一種內存條測試裝置及測試方法
2023-06-25 23:37:36 3
專利名稱：一種內存條測試裝置及測試方法
技術領域：
本發明提供一種內存條測試裝置及測試方法，特別是一種可對內存條進行全面測試的內存條測試裝置及測試方法。
背景技術：
電腦使用越來越普遍，已經滲透到各行各業中，電腦配件質量好壞決定了電腦的品質和性能。尤其是內存條，它是連接CPU和其他設備的通道，起到緩衝和數據交換作用， 對電腦和電子設備的穩定性和性能的影響至關重要。現在電子設備和電腦用的內存條一般滿足統一的國際標準接口，即所謂的DIMM內存條(Dual-hline-Memory-Modules，即雙列直插式存儲模塊)，這些DIMM內存條根據尺寸和接口的不同有不同的分類，例如=SO-DIMM 200、DIMM 240 等。有了統一的標準接口，電腦廠家常常直接購買標準接口的不同廠家的內存條。而內存條生產廠家良莠不齊，質量有時候波動比較大。這主要表現在兩方面，一方面是內存條信號質量有差異，由於走線和PCB材料，以及內存顆粒晶片的不同，內存條顆粒晶片上的信號質量和時序可能差距很大，內存存在訪問出錯的風險，可能會導致CPU無法啟動；第二， 主板的電器特性有差異，比如電源特性的差距，由於主板上提供的電源供電特性不完全一樣，而不同型號的存儲器顆粒對不同電源特性的供電適應能力不同，可能導致不同品牌的內存顆粒由於電源波動不能工作或者工作出錯，影響穩定性。這兩方面的原因，導致內存訪問可能存在風險。現有測試內存條的裝置，測試的時候無法調節各個關鍵參數，導致無法測試內存條訪問每種參數的時序餘量大小，不能真實的模擬內存條工作環境，所以致使測試結果與實際應用效果有一些誤差。
發明內容
本發明要解決的主要技術問題是，提供一種內存條測試裝置及測試方法，能夠避免因不能真實模擬內存條工作環境導致的測試不全面，測試結果不夠準確的問題。為解決上述技術問題，本發明採用的技術方案如下一種內存條測試裝置，包括一個用以放置被測內存條的內存條接口，還包括一個測試控制單元以及一個功能測試單元；所述功能測試單元與所述內存條接口相連；所述測試控制單元與所述功能測試單元相連；所述測試控制單元用於進行內存條測試參數的配置、構建測試模型，以及測試過程控制。進一步地，所述功能測試單元包括電源拉偏測試模塊、內存壓力測試模塊、信號引出測試模塊之中的至少一種。更進一步地，所述電源拉偏測試模塊包括可調電源、上電時序控制電路和開關元件，其中，所述可調電源和所述開關元件相連接，用於向所述開關元件提供電源；所述上電時序控制電路用於輸出開關信號給所述開關元件，所述開關信號根據設定的上電時序生成，用於控制所述開關元件的開通；所述可調電源通過所述開關元件輸出拉偏電源，所述拉
3偏電源用於實現對需要拉偏電源的拉偏。更進一步地，所述內存壓力測試模塊通過可編程地修改讀寫密度、讀寫頻度、讀寫次數、訪問特定地址和數據對內存條進行性能測試和訪問時序餘量測試。更進一步地，所述信號引出測試模塊通過利用信號測試點對所需測試參數進行引出，並通過測試儀器對內存條接口上關鍵的信號和所有電源的情況進行測試，以及測試內存條是否符合接口規範和檢測故障。一種內存條測試方法，其特徵在於，包括以下步驟在內存條接口上安裝被測內存條，並上電；測試控制單元生成測試控制信息並將其傳送到功能測試單元；功能測試單元根據所述測試控制信息對內存條進行功能測試；測試控制單元判斷被測內存條測試結果，並輸出測試報告。進一步地，測試控制單元設置測試參數，並通過編程構建測試模型，生成測試控制信息，並將所述測試控制信息傳送到功能測試單元。更進一步地，所述測試控制單元生成測試控制信息包括電源拉偏測試信息、內存壓力測試信息、信號引出測試信息3種測試信息中的至少一種；所述功能測試單元根據所述測試控制信息分別調用測試種類對應的電源拉偏測試模塊、內存壓力測試模塊或信號引出測試模塊對內存條進行功能測試。更進一步地，所述測試控制單元對電源拉偏測試模塊配置的電源拉偏測試信息包括電壓波動參數與電壓拉偏參數，所述電源拉偏測試模塊的功能測試為利用所述電源拉偏測試信息對被測內存條進行電壓穩定性測試。更進一步地，所述測試控制單元對內存壓力測試模塊配置的內存壓力測試信息包括讀寫性能參數與關鍵時序參數，所述內存壓力測試模塊的功能測試為利用內存壓力測試信息對被測內存條進行訪問時序餘量測試。更進一步地，所述測試控制單元對信號引出測試模塊配置的信號引出測試信息包括總線參數、I2C總線參數與電源參數，所述信號引出測試模塊利用接收的信號引出測試信息通過信號引出測試點引出測試參數，再通過測試儀器對引出的參數進行信號邏輯分析。本發明的有益效果是通過內存條測試裝置以及其測試方法，實現了對內存條的全面測試，模擬了各種實際的內存條應用環境，測試了內存條的穩定性和適應性，並能測試內存條各種參數的時序餘量。提高了測試的效率以及測試的全面性。
