齒輪測量裝置的校正方法

2023-08-09 04:58:56

專利名稱：齒輪測量裝置的校正方法
技術領域：
本發明涉及齒輪測量裝置的校正方法，想辦法不使用基準量塊等機械基準部件就能夠校正測頭的位置。
背景技術：
齒輪加工機械是加工被加工齒輪的機械，具體地有通過切削加工來製作齒輪的插齒機和滾齒機，把淬火後的齒輪進行磨削的磨齒機等。在利用這種齒輪加工機械來批量加工小型的被加工齒輪時，對於加工完的第一件被加工齒輪要進行齒形測量和齒厚測量，然後確認其精度，在精度良好的情況下，加工其餘的未加工批量，在精度不好的情況下，則要在修正加工精度之後，再加工其餘的未加工批量。不具備齒輪測量功能的齒輪加工機械由於僅能夠確認公法線齒厚和滾柱外母線直徑， 所以第一件有時精度不良。在所加工的被加工齒輪是大型的情況下，為了能夠不出不良品，則一邊留有加工餘量一邊多次反覆加工和測量，在最後確認加工精度後才進行精加工。為了把加工和測量反覆進行，則需要在齒輪加工機械與齒輪測量機之間進行大型齒輪的更換作業，因此，需要的作業時間長。對於被加工齒輪的齒形測量和齒厚測量是由具備測量器具的齒輪測量裝置來進行，而測量器具具備有測頭(探針)。這種齒輪測量裝置在以往一般是作為與齒輪加工機械的分體的裝置。在把齒輪測量裝置設定為與齒輪加工機械分體設置的情況下，需要有把被加工齒輪從齒輪加工機械向齒輪測量裝置更換的作業。另一方面，近年來把省略上述更換作業而謀求提高作業性為目的，為了能夠在機器上對於加工後的被加工齒輪進行齒形測量和齒厚測量，作為一體地具備有齒輪測量裝置的齒輪加工機械被有各種提案(例如參照專利文獻I )。不管與齒輪加工機械是一體還是分體，齒輪測量裝置都是使測量器具的測頭(探針)與被加工齒輪接觸，把表示測頭與被加工齒輪接觸位置的位置信號從測量器具輸出。使測頭與被加工齒輪接觸的位置變化，通過運算處理各位置的位置信號，就能夠測量齒形和齒厚。這時，在測頭位於基準位置時，只要輸出正確表示該基準位置的位置信號，在測量其他位置時就也能夠測量正確的位置。但由於周圍的溫度和加工被加工齒輪時產生的熱等而使包含測量器具的齒輪測量裝置產生熱變形，即使測頭相對測量器具而位於基準位置，對於相對被加工齒輪的位置也產生誤差，有可能測量時的測量位置有偏差。當產生這種測頭的位置誤差，則在齒形測量和齒厚測量時使測量精度降低。特別是在測量齒厚時測量誤差變大。因此，在進行測量時要校正(校準)測頭的位置。
在此，參照圖8說明現有的校正方法。圖8是測量小型或中型齒輪的齒輪測量裝置I。如同圖所示，在該齒輪測量裝置I的基臺2配置有沿X軸方向延伸的導向軌3、旋轉工作檯4和支柱5。移動體6能夠沿導向軌3地沿X軸方向移動。在移動體6配置有向Y軸方向(在圖8是與紙面垂直的方向)延伸的導向軌7，移動體8能夠沿Y軸方向移動。在移動體8配置有沿Z軸方向延伸的導向軌9，移動體10能夠沿Z軸方向移動。把具備測頭31的測量器具30安裝在移動體10。現有，為了進行校正而在預先決定的基準位置設置機械基準部件，即基準量塊21、測試棒22、標準工件23中的任一個。
基準量塊21被設置在立柱5的立柱臂部，這時，把設置有基準量塊21的位置作為基準位置。測試棒22被同軸地設置在旋轉工作檯4的上面，這時，把設置有測試棒22的位置作為基準位置。標準工件23被同軸地設置在旋轉工作檯4的上面，這時，把設置有標準工件23的位置作為基準位置。在校正測頭31位置的情況下，使測頭31與設置在基準位置的機械基準部件(基準量塊21、測試棒22、標準工件23中的任一個)接觸，檢測這時從測量器具30輸出的位置信號。在該位置信號沒表示基準位置的情況下，校正這時輸出的位置信號以使表示基準位置。現有技術文獻專利文獻專利文獻I :(日本)特開平5-11185
發明內容
