利用瑕疵存儲器的系統、裝置和方法及封裝結構的製作方法

2023-06-03 19:55:56

專利名稱：利用瑕疵存儲器的系統、裝置和方法及封裝結構的製作方法
利用瑕M儲器的系統、裝置和方法及封裝結構技術領城本發明涉及存儲器技術領域，特別涉及一種利用瑕瘋存儲器的系統、裝 置和方法及其封裝結構。
背景技術：
當存儲器中存在壞的存儲塊時，該存儲器為瑕瘋存儲器，這些壞的存儲 塊不能被使用，而好的存儲塊仍可以被正常使用。專利號為200410086950.7的中國專利文件提出了 一種利用瑕疵存儲器 的方法和裝置。該專利文件種提出，存儲器可用容量一半的低地址中存在至 少一個壞塊區時，則該壞塊所在低地址的所有存儲區域都不能使用，而只使 用另一半的高地址存儲塊。存儲器高地址中存在壞塊的處理方式相同。當需 要使用瑕疵存儲器時，具體的講是利用瑕瘋存儲器的好塊時，需要對地址線 進行控制，只讀寫好塊，而避免對壞塊的讀寫。設存儲器分為16塊，編號 為從0到15，有四根高位地址線A3、 A2、 Al、 A0，每根高位地址線有兩種 狀態，分為0和1，四才艮高位地址線的組合共有2的4次方個，即16個，每 個組合對應一個存儲塊編號。如果編號為0的存儲塊是壞塊，則該存儲塊對 應的低地址的存儲區域，即0~7的存儲塊都不能使用。為了避開這個壞塊 所在的低地址存儲區，將高位地址線A3設為固定的1,即將A3-0的地址屏 蔽，由A3、 A2、 Al三個地址線組成的8個狀態控制8個存儲塊的讀寫，即 控制編號為8~15的存儲塊。這時，8~15的存儲塊中又產生一個壞的存儲 塊，如第8塊是壞塊，為了避開這個壞塊，將A2固定的設為1，即將A2-0 的地址屏蔽，由A2、 Al兩個地址線組成的四個狀態控制4個存儲塊的讀寫， 即控制編號為12~15的存儲塊。當剩餘的存儲塊中又產生一個壞塊時，重複利用該方法屏蔽該壞塊所在的一半存儲區域。當存儲器分為32塊、64塊 等情況時，產生壞塊時利用該存儲器的方法與此相同。可見，當存儲器存在至少兩個壞塊，且壞塊在高地址和低地址中分別都 存在時，現有的方法對存儲器的利用率很低，不能對存在的好塊進行有效的 利用。另外，現有技術在實施時，還必須先檢測存儲器的壞塊區域，根據檢測 結果對存儲器進行分塊，設置電氣開關，通過手工操作該電氣開關的方式進 行控制。但是，本領域技術人員知道，電氣開關是一種物理開關，其反應速 度和靈敏度都很有限，這樣就影響了讀寫存儲器的效果，且手工操作較為繁 瑣。一種利用瑕瘋存儲器的系統中，由於受到容量的限制，可提供的電氣開 關的數量是有限的，那麼，當瑕疵存儲器在壞塊情況較為複雜的情況下，有 限的物理開關不能滿足需求。例如，總容量為8塊的存儲器，如果有存在兩 個壞塊時，根椐壞塊所處位置的不同，應用排列組合關係，可以由公示C(8, 2) =8! /[(8-2)！ /2! ] = 28得到28種不同的損壞類型，如果此時提供的電 氣開關時5個，可以表示2的5次方共32種，32>28，因此該情況下5個電 氣開關可以滿足需要。但是如果8個存儲塊種有3個壞塊時，由C(8， 3) =8! /[(8-3)！ /3! ] = 336得到336種損壞類型，此時需要至少提供9個電 氣開關，這9個電氣開關可提供2的9次方共512個狀態，才可以滿足336 種損壞情況。但是，在系統種能提供的電氣開關是有限的，而且如果存儲器分為16 塊、32塊或更多的情況時，可以計算出需要的電氣開關數量將很大，這種情 況下提供大量的電氣開關是難以實現的。