圖1是本發明內存條測試裝置結構示意圖；圖2是本發明電源拉偏測試模塊工作示意圖；圖3是本發明內存壓力測試模塊工作示意圖；圖4是本發明信號引出測試模塊工作示意圖；圖5是本發明內存條測試流程圖。
具體實施方式
為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚，下面通過具體實施方式
結合附圖對本發明作進一步詳細說明。請參考圖1，本發明內存條測試裝置結構示意圖，該測試裝置，包括一內存條接口、 一測試控制單元以及一個功能測試單元。該功能測試單元與內存條接口相連；測試控制單元與功能測試單元相連。在本實施方式中，功能測試單元主要包括電源拉偏測試模塊、內存壓力測試模塊、信號引出測試模塊。請參考圖2，本發明電源拉偏測試模塊工作示意圖，在本實施方式中，電源拉偏測試模塊通過測試控制單元預先配置好的電源拉偏測試信息，調節被測內存條電源電壓，調節的方式可以為調節任意電壓的變化和變化速率周期，也可以幾種供電電壓分別或一起調節，還可以在電源上增加一定程度的波紋和噪音。請參考圖3，本發明內存壓力測試模塊工作示意圖，在本實施方式中，內存壓力測試模塊主要通過測試控制單元預先配置好的內存壓力測試信息實現對內存條的功能和時序測試。功能方面，在測試控制單元的控制下，測試方法可以任意編程，測試周期和時間可以隨意控制，即可編程地修改讀寫密度、讀寫頻度、讀寫次數、訪問特定地址和數據等操作， 可以模擬各種極端應用情況，內存條的工作模式也可以調節；時序測試方面，根據內存標準中規定的關鍵參數，測試裝置改變總線上的一些時序，測試被測內存條的訪問時序餘量，以驗證內存的可靠性和適應性。請參考圖4，本發明信號引出測試模塊工作示意圖，在本實施方式中，信號引出測試模塊可以通過測試控制單元預先配置好的信號引出測試信息，通過信號引出測試點對需要測試的關鍵參數進行引出，再用測試儀器(如示波器、萬用表等)測試內存條接口上關鍵的信號和所有電源的情況，用於測試內存條是否符合接口規範，測試故障等。引出的信號包括DDfoi總線、1 總線和電源參數，信號引出測試點最好放在內存條接口和功能測試單元的路徑上，避免產生無謂的分叉，做到最小程度的影響信號的信號完整性。本發明還提供一種內存條測試方法，其通過上述內存條測試裝置對內存條進行全面的測試，請參考圖5，本發明內存條測試流程圖，該測試方法包括以下步驟在內存條接口上安裝被測內存條，並上電；測試控制單元設置測試參數，並通過編程構建測試模型，生成測試控制信息，並將測試控制信息傳送到功能測試單元；功能測試單元根據所述測試控制信息對內存條進行功能測試；其中測試控制信息包括電源拉偏測試信息、內存壓力測試信息、信號引出測試信息；而電源拉偏測試信息主要包括電壓波動參數與電壓拉偏參數，電源拉偏測試模塊利用接收的電源拉偏測試信息對被測內存條進行電壓穩定性測試；內存壓力測試信息主要包括讀寫性能參數與關鍵時序參數，內存壓力測試模塊利用接收的內存壓力測試信息對被測內存條進行性能和訪問時序餘量測試；信號引出測試信息主要包括DDfoi總線參數與1 總線參數，信號引出測試模塊利用接收的信號測試信息通過信號引出測試點引出測試參數；再通過示波器或者萬用表等測試儀器對被測內存條進行信號邏輯分析；測試控制單元判斷被測內存條測試結果，並輸出測試報告。在本實施方式中，功能測試單元的三種測試模塊組合為最優測試方式，除了可以用以上的三種測試模塊的組合外，還可以用三種測試模塊中的任意一種或任意兩種模塊進
