這個方面特別的但非唯一有利之處在於，本發明可以通過允許計算機系統執行本發明第二方面的操作的電腦程式產品來實現。因此，可以設想的是，可以通過在控制某種已知光學記錄驅動器的計算機系統上安裝電腦程式產品來改變所述光學記錄驅動器以便依照本發明操作。這種電腦程式產品可以在任何種類的計算機可讀介質(例如基於磁性或光學的介質)上提供，或者通過基於計算機的網絡(例如網際網路)來提供。在第五方面中，本發明涉及光學記錄載體，該光學記錄載體用於通過輻射束照射該光學記錄載體來記錄信息，該光學記錄載體包括包含控制信息的區域，所述控制信息指示可用來在所述記錄載體上記錄信息的記錄過程並包括用於記錄過程的記錄參數的值，其中所述控制信息包括與在依照第三方面的方法中或者在依照第一方面的光學驅動器中比較第一和第二信號有關的信息。本發明的第一、第二、第三、第四和第五方面中的每一個都可以與任何一個其他方面組合。本發明的這些和其他方面才艮據下面描述的實施例將是清楚明白的，並且將參照這些實施例來進行闡述。現在將僅通過舉例的方式並且參照附圖來解釋本發明，其中圖1示出了對於一次寫入盤的抖動和非對稱性相對於雷射功率(功率指數)的典型最優化曲線，圖2為依照本發明一個實施例的光學記錄驅動器的示意圖，圖3為示出了如何處理不歸零(NRZ)數據以及如何對其響應而發出輻射的示意圖，圖4類似於圖3,更詳細地示出了如何形成寫入策略以及如何發出相應的寫入脈衝串，圖5為從時間方面示出如何通過具有交變功率電平的寫入脈沖串來形成光學可檢測效應以及所述反射輻射如何導致相應的中心孔徑(CA)信號的示意圖，圖6示出了在三個不同的功率電平下測量作為時間函數的反射輻射的三幅曲線圖，圖7示出了包含在圖6的曲線圖中的數據的兩種不同分析方法，圖8為所述反射輻射脈沖、相應功率信號以及從這些功率信號中導出的功率控制信號的示意通道，以及圖9為依照本發明的方法的流程圖。具體實施方式圖1示出了對於Cu/Si疊層類型的一次寫入盤的抖動(左邊標度)和非對稱性(右邊標度)相對於雷射功率(給定為功率指數，即任意單位(A.U.))的最優化曲線。由曲線圖可知，非對稱性總體上是雷射功率的遞增函數，在非常低的功率下具有最小值，而抖動在相對較高的雷射功率電平下具有最小值。在當前的光學驅動器技術中，常規地測量寫入標記/凹坑的這兩種OPC度量並且將其應用於"行走"最優功率控制(OPC)。應當理解的是，本發明提供了一種更好的OPC解決方案，其可以通過提供可以應用於許多不同種類的光學介質和/或記錄條件的"奔跑"OPC來替換或補充這些OPC度量。圖2示出了依照本發明的光學記錄設備或驅動器以及光學信息載體1。載體1通過保持裝置30來固定和旋轉。載體1包括適用於藉助輻射束5來記錄信息的材料。該記錄材料可以例如是磁光類型、相變類型、染料類型、像Cu/Si那樣的金屬合金或者任何其他適當的材料。信息可以以光學可檢測效應的形式而記錄在光學載體l上，所述光學可檢測效應對於可重寫介質而言稱為"標記"，對於一次寫入介質而言稱為"凹坑"。光學設備(即光學驅動器)包括有時稱為光學拾取裝置(OPU)的光頭20，光頭20可以通過致動裝置21(例如電步進馬達)移位。光頭20包括光電檢測系統IO、雷射驅動器設備30、輻射源4、分束器6、物鏡7以及能夠在載體1的徑向方向和聚焦方向使透鏡7移位的透鏡移位裝置9。光電檢測系統10的功能是將從載體1反射的輻射8轉換成電信號。因此，光電檢測系統10包括若干能夠產生一個或多個電輸出信號的光電檢測器，例如光電二極體、電荷耦合器件(CCD)等等。在空間上相互設置所述光電檢測器，並且使其具有足夠的時間解析度以便允許檢測誤差信號，即聚焦誤差FE和徑向跟蹤誤差RE。將聚焦誤差FE和徑向跟蹤誤差RE信號傳送到處理器50，其中使用PID控制手段(比例-積分-微分)操作的公知伺服機構被應用來控制輻射束5在載體1上的徑向位置和聚焦位置。