發明內容本發明的目的是提供一種利用瑕疵存儲器的系統、裝置和方法及封裝結構，以克服現有技術中存儲器存在至少兩個壞塊，且壞塊在高地址和低地址 中分別都存在時，對存儲器的利用率低，不能對存在的好塊進行有效利用的 缺陷。本發明的次要目的在於提供一種利用瑕瘋存儲器的系統、裝置和方法及 封裝結構，其讀寫存儲器效果好，操作簡單方便，容易實現。為解決上述技術問題，本發明提供一種利用瑕疵存儲器的系統、裝置和方法及封裝結構是這樣實現的一種利用瑕疵存儲器的系統，包括存儲控制器110，解碼模塊130和瑕 疵存儲器120，其中，存儲控制器110與瑕疵存儲器120間通過時鐘線、數據總線、低位地址 總線和控制線相連，與解碼模塊130通過高位地址輸入總線和控制線相連， 用於通過解碼模塊130對瑕瘋存儲器120進行讀寫；解碼模塊130與存儲控制器IIO通過高位地址輸入總線和控制線相連， 與瑕疵存儲器120通過高位地址輸出總線相連，用於將存儲控制器110對瑕 疵存儲器120進行讀寫的地址解碼為瑕瘋存儲器120中好塊的地址。解碼模塊130包括解碼控制模塊131,輸出驅動模塊132和可編程模塊 133，其中，解碼控制模塊131的輸入端與存儲控制器IIO通過高位地址輸入總線和 控制線相連，用於對存儲控制器IIO輸入地址的解碼；輸出驅動模塊132 —側與解碼控制模塊131相連，另一側與瑕瘋存儲器 120通過高位地址輸出總線相連，輸出驅動模塊132用於驅動瑕瘋存儲器 120，並通過高位地址輸出總線將映射後的數據塊地址傳輸到瑕瘋存儲器 120;可編程模塊133與解碼控制模塊131相連，該可編程模塊133的輸入端 還包括編程控制總線和MODE總線，MODE總線狀態包括在線編程狀態和 工作狀態；在線編程狀態下，所述可編程模塊133用於測試瑕瘋存儲器120的所有存儲塊，得到好壞塊的信息，並存儲該信息；工作狀態下，所述可編程模塊133根據存儲的好壞塊信息，編程設置輸解碼控制模塊131根據可編程模塊133中提供的輸入塊地址與輸出好塊地址 的映射關係，將高位地址輸入總線輸入的存儲塊地址映射到瑕瘋存儲器120 中的好塊地址，並通過輸出驅動模塊132對瑕瘋存儲器120進行讀寫。所述可編程模塊133通過改變MODE總線的輸入電平來改變解碼模塊 的狀態；在所述的線編程狀態下，高位地址輸出總線輸出的地址等於高位地 址輸入總線輸入的地址。一種利用瑕瘋存儲器的裝置，包括解碼控制模塊131,輸出驅動模塊132 和可編程模塊133，其中，解碼控制模塊131的輸入端與存儲控制器110通過高位地址輸入總線和 控制線相連，用於對存儲控制器110輸入地址的解碼；輸出驅動模塊132 —側與解碼控制模塊131相連，另一側與瑕疵存儲器 120通過高位地址輸出總線相連，輸出驅動模塊132用於驅動瑕瘋存儲器， 並通過高位地址輸出總線將映射後的數據塊地址傳輸到瑕疵存儲器120;可編程模塊133與解碼控制模塊131相連，該可編程模塊的輸入端還包 括編程控制總線和MODE總線，MODE總線狀態包括在線編程狀態和工作 狀態；解碼控制在線編程狀態下，所述可編程模塊133用於測試瑕疵存儲器120 的所有存儲塊，得到好壞塊的信息，並存儲該信息；工作狀態下，所述可編程模塊133根據存儲的好壞塊信息，編程設置輸 入塊地址與輸出好塊地址的映射關係並將其提供給解碼控制模塊131，解碼 控制模塊131根據可編程模塊133中提供的輸入塊地址與輸出好塊地址的映 射關係，將高位地址輸入總線輸入的存儲塊地址映射到瑕疵存儲器中的好塊 地址，並通過輸出驅動模塊132對瑕疵存儲器進行讀寫。