5行組合，相應的，測試控制單元生成測試控制信息應與使用的測試模塊組合相對應。在本實施方式中，功能測試單元所包含的三種測試模塊為較常用測試模塊，還可以增加其他檢測模塊用於對內存條進行其他功能性檢測。以上內容是結合具體的實施方式對本發明所作的進一步詳細說明，不能認定本發明的具體實施只局限於這些說明。對於本發明所屬技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明構思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應當視為屬於本發明的保護範圍。
權利要求
1.一種內存條測試裝置，包括一個用以放置被測內存條的內存條接口，其特徵在於，還包括一個測試控制單元以及一個功能測試單元；所述功能測試單元與所述內存條接口相連；所述測試控制單元與所述功能測試單元相連；所述測試控制單元用於進行內存條測試參數的配置、構建測試模型，以及測試過程控制。
2.如權利要求1所述的內存條測試裝置，其特徵在於，所述功能測試單元包括電源拉偏測試模塊、內存壓力測試模塊、信號引出測試模塊之中的至少一種。
3.如權利要求2所述的內存條測試裝置，其特徵在於，所述電源拉偏測試模塊包括可調電源、上電時序控制電路和開關元件，其中，所述可調電源和所述開關元件相連接，用於向所述開關元件提供電源；所述上電時序控制電路用於輸出開關信號給所述開關元件，所述開關信號根據設定的上電時序生成，用於控制所述開關元件的開通；所述可調電源通過所述開關元件輸出拉偏電源，所述拉偏電源用於實現對需要拉偏電源的拉偏。
4.如權利要求2所述的內存條測試裝置，其特徵在於，所述內存壓力測試模塊通過讀寫性能參數與關鍵時序參數對內存條進行性能測試和訪問時序餘量測試。
5.如權利要求2所述的內存條測試裝置，其特徵在於，所述信號引出測試模塊通過利用信號測試點對所需測試參數進行引出，並通過測試儀器對內存條接口上關鍵的信號和所有電源的情況進行測試，以及測試內存條是否符合接口規範和檢測故障。
6.一種內存條測試方法，其特徵在於，包括以下步驟在內存條接口上安裝被測內存條，並上電；測試控制單元生成測試控制信息並將其傳送到功能測試單元；功能測試單元根據所述測試控制信息對內存條進行功能測試；測試控制單元判斷被測內存條測試結果，並輸出測試報告。
7.如權利要求6所述的內存條測試方法，其特徵在於，測試控制單元設置測試參數，並通過編程構建測試模型，生成測試控制信息，並將所述測試控制信息傳送到功能測試單元。
8.如權利要求6或7所述的內存條測試方法，其特徵在於，所述測試控制單元生成測試控制信息包括電源拉偏測試信息、內存壓力測試信息、信號引出測試信息3種測試信息中的至少一種；所述功能測試單元根據所述測試控制信息分別調用測試種類對應的電源拉偏測試模塊、內存壓力測試模塊或信號引出測試模塊對內存條進行功能測試。
9.如權利要求8所述的內存條測試方法，其特徵在於，所述測試控制單元對電源拉偏測試模塊配置的電源拉偏測試信息包括電壓波動參數與電壓拉偏參數，所述電源拉偏測試模塊的功能測試為利用所述電源拉偏測試信息對被測內存條進行電壓穩定性測試。
10.如權利要求8所述的內存條測試方法，其特徵在於，所述測試控制單元對內存壓力測試模塊配置的內存壓力測試信息包括讀寫性能參數與關鍵時序參數，所述內存壓力測試模塊的功能測試為利用內存壓力測試信息對被測內存條進行性能測試和訪問時序餘量測試。
11.如權利要求8所述的內存條測試方法，其特徵在於，所述測試控制單元對信號引出測試模塊配置的信號引出測試信息包括總線參數、I2C總線參數與電源參數，所述信號引出測試模塊利用接收的信號引出測試信息通過信號引出測試點引出測試參數，再通過測試儀器對弓I出的參數進行信號邏輯分析。
全文摘要
本發明公開了一種內存條測試裝置及測試方法。本發明的內存條測試裝置包括一內存條接口、一測試控制單元以及一個功能測試單元，該功能測試單元與內存條接口相連，測試控制單元與功能測試單元相連。其中功能測試單元包括電源拉偏測試模塊、內存壓力測試模塊、信號引出測試模塊之中的至少一種模塊。本發明的內存條測試裝置及測試方法，能夠避免因不能真實模擬內存條工作環境導致的測試不全面，測試結果不夠準確的問題，提高了測試的效率以及測試的全面性。
文檔編號G11C29/56GK102339650SQ201110320418
公開日2012年2月1日 申請日期2011年10月20日 優先權日2011年10月20日
發明者時洵, 瞿世尊 申請人:中興通訊股份有限公司