一種適用於多種引腳微小間距的晶片測試探針的製作方法
2023-06-15 03:05:31
一種適用於多種引腳微小間距的晶片測試探針的製作方法
【專利摘要】本發明公開了一種適用於多種引腳微小間距的晶片測試探針,該測試探針能夠自由變換測量探針之間的間距，不僅可以對標準引腳間距的晶片進行測量，而且可以對非標引腳間距的晶片進行測量；該測試探針還具有引腳定位功能，測量者只需要根據晶片引腳間距調整好金屬探針位置，即可根據引腳定位孔直接進行測量，節省了時間，提高了效率，且結構簡單，適於工業化實施。
【專利說明】-種適用於多種引腳微小間距的晶片測試探針
【技術領域】
[0001] 本發明屬於硬體設計測試【技術領域】，具體是一種適用於多種引腳微小間距的晶片 測試探針。該探針能夠對多種不同封裝、不同引腳間距的晶片進行測試，並且具備了獨特的 可調節探針間距功能，可以有效地解決由於傳統示波器探針過粗無法測量引腳間距過小的 晶片問題。
【背景技術】
[0002] 隨著集成電路產業的迅速發展，晶片的尺寸越來越小，集成規模越來越大，實現的 功能也越來越複雜，廣泛的應用於各個行業，成為人類生活中不可或缺的一部分。但是與芯 片產業的快速發展不同的是，晶片的測試手段和測量工具的發展並沒有隨著晶片的複雜度 的提升而得到應有的進步。面對功能不斷增加、引腳數目日益增多的晶片，如何針對晶片所 具有的功能進行全面的、準確的測試已經成為業界日益關注的問題。
[0003] 在硬體電路的調試過程中，如果晶片出現異常，需要對晶片的某些信號進行監測 和故障定位，傳統的也是最常用的方法是採用示波器對晶片的引腳上的信號進行採集，觀 察晶片引腳上的信號的波形，進而對故障進行定位排除。然而，隨著晶片的功能和複雜程度 的增加，晶片在面積不變的趨勢下引腳數目越來越多，導致了晶片引腳間的間距越來越小。 傳統的示波器的探針由於探針過粗而無法對晶片引腳進行有效的測量，而且過密的引腳數 目使得測試人員在對故障區域引腳進行定位也變得十分困難。
【發明內容】
[0004] 針對現有技術的不足，本發明擬解決的技術問題是：提供一種適用於多種引腳微 小間距的晶片測試探針。該測試探針能夠自由變換測量探針之間的間距，不僅可以對標準 引腳間距的晶片進行測量，而且可以對非標引腳間距的晶片進行測量；該測試探針還具有 引腳定位功能，測量者只需要根據晶片引腳間距調整好金屬探針位置，即可根據引腳定位 孔直接進行測量，節省了時間，提高了效率，且結構簡單，適於工業化實施。
[0005] 本發明解決所述技術問題的技術方案是：設計一種適用於多種引腳微小間距的芯 片測試探針。其特徵在於該測試探針由測量電路板、金屬探針、連接器、支架和測試端點組 成；所述測量電路板上一端有用於連接連接器的PAD點，另一端有用於測量信號的測試端 點，PAD點與測試端點以印製線的形式直接相連；所述金屬探針的根數根據應用場合定製， 安裝在連接器上，間距固定，且呈一直線排列；金屬探針可以在連接器上伸縮，與連接器靠 二者之間的摩擦阻力連接，伸縮時，用手將金屬探針推至合適位置即可；所述連接器其金屬 探針連接端為一排孔槽，用於安裝金屬探針，孔槽的個數與金屬探針的根數相同；所述連接 器上的孔槽採用標準圓形孔槽結構，金屬探針的根部與孔槽以可插拔的方式連接，在對非 標準間距的晶片引腳進行測量時，可將多餘的金屬探針拔出，不會影響測量效果；所述連接 器的電路連接端與測量電路板上的PAD點相連接，測量電路板上的測試端點的個數與連接 器上孔槽的個數相同，所述孔槽與測試端點經過PAD點直線電連通，並與測試端點以相同 數字編號的形式一一對應；所述測量電路板四角安裝有支架，用於對測試探針進行支撐。
[0006] 與現有技術相比，本發明的有益效果是：
[0007] 1.本發明有效解決了晶片間距過小時，示波器探頭無法有效對晶片進行測量的問 題，使得測量人員在不用更換示波器探頭的情況下，能夠對小間距晶片進行測量。
[0008] 2.本發明通過採用可插拔探針設計，使其在不用更換其他測量工具的情況下，就 可以測量不同引腳間距的晶片，具有極高的靈活性和通用性。
[0009] 3.本發明採用了 L型探針和測量板四周配有塑料支架設計，使得探針與晶片引腳 之間的接觸更加可靠，提高了測量的準確性。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0010] 圖1為本發明適用於多種引腳微小間距的晶片測試探針一種實施例的俯視示意 圖。
[0011] 圖2為本發明適用於多種引腳微小間距的晶片測試探針一種實施例的仰視示意 圖。
[0012] 圖3為本發明適用於多種引腳微小間距的晶片測試探針一種實施例的側視示意 圖。
【具體實施方式】
[0013] 下面結合具體實施例及附圖詳細敘述本發明。
[0014] 本發明設計的適用於多種引腳微小間距的晶片測試探針（簡稱測試探針，參見圖 1-3)，其特徵在於：該測試探針由測量電路板1、金屬探針2、連接器3、支架4和測試端點5 組成；所述測量電路板1上一端有用於安裝連接器3的PAD點11，另一端有用於測量信號 的測試端點5, PAD點11與測試端點5以印製線的形式直接相連；