所述可編程^^塊133通過改變MODE總線的輸入電平來改變解碼模塊的狀態；在所述的線編程狀態下，高位地址輸入總線輸入的地址等於高位地 址輸出總線輸出的地址。一種利用瑕疵存儲器的方法，包括置可編程模塊為在線編程狀態，將地址輸入總線設置為與地址輸出總線 直通，檢測瑕疵存儲器中好壞塊的情況，並將該好壞塊信息存入可編程模塊；置可編程模塊為工作狀態，可編程模塊根據瑕瘋存儲器中好壞塊的情 況，編程設置輸入塊地址和輸出好塊地址的映射關係，再將該映射關係輸入 到解碼控制模塊，解碼控制模塊根據輸入塊地址和輸出好塊地址的映射關 系，將輸入的地址映射為好塊的地址，輸出到瑕瘋存儲器。所述的在線編程狀態或工作狀態通過改變MODE總線的輸入電平來設置。所述將地址輸入總線設置為與地址輸出總線直通由以下方式實現 將地址輸出總線的輸出的地址設置與地址輸入總線輸入的地址相同。 一種瑕M儲顆粒的封裝結構，包括解碼IC,瑕瘋內存顆粒棵片，PCB板，焊接用錫球和封膠，其中，瑕疵內存顆粒棵片的一側與PCB板固設在一起；瑕瘋內存顆粒棵片的另一側與解碼IC固設在一起；焊接用的錫球位於PCB板的另一側；PCB板裝有錫球的一面的兩側上在錫球規則排列的空餘處的各3個位置設有引腳，所述引腳與IC解碼晶片相連；所述瑕瘋內存顆粒棵片、PCB板、解碼IC、焊接用錫球和引腳由封膠封 裝在一起。所述瑕瘋存儲器為DDR1或DDR2或DDR3存儲器。 由以上本發明提供的技術方案可見，在線編程狀態下可編程模塊檢測出 瑕瘋存儲器中好壞塊的情況並存儲該好壞塊信息，工作狀態下可編程模塊根 據瑕瘋存儲器中好壞塊的情況，編程設置輸入塊地址和輸出好塊地址的映射 關係，再將該映射關係輸入到解碼控制模塊，解碼控制模塊將輸入的存儲塊地址映射為存儲器好塊的地址，這樣，可以實現最大可能的利用瑕瘋存儲器的好塊；且其讀寫存儲器效果好，操作簡單方便，容易實現。附困說明

圖1為本發明系統的框圖；圖2為本發明輸入地址到輸出地址的映射圖；圖3為本發明裝置的框圖；圖4為本發明方法的流程圖；圖5為本發明封裝結構的示意圖；圖6為本發明封裝結構引腳圖。
具體實施方式
本發明提供一種利用瑕疵存儲器的系統，包括存儲控制器，解碼模塊和 瑕瘋存儲器，解碼模塊包括解碼控制模塊，輸出驅動模塊和可編程模塊。該 系統處於在線編程狀態下時，可編程模塊檢測出整個瑕疵存儲器中好壞塊信 息並存儲該信息，處於工作狀態下時，可編程模塊根據瑕疵存儲器中的好壞 塊信息，編程設置輸入塊地址和輸出塊地址的映射關係，再將該映射關係提 供給解碼控制模塊，解碼控制模塊利用輸入塊地址和輸出塊地址的映射關係，將輸入地址映射為輸出的好塊地址，由輸出驅動模塊通過地址輸出總線 驅動瑕瘋存儲器，完成存儲控制器對瑕瘋存儲器的讀寫。為了使本技術領域的人員更好地理解本發明方案，下面結合附圖和實施 方式對本發明作進一步的詳細說明。首先介紹本發明的系統。圖l示出了該系統的框圖。如圖所示，該系統包括存儲控制器110，解碼模塊130和瑕疵存儲器120。 該瑕瘋存儲器為瑕瘋存儲器。存儲控制器110用於通過解碼模塊130對瑕瘋存儲器120進行讀寫。存儲控制器110與瑕瘋存儲器120間通過常規的時鐘線、數據總線、低位地址 總線和一些其它的常規控制線相連。