一種液晶顯示面板測試線路及液晶顯示面板的製作方法
2023-07-08 12:27:21
本發明涉及液晶顯示面板領域，尤其涉及一種液晶顯示面板測試線路及液晶顯示面板。
背景技術：
現有的液晶顯示面板測試檢測的技術中，主要採用測試短棒(Shorting bar)面板布線的方式進行測試，然而，為了保證測試的準確性和提升製程良率，採用與液晶顯示面板綁定晶片後的GOA電路正常工作模式一樣的方式進行測試。
對於高解析度的液晶顯示面板，GOA電路正常工作時需要的時鐘信號較多，這樣造成測試信號增多，施加測試信號的測試點以及測試時的探針的數量隨之增加，測試治具複雜，製作成本高。
故，有必要提供一種液晶顯示面板測試線路以及液晶顯示面板，以解決現有技術所存在的問題。
技術實現要素：
本發明的目的在於提供一種液晶顯示面板測試線路，以解決現有的液晶顯示面板測試線路測試時需要的時鐘信號較多，造成測試信號增多，施加測試信號的測試點以及測試時相應測試點上的探針的數量隨之增加，測試治具複雜，製作成本高的技術問題。
為解決上述問題，本發明提供的技術方案如下：
本發明實施例提供一種液晶顯示面板測試線路，其包括：
多條掃描線、多條數據線以及所述掃描線和所述數據線交叉排列限定的多個像素區域上的像素電極；
多個測試點，其用於接收測試信號；
多個時鐘信號連接端子，其用於提供時鐘信號驅動所述掃描線，所述時鐘信號連接端子的一端與相應的掃描線連接，另一端與所述測試點連接；其中，
同一列上相同極性的至少兩個所述像素電極通過所述時鐘信號連接端子與同一個所述測試點連接。
在本發明的液晶顯示面板測試線路中，所述液晶顯示面板測試線路包括8個所述時鐘信號連接端子,其中，第a個所述時鐘信號連接端子的一端與第(a+8k)條所述掃描線連接，k為正整數，a為小於等於8的正整數。
在本發明的液晶顯示面板測試線路中，相鄰所述像素電極的極性不同。
在本發明的液晶顯示面板測試線路中，同一列上的所述像素電極的極性相同。
在本發明的液晶顯示面板測試線路中，所述液晶顯示面板測試線路包括4個所述測試點，其中，第一個所述時鐘信號連接端子和第三個所述時鐘信號連接端子與第一個所述測試點連接，第二個所述時鐘信號連接端子和第四個所述時鐘信號連接端子與第二個所述測試點連接，第五個所述時鐘信號連接端子和第七個所述時鐘信號連接端子與第三個所述測試點連接，第六個所述時鐘信號連接端子和第八個所述時鐘信號連接端子與第四個所述測試點連接。
在本發明的液晶顯示面板測試線路中，所述液晶系那是面板測試線路包括2個所述測試點，其中，第一個所述時鐘信號連接端子、第三個所述時鐘信號連接端子、第五個所述時鐘信號連接端子以及第七個所述時鐘信號連接端子與第一個所述測試點連接，第二個所述時鐘信號連接端子、第四個所述時鐘信號連接端子、第六個所述時鐘信號連接端子以及第八個所述時鐘信號連接端子與第二個所述測試點連接。
在本發明的液晶顯示面板測試線路中，所述液晶顯示面板測試線路包括4個所述測試點，其中，第一個所述時鐘信號連接端子和第二個所述時鐘信號連接端子與第一個所述測試點連接，第三個所述時鐘信號連接端子和第四個所述時鐘信號連接端子與第二個所述測試點連接，第五個所述時鐘信號連接端子和第六個所述時鐘信號連接端子與第三個所述測試點連接，第七個所述時鐘信號連接端子和第八個所述時鐘信號連接端子與第四個所述測試點連接。
在本發明的液晶顯示面板測試線路中，所述液晶顯示面板測試線路包括1個所述測試點，其中，第一個所述時鐘信號連接端子、第二個所述時鐘信號連接端子、第三個所述時鐘信號連接端子、第四個所述時鐘信號連接端子、第五個所述時鐘信號連接端子、第六個所述時鐘信號連接端子、第七個所述時鐘信號連接端子以及第八個所述時鐘信號連接端子與所述測試點連接。