[0015] 所述金屬探針2的根數根據應用場合定製，安裝在連接器3上，間距固定，且呈一 直線排列；金屬探針2可以在連接器3上伸縮，與連接器3靠二者之間的摩擦阻力連接，伸 縮時，用手將金屬探針2推直合適位置即可；
[0016] 所述連接器3其金屬探針連接端為一排孔槽，用於安裝金屬探針2,孔槽的個數與 金屬探針2的根數相同；所述連接器3上的孔槽採用標準圓形孔槽結構，金屬探針2的根部 與孔槽以可插拔的方式連接，在對非標準間距的晶片引腳進行測量時，可將多餘的金屬探 針2拔出，不會影響測量效果；
[0017] 所述連接器3的電路連接端與測量電路板1上的PAD點11相連接，測量電路板1 上的測試端點5的個數與連接器3上孔槽的個數相同，所述孔槽與測試端點5經過PAD點 11直線電連通，並與測試端點5以相同數字編號的形式一一對應；所述測量電路板1四角 安裝有支架4,用來對測試探針進行支撐。
[0018] 本發明測試探針的使用方法是：在對晶片進行測量時，首先確定晶片引腳的數量 η和間距s (mm)，根據間距s來推算出兩個引腳之間要拔出的金屬探針數目m，具體計算公式 為⑴式：
[0019] m = (s/0. 1) -1 (1)
[0020] 然後從第一個金屬探針開始，兩個金屬探針之間拔出m個金屬探針，保證金屬探 針2間距與晶片引腳間距一致。將裝有金屬探針2的一側與需要測量的晶片引腳對齊，且 保證可靠連接；測量時，根據晶片電路圖找出待測引腳的編號，根據編號在測量電路板1上 找出相應的測試點，用示波器探頭進行測量。
[0021] 下面給出具體的實施例。
[0022] 實施例1
[0023] 定製的測量電路板1整體呈長方形，尺寸為50mmX100mmXl· 6mm ;測量電路板1 中間具有76個測試端點5,配套的連接器3上有76個孔槽，兩孔之間間距0. 1mm，可安裝76 根金屬探針2 ;所述連接器3是根據貴州航天電器股份有限公司3412廠的J56-32ZK2進行 定製的，整體大致呈倒U型，倒U的兩支腳一長一短，長支腳與測量電路板1相連，短支腳上 安裝有向外延伸的連接板，孔槽位於連接板的下端；選用的金屬探針2為L型金屬探針，直 徑為0. 1mm，共計76個，可以測量最大距離為15. 2cm，滿足一般晶片的要求；所述支架4為 可伸縮的塑料支架，採用螺旋機構實現自身高度的調節，進而調節測試探針的高度，以適應 不同厚度的待測晶片。本實施例中支架4的高度可在20-60_範圍內調節。
[0024] 工作原理與過程：根據待測晶片的引腳規格來確定測試探針的金屬探針2的根數 與間距，調整好測試探針後將其金屬探針2與待測晶片的引腳接觸。將外接示波器的探頭 與測量電路板1上的測試端點5相連，金屬探針2將測試到的信息信號通過電路傳送到測 試端點5後，示波器探頭讀取信號，最後根據示波器上的輸出信號來分析該晶片的故障狀 況。
[0025] 本發明未述及之處適用於現有技術。
【權利要求】
1. 一種適用於多種引腳微小間距的晶片測試探針，其特徵在於該測試探針由測量電路 板、金屬探針、連接器、支架和測試端點組成；所述測量電路板上一端有用於連接連接器的 PAD點，另一端有用於測量信號的測試端點，PAD點與測試端點以印製線的形式直接相連； 所述金屬探針的根數根據應用場合定製，安裝在連接器上，間距固定，且呈一直線排列；金 屬探針可以在連接器上伸縮，與連接器靠二者之間的摩擦阻力連接；所述連接器其金屬探 針連接端為一排孔槽，用於安裝金屬探針，孔槽的個數與金屬探針的根數相同；所述連接器 上的孔槽採用標準圓形孔槽結構，金屬探針的根部與孔槽以可插拔的方式連接；所述連接 器的電路連接端與測量電路板上的PAD點相連接；測量電路板上的測試端點的個數與連接 器上孔槽的個數相同，所述孔槽與測試端點經過PAD點直線電連通，並與測試端點以相同 數字編號的形式一一對應；所述測量電路板四角安裝有支架。
2. 根據權利要求1所述的適用於多種引腳微小間距的晶片測試探針，其特徵在於： 所述支架為可伸縮的塑料支架，採用螺旋機構實現自身高度的調節，高度調節範圍在 20-60mm〇
3. 根據權利要求1所述的適用於多種引腳微小間距的晶片測試探針，其特徵在於：所 述測量電路板整體呈長方形，尺寸為50mmX lOOmmX 1. 6mm ;測量電路板中間具有76個測試 端點，配套的連接器上有76個孔槽，兩孔之間間距0. 1mm ;所述連接器是根據貴州航天電 器股份有限公司3412廠的J56-32ZK2進行定製的，整體大致呈倒U型，倒U的兩支腳一長 一短，長支腳與測量電路板相連，短支腳上安裝有向外延伸的連接板，孔槽位於連接板的下 端；選用的金屬探針為L型金屬探針，直徑為0. 1_，共計76個，測量最大距離為15.2cm。
【文檔編號】G01R1/073GK104090135SQ201410294352
【公開日】2014年10月8日 申請日期:2014年6月26日 優先權日:2014年6月26日
【發明者】李鑫, 朱天成, 楊陽 申請人:中國航天科工集團第三研究院第八三五七研究所