解碼模塊130的輸入端與存儲控制器110通過高位地址輸入總線和控制 線相連，與瑕疵存儲器120通過高位地址輸出總線相連，用於將存儲控制器 IIO對瑕瘋存儲器120進行讀寫的地址解碼為瑕瘋存儲器120中好塊的地址。解碼模塊130包括解碼控制模塊131，輸出驅動模塊132和可編程模塊133。解碼控制模塊131的輸入端與存儲控制器IIO通過高位地址輸入總線和 控制線相連。該控制線包括WE弁，CAS#、 CS弁和RAS弁。輸出驅動模塊132 —側與解碼控制模塊131相連，另一側與瑕疵存儲器 120通過高位地址輸出總線相連。輸出驅動模塊132用於驅動瑕疵存儲器 120,並通過輸出的高位地址將映射後的數據塊傳輸到瑕疵存儲器120。可編程模塊133與解碼控制模塊131相連，該可編程模塊的輸入端還包 括編程控制總線和MODE總線。MODE總線的狀態包括在線編程狀態和工 作狀態。可以通過改變MODE總線的輸入電平來改變解碼模塊的狀態。在線編程狀態下，存儲控制器110與瑕疵存儲器120是直通的，即解碼 模塊130的高位地址輸入總線輸入的地址等於高位地址輸出總線輸出的地 址。這樣，可以測試瑕疵存儲器120的所有存儲塊，從而可以得到好壞塊的 信息，將得到的好壞塊信息通過編程控制總線輸入可編程模塊122。工作狀態下可編程模塊133用於存儲瑕疵存儲器120的好壞塊信息，可 編程模塊根據瑕瘋存儲器中好壞塊的信息，編程設置輸入塊和輸出塊的映射 關係，再將該映射關係輸入給解碼控制模塊。工作狀態下，解碼控制模塊131根據可編程模塊133提供的輸入塊和輸 出塊的映射關係，將高位地址輸入總線輸入的存儲塊地址映射到瑕疵存儲器 120中的好塊地址，並通過輸出驅動模塊120對瑕疵存儲器120進行讀寫。以下列舉瑕瘋存儲器120總容量為16個存儲塊時，利用該存儲器的過程。瑕瘋存儲器120分為16個存儲塊，為2的4次方，編號設為0到15。 解碼控制模塊131根據可編程模塊133中存儲的好壞塊信息，控制高位地址輸入總線輸入的地址到高位地址輸出總線上解碼控制位表示的地址的映射，即到瑕疵存儲器120的存儲塊地址的映射。如果將瑕瘋存儲器120分為16個存儲塊，且其第0塊、第5塊、第9 塊和第15塊是壞塊，利用本發明，映射關係可以具體如圖2所示當高位地址輸入總線輸入的地址Ain-0~ 11時，需要在高位地址輸出 總線上避開這些壞塊，只利用好塊，則解碼控制器可以將Ain的這幾個輸入 分別映射為Aout-l、 2、 3、 4、 7、 8、 10、 11、 12、 13、 14對應的。另外，由於該壞塊與好塊的映射關係是通過編程來實現，因此完全可以 滿足不同壞塊類型解碼的需要。且該方式不需要增加電氣開關，利於實現。該系統在生產過程中，可編程模塊中存儲的瑕疵存儲器的好壞塊信息可 以通過一次在線編程狀態的執行完成，在該過程中不需手工幹預，利於實現， 方便生產。而且，可編程模塊中存儲的瑕瘋存儲器的好壞塊信息即使掉電後 仍能保持不變，因而重新加電啟動後，不需要再次測試存儲器好壞塊信息。以下介紹本發明利用瑕瘋存儲器的裝置，該裝置如圖3所示。該裝置包括解碼控制模塊131，輸出驅動模塊132和可編程模塊133。解碼控制模塊131的輸入端與存儲控制器110通過地址輸入總線和控制 線相連。該控制線包括WE弁，CAS#、 CS弁和RAS弁，用於控制對訪問地址 的解碼。輸出驅動模塊132—側與解碼控制模塊131相連，另一側可以與外接的 存儲器通過地址輸出總線相連。外接的存儲器為瑕疵存儲器。輸出驅動模塊 132用於通過輸出的地址驅動訪問外接的存儲器。