通過公用採集硬體自適應多測量類型的方法和系統的製作方法

2023-06-20 23:11:11

專利名稱：通過公用採集硬體自適應多測量類型的方法和系統的製作方法
技術領域：
本發明的實施例包括自動確定測量設備採集參數的方法和系統，其實現將 適應多測量類型的設備配置。
背景技術：
測量設備例如光譜分析儀、示波器和其它儀器具有採集 記錄並同時採 用多測量對其進行分析的能力。先前的數字測量儀器被設計為一次進行一種測 量或者一組相關的測量。藉助這些儀器，用戶通常選擇測量值並建立其參數。 當選擇多測量時，用戶面臨手動解決採集參數之間衝突的問題。

發明內容
本發明的一些實施例包括選擇多測量、確定將適應某組選擇測量值的採集 參數、以該採集參數配置測量設備並以該配置設備釆集滿足所選擇測量值要求 的源數據的方法和系統。 一些實施例中，儀器可自動配置自身以採集執行所選 擇測*^需要的數據。 一些實施例可僅僅包括確定將適應某組所選測量值的採 集參數的功能。
在考慮到下面結合附圖對本發明的詳細描述時更容易理解本發明的前述和 其它目標、特徵和優點。


圖1歸出包括採集參數確定模塊的本發明示例性實施例的視圖； 圖2歸出包括採集參數確定模塊和測量適應性模塊的本發明示例性實施 例的視圖3是示出包括採集參數確定模塊和測量優先模塊的本發明示例性實施例 的視圖4歸出包括採集參數確定模±央、觀糧適應性模塊、測量優先模土央和處
理模塊的本發明示例性實施例的視亂
圖5歸出包括自動確定採集參數的本發明示例性實施例的流程圖6是示出包括以測量適應性 存取自動確定採集參數的本發明示例性
實施例的流程圖7是示出包括以測量優先數據存取自動確定採集參數的本發明示例性實 施例的流程圖8 ^出包括自動確定採集參數和源數據處理的本發明示例性實施例的 流程圖9^出包括自動確定採集參數、測量適應性 存取、測量優先f^ 存取和源 處理的本發明示例性實施例的流程圖10是示出包括應用優先數據的本發明示例性實施例的流程圖。
具體實施例方式
參考附圖最佳地理解本發明的實施例，其中在整個附圖中相同的部件以相 同的附圖標記表示。上面列出的附圖顯然被組合為該詳細說明的一部分。
容易理解，如這裡的附圖所總體描述和解釋，可以以多種不同配置，和 設計本發明的元件。因此下面對本發明的方法和系統的實施例所進行的詳細描 述不用於限制本發明的範圍而是其僅僅表示本發明當刺m的實施例。
本發明實施例的元件可以體現在硬體、固件和/或軟體中。雖然這裡所揭示 的示例性實施例僅僅描述了其中一種形式，但是本領域技術人員將能夠在本發 明的範圍內以任意的形式實現這些元件。
本發明的一些實施例包括允許^ffl者選擇用於計算和顯示的多個測量值或 者其組合的方法和系統。 一些實施例中，這些測量可以是利用來自單個採集石更 件系統的數據來實施的多次、不相關的測量。 一些實施例中，可對相同的數據 集計算測量值。其可用於保證所有結果之間的時間相關性。
一些實施例中，儀器可接收或者檢測所選擇的測量屬性並採用該數據進行 選擇、計算或者以別的方式確定將適應所選擇測量的採集參數。可確定將適合 於儘可能多的測量的採集參數。 一些實施例中，可根據規定的測量適應性規則 和/或測量優先規則選擇採集參數。 一些實施例中，用戶不需要設置甚至不需要 知道採集參數。
在可選擇的實施例中用戶可設置一些或者所有的採集參數。當用戶直接設
置採集參數時，這些實施例可證明所選擇採集參數之間的兼容性並向用戶JI^ 任何不兼容性。 一些實施例中，處理所產生的採集數據以便與一種或者多種測
量兼容。
一些實施例中，儀器可以產生組合測量值的相關結果。在一些實施例中， 可以以多域(例如時間、頻率、功率、相位等等)表示該結果。