本發明的液晶顯示面板測試線路，還包括：GOA電路，其包括多級GOA驅動單元，所述GOA驅動單元的輸入端與相應的所述時鐘信號連接端子連接，輸出端與相應的所述掃描線連接，其用於接入所述時鐘信號並生成驅動信號至所述掃描線。
依據本發明的上述目的，還提供一種液晶顯示面板，其包括
多條掃描線、多條數據線以及所述掃描線和所述數據線交叉排列限定的多個像素區域上的像素電極；
多個測試點，其用於接收測試信號；
多個時鐘信號連接端子，其用於提供時鐘信號驅動所述掃描線，所述時鐘信號連接端子的一端與相應的掃描線連接，另一端與所述測試點連接；其中，
同一列上相同極性的至少兩個所述像素電極通過所述時鐘信號連接端子與同一個所述測試點連接。
在本發明的液晶顯示面板中，所述液晶顯示面板測試線路包括8個所述時鐘信號連接端子,其中，第a個所述時鐘信號連接端子的一端與第(a+8k)條所述掃描線連接，k為正整數，a為小於等於8的正整數。
本發明的液晶顯示面板測試線路及液晶顯示面板通過將同一列上相同極性的至少兩個像素電極通過時鐘信號連接端子與同一個測試點連接，減少施加測試信號的測試點以及測試時相應測試點上的探針的數量，簡化了測試治具，降低製作成本；解決了現有的液晶顯示面板測試線路測試時需要的時鐘信號較多，造成測試信號增多，施加測試信號的測試點以及測試時相應測試點上的探針的數量隨之增加，測試治具複雜，製作成本高的技術問題。
為讓本發明的上述內容能更明顯易懂，下文特舉優選實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：
附圖說明
下面結合附圖，通過對本發明的具體實施方式詳細描述，將使本發明的技術方案及其它有益效果顯而易見。
圖1為本發明液晶顯示面板測試線路的第一優選實施例的結構示意圖；
圖2為本發明液晶顯示面板測試線路的第一優選實施例的像素電極架構的示意圖；
圖3為本發明的液晶顯示面板測試線路的第一優選實施例的工作波形示意圖；
圖4為本發明的液晶顯示面板測試線路的第二優選實施例的結構示意圖；
圖5為本發明的液晶顯示面板測試線路的第二優選實施例的工作波形示意圖；
圖6為本發明的液晶顯示面板測試線路的第三優選實施例的結構示意圖；
圖7為本發明液晶顯示面板測試線路的第三優選實施例的像素電極架構的示意圖；
圖8為本發明的液晶顯示面板測試線路的第三優選實施例的工作波形示意圖；
圖9為本發明的液晶顯示面板測試線路的第四優選實施例的結構示意圖；
圖10為本發明的液晶顯示面板測試線路的第四優選實施例的工作波形示意圖。
具體實施方式
為更進一步闡述本發明所採取的技術手段及其效果，以下結合本發明的優選實施例及其附圖進行詳細描述。
本發明的液晶顯示面板測試線路，包括：多條掃描線、多條數據線以及所述掃描線和所述數據線交叉排列限定的多個像素區域上的像素電極；多個測試點，其用於接收測試信號；多個時鐘信號連接端子，其用於提供時鐘信號驅動所述掃描線，所述時鐘信號連接端子的一端與相應的掃描線連接，另一端與所述測試點連接；其中，同一列上相同極性的至少兩個所述像素電極通過所述時鐘信號連接端子與同一個所述測試點連接。
為了便於說明，本發明實施例採用具體數量的掃描線、數據線、測試點以及時鐘信號連接端子進行說明，在不脫離以上內容的思想的前提下，本領域的技術人員能得出特定液晶顯示面板測試線路的結構。
參閱圖1，圖1為本發明液晶顯示面板測試線路的第一優選實施例的結構示意圖；
如圖1所示，本優選實施例的液晶顯示面板測試線路，包括：
4個測試點：第一個測試點TCK11、第二個測試點TCK12、第三個測試點TCK13以及第四個測試點TCK14；
8個時鐘信號連接端子：第一個時鐘信號連接端子CK11、第二個時鐘信號連接端子CK12、第三個時鐘信號連接端子CK13、第四個時鐘信號連接端子CK14、第五個時鐘信號連接端子CK15、第六個時鐘信號連接端子CK16、第七個時鐘信號連接端子CK17以及第八個時鐘信號連接端子CK18；
