顯示器及其接合阻抗的檢測系統以及檢測方法
2023-06-10 14:45:51 3
專利名稱：顯示器及其接合阻抗的檢測系統以及檢測方法
技術領域：
本發明涉及一種顯示器及其接合阻抗的檢測系統以及檢測方法。
背景技術：
一般來說，顯示器除了顯示面板之外，還包括了電路板以及驅動晶片以驅動顯示 面板的影像顯示。通常顯示器在製作完成之後，都會進行一系列的檢測程序以確認顯示器 的顯示質量是否符合標準。目前，對於顯示面板與電路板之間的接合阻抗以及顯示面板與驅動晶片之間的接 合阻抗的檢測方式，是使用自動光學檢測機臺來進行。但是，自動光學檢測機臺僅能判斷出 顯示面板與電路板之間以及顯示面板與驅動晶片之間的壓合導電顆粒數量以及相對位置 是否正常。換言之，自動光學檢測機臺無法檢測出顯示面板與電路板之間以及顯示面板與 驅動晶片之間實際的接合阻抗值是多少。另一種接合阻抗的檢測方式是另外提供電壓給顯示面板上的兩相鄰的導線上以 判斷是否有短路現象，進而確認是否有壓合異常的情形。對於此種檢測方法，若有壓合缺陷 時通常會直接反應在點亮的顯示面板上(例如有閃爍或過度耗電流等等)，但是並非所有 的壓合缺陷都可以都能通過此種方法檢測出來，因而經常造成遺漏篩選出不良品的情形。 而且上述方法也較為複雜且費時。
發明內容
本發明提供一種顯示器及其接合阻抗的檢測系統以及檢測方法，其可以精確且快 速地檢測出接合阻抗是否正常。本發明提出一種顯示器的接合阻抗的檢測系統，包括顯示面板、至少一電路板、至 少一驅動晶片以及測試板。顯示面板具有至少一測試導線以及多條連接導線。電路板與顯 示面板的測試導線以及連接導線電性連接。驅動晶片包括多個連接接點以及至少一測試接 點，其分別與顯示面板的連接導線以及測試導線電性連接；至少一比較器，其與測試接點電 性連接；以及至少一判斷邏輯電路，其與比較器電性連接。測試板與電路板電性連接。特別 是，測試板提供測試信號，且測試信號經電路板與測試導線而傳遞至驅動晶片的測試接點 之後，測試信號在比較器中與參考信號比較，再由判斷邏輯電路判斷所述比較器的比較結果。本發明另提出一種顯示器的檢測方法，此方法包括提供顯示器，其包括顯示面板、 與顯示面板電性連接的至少一電路板及至少一驅動晶片以及與電路板電性連接的測試板， 且上述的顯示面板具有至少一測試導線以及多條連接導線。接著進行接合阻抗的測試程 序，所述程序包括由測試板提供測試信號，其中測試信號經電路板與測試導線而傳遞至驅 動晶片。將測試信號與參考信號進行比較。倘若測試信號大於參考信號時，則經連接導線 其中之一輸出第一信號。倘若測試信號小於參考信號時，則經連接導線其中之一輸出第二 信號。
本發明再提出一種顯示器，包括顯示面板、至少一電路板以及至少一驅動晶片。顯 示面板具有至少一測試導線以及多條連接導線。電路板與顯示面板的測試導線以及連接導 線。驅動晶片包括多個連接接點以及至少一測試接點，其分別與顯示面板的連接導線以及 測試導線電性連接；至少一比較器，其與測試接點電性連接；以及至少一判斷邏輯電路，其 與比較器電性連接。基於上述，本發明在驅動晶片上設置測試接點並且設置對應的比較器以及判斷邏 輯電路，通過比較器以及判斷邏輯電路的輸出信號來判斷接合阻抗的良莠。因此本發明的 檢測系統及檢測方法相較於傳統方法具有更精確判斷接合阻抗良莠以及更快速完成檢測 的優點。為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附附圖 作詳細說明如下。
更詳細而言，倘若判斷邏輯電路308判斷比較器306中的測試信號(電壓值Vin) 大於參考信號(Vref)時，則判斷邏輯電路308將所述比較結果則經連接導線110其中之一 輸出第一信號(例如輸出1)，其表示測試結果為正常。根據本實施例，上述的第一信號更輸 出至測試板400。之後，便可通過與測試板400電性連接的微處理器(MCU)而快速的判讀整 體的接合阻抗為正常。相反地，倘若判斷邏輯電路308判斷比較器306中的測試信號(電壓值Vin)小於 參考信號(Vref)時，表示測試信號除了歷經驅動晶片300與顯示面板100之間的接合阻 抗(R3)、測試導線112的阻抗(R2)以及電路板200與顯示面板100之間的接合阻抗(Rl) 之外，還歷經了額外的阻抗(Rx)，所述額外的阻抗(Rx)可能是由驅動晶片300與顯示面板 100之間的異常接合或/及電路板200與顯示面板100之間的異常接合所計算出來的值。 