在本發明的一些實施例中，定義為適應多測量的採集參數可包括採樣速率、 採集長度、採集頻率範圍、參照水平、信號路徑增益、衰減設置、抖動設置、 採樣數目、過濾和校正參數、輸入源選擇以及其它。
在本發明的一些實施例中，可對特定的一種觀懂或者多種測量優化採集參 數，如果可能則強制其它測量值採用所產生的數據。該優化可被預先設置為由 用戶選擇、自動確定或者以別的方式設置的預設值。
一些實施例中，採集參數可以被偏至朝向較高優先級的測量。優先級可以 由用戶設置、自動設置、設置為預設值或者以其它方式確定。
一些實施例中，可確定採集參數以便基於測量適應性或者公差參數^^f有 的測量值、大部分測量值或者測量的一些量或者程度產生理想的、良好的或者 可接受的結果。
一些實施例中，可預先確定、用戶選擇或者自動確定一個或多個測量機制。 一些實施例可通知用戶關於每次測量所產生的採集數據的適合性的內容。
一些實施例中，可以顯示例如"最優"、"OK"、"折茇'或#"不4頓"這樣的信息
以及測量M，以顯示設置採集參數以適應特別測量的良好程度。
本發明的一些實施例包括在參數大於或者小於理想值時的適應性數據或者 關於適應採集數據的每次領懂能力的信息。該信息可以和每個測量值相關聯並 被存儲在例如適應性存儲器的設備中或者可由測量系統中的其它實體管理或者 與觀懂系統通信，包括用戶登錄。
本發明的一些實施例還可包括數字重新採樣、過濾、頻移、以及其它對採 集數據的數字或者非數字處理以產生交替形式的採集記錄，每一個都適合於某 一種特別觀懂或者多種觀懂的組合。可由處理模塊實現這些功能。這些新的數
據記錄可具有和各種測iff需要的值相匹配的參數(例如採樣速率、記錄長度、 頻率範圍、水平等等)。
在本發明的示例性實施例中，可適應多個具有衝突的採集長度要求的測量。
在該瞎況下，採集設置可以允許兩種觀懂產生最佳結果。在該實例中，觀糧A 為光譜軌跡，其需要80微秒的採樣數據以獲得其選擇的解析度帶寬(RBW) 設置。觀糧B為脈衝速率計算，其需要1毫秒的採樣翻以覆蓋整個脈衝周期。
在這些實施例中，向適i^輯通告或者以別的方式向其通知對釆集長度的 這兩個需求。這些實施例然後可確定一個將採集長度設置為1毫秒的方案，這 是因為這些實施例可訪問如下信息領糧A育,處理過長的採集長度，和不能 以比指定更短的數據記 行測量B。在該實例中，採集1毫秒的採樣數據並 將其發送至雨巾測量。
在另一個示例性實施例中，進行採集記錄的捕獲後處理以使其適合於所選 擇的測量。在該實例中，測量A為光譜軌跡，其gf度為100MHz。測量B為誤 差向量幅度(EVM)測量，其測量帶寬為35MHz。在該實例中，示例性實施例 可確定100MHz的採集帶寬將為這兩種測量都提供合適的數據。這種情況下， 未更改的100-MHz記錄可被提供至光譜測量過程。該示例性實施例的系統然後 可將所採集的記錄ifff於數字過濾至35MHz的帶寬並且將所過濾(處理)的記錄 提供至EVM測量過程。
本發明的一些實施例可以包括具有變化的帶寬、解析度和其它性能的多採 集模塊(例如採集卡)。 一些實施例可以包括樹氐的^D摔、較寬的帶寬的採集 模塊以及較高的解析度、較窄的帶寬的採集模塊。當一種測量需要較寬帶寬的 採集模塊而一種測量需要較高解析度的採集模塊時，通過以較高解析度、較窄 帶寬的採集模塊採集多個數據記錄可以適應兩種測量。例如,當第一測量在高分 辨率下要求40MHz的帶寬而第二測量要求160MHz的帶寬(在較低解析度下) 並且高解析度採集模塊被限於40MHz寬的帶寬時，均可通過確定用於配置採集 模塊以40MHz寬的帶寬(例如0—40MHz， 40—80MHz， 80—120MHz和120 一160MHz)採集多條數據記錄的釆集參數皿應該兩種測量。然後可以根據這 些記錄計算的光譜軌跡"縫合"在一起以形成160MHz寬的結果軌跡。 一些情況 下，需要過濾或者以別的方式處理採集參數以滿足一種或者兩種測量的要求。