用於發出輻射束或光束5的輻射源4可以例如是具有可變功率的半導體雷射器，也可能是具有可變輻射波長的半導體雷射器。可替換地，輻射源4可以包括不止一個雷射器。在本發明的上下文中，認為術語"光"包括適用於光學記錄和/或再現的任何種類的電磁輻射，例如可見光、紫外光(UV)、紅外光(IR)等等。輻射源4由雷射驅動器設備(LD)22控制。雷射驅動器(LD)22包括用於響應於時鐘信號以及從處理器50發送的數據信號NRZ而向輻射源4提供驅動電流的電子電路裝置(圖2中未示出)。處理器50從光電檢測裝置10接收反饋，即第一和第二功率信號PS1和PS2,以便估計由輻射束5中的寫入脈沖串的功率電平傳遞的光學可檢測效應中的接收功率的實際值。如果在由光學可檢測效應接收的希望的目標功率電平以及由輻射束5傳遞的相關接收功率的實際值之間存在偏差，那麼處理器50可以產生到雷射驅動器22和輻射源4的適當控制信號PCS以便相應地校正所述實際功率電平。因此，建立起反饋控制環以便控制輻射束4的功率並且進而控制光學可檢測效應中的接收功率。希望的目標功率電平以及輻射束5中的功率的實際值之間的偏差定義為功率誤差，雷射功率控制環的功能是最小化並且可能的話消除功率誤差。通過本發的接收功率定義功率誤差。可替換地或者附加地，如例如前向感測(FS)功率監視中所做的那樣，可以定義針對雷射束5本身的功率誤差並且將其應用於最優化。處理器50接收並且分析來自光電檢測裝置10的信號。如圖1中示意性地說明的，處理器50還可以向致動裝置21、輻射源4、透鏡移位裝置9以及旋轉裝置30輸出控制信號。類似地，處理器50可以接收61處表示的待寫入數據，並且處理器50可以如60處表示的那樣輸出來自讀取過程的數據。儘管在圖2中已將處理器50繪成單個單元，但是應當理解的是，處理器50等效地可以是多個定位在光學記錄設備中的互聯處理單元，可能所述單元中的一些可以定位在光頭20中。圖3以簡化框圖說明了本發明，其中再次示出了圖l的一些元件。特別地，處理器50接收要在載體1上寫入的數據61,並且處理器50將數據61轉換成依照用於所討論的相關記錄技術的適當標準編碼的數據NRZ(非歸零)。將數據NRZ連同相應時鐘信號(未示出)發送到用於將NRZ數據轉換成到輻射源4(例如雷射器)的驅動電流脈沖串的雷射驅動器設備(LD)22,其中輻射源4響應於驅動電流而發出具有交變功率電平的輻射束5，即寫入脈沖串。如圖3所示將雷射驅動器設備22和雷射器4置於OPU20中。到處理器50的連接通過扁平柔性連接器(未示出)，該扁平柔性連接器也稱為"柔性器件(flex)"。圖4類似於圖3,進一步更詳細地示出了如何實現寫入策略以及如何發出輻射束5中的相應寫入脈沖串80。雷射驅動器22包括寫入策略發生器(WSG)26和連接的電流源(CUR)25。電流源25響應於來自寫入策略發生器26的輸入控制信號CS而向輻射源或雷射器4提供驅動電流Io。為了產生控制信號CS,寫入策略發生器26還從處理器50接收或產生計時信號，例如鎖相環(PLL)。在本發明的一個實施例中，另外還將控制信號CS發送回處理器50，如虛線箭頭27所示。通過同時分析CS和反射輻射8,對於來自被寫入凹坑或標記的第一R1和第二R1反射光部分的識別是可行的。應當考慮控制信號cs的延遲和/或瞬變。在一個可替換實施例中，在處理器50中分析要在所述載體上寫入的、傳送到雷射驅動器22的數據(即NRZ信號)以便預測或估計對應給定NRZ數據集合的發出的寫入脈衝串80。為了應用該實施例，有關雷射驅動器22和/或雷射器4的當前條件的詳細知識以及可能還有反饋是必要的。在另一個實施例中，對於來自凹坑或標記的第一R1和第二R1反射光部分的識別是通過分析來自光電檢測裝置IO的中心孔徑(CA)信號來執行的。