因此，此時判斷邏輯電路308將所述比較結果則經由連接導線110其中之一輸出第二信號 (例如輸出0)，其表示測試結果為異常。之後，便可通過與測試板400電性連接的微處理器 (MCU)而快速的判讀整體的接合阻抗為異常。圖4是根據本發明另一實施例的顯示器的接合阻抗的檢測系統的示意圖。圖4的 實施例與圖1實施例相似，因此與圖1相同的組件以相同符號表示，且不再重複贅述。圖4 的實施例與圖1的實施例不同之處在於本實施例在驅動晶片300除了設置有多個連接接點 302之外，還設置了三個測試接點304，所述三個測試接點304是分別設置在驅動晶片300 的左側位置、中間位置以及右側位置。而對應上述三個測試接點304下方的顯示面板100 中也設置了三個測試導線112(測試接墊112b)。特別是，上述三個測試接點304與比較器 306電性連接。本發明可依照測試需求在驅動晶片300設置一或多個測試接點304，並且在 顯示面板100中設置對應的一或多個測試導線112(測試接墊112b)，其設置位置可以依照 需求調整，並不需要特別限制。當在進行接合檢測時，可以分別由測試板400對上述三個測試接點304輸出測試 信號(電壓值Vx)。之後，測試信號(Vin)在比較器306中會與參考信號Vref進行比較，之 後再由判斷邏輯電路308判斷上述比較器306的比較結果。本實施例在驅動晶片300的左側位置、中間位置以及右側位置設置三個測試接點 304，可以更進一步的檢測出驅動晶片300與顯示面板100之間的接合阻抗在不同位置是否 有異常。特別是，對於使用越大尺寸的驅動晶片300的顯示器，此種設計對於測接合阻抗的 精確度越有幫助。另外，圖4的實施例是以在驅動晶片300的左側位置、中間位置以及右側位置設置 三個測試接點304為例來說明，但本發明不限於此。根據其它實施例，亦可以在驅動晶片 300的左側位置以及右側位置設置二個測試接點304 ；或者是在驅動晶片300設置三個以上 的測試接點。再者，倘若在驅動晶片300設置多個測試接點304，則除了可設置一組共享的比較 器306與判斷邏輯電路308之外，也可以對應每一個測試接點即設計一組比較器306與判 斷邏輯電路308。圖5是根據本發明一實施例的顯示器的檢測方法的流程圖。請參照圖5，在本實施 例中，顯示器的檢測方法包括先提供顯示器(SlO)。所述顯示器可以是液晶顯示器、有機電 致發光顯示器、電泳顯示器、等離子顯示器或是其它平面顯示器。
接著，進行點亮測試(步驟SU)。所述點亮測試是將顯示器全點亮，以檢視顯示器 的整體畫面是否有異常的點亮畫面或缺陷。倘若在點亮測試(步驟SU)中發現有異常，則 此顯示器則會被判定為不良品(步驟Si； )。上述不良品將視不良嚴重程度而作報廢或者是重工。倘若在點亮測試(步驟S12)結果為正常，則將接著進行接合阻抗測試(步驟 S14)。在本實施例中，接合阻抗測試(步驟S14)可採用如圖1所述的接合阻抗的檢測系統 或者是採用如圖4所示的接合阻抗的檢測系統。倘若在接合阻抗測試(步驟S14)中發現有異常，則此顯示器則會被判定為不良品 (步驟S15)。換言之，此不良品可能是其驅動晶片與顯示面板之間的接合阻抗過高或/及 電路板與顯示面板之間的接合阻抗過高。一般來說，當判定顯示器的驅動晶片與顯示面板 之間的接合阻抗過高或/及電路板與顯示面板之間的接合阻抗過高時，會對顯示器的驅動 晶片與顯示面板的接合程序或/及電路板與顯示面板的接合程序進行重工。在完成上述的 重工程序之後，再重新進行接合阻抗測試(步驟S14)。倘若在接合阻抗測試(步驟S14)的結果為正常，則表示此顯示器為良品(步驟 S16)，也就是達到可以出貨標準。在上述步驟S16中，當顯示器被判定為良品之後，在出貨之前，會將接合阻抗的檢 測系統(圖1或圖4)中的測試板移除，而形成如圖6A或圖6B所示的顯示器。更詳細來說， 圖6A的顯示器是使用圖1的檢測系統進行接合檢測之後的顯示器的示意圖，圖6B的顯示 器是使用圖4的檢測系統進行接合檢測之後的顯示器的示意圖。在圖6A以及圖6B的顯示 器中，其驅動晶片300內都留下了測試接點304、比較器306及判斷邏輯電路308 (甚至是緩 存器310)。