Oled並行檢測分揀系統的製作方法
2023-05-28 03:54:01 1
Oled並行檢測分揀系統的製作方法
【專利摘要】本發明的OLED並行檢測分揀系統包括同時連接基板上各顯示單元的測試治具、用於存儲數據和控制系統運行的系統主機、矩陣開關控制單元和自動機械手；所述矩陣開關控制單元連接測試治具和系統主機，用於在系統主機的控制下將顯示單元逐個與對應的信號測試單元電聯通以完成該顯示單元的全檢測試；系統主機設定測試標準並記錄測試結果。有益效果在於通過使用並行的測試治具同時與基板上的所有顯示單元相連接，並結合矩陣開關控制單元通過軟體控制測試的進行和記錄測試結果，根據測試結果控制劃線裂片機切割顯示單元的基礎上通過自動機械手自動分揀，實現測試與分揀的自動化進行。加快了OLED製造過程中的工序節拍，提高器件檢測效率。
【專利說明】OLED並行檢測分揀系統
【技術領域】
[0001]本發明屬於OLED顯示【技術領域】，OLED面板的生產檢測工藝，具體涉及OLED顯示器件的一種並行檢測及分揀系統。
【背景技術】
[0002]作為第三代顯示器件，OLED具有顯示質量高、輕薄、低功耗的特性。在OLED器件的生產製造中，對器件電學性能的檢測並判斷其是否為良品並將不同產品分揀出來是生產過程的必要步驟。目前行業通用的做法是按照工藝設定的所有條件對基板上的各個器件逐個全檢，在全部器件檢測完成後由系統統計出不良品的個數和位置，再由操作人員根據系統提示用筆標在器件的背面標識出來，待到基板切割工序完成後，操作人員根據標識從中剔除良品和不良品放入不同的託盤中，分類進入之後的其他工序。這種方式在生產過程中的檢測速度慢，效率低並且操作人員在長時間的標識中容易產生人為的失誤。
【發明內容】
[0003]本發明的目的是為了解決現有的OLED檢測分揀依靠人工逐個全檢效率低下、容易產生人為操作失誤等不足，提出了一種OLED並行檢測分揀系統。
[0004]本發明的技術方案為:0LED並行檢測分揀系統，其特徵在於，包括同時連接基板上各顯示單元的測試治具、用於存儲數據和控制系統運行的系統主機、矩陣開關控制單元和自動機械手；所述矩陣開關控制單元連接測試治具和系統主機，用於在系統主機的控制下將顯示單元逐個與對應的信號測試單元電聯通以完成該顯示單元的全檢測試；系統主機設定測試標準並記錄測試結果；所述信號測試單元用於存儲所述顯示單元的全檢測試信號；自動機械手用於根據系統主機控制將不同檢測結果的顯示單元分揀到不同的位置。
[0005]進一步的，所述系統還包括劃線裂片機，所述劃線裂片機與系統主機相連接，用於根據系統主機控制將基板上的顯示單元切割並分裂開。
[0006]進一步的，系統主機記錄的測試結果包括顯示單元的坐標位置及測試等級結果。
[0007]本發明的有益效果:本發明的OLED並行檢測分揀系統通過使用並行的測試治具同時與基板上的所有顯示單元相連接，並結合矩陣開關控制單元通過軟體控制測試的進行和記錄測試結果，根據測試結果控制劃線裂片機切割顯示單元的基礎上通過自動機械手自動分揀，實現測試與分揀的自動化進行。加快了 OLED製造過程中的工序節拍，提高器件檢測效率。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0008]圖1是本發明的OLED並行檢測分揀系統結構示意圖。
【具體實施方式】
[0009]本發明的實施例是根據本發明的原理而設計，下面結合附圖和具體的實施例對本發明作進一步的闡述。
[0010]如圖1所示，本發明的OLED並行檢測分揀系統，包括同時連接基板上各顯示單元的測試治具2、用於存儲數據和控制系統運行的系統主機、矩陣開關控制單元和自動機械手；所述矩陣開關控制單元連接測試治具和系統主機，具體通過數據總線3連接。用於在系統主機的控制下將顯示單元I逐個與對應的信號測試單元電聯通以完成該顯示單元的全檢測試；系統主機設定測試標準並記錄測試結果；所述信號測試單元用於存儲所述顯示單元的全檢測試信號；自動機械手用於根據系統主機控制將不同檢測結果的顯示單元分揀到不同的位置。所述系統還包括劃線裂片機，所述劃線裂片機與系統主機相連接，用於根據系統主機控制將基板上的顯示單元切割並分裂開。系統主機記錄的測試結果包括顯示單元的坐標位置及測試等級結果。