知道載體格式和相關的編碼方案，就可能通過了解最小代碼行程(MRL)來分析寫入串脈沖80起始時間部分和結束時間部分中相應的第一PS1和第二PS2信號的中心孔徑信號(CA)(有時也稱為高頻信號(HF))。如果中心孔徑峰值信號之後是至少一個MRL時段，那麼所述中心孔徑信號是來自寫入脈衝串的結束信號，並且時間上的下—個中心孔徑信號被識別為來自後繼寫入脈沖串的第一信號。下面將結合圖6中給出的實驗數據來說明這一點。如上所述，MRL與載體格式有關。諸如緊密盤(CD)格式、數字通用盤(DVD)和藍光光碟(BD)之類的各種載體格式上的數據記錄是通過依照標準編碼方案編碼所述數據以獲得待發送到光頭20以便進行寫入的NRZ信號來實現的。在下表中，列出了相應的載體格式和編碼方案栽體格式編碼方案最小代碼行程(MRL)tableseeoriginaldocumentpage14此外，在右列中列出了每種編碼方案的最小代碼行程(MRL)。最小代碼行程(MRL)表示作為信道比特長度(IT)的偶數倍的最小可允許標記或空間長度。因此，對於BD而言，最小代碼行程是信道比特長度的兩倍。EFM是八-十四調製的公知縮寫。本發明不限於上面列出的載體格式。相反，本發明特別適用於各種寫入速度下的最優功率控制(OPC)和/或通常用於光學載體的不同類型的疊層配置。圖5為從時間方面示出如何通過具有交變功率電平的寫入脈沖串80來形成光學可檢測效應卯以及所述反射輻射8如何在光電檢測裝置10(參見圖1)中導致相應的中心孔徑(CA)信號的示意圖，所述交變功率電平分別為低功率電平82和高功率電平81。反射輻射8包括來自寫入脈沖串80的起始時間部分的第一反射輻射脈沖Rl,即在圖5中Rl起源於寫入脈沖串80中的第一寫入脈沖並且被檢測為下方所示的CA信號中的第一信號PS1。類似地，第二反射輻射脈沖R2是來自寫入脈沖串80的第三和最後的寫入脈衝的反射光，並且被檢測為CA信號中的第二信號PS2。為了簡單起見，在該示意圖中，寫入脈衝串80僅包括由高功率電平81所限定的三個寫入脈沖，但是在本發明的上下文中，在寫入脈衝串80中當然可以應用更多的寫入脈衝。一般情況下，用於BD記錄的寫入脈衝串80包括1到10-15個脈衝。對於所謂的N-l寫入策略而言，寫入長度為2的標記通常是利用1個脈沖來實現的，對於長度為3的情況，則利用2個脈衝，以此類推，利用N-l個脈沖。對於CD和DVD而言，最短的行程為3T,在這種情況下也使用N-2寫入策略。此外，還有分塊策略、N/2策略(I2到l脈衝，13—1,14—2,15~>2，16—3等等)以及關於奇偶有效長度的更複雜的非對稱策略。圖5的下面部分中的中心孔徑(CA)信號包括來自光電檢測裝置IO的三個信號，這三個信號指示反射光8中的對應脈衝中的功率。通過將第一信號PS1與第二信號PS2進行比較，可以獲得對於由寫入脈沖串80中的高功率電平81傳遞的光學可檢測效應90中的接收功率的指示。所述比較可以基於與第一PS1和第二PS2信號關聯的各個參數。一個這樣的參數可以是圖5中所示的高度差AH,但是類似地可以應用它們的對應高度之比。同樣，可以比較第一PS1和第二PS2信號在時間上的積分面積值，例如將其相減或相除，以便比較第一PS1和第二PS2信號並且從而獲得對於由寫入脈沖串80中的高功率電平81傳遞的光學可檢測效應90中的接收功率的估計。在圖5中，CA信號的第一PS1和第二PS2信號分別是寫入脈沖串80的正好第一和正好最後的寫入脈衝。然而，假設第一信號PS1來自寫入脈沖串80的起始時間部分並且第二信號P2來自寫入脈沖串80的結束時間部分，那麼被比較以便估計光學可檢測效應90中的接收功率的第一PS1和第二PS2信號也可以分別是來自寫入脈沖串80的起始和結束的第二、第三、第四、第五、第六、第七、第八、第九、第十等脈衝。