光纖衰減均勻性測試方法
2023-07-25 21:29:16 3
專利名稱：光纖衰減均勻性測試方法
技術領域：
本發明涉及光纖測試技術，特別涉及應用光時域反射計對光纖衰減進行測量的技術。
本發明解決其技術問題所採用的技術方案是，提供一種光纖衰減測試方法，用計算機從光時域反射計採集數據，分析後再顯示於顯示器，所述分析包括以下步驟a、定義滑動窗口長度L和滑動步長x；b、確定某一點A位置為滑動窗口的起點；c、測量滑動窗口在光纖上以步長x滑動時L長度內的衰減係數；d、步驟c測得的多個衰減係數與被測光纖段整體長度的平均衰減係數相比較。
所述標尺長L不大於1公裡，所述步長x不大於1公裡。
所述A點為標尺長L的一個端點。測量時，所述光時域反射計的光標A與光標B交替移動，每次移動的距離為2L。還包括步驟f測量整盤光纖的整體衰減並計算出單位長度L內的平均值，並與各次步驟b、c測得的值比較。
本發明的有益效果是，不但能夠測量整盤光纖的整體衰減，還準確表現了在特定位置光纖段的衰減，以及光纖衰減特性的分布，為光纖質量評定提供了重要的參考。
以下結合附圖和具體實施方式
對本發明作進一步的說明。
圖2是本發明所述的光時域反射計提供的對某一段光纖測試結果示意圖。
圖3是本發明第一個實施例測試結果分析後的示意圖。
圖4是光時域反射計測量曲線放大後的示意圖。
圖1是一整盤光纖的測試結果。可以看到OTDR曲線、光纖編號、兩個標杆的準確位置。
圖2顯示了對兩標杆之間的光纖段進行分段分析(如1km段長分析)的情形。圖形顯示了該單位段長上的衰減值曲線，可以同時以圖形和數值顯示。
實施例1計算機通過OTDR的數據接口控制OTDR並讀取測試數據，分析後顯示於顯示器。計算機通過以下步驟分析a、定義標尺長L＝1Km，步長x＝1Km，以標尺長作為單位長度；b、確定光纖的一個端點為滑動窗口的起點A；c、測量滑動窗口L長度內的衰減係數並記錄，A點向光纖的一端移動1Km，再測量以A點為起點的L長度內，即窗口內的衰減係數；A點再滑動步長x，再測量，直到窗口滑動到光纖的另一個端點。
d、以最小二乘法計算各次測量值，與整段光纖的平均衰減係數比較，判斷是否任意一段1km長的衰減係數與整段長度的平均衰減係數之差都不大於某一確定的標準值。
也可將OTDR顯示的靠近光纖某一端的標杆位置作為參照點A。由於本實施例的步長與標尺長度相等，都是1Km，為了準確定位和減少誤差，採用以下方式移動第一次測量完成後，將標杆a1直接移動到標杆a2之後1Km處，再進行第二次測量；然後將標杆a2移動到標杆a1之後1Km處，進行第三次測量，其他依次類推。本實施例中，參照點A的移動方向總是從光纖的一端向另一端移動，也就是說，被測量的光纖段總是向同一方向移動的。
對於各次測量所得到結果，一方面，將其以圖3的圖表方式表現。另一方面，需要測量整盤光纖的整體衰減並計算出單位長度L內的平均值，並與各次步驟b、c測得的值比較，以量化和判斷衰減分布的均勻性。作為一個實施例，圖3所示的光纖段總長度25km，每一小格為一公裡，也就是所述的標尺長為1km，滑動步長也是1km，共測量25次。圖中的直線表示光纖的衰減係數均勻性良好，各段的衰減係數相等，因此表現為一條直線。
當然，1Km並非唯一取值，無論是標尺長L還是步長x，都可以取其他適當的數值。
通常OTDR為數據傳輸提供了GPIB和RS-232接口。本實施例中，使用了一塊GPIB控制卡來適配OTDR所提供的GPIB接口，並與其進行控制通信。本發明通過計算機對OTDR進行面板上操作，通過計算機設置參數。一些參數，如光纖編號，可以利用條碼輸入。