發明要解決的問題如圖8所示，在使用機械基準部件進行校正時，不但需要有機械基準部件(基準量塊21、測試棒22、標準工件23)，而且存在要安裝拆卸基準部件而需要作業時間的問題。測量大型齒輪的齒輪測量裝置不僅有上述問題，而且還有下面說明的問題。圖9是測量大型齒輪的齒輪測量裝置11。該圖中12是基臺，13、17、19分別是沿X軸方向、Y軸方向、Z軸方向延伸的導向軌，14是旋轉工作檯，16、18、20分別是能夠沿X軸方向、Y軸方向、Z軸方向移動的移動體，30是安裝在移動體20的測量器具，31是測頭。該齒輪測量裝置11為了減少設置空間而不設立柱。圖9所示的齒輪測量裝置11由於沒有立柱，所以難於設置基準量塊。且即使有立柱，也由於齒輪是大型的，而為了使測頭31向基準量塊接觸在使齒輪測量裝置11移動時，擔心齒輪測量裝置11與大型齒輪碰撞。由於不能使測頭31行程到旋轉工作檯14的中心，所以作為測試棒22a就需要大。且作為標準工件23a就需要大。由於作為測試棒22a和標準工件23a必須準備大的，所以有其製作費用和保管費用變大的問題，且有每次實施校正時要安裝拆卸測試棒22a和標準工件23a而有需要作業時間的問題。
本發明鑑於上述現有的技術而目的在於提供一種齒輪測量裝置的校正方法，即使沒有機械基準部件，也能夠校正測頭的位置。解決問題的技術方案為了解決上述課題，本發明的齒輪測量裝置具有測量器具，其在使測頭與被測量齒輪的齒面接觸時輸出表示所述測頭與所述被測量齒輪接觸位置的位置信號，且沿三維方向的各方向被驅動；運算機構，其通過運算處理 所述位置信號來測量所述被測量齒輪，其中，具有求所述被測量齒輪的齒形斜度誤差的工序，其與使所述測頭向基圓的切線方向移動同步地使所述被測量齒輪圍繞其旋轉軸旋轉，對所述測頭與所述被測量齒輪的齒面接觸時輸出的位置信號進行運算處理，求出所述被測量齒輪的齒形，從該齒形來求所述被測量齒輪的齒形斜度誤差(a I);求所述被測量齒輪的齒形斜度誤差的工序，其與使所述測頭向基圓切線方向以外的方向移動同步地使所述被測量齒輪圍繞其旋轉軸旋轉，對所述測頭與所述被測量齒輪的齒面接觸時輸出的位置信號進行運算處理，求出所述被測量齒輪的齒形，從該齒形來求所述被測量齒輪的齒形斜度誤差(a 2);計算齒形斜度誤差的差(A a )的工序,該齒形斜度誤差的差(A a )是所述齒形斜度誤差(a I)與所述齒形斜度誤差(a 2)的差；求位置誤差(A x)的工序，其使用所述齒形斜度誤差的差(A a )和所述被測量齒輪的齒輪各要素來求所述測頭的位置誤差(A x)；校正所述測頭位置的工序，其根據所述位置誤差(A x)來校正所述測頭的位置。本發明在使用所述齒形斜度誤差的差(A a )和所述被測量齒輪的齒輪各要素來求所述測頭的位置誤差(A x)的工序中，使用下式來求位置誤差(Ax)。A X= A a / [tan ( a 21+ a A) — tan ( a 22 — a B)]其中，a A是齒頂測量偏置角度，a B是齒根測量偏置角度，在把被測量齒輪的基圓直徑設定為Dg、把外徑設定為Do、把齒底直徑設定為Dr、把測頭的球徑設定為d時，a 21=tan_1[ (Do2 — Dg2) .5+d] / Dg]a 22=tan_1 [ (Dr2 — Dg2) °.5+d] / Dg]齒頂測量偏置角度a A和齒根測量偏置角度a B是圖7所示的角度。 作為使測頭向基圓切線方向以外的方向移動的方向，在設定為是半徑方向的情況下，成為aA=0、a B=O (參照圖6)。發明的效果根據本發明，依據在兩個工序得到的齒形測量的齒形斜度誤差的差並通過運算處理就能夠校正測頭的位置，且只要在兩個工序測量相同的齒，就能夠把齒形形狀誤差的主要原因消除，所以使用被加工齒輪的校正也是候補。只要能夠使用並且校正被加工齒輪，則就不需要使用機械基準部件(基準量塊、測試棒、標準工件)，能夠不需要用於安裝拆卸基準部件的時間。