本發明實施例的基本原理可體現於硬體元件、固件元^牛或者代碼、軟fM戈 碼或者其它計算機可讀指令中。可參考圖1描述本發明的一些實施例。這些實 施例包括用於接收用戶輸入的用戶界面2。用戶可以向用戶界面2輸入測量選 項。這些測量選項可以包括測量定義和測量約束 。測量選項、測量定義和
測量約束數據可被稱作測量配置數據。 一些實施例中，用戶還可以輸入測量適 應性 和減測量優先級 。
這些實施例還可包括用於確定將適應所選的測量的採集參數的採集參數確
定模塊(APDM) 4。在選擇測量並且接收關於測量的任何附加的用戶輸A^後， APDM 4可以確定採集參數，該參數將配置用於採集適合於所選的測量的 的採集模塊6。在一些實施例中，包括其中對測量進行附加約束的實施例，還可 自動選擇採集參數以滿足那些約束。 一旦選擇了採集參數，則它們將被發送至 採集模塊(AM) 6和/或可以以別的方式用於配置AM6以採集所選的測量的源 數據。當源數據已經被收集時，該源數據可以被發送至輸出設備7，例如顯示器。 一些實施例中，源數據可以被發送至存儲器或者存儲設備9，在那裡源數據可以 被存儲以用於將來的訪問。
一些實施例中，從AM6輸出的源數據可能不適合直接顯示或者存儲。在 這些實施例中，AM6可將原始源數據發送到f^處理器8，在那裡可以處理源 數據以符合測量要求、輸出或者存儲約束或者其它約束。 一些實施例中，數據 處理器8可以執行信號處理任務，例如但不限於過濾、轉換以及其它處理。當 處理完成時，結果是處理後的源數據，其可被發送至測量過程、諸如顯示器這 樣的輸出設備7、存儲設備9或者其它位於AM6本地或者遠離AM6的目的地。
可參考圖2描述本發明的一些實施例。這些實施例包括用戶界面(UI) 20， 如在前面的示例性實施例中所描述的UI 2。UI 20可接收用戶輸入並向APDM 21 發送i^入。UI20還可接收與測量適應性相關的用戶輸入，例如可接受的測量 公差和其它數據，並向觀懂適應性模i央(MAM) 22發送該數據，該模塊可包 括數據存儲器(例如存儲器、硬驅動器等等)並且還可包括數據存取功能(例 如資料庫等等)。向MAM22的輸入可以在和測量配置數據不同的時間處被輸入 並且可以被存儲以備多測量4OT 。
測量ra數據可以被發送至APDM21 ，在那裡可基於所選擇的測量和任何 測量適應性數據來確定採集參數。測量適應性數據可用於確定可接受的測量公 差，其可以為確定是否同時進行多觀糧的因子。如果不能同時進行所選擇的測 量，則APDM21可向用戶報警該觀懂的不兼容性或者可以向用戶^供選擇的 測量或者測量適應性選項。如果可以以特定的採集參數組適應測量，則可以設 置該參數並將其發送至^^模塊(AM) 23以進行模塊配置。
在AM 23接收採集參數並配置模塊。然後可以用所配置的AM 23採, 數據。當通過一個或多個測量過程收集和處理源繊時，測量數據可被發送至 輸出設備24，例如顯示器。在一些實施例中，測量數據可以被發送至存儲器或 者存儲設備26，在那裡對其進行存儲以備將來訪問。
一些實施例中，從AM23輸出的源數據可能不適合於直接測量、顯示或者 存儲。在這些實施例中，AM23可向M處理器25發送原始的源M，在 處理器25中対、源數據進行處理以符合測量要求、輸出或者存儲約束或者其它約 束。 一些實施例中，數據處理器25可執行信號處理任務，例如但不限於過濾、 域轉換和其它處理。當處理完成時，可將被處理的源數據發送至測量過程、諸 如顯^&樣的輸出設備24、存儲設備26或者其它位於AM 23本iM遠離AM 23
