無基準光軸快速檢測系統的製作方法

2023-06-23 02:04:26

專利名稱：無基準光軸快速檢測系統的製作方法
技術領域：
本發明涉一種光學儀器的檢測系統，特別涉及一種無基準光軸快速檢測系統。
背景技術：
隨著科學技術的迅猛發展，某些車載光學儀器技術含量越來越高，結構越來越複雜，對檢測和維修人員及設備提出的要求也越來越高。目前用於車載光學儀器的檢測設備功能單一、檢測項目不全、通用性差，只能針對單一車型及單一車型下的某項指標進行檢測，而且普遍採用解體檢測，也就是對光學儀器檢測時必須將各種光學儀器從車上拆卸下來並放置於工作檯上才能判斷該儀器設備的性能指標是否滿足使用要求。這樣對檢測的平臺和場地條件都有要求。因此，設計和研製一套體積小、功能全，適用於不同項目、不同車型，對被檢對象進行原位檢測，檢測結果以圖像和數字方式顯示的智能化、數位化、小型化、高精度的綜合性不解體檢測設備具有重要的意義和實用價值。

發明內容
本發明的目的是提供一種無基準光軸快速檢測系統，該無基準光軸快速檢測系統通用性好，能在不拆卸被檢測光學儀器的情況下，對被檢測光學儀器進行檢測。本發明是由大孔徑平行光管裝置、光軸定位裝置、磁吸式機械定位與調整裝置、圖像採集與處理裝置和電源構成，大孔徑平行光管裝置是由平行光管、十字分劃板、鑑別率板、視差分劃板和衰減片組成，其中十字分劃板、鑑別率板、視差分劃板和衰減片置於平行光管中，十字分劃板、鑑別率板、視差分劃板和衰減片是現有技術，在市場上可以購得，其具體結構不再贅述。所述光軸定位裝置是由瞄準鏡連接體和雷射連接體組成，瞄準鏡連接體的前端具有圓形槽，瞄準鏡連接體的後端具有螺紋孔，圓形槽與螺紋孔之間的壁上分別開設有雷射通孔和雷射器過渡孔，雷射通孔的直徑小於雷射器的直徑，雷射器過渡孔的直徑大於或等於雷射器的直徑，雷射連接體螺接在瞄準鏡連接體的螺紋孔中，雷射連接體具有雷射器置放孔，雷射器置放孔與雷射器的直徑相同，雷射器放置在雷射連接體的雷射器置放孔中，雷射器置放孔、雷射通孔和圓形槽三者中心軸重合，使雷射器發出的雷射、瞄準鏡連接體中心的圓形槽與瞄準鏡的中心在一條直線上，保證雷射器發出的通過瞄準鏡連接體圓形槽的光束與瞄準鏡的光軸重合，這樣才能保證測試儀器和被測光學儀器的光軸重合，瞄準鏡連接體的前段具有等角分布的四個螺紋孔，用於將瞄準鏡連接體與瞄準鏡固定在一起。所述的雷射通孔的直徑是Φ0. 5_。所述磁吸式機械定位與調整裝置是由四個磁力吸座、萬向節、伸縮支杆、支架、支杆角度調整機構、水平微調機構、垂直微調機構、水平擺動調整機構和俯仰微調機構組成，四個磁力吸座上方通過四個萬向節分別與四根伸縮支杆聯接，四個伸縮支杆的上端分別與四個支杆角度調整機構聯接，二根支架的頭端穿設在支杆角度調整機構中，支架上設置水平微調機構，垂直微調機構設置在水平微調機構上，垂直微調機構的下方聯接水平擺動調整機構，水平擺動調整機構的下方聯接俯仰微調機構，俯仰微調機構的下端與大孔徑平行光管裝置的終端聯接，水平擺動調整機構通過連杆與大孔徑平行光管裝置的端部聯接，所述磁力吸座為開關式磁力吸座，將旋鈕置於「ON」的位置產生吸力，斷電後，將旋鈕置於「OFF」的位置，吸力消失。所述圖像採集與處理裝置是由探測器和計算機構成，探測器與計算機連接，探測器設置在大孔徑平行光管裝置中，採集檢測到的圖像，探測器獲得的圖像信號傳輸給計算機進行顯示和處理，電源向系統供電，所述的電源可為逆變電源，逆變電源在沒有交流電源、僅有直流電源的情況下將直流電轉換成交流電供系統使用。本發明的工作過程和原理是首先使用光軸定位裝置對被測光學儀器進行光軸定位，被測光學儀器的光軸定位後，將雷射器抽出；磁吸式機械定位與調整裝置設置在被測光學儀器的檢測位置，磁吸式機械定位與調整裝置可以吸附在任何位置，依靠磁吸式機械定位與調整裝置的各調整機構，可以將磁吸式機械定位與調整裝置吊掛的大孔徑平行光管裝置與被測光學儀器的光軸調校重合，對被測光學儀器的各項光學指標進行檢測，檢測到的光學圖像、數據由探測器輸送到計算機，由計算機顯示並處理。本發明的有益效果是1、使用光軸定位裝置可以快速對被檢測光學儀器的光軸進行定位。2、磁吸式機械定位與調整裝置可以快速將大孔徑平行光管裝置定位在檢測位置，並使大孔徑平行光管裝置的光軸與被檢測光學儀器的光軸重合；磁吸式機械定位與調整裝置使用開關式磁力吸座，磁吸式機械定位與調整裝置固定和拆卸快捷。3、圖像採集與處理裝置可以快速顯示和處理檢測到的數據。4、電源採用逆變電源，可以在任何地點使用車載電源，對車載光學儀器進行檢測。5、基於上述四點優點，本發明實現了「光學儀器數位化不解體原位檢測」，對車載的光學儀器的檢測具有極大的意義。