圖I是表示應用本發明方法的齒輪測量裝置的結構圖；圖2是表示工件(被測量齒輪、被加工齒輪)一部分的立體圖；圖3是表示測量齒形第一技術(基圓的切線方向掃描方式)的圖；圖4是表示測量齒形第二技 術(半徑方向掃描方式)的圖；圖5是表示本發明方法動作的流程圖；圖6是表示工件的齒輪各要素的特性圖；圖7是表示工件的齒輪各要素、齒頂測量偏置角度、齒根測量偏置角度的特性圖；圖8是表示現有技術齒輪測量裝置的結構圖；圖9是表示現有技術齒輪測量裝置的結構圖。
具體實施例方式以下，根據實施例詳細說明本發明的實施方式。圖I表示應用本發明方法的齒輪測量裝置101。如同圖所示，在該齒輪測量裝置101的基臺102配置有沿X軸方向延伸的導向軌103和旋轉工作檯104。旋轉工作檯104能夠圍繞旋轉軸C旋轉。移動體106能夠沿導向軌103並且沿X軸方向移動。在移動體106配置有向Y軸方向(在圖I是與紙面垂直的方向)延伸的導向軌107，移動體108能夠沿Y軸方向移動。在移動體108配置有沿Z軸方向(垂直方向)延伸的導向軌109，移動體110能夠沿Z軸方向移動。把具備測頭131的測量器具130安裝在移動體110。在旋轉工作檯104的上面同軸地安置有磨削後的大型工件(被測量齒輪、被加工齒輪)W (參照圖2)。通過把移動體106、108、110分別沿X軸、Y軸、Z軸方向驅動而測量器具130 (測頭131)沿三維的各方向被驅動(移動)。當測頭131與工件W接觸時，測量器具130輸出表示接觸位置的位置信號。控制運算裝置140統一地控制整個齒輪測量裝置101，而且是運算處理位置信號的裝置。即控制運算裝置140根據預先設定和存儲的工件W的齒輪各要素、測頭131的位置(坐標)、齒形測量位置和齒厚測量位置來控制移動體106、108、110向X軸、Y軸、Z軸方向的移動，控制測量器具130 (測頭131)向X軸、Y軸、Z軸方向的移動，且控制安置有工件W的旋轉工作檯104圍繞旋轉軸C的旋轉。而且控制運算裝置140根據從測量器具130輸出的位置信號來測量齒形和齒厚，並校正測頭131的位置。接著，使用該齒輪測量裝置101，按照順序說明測量工件W齒形的兩個技術、測量工件W齒厚的技術和校正測頭131位置的方法。首先，最初參照圖3來說明測量工件W齒形的第一技術(基圓的切線方向掃描方法)。圖3中，L表示相對基圓的切線。作為掃描方向的基圓的切線方向，通常的齒輪測量機是設定成水平方向，但也可以是斜方向，本圖是以斜方向作圖。如圖3所示，在以第一技術(基圓的切線方向掃描方法)進行工件W齒形測量時，首先使工件W圍繞旋轉軸C稍微旋轉，在使工件W的齒槽與測量器具130相對後，把測量器具130向X軸、Y軸、Z軸方向驅動，使其測頭131在工件W齒面上與齒根圓的交點接觸。即該交點成為齒面的測量開始位置I #。接著，從測頭131與測量開始位置I #接觸的狀態使測頭131沿基圓的切線L移動地來把測量器具130向X軸、Y軸、Z軸方向驅動，且同步地驅動旋轉工作檯104，使工件W圍繞旋轉軸C旋轉。在測頭131是模擬式探針的情況下，一邊使測頭131與工件W的齒面連續接觸，在測頭131是數字式(開關式)的情況下，一邊使測頭131與工件W的齒面間歇地接觸，一邊使測頭131沿基圓的切線L移動，由此，把表示工件W的齒面與基圓的切線L交叉的各位置的位置信號從測量器具130輸出。且在測頭131到達工件W齒面上與齒頂圓的交點的地方，齒形測量完成。即該交 點成為齒面的測量完成位置2 #。控制運算裝置140在測頭131從測量開始位置I #移動到測量完成位置2 #時，通過運算處理從測量器具130輸出的位置信號而能夠求工件W的齒形。且根據運算求出的齒形而能夠求工件W的齒形斜度誤差a I。在把測量開始位置I #的接觸角設定為a 12，把測量完成位置2 #的接觸角設定為a 11,且測頭131有位置誤差而把該位置誤差(X軸方向的位置偏差)設定為A X時,齒形斜度誤差a I的測量誤差el由下式(I)來表示。