的目的地。
可參考圖3描述本發明的一些實施例。這些實施例包括用戶界面(UI) 30， 如在前面所描述的示例性實施例中所描述的W。 UI 30還可接收測量優先級輸 入，所述輸入可被發送至測量優先級模塊(MPM) 32，在那裡其可以被存儲成 測量優先級 。測量優先級輸入和數據可包括關於觀懂的相對優先級的信息， 其包括但不限於是否可對一種測量的採集參數進^H周整以適應另一種觀糧。輸 入測量優先級可在測量選擇或者測量配置數據之前被輸入並被存儲以供以後使 用。
在UI30處接收的測量選擇數據和測量配置數據可被發送至APDM 31 ，在 APDM 31中測量選擇數據和測量配置數據可用於確定採集參數。還可以在 APDM 31處接收來自MPM 32的測量優先級數據並且與測量選擇數據和測量配 置數據一起使用以確定採集參數。 一旦確定了採集參數，則其可以被發送至採 集模塊(AM) 33和/或用於配置AM 33以進行 採集。配置的AM 33然後 可以採集源 並將該數據輸出至測量過程、顯示器34、存儲器36或者其它輸 出設備。
一些實施例中，從AM33輸出的源數據可能不適合於直接測量、顯示或者 存儲。 一些實施例中，AM33可向M處理器35發送原始的源繊，在那裡對 源數據進行處理以符合測量要求、輸出或者存儲約束或者其它約束。 一些實施 例中，數據處理器35可執行信號M任務例如但不限於過濾、轉換和其它處理。 當處理完成時，可將被處理的源數據發送至測量過程、諸如顯示器這樣的輸出
設備34、存儲設備36或者其它位於AM 33本地或者遠離AM 33的目的地。
可參考圖4描述本發明的一些實施例。這些實施例可包括用戶界面(UI) 50，如在前面所描述的示例性實施例中所描述的UI。這些實施例還可包括 MAM51和MPM52。當向APDM 53發送測量選擇時，可利用來自UI 50的輸 入、來自MAM51的適應性數據和來自MPM52的測量優先級數據，擇採集 參數。 一旦確定採集參數，貝U其將被用於配置採集模塊(AM) 54，然後利用所 配置的AM 54獲得源數據。AM 54所輸出的一些源數據可能不需要處理而被直 接發送至測量過程、輸出設備55或者存儲設備57。
一些實施例中，從AM54輸出的源娜可能不適合於直接測量、顯示或者 存儲。在這些實施例中，AM54可向I^處理器56發送原始的源數據，在那裡 可對源數據進行處理以符合測量要求、輸出或者存儲約束或者其它約束。 一些 實施例中，數據處理器56可執行信號處理任務例如但不限於過濾、轉換和其它 處理。當處理完成時，被處理的源數據可以被發送至測量過程、諸如顯示器這 樣的輸出設備55、存儲設備57或者其它位於AM 54本地或者遠離AM 54的目 的地。
可參考圖5描述本發明的一些實施例，圖5是示出示例性方法的步驟的流 程圖。在這些實施例中，例如在設備UI接收第一測量選擇60，艮P駛糧A。還可 接收第二測量選擇62，即測量B。這些實施例然後可確定64適合於配置AM以 採集適合於測量A和B的數據的採集參數。
可參考圖6描述本發明的一些實施例，圖6歸出測量設備所f頓示例性 方法的步驟的流程圖。在這些實施例中，接收第一觀糧A 70和第二測量B 72 的選擇。然後可存取測量適應性數據74以確定76是否可以找到將配置測量設 備以採集適合於測量A和B的數據的採集參數。採用測量選擇70和72以及適 應性數據74，當測量兼容時時可自動確定76採集參數。 一些實施例中，當測量 70和72不兼容時，可對用戶顯示衝突信息或者可以向用戶提示附加輸入。