第一個時鐘信號連接端子CK11的一端與第1、9、17……(1+8k)條掃描線連接；第二個時鐘信號連接端子CK12的一端與第2、10、18……(2+8k)條掃描線連接；第三個時鐘信號連接端子CK13的一端與第3、11、19……(3+8k)條掃描線連接；第四個鍾信號連接端子CK14的一端與第4、12、20……(4+8k)條掃描線連接；第五個時鐘信號連接端子CK15的一端與第5、13、21……(5+8k)條掃描線連接；第六個時鐘信號連接端子CK16的一端與第6、14、22……(6+8k)條掃描線連接；第七個時鐘信號連接端子CK17的一端與第7、15、23……(7+8k)條掃描線連接；第八個時鐘信號連接端子CK18的一端與8、16、24……(8+8k)條掃描線連接；其中，k為正整數。
8個時鐘信號連接端子的另一端通過走線越過雷射切斷區域10與4個測試點連接，在進行測試時，可通過測試點對液晶顯示面板施加測試信號，測試結束後，可使用雷射切割在雷射切割區域10上將走線切斷，從而使得測試好的液晶顯示面板能正常工作。
具體地，參閱圖1、圖2，圖2為本發明液晶顯示面板測試線路的第一優選實施例的像素電極架構的示意圖；
像素電極架構由多條掃描線、多條數據線交叉排列限定的多個像素區域上的像素電極20構成，每一條數據線與掃描線交叉處連接一像素電極20，其中，相鄰像素電極20的極性不同。在本優選實施例中，示意性地標示出數據線D1～D9及掃描線G1～G5。
所述像素電極架構包括多個像素電極20，其中同一行的像素電極20連接同一側的數據線，同一列相鄰行的像素電極20分別連接兩側的數據線，也就是說位於中間的數據線會按行間隔與左右兩側的像素電極20連接，如圖1所示，奇數行的像素電極20均與其左側的數據線連接，偶數行的像素電極20均與其右側的數據線連接，同一列上像素電極20所在的像素區域為紅色像素區域、綠色像素區域或藍色像素區域。
第一個時鐘信號連接端子CK11和第三個時鐘信號連接端子CK13對應的掃描線上的像素電極20的極性均為正，從而可以將第一個時鐘信號連接端子CK11和第三個時鐘信號連接端子CK13的另一端通過走線與第一個測試點TCK11連接；
第二個時鐘信號連接端子CK12和第四個時鐘信號連接端子CK14對應的掃描線上的像素電極20的極性均為負，從而可以將第二個時鐘信號連接端子CK12和第四個時鐘信號連接端子CK14的另一端通過走線與第二個測試點TCK12連接；
第五個時鐘信號連接端子CK15和第七個時鐘信號連接端子CK17對應的掃描線上的像素電極20的極性均為正，從而可以將第五個時鐘信號連接端子CK15和第七個時鐘信號連接端子CK17的另一端通過走線與第三個測試點TCK13連接；
第六個時鐘信號連接端子CK16和第八個時鐘信號連接端子CK18對應的掃描線上的像素電極的極性均為負，從而可以將第六個時鐘信號連接端子CK16和第八個時鐘信號連接端子CK18的另一端通過走線與第四個測試點TCK14連接。
本發明實施例以點亮第二列像素電極純色畫面為例，本領域技術人員可根據以下描述完成整個液晶顯示面板測試。
參閱3，圖3為本發明的液晶顯示面板測試線路的第一優選實施例的工作波形示意圖；
需要說明的是，掃描線上升沿期間，前1/2時間段內是與充電時間，後1/2時間段內，對應的數據線才開始寫入數據信號。