可替換地，第一信號PS1可以是起源於寫入脈衝串80的最初5%、10%、15%或20。/。的任何脈沖。類似地，第二信號PS2可以是來自寫入脈沖串80的最後5%、10%、15%或20%的任何脈衝。在圖5中，寫入脈衝串80包括高功率81和低功率82。一些寫入策略應用多於兩個功率電平，本發明也可以容易地應用於這種多電平功率寫入脈衝串。如果寫入脈衝串80的低功率電平82具有足以在光電^^測裝置10中導致反射光脈沖的功率電平(不是圖5中繪出的情況)，那麼就可以將本發明的教導應用於通過將來自寫入串脈沖80的起始時間部分的反射光脈衝(即相應的CA信號)和來自寫入串脈沖80的結束時間部分的反射光脈衝(即相應的CA信號)進行比較來獲得對於由低功率電平82傳遞的光學可檢測效應90中的接收功率的指示。類似地，本發明的教導包括設置功率電平81以便擦除可重寫(RE)載體1的光學可檢測效應(即標記)。為了進行寫入，雷射束5必須加熱某個區域到超過多晶疊層材料的熔點(通常為500-700°C)以便產生到具有不同光學特性(即反射率)的無定形非晶相的相變，從而形成標記。為了在先前寫入的區域中寫入(即"重寫，，)新標記，雷射束5必須加熱舊的標記到稍低於熔化溫度的溫度，從而將這些舊的標記退火至導致擦除這些舊標記的晶相。在輻射束5的擦除模式期間，被刪除的標記90的反射率根據標記90中從輻射束5的照射而產生的接收功率以動態上的標記90的功率電平傳遞的標記90中的接收功率的指示。通常，具有多種功率電平(例如寫入電平(Pwrite)、擦除電平(Pe騰)和偏置電平(Pbias))的寫入脈沖串可能使得獲取每種功率電平對標記90接收的功率的單獨貢獻的估計是困難的，並且實際上獲得了由不止一種功率電平傳遞的標記90中的4妻收功率的估計。圖6示出了在Cu/Si疊層類型的一次寫入BD載體上進行寫入期間分別對應三種不同功率電平(即功率指數4、8和12)的作為時間函數的被測量反射輻射8(即中心孔徑CA信號)的三幅曲線圖。在本
技術領域：
中，這樣的曲線也稱為高頻(HF)信號，因為CA信號的頻率為25-100MHz。這些測量是在IXBD(即信道比特頻率為66MHz)下完成的，其在以500MHz進行寫入期間被採樣，以便保證正確地獲取峰值。在1XBD下，盤速度為4.92m/s。各種寫入脈沖串可以從視覺上識別，但是為了量化測量結果，在處理器50中應用峰值檢測分析。一旦知悉了本發明的一般原理，就可以用易為技術人員獲得的許多不同的方式來執行峰值分析。因此，對圖6的被採樣CA數據的峰值檢測可以基於一定準則，所述準則例如l)高於一定電平(例如圖6中的0.4、0.5或0.6)的絕對峰值高度，2)最近相鄰點的絕對或相對電平差，3)與高度的運行均值的最小偏差，等等。定位了圖6的CA數據中的峰值之後，則根據編碼方案識別寫入脈沖串的第一PS1和第二PS2信號。如上面結合圖4所解釋的，峰值位置可以與來自寫入策略發生器WSG的控制信號CS或來自NRZ數據處理的相似信息組合，或者可以關於相關編碼方案分析峰值位置本身以便識別或定位來自例如寫入脈沖串的第一和最後的寫入脈衝的CA信號。在圖6的中間曲線圖(功率指數為8)中，示出了峰值檢測分析和第一/最後寫入脈沖分析的結果。在該曲線圖的頂部通過空心圓表示寫入脈衝串的第一脈沖，實心圓表示寫入脈沖串的最後的脈衝。位於CA數據下的筆直上升線上的圓是檢測的峰值之間的計數指標CI。計數指標CI與豎直軸不成比例。圖7示出了包含在圖6的曲線圖中的中心孔徑(CA)數據的兩種不同分析方法上面的曲線圖示出了對應圖6的三種不同功率電平的、作為第一脈沖和最後脈沖之間延遲的函數的第一信號PS1(上面三條曲線)和最後的脈沖PS2(下面的三條曲線)的高度。延遲的單位給定為以500MHz樣本位置表示(即相對於寫入標記的行程)的第一和最後的脈衝位置之差，因為所述差值/比值將取決於所用的寫入脈沖數/寫入的行程。