圖1是本發明之光軸定位裝置的立體示意圖。圖2是本發明之光軸定位裝置的另一視角立體示意圖。圖3是本發明之光軸定位裝置的剖視圖。圖4是本發明之大孔徑平行光管裝置、磁吸式機械定位與調整裝置、圖像採集與處理裝置和電源的示意圖。
具體實施例方式請參閱圖I、圖2、圖3和圖4所示，本實施例是由大孔徑平行光管裝置I、光軸定位裝置2、磁吸式機械定位與調整裝置3、圖像採集與處理裝置4和電源5構成，大孔徑平行光管裝置I是由平行光管11、十字分劃板、鑑別率板、視差分劃板和衰減片組成，其中十字分劃板、鑑別率板、視差分劃板和衰減片置於平行光管11中，十字分劃板、鑑別率板、視差分劃板和衰減片是現有技術，在市場上可以購得，其具體結構不再贅述。請參閱圖I、圖2和圖3所示，所述光軸定位裝置2是由瞄準鏡連接體21和雷射連接體22組成，瞄準鏡連接體21的前端具有圓形槽211，瞄準鏡連接體21的後端具有螺紋孔212，圓形槽211與螺紋孔212之間的壁上分別開設有雷射通孔213和雷射器過渡孔214，雷射通孔213的直徑小於雷射器23的直徑，雷射器過渡孔214的直徑大於或等於雷射器23的直徑，雷射連接體22螺接在瞄準鏡連接體21的螺紋孔212中，雷射連接體22具有雷射器置放孔221，雷射器置放孔221與雷射器23的直徑相同，雷射器23放置在雷射連接體22的雷射器置放孔221中，雷射器置放孔221、雷射通孔213和圓形槽211三者中心軸重合，使雷射器23發出的雷射、瞄準鏡連接體21中心的圓形槽211與瞄準鏡的中心在一條直線上，保證雷射器23發出的通過瞄準鏡連接體21圓形槽211的光束與瞄準鏡的光軸重合，這樣才能保證測試儀器和被測光學儀器的光軸重合，瞄準鏡連接體21的前端具有等角分布的四個螺紋孔215，用於將瞄準鏡連接體21與瞄準鏡固定在一起。
所述的雷射通孔213的直徑是Φ0. 5mm。請參閱圖4所示，所述磁吸式機械定位與調整裝置3是由四個磁力吸座31、萬向節32、伸縮支杆33、支架34、支杆角度調整機構35、水平微調機構36、垂直微調機構37、水平擺動調整機構38和俯仰微調機構39組成，四個磁力吸座31上方通過四個萬向節32分別與四根伸縮支杆33聯接，四個伸縮支杆33的上端分別與四個支杆角度調整機構35聯接，二根支架34的頭端穿設在支杆角度調整機構35中，支架34上設置水平微調機構36，垂直微調機構37設置在水平微調機構36上，垂直微調機構37的下方聯接水平擺動調整機構38，水平擺動調整機構38的下方聯接俯仰微調機構39，俯仰微調機構39的下端與大孔徑平行光管裝置I的終端聯接，水平擺動調整機構38通過連杆381與大孔徑平行光管裝置I的端部聯接，所述磁力吸座31為開關式磁力吸座，將旋鈕置於「0N」的位置時產生吸力，將旋鈕置於「OFF」的位置時，吸力消失。請參閱圖4所示，所述圖像採集與處理裝置4是由探測器41和計算機42構成，探測器41與計算機42連接，探測器41設置在大孔徑平行光管裝置I中，採集檢測到的圖像，探測器41獲得的圖像信號傳輸給計算機42進行顯示，電源5向系統供電，所述的電源5可為逆變電源，逆變電源在沒有交流電源、僅有直流電源的情況下將直流電轉換成交流電供系統使用。本實施例的工作過程和原理是首先使用光軸定位裝置2對被測光學儀器進行光軸定位，被測光學儀器的光軸定位後，將雷射器23抽出；磁吸式機械定位與調整裝置3設置在被測光學儀器的檢測位置，磁吸式機械定位與調整裝置3可以吸附在任何位置，依靠磁吸式機械定位與調整裝置3的各調整機構，可以將磁吸式機械定位與調整裝置3吊掛的大孔徑平行光管裝置I與被測光學儀器的光軸重合，對被測光學儀器的各項光學指標進行檢測，檢測到的光學圖像、數據由探測器41輸送到計算機42，由計算機42顯示並處理。