el= A X (tan a 11 — tan a 12)(I)在第一技術(基圓的切線方向掃描方法)的工件W齒形測量中，由於工件W的齒面與測頭131的接觸角幾乎不變化，S卩a 11與a 12幾乎相等，所以即使有位置誤差(X軸方向的位置偏差)A X，也幾乎不產生齒形斜度誤差a I的測量誤差el，有這樣的特性。接著，參照圖4來說明測量工件W齒形的第二技術(基圓的切線方向以外方向的掃描方法)。在此，作為基圓的切線方向以外的方向是說明半徑方向的情況。如圖4所示，在以第二技術(半徑方向掃描方法)進行工件W齒形測量時，首先使工件W圍繞旋轉軸C稍微旋轉，在使工件W的齒槽與測量器具130相對後，把測量器具130向X軸、Y軸、Z軸方向驅動，使其測頭131在工件W齒面上與齒根圓的交點接觸。即該交點成為齒面的測量開始位置3 #。接著，從測頭131與測量開始位置3 #接觸的狀態使測頭131向半徑方向(X軸方向)移動地來把測量器具130向X軸方向驅動，並且同步地驅動旋轉工作檯104，使工件W圍繞旋轉軸C旋轉。在測頭131是模擬式探針的情況下，一邊使測頭131與工件W的齒面連續接觸，在測頭131是數字式(開關式)的情況下，一邊使測頭131與工件W的齒面間歇地接觸，一邊使測頭131向半徑方向(X軸方向)移動，由此，把表示工件W的齒面與X軸(測頭131的移動軌跡)交叉的各位置的位置信號從測量器具130輸出。且在測頭131到達工件W齒面上與齒頂圓的交點的地方，齒形測量完成。即該交點成為齒面的測量完成位置4 #。控制運算裝置140在測頭131從測量開始位置3 #移動到測量完成位置4 #時，通過運算處理從測量器具130輸出的位置信號而能夠求工件W的齒形。且根據運算求出的齒形而能夠求工件W的齒形斜度誤差a 2。在把測量開始位置3 #的接觸角設定為a 22，把測量完成位置4 #的接觸角設定為a 21,且測頭131有位置誤差而把該位置誤差(X軸方向的位置偏差)設定為A X時,齒形斜度誤差a 2的測量誤差e2由下式(2)來表示。e2= A X (tan a 21 — tan a 22)(2)在第二技術(半徑方向掃描方法)的工件W齒形測量中，由於工件W的齒面與測頭131的接觸角有變化，S卩a 21與a 22不同，所以在有位置誤差(X軸方向的位置偏差)Ax的情況下，具有下述的特性齒形斜度誤差a 2的測量誤差e2大於第一技術(基圓的切線方向掃描方法)的測量誤差el。接著，參照圖2說明工件W的齒厚測量技術。
在測量齒厚時，把測量器具130向X軸、Y軸、Z軸方向驅動，使測頭131與工件W右齒面WR上與節圓交叉的交點接觸。把這時從測量器具130輸出的位置信號由控制運算裝置140進行運算處理，檢測這時的位置。接著，把測量器具130向X軸、Y軸、Z軸方向驅動，使測頭131與工件W左齒面WL上與節圓交叉的交點接觸。把這時從測量器具130輸出的位置信號由控制運算裝置140進行運算處理，檢測這時的位置。且根據右齒面WL上的交點位置和左齒面WR上的交點位置而能夠測量工件W的齒厚。這時，在測頭131的位置有位置誤差(X軸方向的位置偏差)A X的情況下，有齒厚的測量誤差變大的特性。接著，一邊參照圖5所示的流程圖一邊說明利用本發明方法的齒輪測量裝置的校正方法來校正測頭131位置的方法。控制運算裝置140使用上述工件W齒形測量的第一技術(基圓的切線方向掃描方法)來求工件W的齒形，並從運算求出的工件W齒形來求工件W的齒形斜度誤差a I (步驟SI)。在測頭131的位置有位置誤差(X軸方向的位置偏差)A X的情況下，所求出的齒形斜度誤差a I含有測量誤差el。在此，是a 1= a wl+el ( a wl是齒形斜度誤差的真值)。控制運算裝置140使用上述工件W齒形測量的第二技術(半徑方向掃描方法)來求工件W的齒形，並從運算求出的工件W齒形來求工件W的齒形斜度誤差a 2 (步驟S2)。在測頭131的位置有位置誤差(X軸方向的位置偏差)A X的情況下，所求出的齒形斜度誤差a 2含有測量誤差e2。在此，是a 2= a w2+e2 ( a w2是齒形斜度誤差的真值)。也可以把步驟SI和步驟S2的順序反過來。接著，控制運算裝置140計算在步驟SI求出的齒形斜度誤差a I與在步驟S2求出的齒形斜度誤差a 2的差即齒形斜度誤差的差A a (步驟S3)。該齒形斜度誤差的差A a由下式(3)來表示。A a = a 2 — a 1= (a wl+el) — ( a w2+e2)(3)即齒形斜度誤差的差A a表示「齒形斜度誤差a 2」與「齒形斜度誤差a I」的差。