液晶顯示面板測試時，分別在第一個測試點TCK11、第二個測試點TCK12、第三個測試點TCK13和第四個測試點TCK14上施加一定時間間隔的測試信號，當第一個測試點TCK11上施加的測試信號處於第一個上升沿時，第一個時鐘信號連接端子CK11和第三個時鐘信號連接端子CK13將時鐘信號傳至掃描線，對應數據線將低電位的數據信號寫入像素電極；接下來，第二個測試點TCK12上施加的測試信號處於第一個上升沿，第二個時鐘信號連接端子CK12和第四個時鐘信號連接端子CK14將時鐘信號傳至掃描線，對應數據線將高電位的數據信號寫入像素電極；然後，第三個測試點TCK13上施加的測試信號處於第一個上升沿，第五個時鐘信號連接端子CK15和第七個時鐘信號連接端子CK17將時鐘信號傳至掃描線，對應數據線將低電位的數據信號寫入像素電極；最後，第四個測試點TCK14上施加的測試信號處於第一個上升沿，第六個時鐘信號連接端子CK16和第八個時鐘信號連接端子CK18將時鐘信號傳至掃描線，對應數據線將高電位的數據信號寫入像素電極。重複以上過程，從而點亮整個面板第二列畫面。
本優選實施例的液晶顯示面板測試線路通過將同一列上相同極性的兩個像素電極通過時鐘信號連接端子與同一個測試點連接，減少施加測試信號的測試點以及測試時相應測試點上的探針的數量，簡化了測試治具，降低製作成本；解決了現有的液晶顯示面板測試線路測試時需要的時鐘信號較多，造成測試信號增多，施加測試信號的測試點以及測試時相應測試點上的探針的數量隨之增加，測試治具複雜，製作成本高的技術問題。
參閱圖4，圖4為本發明的液晶顯示面板測試線路的第二優選實施例的結構示意圖。
與第一優選實施例的區別在於，本優選實施例的液晶顯示面板測試線路只有2個測試點，測試點的數量更加少。
如圖4所示，本優選實施例的液晶顯示面板測試線路，包括：
2個測試點：第一個測試點TCK21、第二個測試點TCK22；
8個時鐘信號連接端子：第一個時鐘信號連接端子CK21、第二個時鐘信號連接端子CK22、第三個時鐘信號連接端子CK23、第四個時鐘信號連接端子CK24、第五個時鐘信號連接端子CK25、第六個時鐘信號連接端子CK26、第七個時鐘信號連接端子CK27以及第八個時鐘信號連接端子CK28；
本優選實施例的8個時鐘信號連接端子的一端與掃描線的連接方式以及像素電極的架構與第一優選實施例相同，可參閱圖2，在此不做贅述。
8個時鐘信號連接端子的另一端通過走線越過雷射切斷區域11與2個測試點連接，在進行測試時，可通過測試點對液晶顯示面板施加測試信號，測試結束後，可使用雷射切割在雷射切割區域11上將走線切斷，從而使得測試好的液晶顯示面板能正常工作。
8個時鐘信號連接端子的另一端與第一測試點和第二測試點的連接方式如下：
第一個時鐘信號連接端子CK21、第三個時鐘信號連接端子CK23、第五個時鐘信號連接端子CK25以及第七個時鐘信號連接端子CK27對應的掃描線上的像素電極的極性均為負，從而可以將第一個時鐘信號連接端子CK21、第三個時鐘信號連接端子CK23、第五個時鐘信號連接端子CK23以及第七個時鐘信號連接端子CK27的另一端通過走線與第一個測試點TCK21連接；
第二個時鐘信號連接端子CK22、第四個時鐘信號連接端子CK24、第六個時鐘信號連接端子CK26以及第八個時鐘信號連接端子CK28對應的掃描線上的像素電極的極性均為正，從而可以將第二個時鐘信號連接端子CK22、第四個時鐘信號連接端子CK24、第六個時鐘信號連接端子CK26以及第八個時鐘信號連接端子CK28的另一端通過走線與第二個測試點TCK22連接；
本發明實施例以點亮第二列像素電極純色畫面為例，本領域技術人員可根據以下描述完成整個液晶顯示面板測試。
參閱5，圖5為本發明的液晶顯示面板測試線路的第二優選實施例的工作波形示意圖；
需要說明的是，掃描線上升沿期間，前1/2時間段內是與充電時間，後1/2時間段內，對應的數據線才開始寫入數據信號。