對於上面三條曲線而言，難於看到對應三個功率指數4、8和12的顯著的PS1差異。對於下面三條曲線而言，可以看到最後的信號PS2的高度強烈依賴於輻射束5的功率指數。因此，對於高於大約5的延遲而言，可觀察到來自寫入脈沖串最後脈衝的第二信號PS2的高度隨著功率的增大而降低，即對於更高的雷射功率可觀察到明顯更低的反射率。因此，可以利用這種依賴關係來獲得對於由輻射束5的功率電平傳遞的光學可檢測效應中的接收功率的指示。圖7的下面的曲線圖示出了分別與寫入脈沖串的第一和最後的脈沖關聯的、作為功率指數(任意單位)的函數的第一PS1和第二PS2信號之間的積分高度差。可以看到，所述積分高度差表現出與功率指數(即輻射束5的功率)的近似線性依賴關係。類似地，可以利用這種依賴關係來獲得對於由輻射束5的功率電平傳遞的光學可檢測效應中的接收功率的指示。構建中心孔徑CA信號的簡單模型是可能的，其中CA信號可以取成(忽略衍射)CA(t)=JPLaser(t，X)Rcaxrier(t，X)dxPL,(t,X)是依賴於時間和位置的雷射功率，X方向處於與寫入方向垂直的方向。類似地，Reamer(t,X)是依賴於時間和位置的載體的反射率，其取聯繫。因此，從數學上說，反射率與雷射功率巻積，這使得建立CA信號的可靠模型成為相對困難的任務。但是，本發明的教導表明，可以使用採樣的CA信號(或等效信號)的簡單度量來獲得對於由所應用的輻射束5的功率電平傳遞的光學可檢測效應中的接收功率的指示。處於本發明教導中的是，用於記錄信息的光學記錄載體1可以包括專用區域，在該專用區域中提供了指示利用本發明的記錄過程的控制信息。因此，在載體1上可以存儲例如具有圖7的下面的曲線圖中看到的近似線性依賴關係的參數的一個或多個查找表或校準數據，或者對應記錄凹坑/標記期間的反射率的相似值。通常，所述控制信息可以是用於記錄過程的記錄參數的值，即所述控制信息包括與比較第一PS1和第二信號PS2有關的信息。圖8為所述反射輻射脈衝Rl和R2、相應功率信號PS1和PS2以及從這些功率信號中導出的功率控制信號PCS的示意通道。在反射輻射8中嵌入了分別來自寫入脈衝串80起始時間部分和結束時間部分的反射的第一R1和第二R2脈沖。特別地，如圖6所示並且如圖7中進一步分析的，R1可以是來自形成的特定寫入脈沖串80的第一反射脈沖並且R2可以是來自相同寫入脈衝串80的最後反射脈衝。在光電檢測裝置IO(參見圖2)中，檢測包括R1和R2的反射輻射8並且將包括第一PS1和第二PS2功率信號的相應CA信號發送到處理裝置(即中央處理單元50)以便進行比較。特別地，所述比較可以是高度比較，例如圖7所示的比值或差值。基於所述比較以及發出的輻射束5的當前目標功率值，可以計算由輻射束5傳遞的光學可檢測效應中的接收功率的功率誤差。根據功率誤差的大小，將經過調節的功率控制信號PCS發送到雷射驅動器4以及依次發送到輻射源4。圖9為依照本發明的方法的流程圖。該方法包括步驟Sl:通過輻射源4發出輻射束5(例如雷射束)，所述輻射束5適於在光學載體1上寫入作為光學可檢測效應90(即凹坑或標記)的信息，S2:向輻射源4提供來自寫入策略發生器26的、用於寫入光學可檢測效應90的寫入策略，所述輻射源被設置成發出用於寫入該光學可檢測效應90的相應寫入脈衝串80,所述寫入脈沖串至少包括高功率電平81和低功率電平82，S3:通過光電檢測裝置檢測來自光學載體1的反射輻射8，所述光電檢測裝置能夠檢測來自寫入脈衝串80的起始時間部分的第一反射輻射脈衝Rl並且產生指示所述第一脈沖中的功率的相應第一信號PS1，S4:通過光電檢測裝置IO檢測來自寫入脈衝串80的結束時間部分的第二反射輻射脈沖R2並且產生指示所述第二脈衝中的功率的相應第二信號PS2，以及S5:通過處理裝置50比較所述第一信號PS1和所述第二信號PS2以便獲得對於由寫入脈沖串80中的功率電平81或82傳遞的光學可檢測效應90中的接收功率的指示。