在此，只要在步驟I和步驟2測量相同的齒面，則a Wl=a W2，只要認為幾乎不產生el (el幸0)，則能夠成為A a e2= A x (tan a 21 — tan a 22)(4)然後，控制運算裝置140使用把式(4)變形成的下式(5)來運算測頭131的位置誤差(X軸方向的位置偏差)A X (步驟S4)。A X= A a / (tan a 21 — tan a 22)(5)在此，在把工件W的基圓直徑設定為Dg、把外直徑設定為Do、把齒底直徑設定為Dr、把測頭的球徑設定為d時(參照圖6)，式(4)的a 21和a 22就是由下式(6)、(7)給予的值(即由齒輪各要素給予的值)。a 2PtarT1 [ (Do2 — Dg2) 0.5+d] / Dg](6) a 22=tan_1 [ (Dr2 — Dg2) 0.5+d] / Dg](7)如果控制裝置140使用上述式(5)並且在測頭131位置算出位置誤差(X軸方向的位置偏差)A x，則判定從測量器具130輸出的位置信號含有與位置誤差A X對應的值。於是，控制裝置140對於與位置誤差A X的值相應存儲的測頭131的位置(坐標)進行校正(步驟S5)。由此，能夠校正測頭131的位置。在進行了這種校正後進行測量的情況下，由於從測量器具130輸出的位置信號表示的是不包含位置誤差的正確位置，所以只要在該校正後來測量齒厚，就能夠測量正確的齒厚(步驟S6)。本發明齒輪測量裝置的校正方法，由第二技術(半徑方向掃描方法)求出的齒形斜度誤差a 2所包含的測量誤差e2大，由第一技術(基圓的切線方向掃描方法)求出的齒形斜度誤差a I幾乎不含測量誤差el，只要用兩個技術測量相同的齒面，則能夠利用消除齒輪自身齒形斜度誤差的影響的特性，在有齒形斜度誤差a 2與齒形斜度誤差a I的差即齒形斜度誤差的差A a的情況下，判定測頭131的位置有位置誤差Ax。在這樣判定有位置誤差的情況下，根據齒形斜度誤差的差A a來運算測頭131的位置誤差A x，並且進行校正以消除運算的位置誤差A x。在齒形斜度誤差a I、a 2的運算中，對於受到齒形形狀的影響，只要把用兩個技術測量的齒面設定為是相同的齒面，則由於成為影響相同而能夠使它也在式(3)的運算中被消除。由此，必須校正的齒輪不必要使用標準齒輪那樣高精度，也能夠使用加工中途的齒輪。由於這樣僅通過運算處理就能夠校正測頭131的位置，所以不需要使用機械基準部件，且能夠不需要用於安裝拆卸機械基準部件的時間。第二技術(基圓的切線方向以外方向的掃描方法)的掃描方向也可以半徑以外，只要按照以下所示的方法，就能夠更加提高校正精度。根據式(5)，相對測頭131位置誤差A X的齒形斜度誤差的差A a的靈敏度是Aa / A X= (tan a 21 — tan a 22 )。a 21和a 22是利用式(6)、(7)而由齒輪各要素決定的值，(tana 21 — tana 22)的意思是測頭131與工件W的接觸角的差。為了提高靈敏度，只要把測頭131與工件W的接觸角的差變大就可。於是如圖7所示，只要把齒頂測量位置和齒根測量位置偏置，就能夠使測頭131與工件W的接觸角的差變大。即把aA設定為齒頂測量偏置角度，把aB設定為齒根測量偏置角度時，把tan a 21增加到(tan a 21+ a A),把tan a 22減少到(tan a 22 — a B),則使靈敏度增加到[tan ( a 21+ a A) — tan ( a 22 — a B)]。