可編程模塊133與解碼控制模塊131相連，該可編程模塊的輸入端還包 括編程控制總線和MODE總線。MODE總線的狀態包括在線編程狀態和工 作狀態。可以通過改變MODE總線的輸入電平來改變解碼模塊的狀態。在線編程狀態下，解碼;漠塊130的地址輸入總線輸入的地址等於地址輸 出總線輸出的地址。這樣，可以外接存儲器的所有存儲塊，從而可以得到好 壞塊信息，將得到的好壞塊信息通過編程控制總線輸入可編程模塊122。工作狀態下，可編程模塊133據瑕瘋存儲器中好壞塊信息，編程設置輸 入塊地址和輸出好塊的映射關係，再將該映射關係輸入給解碼控制模塊131。工作狀態下，解碼控制模塊131根據可編程模塊133提供的輸入塊和輸 出塊的映射關係，將地址輸入總線輸入的存儲塊號映射到外接存儲器的好 塊，並通過輸出驅動模塊120對外接存儲器進行讀寫。具體的映射方式與前 述對圖2的描述類似，在此不再贅述。該利用瑕瘋存儲器的裝置，能夠控制對瑕瘋存儲器的訪問，有效的利用 瑕疵存儲器的好塊。另外，可編程模塊中存儲的瑕瘋存儲器的好壞塊信息可 以通過一次在線編程狀態的執行完成，在該過程中不需手工幹預，利於實現， 方《更生產。以下介紹本發明利用瑕疵存儲器的方法。圖4示出了本發明方法的流程圖。步驟401:置可編程模塊為在線編程狀態，將地址輸入總線設置為與地 址輸出總線直通，檢測出整個瑕瘋存儲器中好壞塊信息，並將該信息存入可 編程模塊。可編程模塊工作在在線編程狀態，將地址輸入總線設置為與地址輸出總 線直通，此時地址輸出總線的輸出的地址與地址輸入總線輸入的地址相同， 可以檢測出整個瑕瘋存儲器中好壞塊的信息。步驟402:置可編程模塊為工作狀態，可編程模塊根據瑕瘋存儲器中好 壞塊的信息，編程^:置輸入塊地址和輸出好塊地址的映射關係，再將該映射 關係輸入到解碼控制模塊，解碼控制模塊利用可編程模塊提供的輸入塊地址 和輸出好塊的映射關係，將輸入的地址映射為好塊的地址，輸出到瑕瘋存儲 器。具體的對應方法與前述系統中對圖2的描述類似，在此也不在贅述。由以上給出的實施例可見，在線編程狀態下可編程模塊檢測出整個瑕瘋 存儲器中好壞塊的信息並存儲該信息，工作狀態下將輸入的地址映射為輸出 地址總線的解碼控制位代表的好塊地址，這樣，可以實現最大可能的利用瑕 瘋存儲器的好塊。另外，如果利用現有技術中電氣開關，該電器開關與瑕瘋存儲器配合使用時，由於該電氣開關較大，不能與瑕疵存儲器封裝在一起；且由於該電氣 開關需要連接到瑕瘋存儲器的印刷電路板(Printed Circuit Board, PCB )上， 而PCB板設計前不會預留連接該電氣開關的引腳和電路，因此該情況下需要 更改PCB板的設計。可見現有技術的電氣開關與瑕瘋存儲器配合使用的結構 無法實現與瑕瘋存儲器封裝在一起的效果，且需要更改生產工藝，實現起來 較繁瑣，不利於生產。而本發明中提出的利用瑕疵存儲器的裝置(即解碼IC)是晶片， 一般地 都有成熟的工藝可以將晶片打磨的很薄，這樣，由本發明提出的利用瑕疵存 儲器的裝置，有以下瑕瘋內存顆粒的封裝結構的側視圖。該瑕瘋內存顆粒的封裝結構包括解碼IC，瑕瘋內存顆粒棵片，PCB板， 焊接用錫球和封膠。圖5為瑕疵存儲顆粒的封裝結構。如圖5所示，瑕瘋內存顆粒棵片的一側與PCB板固設在一起。瑕疵內存顆粒棵片的另一側與解碼IC固設在一起。具體的，可以用膠 水將解碼IC粘貼在瑕瘋內存顆粒裸片上。由於解碼IC被打磨的很薄，因此 用封膠將瑕瘋存儲器封裝起來後，其整體厚度並不比原來厚多少。