液晶顯示面板測試時，分別在第一個測試點TCK21和第二個測試點TCK22上施加一定時間間隔的測試信號，當第一個測試點TCK21上施加的測試信號處於第一個上升沿時，第一個時鐘信號連接端子CK21、第三個時鐘信號連接端子CK23、第五個時鐘信號連接端子CK25以及第七個時鐘信號連接端子CK27將時鐘信號傳至掃描線，對應數據線將低電位的數據信號寫入像素電極；接下來，第二個測試點TCK22上施加的測試信號處於第一個上升沿，第二個時鐘信號連接端子CK22、第四個時鐘信號連接端子CK24、第六個時鐘信號連接端子CK26以及第八個時鐘信號連接端子CK28將時鐘信號傳至掃描線，對應數據線將高電位的數據信號寫入像素電極。重複以上過程，從而點亮整個面板第二列畫面。
本優選實施例的液晶顯示面板測試線路通過將同一列上相同極性的多個像素電極通過時鐘信號連接端子與同一個測試點連接，減少施加測試信號的測試點以及測試時相應測試點上的探針的數量，簡化了測試治具，降低製作成本；解決了現有的液晶顯示面板測試線路測試時需要的時鐘信號較多，造成測試信號增多，施加測試信號的測試點以及測試時相應測試點上的探針的數量隨之增加，測試治具複雜，製作成本高的技術問題。
參閱圖6，圖6為本發明的液晶顯示面板測試線路的第三優選實施例的結構示意圖。
與第一、二優選實施例的區別在於，本優選實施例的液晶顯示面板測試線路的像素電極架構不同。
本優選實施例的液晶顯示面板測試線路，包括：
4個測試點：第一個測試點TCK31、第二個測試點TCK32、第三個測試點TCK33以及第四個測試點TCK34；
8個時鐘信號連接端子：第一個時鐘信號連接端子CK31、第二個時鐘信號連接端子CK32、第三個時鐘信號連接端子CK33、第四個時鐘信號連接端子CK34、第五個時鐘信號連接端子CK35、第六個時鐘信號連接端子CK36、第七個時鐘信號連接端子CK37以及第八個時鐘信號連接端子CK38；
第一個時鐘信號連接端子CK31的一端與第1、9、17……(1+8k)條掃描線連接；第二個時鐘信號連接端子CK32的一端與第2、10、18……(2+8k)條掃描線連接；第三個時鐘信號連接端子CK33的一端與第3、11、19……(3+8k)條掃描線連接；第四個鍾信號連接端子CK34的一端與第4、12、20……(4+8k)條掃描線連接；第五個時鐘信號連接端子CK35的一端與第5、13、21……(5+8k)條掃描線連接；第六個時鐘信號連接端子CK36的一端與第6、14、22……(6+8k)條掃描線連接；第七個時鐘信號連接端子CK37的一端與第7、15、23……(7+8k)條掃描線連接；第八個時鐘信號連接端子CK38的一端與8、16、24……(8+8k)條掃描線連接；其中，k為正整數。
8個時鐘信號連接端子的另一端通過走線越過雷射切斷區域13與4個測試點連接，在進行測試時，可通過測試點對液晶顯示面板施加測試信號，測試結束後，可使用雷射切割在雷射切割區域13上將走線切斷，從而使得測試好的液晶顯示面板能正常工作。
具體地，參閱圖6、圖7，圖7為本發明液晶顯示面板測試線路的第三優選實施例的像素電極架構的示意圖；
像素電極架構由多條掃描線、多條數據線交叉排列限定的多個像素區域上的像素電極構成，每一條數據線與掃描線交叉處連接一像素電極，其中，同一列像素電極的極性相同。在本優選實施例中，示意性地標示出數據線D1～D9及掃描線G1～G5。
所述像素電極架構包括多個像素電極，其中同一列的像素電極與同一條數據線連接，同一列上像素電極所在的像素區域為紅色像素區域、綠色像素區域或藍色像素區域。
第一個時鐘信號連接端子CK31和第二個時鐘信號連接端子CK32對應的掃描線上的像素電極的極性相同，從而可以將第一個時鐘信號連接端子CK31和第二個時鐘信號連接端子CK32的另一端通過走線與第一個測試點TCK31連接；
第三個時鐘信號連接端子CK33和第四個時鐘信號連接端子CK33對應的掃描線上的像素電極的極性相同，從而可以將第三個時鐘信號連接端子CK33和第四個時鐘信號連接端子CK34的另一端通過走線與第二個測試點TCK32連接；