權利要求
1.一種無基準光軸快速檢測系統，其特徵在幹是由大孔徑平行光管裝置(I)、光軸定位裝置(2)、磁吸式機械定位與調整裝置(3)、圖像採集與處理裝置(4)和電源(5)構成，大孔徑平行光管裝置(I)是由平行光管(11)、十字分劃板、鑑別率板、視差分劃板和衰減片組成，其中十字分劃板、鑑別率板、視差分劃板和衰減片置於平行光管(11)中； 所述光軸定位裝置(2)是由瞄準鏡連接體(21)和雷射連接體(22)組成，瞄準鏡連接體(21)的前端具有圓形槽(211)，瞄準鏡連接體(21)的後端具有螺紋孔(212)，圓形槽(211)與螺紋孔(212)之間的壁上分別開設有雷射通孔(213)和雷射器過渡孔(214)，雷射通孔(213)的直徑小於雷射器(23)的直徑，雷射器過渡孔(214)的直徑大於或等於雷射器(23)的直徑，雷射連接體(22)螺接在瞄準鏡連接體(21)的螺紋孔(212)中，雷射連接體(22)具有雷射器置放孔(221)，雷射器置放孔(221)與雷射器(23)的直徑相同，雷射器(23)放置在雷射連接體(22 )的雷射器置放孔(221)中，雷射器置放孔(221)、雷射通孔(213)和圓形槽(211)三者中心軸重合，瞄準鏡連接體(21)的前端具有等角分布的四個螺紋孔(215)，用於將瞄準鏡連接體(21)與瞄準鏡固定在一起； 所述磁吸式機械定位與調整裝置(3)是由四個磁力吸座(31)、萬向節(32)、伸縮支杆(33)、支架(34)、支杆角度調整機構(35)、水平微調機構(36)、垂直微調機構(37)、水平擺動調整機構(38)和俯仰微調機構(39)組成，四個磁力吸座(31)上方通過四個萬向節(32)分別與四根伸縮支杆(33)聯接，四個伸縮支杆(33)的上端分別與四個支杆角度調整機構(35)聯接，ニ根支架(34)的頭端穿設在支杆角度調整機構(35)中，支架(34)上設置水平微調機構(36)，垂直微調機構(37)設置在水平微調機構(36)上，垂直微調機構(37)的下方聯接水平擺動調整機構(38)，水平擺動調整機構(38)的下方聯接俯仰微調機構(39)，俯仰微調機構(39)的下端與大孔徑平行光管裝置(I)的終端聯接，水平擺動調整機構(38)通過連杆(381)與大孔徑平行光管裝置(I)的端部聯接； 所述圖像採集與處理裝置(4)是由探測器(41)和計算機(42)構成，探測器(41)與計算機(42)連接，探測器(41)設置在大孔徑平行光管裝置(I)中，採集檢測到的圖像，探測器(41)獲得的圖像信號傳輸給計算機(42)進行顯示，電源(5)向系統供電。
2.根據權利要求I所述的ー種無基準光軸快速檢測系統，其特徵在於所述的雷射通孔(213)的直徑是Φ0. 5mm。
3.根據權利要求I所述的ー種無基準光軸快速檢測系統，其特徵在於所述磁力吸座(31)為開關式磁力吸座。
4.根據權利要求I所述的ー種無基準光軸快速檢測系統，其特徵在於所述的電源(5)為逆變電源。
全文摘要
本發明公開了一種無基準光軸快速檢測系統，是由大孔徑平行光管裝置、光軸定位裝置、磁吸式機械定位與調整裝置、圖像採集與處理裝置和電源構成，首先使用光軸定位裝置對被測光學儀器進行光軸定位，被測光學儀器的光軸定位後，將雷射器抽出；磁吸式機械定位與調整裝置設置在被測光學儀器的檢測位置，磁吸式機械定位與調整裝置可以吸附在任何位置，依靠磁吸式機械定位與調整裝置的各調整機構，可以將磁吸式機械定位與調整裝置吊掛的大孔徑平行光管裝置與被測光學儀器的光軸調校重合，對被測光學儀器的各項光學指標進行檢測，檢測到的光學圖像、數據由探測器輸送到計算機，由計算機顯示並處理；本發明實現了「光學儀器數位化不解體原位檢測」，對車載光學儀器的檢測具有極大的意義。
文檔編號G01M11/02GK102620916SQ201210096789
公開日2012年8月1日 申請日期2012年4月5日 優先權日2012年4月5日
發明者嶽英傑, 張洪濤, 曲宙, 翟旭華, 隋鑫, 馬也, 齊鳳軍 申請人:中國人民解放軍裝甲兵技術學院