可參考圖7描述本發明的一些實施例，圖7為示出由測量設備所JOT的示 例性方法的步驟的流程圖。這些實施例中，接fet第一測量A〃80和第二測量B 82的選擇。還可以從優先級模±央(PM)接收或者存取測量優先級 84。在 一種測量比另一種測量優先的情況下，當不能選擇兩種測量的理想採集參數時 可偏向於優先測量的參數。 一些情況下，可選擇採集參數以使得不優先的測量
的精度、解析度或者其它方面比理想情況差。通過該方式，可對測量儀器確定 86採集參數。
可參考圖8描述本發明的一些實施例，圖8為示出由測量設備所使用的示 例性方法的步驟的流程圖。這些實施例中，接TO第一測量A90和第二測量B 92的選擇。 一旦選擇了測量，則可自動確定94採集參數。在確定採集參數時， 如果在沒有處 集數據的情況下不能充分適應一種測量，則可在測量和/或顯 示99之前對該測量採集96數據並對其進行處理98。
可參考圖9描述本發明的一些實施例，圖9為示出由測量設備所使用的示 例性方法的步驟的流程圖。這些實施例中，接ilM第一測量A100和第二測量B 101的選擇。還可訪問102測量適應性數據以確定可更改測量選擇的程度或者可 調，集參數的程度，同時仍然產生可接收的測量結果。還可訪問103測量優 先級數據以確定一種測量是否優先於另一種測量。如果一種測量具有優先級， 則可優化該湖懂的採集參數，同時採集參數產頓於其它測量的非最佳結果。
一旦選擇了觀懂並獲得了適應性和優先級數據，則可自動確定腦採集參 數。然後可將這些參數發送105至採集模塊並且可以採用該參數來配置106採 集模塊。然後需要對該測穀集107娜。當需要進行處理以適應觀糧時，可 以處理108所採集的數據。在進行數據的採集107和處理108之後，必要地話， 可以處理數據並將結果發送至顯示器109以供用戶使用或者可以被存儲以備將 刺頓。
可參考圖10描述本發明的一些實施例，圖10為示出由測量設備所使用的 示例性方法的步驟的流程圖。這些實施例中，接TO第一觀糧A IIO和第二測 量B 111的選擇。這些實施例然後確定112測量A的理想採集參數是否與測量 B的理想採集參數衝突。如果沒有衝突，則選擇113理想參數並將其用於iSS 採集模塊。如果存在衝突，則可以考慮測量優先級。如果沒有測量對其它測量 存在優先級，貝拷慮測量適應性聽以確定115是否選擇將對測量A和B產生 可接受結果的採集參數。如果是，則選擇116那些採集參數並將其用於配置採 集模塊。如果不能選擇將對所有測量都產生可接受結果的採集參數，則可以顯 示117衝突信息，並且可以請求其它用戶輸入以解決衝突。 一些實施例中，當 出現衝突時可以自動省略測量。
如果一種測量對另一種測量具有優先級，則這些實施例可確定118優先級
須懂的理想參數是否將產tot於非優先級觀糧的可接魏果。如果這是可能的， 則選擇119優先級測量的理想採集參數並將其用於配置採集模塊。如果優先級 測量的理想參數對非優先級測量不產生可接受的數據，則可以確定120是否可 以找到對優先級和非優先級觀糧都產生可接受的f^的採集參數。如果這不能
實現，則可對用戶顯示衝突信息121禾n/或請求其它用戶輸入以解決該衝突。
在這裡就描述而非限制而言釆用了在前面的說明書中所利用的術語和表達 式，並且在1頓這些術語和表達式時沒有限制，這些術語和表達式包括示出和 描述或者其部分的特徵等價物，認識到僅僅由下面的權利要求書定義和限制本 發明的範圍。
權利要求
1.一種用於確定測量採集參數的裝置，所述裝置包括a)界面，用於接收第一測量選擇和第二測量選擇；和b)處理器，用於確定採集模塊的採集參數，其中所述採集參數用於配置所述採集模塊以採集適應所述第一測量和所述第二測量的源數據組。
2. 如權利要求l所述的體，還包括採集模塊。