儘管已經結合列舉的實施例描述了本發明，但是本發明並非旨在局限於這裡所闡述的特定形式。相反地，本發明的範圍僅受限於隨附的權利要求。在權利要求中，術語"包括"並沒有排除存在其他元件或步驟。此外，儘管不同的權利要求中可以包含單獨的特徵，但是這些特徵可以有利地進行組合，並且特徵包含在不同的權利要求中並不意味著特徵的組合不是可行的和/或有利的。另外，單數引用並沒有排除複數。因此，對"一"、"第一"、"第二"等等的引用並沒有排除複數。而且，權利要求中的附圖標記不應當被視為限制了所述範圍。權利要求1.一種適於在相關光學載體(1)上記錄數據的光學記錄驅動器，該光學記錄驅動器包括-能夠發出輻射束(5)的輻射源(4)，所述輻射束適於在光學載體(1)上寫入作為光學可檢測效應(90)的信息，-寫入策略發生器(26)，其能夠向輻射源(4)提供用於光學可檢測效應(90)的寫入策略，所述輻射源被設置成發出用於寫入該光學可檢測效應(90)的相應寫入脈衝串(80)，所述寫入脈衝串至少包括高功率電平(81)和低功率電平(82)，-光電檢測裝置(10)，其被設置成檢測來自光學載體(1)的反射輻射(8)，所述光電檢測裝置能夠檢測來自寫入脈衝串(80)的起始時間部分的第一反射輻射光束脈衝(R1)並且產生指示所述第一脈衝中的功率的相應第一信號(PS1)，光電檢測裝置(10)還能夠檢測來自寫入脈衝串(80)的結束時間部分的第二反射輻射脈衝(R2)並且產生指示所述第二脈衝中的功率的相應第二信號(PS2)，以及-處理裝置(50)，用於比較所述第一信號(PS1)和所述第二信號(PS2)以便獲得對於由寫入脈衝串(80)中的功率電平(81；82)傳遞的光學可檢測效應(90)中的接收功率的指示。2.依照權利要求1的光學記錄驅動器，其中處理裝置(50)適於通過計算所述第一信號(PS1)和所述第二信號(PS2)之比來比較該第一信號(PS1)和第二信號(PS2)。3.依照權利要求1的光學記錄驅動器，其中處理裝置(50)適於通過計算所述第一信號(PS1)和所述第二信號(PS2)之差來比較該第一信號(PS1)和第二信號(PS2)。4.依照權利要求1-3中任何一項的光學記錄驅動器，其中所述第一和第二信號(PS1;PS2)是來自光學載體(1)的中心孔徑信號(CA)。5.依照權利要求4的光學記錄驅動器，其中所述光學驅動器適於通過在寫入期間分析中心孔徑信號(CA)來識別第一信號(PS1)和第二信號(PS2)。6.依照權利要求4的光學記錄驅動器，其中所述光學驅動器適於根據由寫入策略發生器(26)提供的數據和/或根據到寫入策略發生器(26)的數據識別第一信號(PS1)和第二信號(PS2)。7.依照權利要求1-3中任何一項的光學記錄驅動器，其中處理裝置(50)適於通過利用所述第一信號(PS1)和所述第二信號(PS2)的時間差來獲得對於由寫入脈衝串(80)中的功率電平(81;82)傳遞的光學可檢測效應(90)中的接收功率的指示。8.依照權利要求1的光學記錄驅動器，其中光電檢測裝置(10)具有的所述第一和/或所迷第二信號(PS1;PS2)的採樣頻率實質大於要在光學載體(1)上記錄的數據的時鐘頻率。9.依照權利要求1的光學記錄驅動器，其中寫入脈衝串(80)中的高功率電平(81)適於擦除光學載體(1)上的光學可檢測效應(90)。10.