第五個時鐘信號連接端子CK35和第六個時鐘信號連接端子CK36對應的掃描線上的像素電極的極性相同，從而可以將第五個時鐘信號連接端子CK35和第六個時鐘信號連接端子CK36的另一端通過走線與第三個測試點TCK33連接；
第七個時鐘信號連接端子CK37和第八個時鐘信號連接端子CK38對應的掃描線上的像素電極的極性相同，從而可以將第七個時鐘信號連接端子CK37和第八個時鐘信號連接端子CK38的另一端通過走線與第四個測試點TCK4連接。
本發明實施例以點亮第二列像素電極純色畫面為例，本領域技術人員可根據以下描述完成整個液晶顯示面板測試。
參閱8，圖8為本發明的液晶顯示面板測試線路的第三優選實施例的工作波形示意圖；
需要說明的是，掃描線上升沿期間，前1/2時間段內是與充電時間，後1/2時間段內，對應的數據線才開始寫入數據信號。
液晶顯示面板測試時，分別在第一個測試點TCK31、第二個測試點TCK32、第三個測試點TCK33和第四個測試點TCK34上施加一定時間間隔的測試信號，當第一個測試點TCK31上施加的測試信號處於第一個上升沿時，第一個時鐘信號連接端子CK31和第二個時鐘信號連接端子CK32將時鐘信號傳至掃描線，對應數據線將一定電位的數據信號寫入像素電極；接下來，第二個測試點TCK32上施加的測試信號處於第一個上升沿，第三個時鐘信號連接端子CK33和第四個時鐘信號連接端子CK34將時鐘信號傳至掃描線，對應數據線將一定電位的數據信號寫入像素電極；然後，第三個測試點TCK33上施加的測試信號處於第一個上升沿，第五個時鐘信號連接端子CK35和第六個時鐘信號連接端子CK36將時鐘信號傳至掃描線，對應數據線將一定電位的數據信號寫入像素電極；最後，第四個測試點TCK34上施加的測試信號處於第一個上升沿，第七個時鐘信號連接端子CK37和第八個時鐘信號連接端子CK38將時鐘信號傳至掃描線，對應數據線將一定電位的數據信號寫入像素電極。重複以上過程，從而點亮整個面板第二列畫面。
本優選實施例的液晶顯示面板測試線路通過將同一列上相同極性的兩個像素電極通過時鐘信號連接端子與同一個測試點連接，減少施加測試信號的測試點以及測試時相應測試點上的探針的數量，簡化了測試治具，降低製作成本；解決了現有的液晶顯示面板測試線路測試時需要的時鐘信號較多，造成測試信號增多，施加測試信號的測試點以及測試時相應測試點上的探針的數量隨之增加，測試治具複雜，製作成本高的技術問題。
參閱圖9，圖9為本發明的液晶顯示面板測試線路的第四優選實施例的結構示意圖。
與第三優選實施例的區別在於，本優選實施例的液晶顯示面板測試線路只有1個測試點，測試點的數量更加少。
如圖4所示，本優選實施例的液晶顯示面板測試線路，包括：
測試點TCK；
8個時鐘信號連接端子：第一個時鐘信號連接端子CK41、第二個時鐘信號連接端子CK42、第三個時鐘信號連接端子CK43、第四個時鐘信號連接端子CK44、第五個時鐘信號連接端子CK45、第六個時鐘信號連接端子CK46、第七個時鐘信號連接端子CK47以及第八個時鐘信號連接端子CK48；
本優選實施例的8個時鐘信號連接端子的一端與掃描線的連接方式以及像素電極的架構與第三優選實施例相同，可參閱圖7，在此不做贅述。
8個時鐘信號連接端子的另一端通過走線越過雷射切斷區域14與1個測試點連接，在進行測試時，可通過測試點對液晶顯示面板施加測試信號，測試結束後，可使用雷射切割在雷射切割區域14上將走線切斷，從而使得測試好的液晶顯示面板能正常工作。
8個時鐘信號連接端子的另一端與測試點的連接方式如下：