實施例2與第一個實施例不同之處在於，每次滑動窗口位移x小於標尺長L，例如，標尺長L為1Km，步長x為500m。每次移動的距離即為500m。標杆a1、a2都向後方移動步長x，即窗口滑動了x的距離。
實施例3在OTDR上，其採樣並非連續的，而是存在著間隔，如果將圖1所示的曲線部分放大，如圖4所示，即可見其實際是階梯狀分布，也就是說，對光纖而言，相鄰兩個採樣點之間存在距離d，相鄰兩次採樣之間經過了一段長度d，在此段長度d內並未被測量，而此段長度d的具體數值很顯然可以推算出來。此距離即為光時域反射計能測量的最小距離。為了提高精度，將步長x定義為d的數值，即令x＝d，這樣，最大可能的提高了測量的精度。本實施例的其他步驟與實施例1相同。
實施例4由於一臺計算機可以同時運行多個程序，因此，作為一個實施例，以同一臺計算機同時控制多臺OTDR進行操作和測試。
以上實施方式的內容不應理解為對本發明要求保護的權利範圍的限制，本發明權利範圍延及基於本發明構思的類似上述實施例的其他實施方式。
權利要求
1.光纖衰減均勻性測試方法，其特徵在於，用計算機通過數據埠從光時域反射計採集數據，並對採集的數據進行分析，所述分析包括以下步驟a、定義滑動窗口長度L和滑動步長x；b、確定某一點A位置為滑動窗口的起點；c、測量滑動窗口在光纖上以步長x滑動時L長度內的衰減係數；d、步驟c測得的多個衰減係數與被測光纖段整體長度的平均衰減係數相比較。
2.如權利要求1所述的光纖衰減均勻性測試方法，其特徵在於，步驟c包括以下兩個循環的步驟c1、測量窗口L長度內的平均衰減係數；c2、窗口向光纖一端滑動步長x。
3.如權利要求1所述的光纖衰減均勻性測試方法，其特徵在於，所述標尺長L不大於1公裡，所述步長x不大於1公裡。
4.如權利要求1或2所述的光纖衰減均勻性測試方法，其特徵在於，所述A點為標尺長L的一個端點。
5.如權利要求3所述的光纖衰減均勻性測試方法，其特徵在於，所述標尺長為1公裡，所述步長x為1公裡。
6.如權利要求3所述的光纖衰減均勻性測試方法，其特徵在於，測量時，所述光時域反射計的光標A與光標B交替移動，每次移動的距離為2L。
7.如權利要求3所述的光纖衰減均勻性測試方法，其特徵在於，所述步長x等於光時域反射計可以測量的最小距離。
8.如權利要求3所述的光纖衰減均勻性測試方法，其特徵在於，所述步驟c中，A點總是向光纖的同一端移動。
全文摘要
本發明涉及光纖測試技術，特別涉及應用光時域反射計對光纖衰減進行測量的技術。本發明提供一種光纖衰減均勻性測試方法，用計算機通過數據埠從光時域反射計採集數據，並對採集的數據進行分析，所述分析包括以下步驟a.定義滑動窗口長度L和滑動步長x；b.確定某一點A位置為滑動窗口的起點；c.測量滑動窗口在光纖上以步長x滑動時L長度內的衰減係數；d.步驟c測得的多個衰減係數與被測光纖段整體長度的平均衰減係數相比較。本發明不但能夠測量整盤光纖的整體衰減，還準確表現了在特定位置光纖段的衰減，以及光纖衰減特性的分布，為光纖質量評定提供了重要的參考。
文檔編號G01M11/02GK1475784SQ0313533
公開日2004年2月18日 申請日期2003年7月2日 優先權日2003年7月2日
發明者袁健, 劉文早, 楊梅, 曾春洪, 高虎軍, 塗昌偉, 陳新建, 袁 健 申請人:成都中住光纖有限公司