—種用於控制適於在光學載體(1)上記錄數據的相關光學記錄驅動器的操作的處理裝置(50),所述光學驅動器包括-能夠發出輻射束(5)的輻射源(4),所述輻射束適於在光學載體(1)上寫入作為光學可檢測效應(90)的信息，-寫入策略發生器(26),其能夠向輻射源(4)提供用於光學可檢測效應(卯)的寫入策略，所述輻射源被設置成發出用於寫入該光學可檢測效應(90)的相應寫入脈衝串(80),所述寫入脈沖串至少包括高功率電平(81)和低功率電平(82)，-光電檢測裝置(10),其被設置成檢測來自光學載體(1)的反射輻射(8),所述光電檢測裝置能夠檢測來自寫入脈沖串(80)的起始時間部分的第一反射輻射脈衝(Rl)並且產生指示所述第一脈衝中的功率的相應第一信號(PS1),以及光電檢測裝置(10)還能夠檢測來自寫入脈沖串(80)的結束時間部分的第二反射輻射脈沖(R2)並且產生指示所述第二脈沖中的功率的相應第二信號(PS2),其中所述處理裝置(50)適於比較所述第一信號(PS1)和所述第二信號(PS2)以便獲得對於由寫入脈衝串(80)中的功率電平(81;82)傳遞的光學可檢測效應(90)中的接收功率的指示。11.一種用於操作適於在光學載體(1)上記錄數據的光學記錄驅動器的方法，該方法包括步驟-通過輻射源(4)發出輻射束(5),所述輻射束適於在光學載體(1)上寫入作為光學可檢測效應(90)的信息，-向輻射源(4)提供來自寫入策略發生器(26)的、用於寫入光學可檢測效應(90)的寫入策略，所述輻射源被設置成發出用於寫入該光學可檢測效應(90)的相應寫入脈衝串(80)，所述寫入脈衝串至少包括高功率電平(81)和低功率電平(82),-通過光電檢測裝置(IO)檢測來自光學載體(1)的反射輻射(8),所述光電檢測裝置能夠檢測來自寫入脈衝串(80)的起始時間部分的第一反射輻射脈衝(Rl)並且產生指示所述第一脈沖中的功率的相應第一信號(PS1)，-通過光電檢測裝置(10)檢測來自寫入脈衝串(80)的結束時間部分的第二反射輻射脈沖(R2)並且產生指示所述第二脈沖中的功率的相應第二信號(PS2),以及-通過處理裝置(50)比較所述第一信號(PS1)和所述第二信號(PS2)以便獲得對於由寫入脈沖串(80)中的功率電平(81;82)傳遞的光學可^^測效應(90)中的接收功率的指示。12.—種電腦程式產品，適於允許計算機系統依照如權利要求11所述的方法控制光學記錄驅動器，所述計算機系統包括至少一個具有與其關聯的數據存儲裝置的計算機。13.—種光學記錄載體(1)，用於通過輻射束(5)照射該光學記錄載體來記錄信息，該記錄載體包括包含控制信息的區域，所述控制信息指示可用來在所述記錄載體上記錄信息的記錄過程並包括用於記錄過程的記錄參數的值，其中所述控制信息包括與在如權利要求11所述的方法中或者在如權利要求1所述的光學驅動器中比較第一信號(PS1)和第二信號(PS2)有關的信息。全文摘要本發明公開了一種用於在諸如DVD或BD格式的光碟之類的光學載體上記錄數據的光學記錄驅動器。輻射源被設置成發出用於寫入光學可檢測效應(90)(即凹坑或標記)的寫入脈衝串(80)。光電檢測裝置(10)檢測來自寫入脈衝串(80)的起始時間部分的第一反射輻射束脈衝(R1)並且產生指示所述第一脈衝中的功率的相應第一信號(PS1)，光電檢測裝置(10)還檢測來自寫入脈衝串(80)的結束時間部分的第二反射輻射脈衝(R2)並且產生指示所述第二脈衝中的功率的相應第二信號(PS2)。通過比較所述第一信號(PS1)和所述第二信號(PS2)(例如其高度)，可以在寫入期間並且針對大範圍的載體旋轉速度連續地獲得對於由寫入脈衝串(80)中的功率電平(81；82)傳遞的光學可檢測效應(90)中的接收功率的指示。文檔編號G11B7/125GK101401155SQ200780008984公開日2009年4月1日申請日期2007年3月5日優先權日2006年3月13日發明者B·殷,R·夫盧特斯申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司