第一個時鐘信號連接端子CK41、第二個時鐘信號連接端子CK42、第三個時鐘信號連接端子CK43、第四個時鐘信號連接端子CK44、第五個時鐘信號連接端子CK45、第六個時鐘信號連接端子CK46、第七個時鐘信號連接端子CK47以及第八個時鐘信號連接端子CK48的極性均相同，從而可以將第一個時鐘信號連接端子CK41、第二個時鐘信號連接端子CK42、第三個時鐘信號連接端子CK43、第四個時鐘信號連接端子CK44、第五個時鐘信號連接端子CK45、第六個時鐘信號連接端子CK46、第七個時鐘信號連接端子CK47以及第八個時鐘信號連接端子CK48的另一端通過走線與測試點TCK連接。
本發明實施例以點亮第二列像素電極純色畫面為例，本領域技術人員可根據以下描述完成整個液晶顯示面板測試。
參閱10，圖10為本發明的液晶顯示面板測試線路的第四優選實施例的工作波形示意圖；
需要說明的是，掃描線上升沿期間，前1/2時間段內是與充電時間，後1/2時間段內，對應的數據線才開始寫入數據信號。
液晶顯示面板測試時，在測試點TCK施加測試信號，當在測試點TCK上施加的測試信號處於第一個上升沿時，第一個時鐘信號連接端子CK41、第二個時鐘信號連接端子CK42、第三個時鐘信號連接端子CK43、第四個時鐘信號連接端子CK44、第五個時鐘信號連接端子CK45、第六個時鐘信號連接端子CK46、第七個時鐘信號連接端子CK47以及第八個時鐘信號連接端子CK48將時鐘信號傳至掃描線，對應數據線將一定電位的數據信號寫入像素電極。重複以上過程，從而點亮整個面板第二列畫面。
本優選實施例的液晶顯示面板測試線路通過將同一列上相同極性的多個像素電極通過時鐘信號連接端子與同一個測試點連接，減少施加測試信號的測試點以及測試時相應測試點上的探針的數量，簡化了測試治具，降低製作成本；解決了現有的液晶顯示面板測試線路測試時需要的時鐘信號較多，造成測試信號增多，施加測試信號的測試點以及測試時相應測試點上的探針的數量隨之增加，測試治具複雜，製作成本高的技術問題。
本發明實施例還提供一種液晶顯示面板，其包括一種液晶顯示面板測試線路，其包括：
多條掃描線、多條數據線以及所述掃描線和所述數據線交叉排列限定的多個像素區域上的像素電極；
多個測試點，其用於接收測試信號；
多個時鐘信號連接端子，其用於提供時鐘信號驅動所述掃描線，所述時鐘信號連接端子的一端與相應的掃描線連接，另一端與所述測試點連接；其中，
同一列上相同極性的至少兩個所述像素電極通過所述時鐘信號連接端子與同一個所述測試點連接。
在本發明實施例的液晶顯示面板中，所述液晶顯示面板測試線路包括8個所述時鐘信號連接端子,其中，第a個所述時鐘信號連接端子的一端與第(a+8k)條所述掃描線連接，k為正整數，a為小於等於8的正整數。
本優選實施例的液晶顯示面板包含上述液晶顯示面板測試線路，具體可參照第一優選實施例、第二優選實施例、第三優選實施例以及第四優選實施例的液晶顯示面板測試線路，再次不做贅述。
本優選實施例的液晶顯示面板通過將同一列上相同極性的多個像素電極通過時鐘信號連接端子與同一個測試點連接，減少施加測試信號的測試點以及測試時相應測試點上的探針的數量，簡化了測試治具，降低製作成本；解決了現有的液晶顯示面板測試線路測試時需要的時鐘信號較多，造成測試信號增多，施加測試信號的測試點以及測試時相應測試點上的探針的數量隨之增加，測試治具複雜，製作成本高的技術問題。
本發明的液晶顯示面板測試線路及液晶顯示面板通過將同一列上相同極性的至少兩個像素電極通過時鐘信號連接端子與同一個測試點連接，減少施加測試信號的測試點以及測試時相應測試點上的探針的數量，簡化了測試治具，降低製作成本；解決了現有的液晶顯示面板測試線路測試時需要的時鐘信號較多，造成測試信號增多，施加測試信號的測試點以及測試時相應測試點上的探針的數量隨之增加，測試治具複雜，製作成本高的技術問題。
綜上，雖然本發明已以優選實施例揭露如上，但上述優選實施例並非用以限制本發明，本領域的普通技術人員，在不脫離本發明的精神和範圍內，均可作各種更動與潤飾，因此本發明的保護範圍以權利要求界定的範圍為準。