一種同時適於測試線路板上各種電子元件參數的表筆的製作方法

2023-06-30 01:36:16

專利名稱：一種同時適於測試線路板上各種電子元件參數的表筆的製作方法
技術領域：
一種同時適於測試線路板上各種電子元件參數的表筆所屬領域本實用新型涉及萬用表等測量儀器儀表所配用的測試表筆，尤其是同 時適用於測試已焊接或插接在線路板上的各種電子元件參數的表筆。
背景技術：
眾所周知，現有的萬用表等測量儀器儀表所配測試表筆，由絕緣的筆桿、頂端為尖 錐形的金屬探針、導線及導線插頭等構成。現有表筆用於測試已焊接或插接在線路板上的電子元器件，如測試集成電路塊的 相關參數，由於集成電路塊的引出腳是一個接一個緊密排列的，相鄰兩個引出腳間只有很 小的間隙，當現有表筆的探針磁觸所測引出腳時，由於並無固定接觸位置的結構功能，尖滑 的探針極易從所測引出腳滑落，同時碰觸到相鄰的引出腳，引起測量結果的不實變化。若集 成電路塊處於通電狀態，則還可能造成短路，燒毀集成電路塊。如測試三極體中間的一極， 則易碰觸旁邊的兩極。有的元件如電阻，往往位置緊貼線路板，引出線很短，現有表筆電不 易穩定地與之接觸。
發明內容針對現有表筆的上述不足，本實用新型提供一種適用於測試線路板上各種電子元 件的表筆，通過改變探針端形狀，可以讓表筆方便可靠地與所測引出腳接觸，不易與相鄰引 出腳相碰。該表筆仍由筆桿、探針、導線及導線插頭構成，但探針頭部形狀由尖錐形改為如圖 1所示的扁平狀，中間開有一個小凹口，其總寬度應小於集成電路塊引出腳最大寬度。用 於線路板上集成電路塊測試時，探針頭部插置於所測引出腳與其插孔之間存在的微小縫隙 處，這樣可以既保證與所測引出腳可靠接觸，又不會左右移動與相鄰引出腳相碰。用於線路 板上電阻、二極體、三極體等電子元件上參數測試時，可以探針頭部的凹口，卡住所測引出 腳，保證穩定可靠的接觸。

圖1探針頭部形狀和測試位置示意圖附圖標記1、插座；2、集成電路塊；3、插孔；4、引出腳；5、集成電路塊測試位置示 意；6、探針頭部
具體實施方式
探針的後半部嵌入筆桿，在筆桿中間與導線相連，導線的另一端連接插頭，插頭的 類型視所配屬的儀表而定(如是配萬用表還是配示波器)。探針的頭部為如圖1所示的扁 平狀，中間開有一小凹口，其頭部總寬度小於集成電路塊引出腳最大寬度。
權利要求一種同時適於測試線路板上各種電子元件參數的表筆.由探針、筆桿、導線及導線插頭構成，其特徵是探針頭部形狀為扁平狀，中間開有一小凹口。
專利摘要一種同時適用於測試線路板上各種電子元件參數的表筆，其探針頭部形狀由尖錐形改為扁平狀，中間並開有一小凹口，可以方便可靠地與所測試的線路板上的集成電路塊、電阻、三極體等電子元件的引出腳接觸。
文檔編號G01R1/02GK201576007SQ20092017199
公開日2010年9月8日 申請日期2009年5月12日 優先權日2009年5月12日
發明者強曉明 申請人:強曉明