PCB板的另 一側下方有焊接用的錫球。圖6為瑕瘋內存顆粒的封裝結構的底視圖。其外觀與原來不包括解碼IC 的封裝結構相比，只在圖中所示位置多了6個引腳，兩側各3個，而原來的 封裝結構在這6個位置上是沒有引腳的。這六個位置位於原來的PCB板的外 側錫球規則排列的空餘處。本發明可以利用這6個位置作為6個引腳，可以與IC解碼晶片相連，供IC解碼晶片測試、編程使用。該封裝結構中，瑕瘋存儲器典型的可以為DDR1或DDR2或DDR3存儲器，當然也可以為其它存儲器。雖然通過實施例描繪了本發明，本領域普通技術人員知道，本發明有許 多變形和變化而不脫離本發明的精神，希望所附的權利要求包括這些變形和 變化而不脫離本發明的精神。
權利要求
1. 一種利用瑕疵存儲器的系統，其特徵在於，包括存儲控制器(110)，解碼模塊(130)和瑕疵存儲器(120)，其中，存儲控制器(110)與瑕疵存儲器(120)間通過時鐘線、數據總線、低位地址總線和控制線相連，與解碼模塊(130)通過高位地址輸入總線和控制線相連，用於通過解碼模塊(130)對瑕疵存儲器(120)進行讀寫；解碼模塊(130)與存儲控制器(110)通過高位地址輸入總線和控制線相連，與瑕疵存儲器(120)通過高位地址輸出總線相連，用於將存儲控制器(110)對瑕疵存儲器(120)進行讀寫的地址解碼為瑕疵存儲器(120)中好塊的地址。
2、 如權利要求l所述的系統，其特徵在於，解碼模塊(130)包括解碼控 制模塊(131)，輸出驅動模塊(132)和可編程模塊(133)，其中，解碼控制模塊(131)的輸入端與存儲控制器(110)通過高位地址輸入總 線和控制線相連，用於對存儲控制器(110)輸入地址的解碼；輸出驅動模塊(132) —側與解碼控制模塊(131)相連，另一側與瑕疵存 儲器(120)通過高位地址輸出總線相連，輸出驅動模塊(132)用於驅動瑕疵 存儲器(120)，並通過高位地址輸出總線將映射後的數據塊地址傳輸到瑕疵存 儲器(120);可編程模塊(133 )與解碼控制模塊(131)相連，該可編程模塊(133 ) 的輸入端還包括編程控制總線和MODE總線，MODE總線狀態包括在線編程 狀態和工作狀態；在線編程狀態下，所述可編程模塊(133 )用於測試瑕瘋存儲器(120)的 所有存儲塊，得到好壞塊的信息，並存儲該信息；工作狀態下，所述可編程模塊(133)根據存儲的好壞塊信息，編程設置 輸入塊地址與輸出好塊地址的映射關係並將其提供給解碼控制模塊(131 )，譯 碼控制模塊(131)根據可編程模塊(133 )中提供的輸入塊地址與輸出好塊地 址的映射關係，將高位地址輸入總線輸入的存儲塊地址映射到瑕疵存儲器 (120)中的好塊地址，並通過輸出驅動模塊(132)對瑕疵存儲器(120)進行讀寫。
3、 如權利要求2所述的系統，其特徵在於，所述可編程模塊(133 )通過 改變MODE總線的輸入電平來改變解碼模塊的狀態；在所述的線編程狀態下， 高位地址輸入總線輸入的地址等於高位地址輸出總線輸出的地址。