由此，成為靈敏度(A a / Ax)由下式(8)表示，測頭131的位置誤差A x由下式(9)表示，比圖6所示向半徑方向掃描的情況能夠提高靈敏度，能夠提高校正精度。(Aa /Ax)= {tan ( a 21+ a A) — tan ( a 22 — a B)} (8)A X= A a / {tan ( a 21+ a A) -tan ( a 22- a B)}(9)作為使測頭131向基圓的切線方向以外方向的掃描移動方向而設定為是半徑方向的情況下，aA=0、a B=O,這時的位置誤差A X成為上述的式(5)所示。即式(9)是表示位置誤差A X的一般式，式(5)是把測頭131的移動方向特定為是 半徑方向時表示位置誤差A X的特定式。符號說明1、11、101齒輪測量裝置 2、12、102基臺3、7、9、13、17、19、103、107、109 導向軌4、14、104旋轉工作檯 5立柱6、8、19、16、18、20、106、108、110 移動體21基準量塊 22測試棒 23標準工件 30、130測量器具31、131測頭 140控制運算裝置 W工件
權利要求
1.一種齒輪測量裝置的校正方法，齒輪測量裝置具有 測量器具，其在使測頭與被測量齒輪的齒面接觸時，輸出表示所述測頭與所述被測量齒輪接觸位置的位置信號，且沿三維方向的各方向被驅動；運算機構，其通過運算處理所述位置信號來測量所述被測量齒輪，其特徵在於，具有求所述被測量齒輪的齒形斜度誤差(a D的工序，其與使所述測頭向基圓的切線方向移動同步，使所述被測量齒輪圍繞其旋轉軸旋轉，對所述測頭與所述被測量齒輪的齒面接觸時輸出的位置信號進行運算處理，求出所述被測量齒輪的齒形，從該齒形來求所述被測量齒輪的齒形斜度誤差(a I); 求所述被測量齒輪的齒形斜度誤差(a 2)的工序，其與使所述測頭向基圓切線方向以外的方向移動同步，使所述被測量齒輪圍繞其旋轉軸旋轉，對所述測頭與所述被測量齒輪的齒面接觸時輸出的位置信號進行運算處理，求出所述被測量齒輪的齒形，從該齒形來求所述被測量齒輪的齒形斜度誤差(a 2)； 計算齒形斜度誤差的差(A a )的工序,該齒形斜度誤差的差(A a )是所述齒形斜度誤差(a I)與所述齒形斜度誤差(a 2)的差； 求所述測頭位置誤差(Ax)的工序，其使用所述齒形斜度誤差的差(A a )和所述被測量齒輪的齒輪各要素來求所述測頭的位置誤差(A x)； 校正位置工序，其根據所述位置誤差(A x)來校正所述測頭的位置。
2.如權利要求I所述的齒輪測量裝置的校正方法，其特徵在於，在使用所述齒形斜度誤差的差(A a )和所述被測量齒輪的齒輪各要素來求所述測頭的位置誤差(A x)的工序中， 使用下式來求位置誤差(A X)，A X= A a / {tan ( a 21+ a A) — tan ( a 22 — a B) } 其中，a A是齒頂測量偏置角度，a B是齒根測量偏置角度， 在把被測量齒輪的基圓直徑設定為Dg、把外徑設定為Do、把齒底直徑設定為Dr、把測頭的球徑設定為d時，a 21=tan_1[ (Do2 — Dg2) 0 5+d] / Dg]a 22=tan_1 [ (Dr2-Dg2) °.5+d] / Dg]。
全文摘要
一種齒輪測量裝置的校正方法，求出齒形斜度誤差的差(△α)，該差(△α)是通過基圓的切線方向掃描方法求齒輪齒形時的齒形斜度誤差(α1)與通過基圓的切線方向以外的掃描方法求齒輪齒形時的齒形斜度誤差(α2)的偏差，使用齒形斜度誤差的差(△α)和齒輪各要素來求位置誤差(△x)，根據位置誤差(△x)來校正測頭的位置。由此，不使用機械基準部件就能夠校正測頭的位置。
文檔編號G01B5/00GK102782441SQ20118001169
公開日2012年11月14日 申請日期2011年3月25日 優先權日2010年4月2日
發明者增尾光一, 大槻直洋, 柳瀬吉言 申請人:三菱重工業株式會社