一種光模塊生產中的突發測試裝置及測試方法
2023-07-01 06:27:46
專利名稱：一種光模塊生產中的突發測試裝置及測試方法
技術領域：
本發明涉及光纖通信技術領域，特別是一種光模塊生產中的突發測試裝置及測試方法。
背景技術：
請參閱圖I所示，為現有技術中用兩臺同步的誤碼儀通過編碼設定測試程序，給測試單元(DUT)輸入測試信號，測試單元接收信號後輸出突發格式的光信號輸入數字通信分析儀(DCA)光信號輸入口，觀察眼圖可以準確分析並判定測試單元光模塊的突發工作狀態是否合格。現有的測試方法在研發中比較適用，但在生產中就比較浪費設備資源。特別是光纖通信的FTTX(光纖到戶)產品生產量比較大，設備佔用量大，給生產企業造成很大的設備成本壓力。 因此，需要一種新的技術方案以解決上述問題。
發明內容
針對上述現有技術所存在的問題和不足，本發明的目的是提供一種低成本的光模塊生產中的突發測試裝置及測試方法。為實現上述目的，本發明光模塊生產中的突發測試裝置可採用如下技術方案—種光模塊生產中的突發測試裝置，包括測試單元、連接測試單元的信號發生器、同樣連接測試單元的開關控制器、光電轉換器及示波器，其中光電轉換器同時連接測試單元及示波器。使用所述光模塊生產中的突發測試裝置的測試方法可採用如下技術方案信號發生器輸出測試信號給測試単元，開關控制器輸出佔空比可調的開關信號控制測試單元上的模擬開關電路同步開關測試數據信號和測試單元中的突發控制腳；測試單元中的突發功能光模塊同步工作後輸出突發光信號，光信號通過光電轉換器輸出電信號後輸入示波器，通過示波器可以直接觀察光模塊的突發工作狀態。本發明與現有技術相比本發明不需要高速率的兩臺誤碼儀通步測試，數字通信分析儀用示波器替代，這對生產用設備的要求大大降低；信號發生器可以用要求比較低的信號發生器替代，也方便更多閒置設備的兼容組合。開關信號控制器用單片機或簡單邏輯電路實現，成本低易複製；光電轉換器因對器件靈敏度要求不高，所以成本低易複製。通過使用本發明的技術方案，使產品生產中的設備要求大大提高，測試成本相比以前有大的降低，測試平臺大量低成本複製及更多的閒置設備兼容配合使用，生產效率可以得到大幅提聞。
圖I為現有技術中光模塊生產中的測試裝置的結構示意圖。
圖2為本發明光模塊生產中的突發測試裝置的結構示意圖。
具體實施例方式下面結合附圖和具體實施方式
，進ー步闡明本發明，應理解下述具體實施方式
僅用於說明本發明而不用於限制本發明的範圍，在閱讀了本發明之後，本領域技術人員對本發明的各種等價形式的修改均落於本申請所附權利要求所限定的範圍。
請結合圖2所示，本發明公開ー種光模塊生產中的突發測試裝置，包括測試單元、連接測試單元的信號發生器、同樣連接測試單元的開關控制器、光電轉換器及示波器，其中光電轉換器同時連接測試單元及示波器。信號發生器可選用155MHz的普通信號發生器或用目前市場上通用的可產生PRBS(偽隨機碼)的集成電路自行布板設計ー款碼型發生器，輸出接ロ為SMA接ロ，提供155MHz的測試信號。開關控制器可以用ー款比較便宜的單片機通過編程設計ー個簡單的佔空比可調的低速(250kHz)方波輸出裝置，輸出接ロ為SMA接ロ。測試單元(DUT)設置兩個高速模擬開關，高速模擬開關的控制信號由開關控制器提供的低速(250kHz)方波提供，通過控制高速模擬開關通斷為測試模塊提供工作數據，實現突發數據信號(Data)及突發控制信號(Burst)的同步工作，模擬突發光模塊的實際工作機理。注意模擬開關的選型及印製板布板，保證輸入數據信號的完整性。光電轉換器可選ー款高速，高帶寬的光敏管(PD PhotoDiode)，配合高增益線性跨阻放大器實現光信號到電信號轉換，微弱信號的印製板布板及阻抗匹配必須用專業軟體仿真，保證信號完整信。