4、 一種利用瑕疵存儲器的裝置，其特徵在於，包括解碼控制模塊(131), 輸出驅動模塊(132)和可編程模塊(133),其中，解碼控制模塊(131)的輸入端與存儲控制器(110)通過高位地址輸入總 線和控制線相連，用於對存儲控制器(110)輸入地址的解碼；輸出驅動模塊(132) —側與解碼控制模塊(131 )相連，另一側與瑕疵存 儲器(120)通過高位地址輸出總線相連，輸出驅動模塊(132)用於驅動瑕疵 存儲器，並通過高位地址輸出總線將映射後的悽t梧塊地址傳輸到瑕疵存儲器 (120);可編程模塊(133 )與解碼控制模塊(131)相連，該可編程模塊的輸入端 還包括編程控制總線和MODE總線，MODE總線狀態包括在線編程狀態和工 作狀態；解碼控制在線編程狀態下，所述可編程模塊(133)用於測試瑕疵存儲器 (120)的所有存儲塊，得到好壞塊的信息，並存儲該信息；工作狀態下，所述可編程模塊(133)根據存儲的好壞塊信息，編程設置 輸入塊地址與輸出好塊地址的映射關係並將其提供給解碼控制模塊(131),譯 碼控制模塊(131)根據可編程模塊(133 )中提供的輸入塊地址與輸出好塊地 址的映射關係，將高位地址輸入總線輸入的存儲塊地址映射到瑕疵存儲器中的 好塊地址，並通過輸出驅動模塊(132)對瑕疵存儲器進行讀寫。
5、 如權利要求4所述的裝置，其特徵在於，所述可編程模塊(133 )通過 改變MODE總線的輸入電平來改變解碼模塊的狀態；在所述的線編程狀態下， 高位地址輸出總線輸出的地址等於高位地址輸入總線輸入的地址。
6、 一種利用瑕疵存儲器的方法，其特徵在於，包括 置可編程模塊為在線編程狀態，將地址輸入總線設置為與地址輸出總線直通，檢測瑕瘋存儲器中好壞塊的情況，並將該好壞塊信息存入可編程模塊；置可編程模塊為工作狀態，可編程模塊根據瑕瘋存儲器中好壞塊的情況， 編程設置輸入塊地址和輸出好塊地址的映射關係，再將該映射關係輸入到解碼 控制模塊，解碼控制模塊才艮據輸入塊地址和輸出好塊地址的映射關係，將輸入 的地址映射為好塊的地址，輸出到瑕瘋存儲器。
7、 如權利要求6所述的方法，其特徵在於，所述的在線編程狀態或工作 狀態通過改變MODE總線的輸入電平來設置。
8、 如權利要求6或7所述的方法，其特徵在於，所述將地址輸入總線設 置為與地址輸出總線直通由以下方式實現將地址輸出總線的輸出的地址設置與地址輸入總線輸入的地址相同。
9、 一種瑕瘋存儲顆粒的封裝結構，其特徵在於，包括解碼IC，瑕疵內存 顆粒棵片，PCB板，焊接用錫球和封膠，其中，瑕瘋內存顆粒棵片的一側與PCB板固設在一起；瑕瘋內存顆粒棵片的另一側與解碼IC固設在一起；焊接用的錫球位於PCB板的另一側；PCB板裝有錫球的一面的兩側上在 錫球規則排列的空餘處的各3個位置設有引腳，所述引腳與IC解碼晶片相連；所述瑕瘋內存顆粒棵片、PCB板、解碼IC、焊接用錫球和引腳由封膠封 裝在一起。
10、 如權利要求9所述的封裝結構，其特徵在於，所述瑕疵存儲器為DDR1 或DDR2或DDR3存儲器。
全文摘要
本發明提供一種利用瑕疵存儲器的方法，包括置可編程模塊為在線編程狀態，將地址輸入總線設置為與地址輸出總線直通，檢測瑕疵存儲器中好壞塊信息，並將該信息存入可編程模塊；置可編程模塊為工作狀態，可編程模塊根據瑕疵存儲器中好壞塊的情況，編程設置輸入塊地址和輸出好快地址的映射關係並將其輸入到解碼控制模塊，解碼控制模塊將輸入的地址映射為好塊的地址，輸出到瑕疵存儲器。本發明還提供利用瑕疵存儲器的系統和裝置及封裝結構。利用本發明，可以實現最大可能的利用瑕疵存儲器的好塊。
文檔編號G11C29/00GK101246741SQ20071007939
公開日2008年8月20日 申請日期2007年2月16日 優先權日2007年2月16日
發明者張華龍, 殷立定, 羅魏熙 申請人:深圳市芯邦微電子有限公司