[0011]下面結合發明問題及原理對本實施例的方案做詳細描述:如圖1所示，OLED器件未切割前處於同一基板之上，因器件在基板上的排布是標準的陣列形式，所以可在軟體系統中按照生產工藝要求對其編號，具體編號方式比如橫向為數字，縱向為字母，如左上角第一個器件為Al。在開始對器件進行檢測之前，操作人員把基板安裝在分配治具上，使分配治具上的探針與各個器件的測試電極接觸連通。這些電路通過分配治具的埠線纜與矩陣開控制器實現通訊。通過對矩陣開關控制器進行設置，使基板上各個OLED器件的電極與矩陣開關各通道相對應。信號測試單元用於對單個器件的電學性能進行檢測，其信號測試要求的由系統主機指示並在測試完成後將測試結果的信息反饋給系統主機。系統主機在測試過程中根據信號測試單元反饋的結果來控制矩陣開關控制器內的通道的選擇。系統主機與劃線裂片機和自動機械手通訊連接，在劃線裂片機完成對基板的切割分裂後，自動機械手根據系統主機傳輸過來的關於基板上各個器件信息，對不同測試結果的器件分類拾取不同的託盤中。操作人員只需取走不同託盤即可進入下一道工序。
[0012]系統具體操作方式為:操作人員把基板安放在分配治具上，在系統主機程序中輸入行列數。主機算出總通道數並向矩陣開關發出指令，矩陣開關控制器根據信號測試單元的數量依次分配測試通道。操作人員作業系統主機開始測試，主機發送工藝測試參數到各臺信號測試單元，信號測試單元通過矩陣開關控制器發出和接受電信號。開始檢測時，一號信號測試單元對應Al，二號信號測試單元對應A2，以此類推。在檢測過程中，單個信號測試單元對於對應器件輸出不同的工藝檢測信號並收取反饋信息，根據工藝判定要求，如果檢測到其中一個信號為不良則系統直接判定檢測停止，系統記錄該器件不良類型並記錄其編號並由主機發出指令控制矩陣開關控制器分配下一個通道給處於待機檢測狀態的信號測試單元。同理若在檢測過程中，信號測試單元收到反饋信號為次級良品或可讓步接收產品，則根據系統中的工藝輸入判定要求進行表決。具體標準比如:器件反饋電流>標準電流
0.5%直接判定為C級不良，標準電流0.1% <反饋電流<標準電流0.5%判定為B級，同一器件已測參數出現三個以內B級可判定為次級良品。如此通過並行測量結合表決判定的方式最大程度減少檢測時間。整個基板檢測完成後，操作人員把基板放在劃線裂片機基臺上進行切片，器件被切割完成後將完成信號回傳給系統主機，系統主機按照已經記錄存檔的器件信息(包括位置編號及不良類型)轉化為自動機械手可識別的平面坐標信息，此時劃線裂片機關閉基臺的真空吸附狀態，機械手手端的真空吸盤把不同判定類型的器件放入不同的託盤中，待機械手完成作業後操作人員只需取走相應的託盤即可進行分類並使器件進入下一工序。對不同的器件判定類型再進入不同的工藝流程。
[0013]本領域的普通技術人員將會意識到，這裡所述的實施例是為了幫助讀者理解本發明的原理，應被理解為本發明的保護範圍並不局限於這樣的特別陳述和實施例。本領域的普通技術人員可以根據本發明公開的這些技術啟示做出各種不脫離本發明實質的其它各種具體變形和組合，這些變形和組合仍然在本發明的保護範圍內。
【權利要求】
1.0LED並行檢測分揀系統，其特徵在於，包括同時連接基板上各顯示單元的測試治具、用於存儲數據和控制系統運行的系統主機、矩陣開關控制單元和自動機械手；所述矩陣開關控制單元連接測試治具和系統主機，用於在系統主機的控制下將顯示單元逐個與對應的信號測試單元電聯通以完成該顯示單元的全檢測試；系統主機設定測試標準並記錄測試結果；所述信號測試單元用於存儲所述顯示單元的全檢測試信號；自動機械手用於根據系統主機控制將不同檢測結果的顯示單元分揀到不同的位置。
2.根據權利要求1所述的OLED並行檢測分揀系統，其特徵在於，所述系統還包括劃線裂片機，所述劃線裂片機與系統主機相連接，用於根據系統主機控制將基板上的顯示單元切割並分裂開。
3.根據權利要求1或2所述的OLED並行檢測分揀系統，其特徵在於，系統主機記錄的測試結果包括顯示單元的坐標位置及測試等級結果。
【文檔編號】G01R31/26GK103792477SQ201410058419
【公開日】2014年5月14日 申請日期:2014年2月20日 優先權日:2014年2月20日
【發明者】向欣, 任海, 樸章浩, 張曉茗, 王小月 申請人:四川虹視顯示技術有限公司