3. 如權利要求l所述的驢，還包括測量適應性模塊。
4. 如權利要求l所述的裝置，還包括測量優先級模塊。
5. 如權利要求l所述的體，其中所述採集參數中的至少一鋪自於採 樣速率、採集長度、採集頻率範圍、參考水平、抖動設置、採樣數目、過濾和 校正參數、輸入源選擇、和信號路徑增益和衰減設置構成的組。
6. 如權禾腰求l所述的裝置，其中所述界面還接收測量適應性數據，其中 所述測量適應性數據用作所述確定採集參數中的因子。
7. 如權禾腰求l所述的錢，其中所述界面還接收測量優先級數據，其中 所述測量優先級 用作所述確定採集參數中的因子。
8. 如豐又利要求1所述的^S，還包括處理所述源數據組以適應所述第二測
9. 一禾中自動確定觀懂設備釆集參數的方法，所述方 跑括a) 接收第一測量選擇；b) 接收第二測量選擇；c) 確定採集模塊的採集參數，其中所,集參數用於isa所，集模塊以 採集適應所述第一觀懂和所述第二觀懂的源 組。
10. 如權利要求9所述的方法，還包括接收測量適應性mi居，其中所述測量適應性數據用在所述確定採集參數中。
11. 如權利要求9所述的方法，還包括接收測量優先級數據，其中所述測量優先級數據用在所述確定採集參數中。
12. 如權禾腰求9所述的方法，其中所述採集參數中的至少一個選自於採樣速率、採集長度、採集頻率範圍、 參考水平、抖動設置、採樣數目、過濾湘校正參數、輸入源選擇、和信號路徑 增益和衰減設置構成的組。
13、 如權利要求9所述的方法，還包括 處理所述翻組以適應所述第二測量。
14、 一種用於確定測量採集參數的裝置，所述裝置包括a) 界面，用於接收第一測量選擇和第二測量選擇；b) 適應性存儲器，用於存儲測量適應性數據；C)採集參數確定模塊，用於確定採集模塊的採集參數，其中所述採集參數 用於配置所述採集模塊以採集適應所述第一測量和所述第二測量的源數據組； 以及d)處理器，用於處理所述源數據組以滿足所述第一測量和所述第二測量中 的至少一個的條j牛。
15、 如權利要求14所述的裝置，還包括採集模塊。
16、 如權利要求14所述的裝置，其中所述採集參數中的至少一個是選自於採樣速率、採集長度、採集頻率範圍、參考水平、抖動設置、採樣數目、過濾和校正參數、輸入源選擇、和信號路徑增益和衰減設置構成的組。
17、 如權利要求14所述的裝置，其中所述界面還接收測量適應性數據，其中所述測量適應性 被儲存在所述 適應性存儲器中且並被用作所述確定採集參數中的因子。
18、 如權禾腰求14所述的裝置，還包括優先級存儲器，其用於存儲測量優先級數據，其中所述界面還接收測量優 先級數據，並且其中所述測量優先級數據被存儲在所述優先級存儲器中並且被 用作所述確定採 數中的因子。
19、 如權禾腰求14所述的裝置，其中 所述確定採集參數考慮了處理所採集的源數據的影響。
20、 如權利要求14所述的裝置，其中當不能確定適應所述第一測量和所述第二觀懂的採集參數時，所述採集參 數確定模塊輸出衝突信息。
21、 一種適應來自單個娜組的多個測量的裝置，所述裝置包括a)界面，用於接收用於第一觀懂的第一觀懂MS2娜和用於第二測量的第 b) 接收器，用於接收源數據組；以及c) 處理器，用於處理所述源數據組以適應不能被所述源 鄉11:接適應的所述第一測量和所述第二測量中的一個。
全文摘要
本發明的實施例包括確定測量裝置的採集參數和相關處理的系統和方法。
文檔編號G06F15/00GK101366014SQ200680040728
公開日2009年2月11日 申請日期2006年11月3日 優先權日2005年11月4日
發明者C·D·布賴恩特, K·A·恩格霍姆, Y·賀 申請人:特克特朗尼克公司