轉換好的電信號可以用500MHz的普通示波器觀察，可以看到一幀ー幀的數據信號，完成突發光模塊的突發工作狀態生產全檢，保證產品質量，降低了生產設備投入及維護成本。使用上述光模塊生產中的突發測試裝置的測試方法為，信號發生器輸出測試信號給測試単元，開關控制器輸出佔空比可調的開關信號控制測試單元上的模擬開關電路同步開關測試數據信號和測試單元中的突發控制腳；測試單元中的突發功能光模塊同步エ作後輸出突發光信號，光信號通過光電轉換器輸出電信號後輸入示波器，通過示波器可以直接觀察光模塊的突發工作狀態。其特徵在幹所述信號發生器輸出的測試信號頻率為155MHz 1250GHz。所述開關信號頻率為250kHz。綜上所述，本發明不需要高速率的兩臺誤碼儀通步測試，數字通信分析儀用示波器替代，這對生產用設備的要求大大降低；信號發生器可以用要求比較低的信號發生器替代，也方便更多閒置設備的兼容組合。開關信號控制器用單片機或簡單邏輯電路實現，成本低易複製；光電轉換器因對器件靈敏度要求不高，所以成本低易複製。通過使用新的技術方案，使產品生產中的設備要求大大提高，測試成本相比以前有大的降低，測試平臺大量低成本複製及更多的閒置設備兼容配合使用，生產效率可以得到大幅提聞。
權利要求
1.一種光模塊生產中的突發測試裝置，其特徵在於包括測試單元、連接測試單元的信號發生器、同樣連接測試單元的開關控制器、光電轉換器及示波器，其中光電轉換器同時連接測試單元及示波器。
2.如權利要求I所述的光模塊生產中的突發測試裝置，其特徵在於信號發生器提供155MHz的測試信號。
3.如權利要求2所述的光模塊生產中的突發測試裝置，其特徵在於開關控制器用單片機通過編程設計一個簡單的佔空比可調的低速方波輸出裝置，輸出接口為SMA接口。
4.如權利要求3所述的光模塊生產中的突發測試裝置，其特徵在於測試單元設置兩個高速模擬開關，高速模擬開關的控制信號由開關控制器提供的低速方波提供，通過控制高速模擬開關的通斷提供工作數據，實現突發數據信號及突發控制信號的同步工作，模擬突發光模塊的實際工作機理。
5.如權利要求4所述的光模塊生產中的突發測試裝置，其特徵在於光電轉換器為光敏管，配合高增益線性跨阻放大器實現光信號到電信號轉換。
6.如權利要求5所述的光模塊生產中的突發測試裝置，其特徵在於所述示波器為500MHz普通示波器。
7.使用權利要求I至6任意一項光模塊生產中的突發測試裝置的測試方法，其特徵在於信號發生器輸出測試信號給測試單元，開關控制器輸出佔空比可調的開關信號控制測試單元上的模擬開關電路同步開關測試數據信號和測試單元中的突發控制腳；測試單元中的突發功能光模塊同步工作後輸出突發光信號，光信號通過光電轉換器輸出電信號後輸入示波器，通過示波器可以直接觀察光模塊的突發工作狀態。
8.如權利要求7所述的使用光模塊生產中的突發測試裝置的測試方法，其特徵在於所述信號發生器輸出的測試信號頻率為155MHZ 1250GHZ。
9.如權利要求8所述的使用光模塊生產中的突發測試裝置的測試方法，其特徵在於所述開關信號頻率為250kHZ。
全文摘要
本發明公開一種光模塊生產中的突發測試裝置，包括測試單元、連接測試單元的信號發生器、同樣連接測試單元的開關控制器、光電轉換器及示波器，其中光電轉換器同時連接測試單元及示波器。不需要高速率的兩臺誤碼儀同步測試，數字通信分析儀用示波器替代等降低成本的方式，使該裝置及測試方法的成本降低，更有利於在企業大批量生產中使用。
文檔編號G01R31/00GK102832994SQ201210285170
公開日2012年12月19日 申請日期2012年8月10日 優先權日2012年8月10日
發明者於佩 申請人:江蘇奧雷光電有限公司