由於上述各測試用的組件僅與顯示面板100的測試導線112有電性連接的關 系，這些測試用的組件的存在並不會影響顯示器的顯示操作。綜上所述，本發明在顯示器的驅動晶片上設置了測試接點並且設置對應的比較器 以及判斷邏輯電路，通過比較器以及判斷邏輯電路的輸出信號即可判斷顯示器中顯示面板 與驅動晶片之間的接合阻抗及/或顯示面板與電路板之間的接合阻抗的良莠。因此，本發 明的檢測系統及檢測方法相較於傳統方法具有更精確判斷接合阻抗良莠以及更快速完成 檢測的優點當然，本發明還可有其它多種實施例，在不背離本發明精神及其實質的情況下，熟 悉本領域的技術人員當可根據本發明作出各種相應的改變和變形，但這些相應的改變和變 形都應屬於本發明所附的權利要求的保護範圍。
權利要求
1.一種顯示器的接合阻抗的檢測系統，其特徵在於，包括一顯示面板，其具有至少一測試導線以及多條連接導線；至少一電路板，其與該顯示面板的該測試導線以及這些連接導線電性連接；至少一驅動晶片，其包括多個連接接點以及至少一測試接點，其分別與該顯示面板的 這些連接導線以及該測試導線電性連接；至少一比較器，其與該測試接點電性連接；至少 一判斷邏輯電路，其與該比較器電性連接；以及一測試板，其與該電路板電性連接，其中該測試板提供一測試信號，該測試信號經該電路板與該測試導線而傳遞至該驅動 晶片的該測試接點之後，該測試信號在該比較器中與一參考信號比較，再由該判斷邏輯電 路判斷該比較器的一比較結果。
2.根據權利要求1所述的顯示器的接合阻抗的檢測系統，其特徵在於，該測試導線包 括一測試接墊，其中該測試接點經該測試接墊而與該測試導線電性連接。
3.根據權利要求1所述的顯示器的接合阻抗的檢測系統，其特徵在於，該判斷邏輯電 路判斷該比較器的該比較結果之後，更包括將該比較結果經該連接導線其中之一輸出至該 測試板。
4.根據權利要求1所述的顯示器的接合阻抗的檢測系統，其特徵在於，該驅動晶片更 包括一緩存器，該判斷邏輯電路判斷該比較器的該比較結果是寄存於該緩存器中。
5.根據權利要求1所述的顯示器的接合阻抗的檢測系統，其特徵在於，該驅動晶片包 括三個測試接點，其分別設置在該驅動晶片的一左側位置、一中間位置以及一右側位置。
6.根據權利要求1所述的顯示器的接合阻抗的檢測系統，其特徵在於，該至少一驅動 晶片包括至少一柵極驅動晶片、至少一源極驅動晶片、至少一整合晶片或是其組合。
7.根據權利要求1所述的顯示器的接合阻抗的檢測系統，其特徵在於，該至少一電路 板包括至少一軟性電路板。
8.—種顯示器的檢測方法，其特徵在於，包括提供一顯示器，其包括一顯示面板、與該顯示面板電性連接的至少一電路板及至少一 驅動晶片以及與該電路板電性連接的一測試板，該顯示面板具有至少一測試導線以及多條 連接導線；進行一接合阻抗的測試程序，其包括由該測試板提供一測試信號，其中該測試信號 經該電路板與該測試導線而傳遞至該驅動晶片；將該測試信號與一參考信號進行一比較步 驟；倘若該測試信號大於該參考信號時，則經該連接導線其中之一輸出一第一信號；以及 倘若該測試信號小於該參考信號時，則經該連接導線其中之一輸出一第二信號。
9.根據權利要求8所述的顯示器的檢測方法，其特徵在於，在進行該接合阻抗的測試 程序之前，更包括進行一點亮測試程序。
10.根據權利要求8所述的顯示器的檢測方法，其特徵在於，倘若該測試信號的電壓值 大於該參考信號的電壓值時，該第一信號表示測試結果為正常。
11.根據權利要求8所述的顯示器的檢測方法，其特徵在於，倘若該測試信號的電壓值 小於該參考信號的電壓值時，該第二信號表示測試結果為異常。
12.根據權利要求8所述的顯示器的檢測方法，其特徵在於，該驅動晶片包括至少一測試接點，其與該顯示面板以及該電路板電性連接；至少一比較器，其與該測試接點電性連接；以及至少一判斷邏輯電路，其與該比較器電性連接。
13.根據權利要求12所述的顯示器的檢測方法，其特徵在於，該驅動晶片更包括一緩 存器，該第一信號或該第二信號輸暫存於該緩存器中。
14.根據權利要求12所述的顯示器的檢測方法，其特徵在於，該驅動晶片包括三個測 試接點，其分別設置在該驅動晶片的一左側位置、一中間位置以及一右側位置。
15.根據權利要求8所述的顯示器的檢測方法，其特徵在於，更包括將該第一信號或該 第二信號輸出至該測試板。
16.一種顯示器，其特徵在於，包括一顯示面板，其具有至少一測試導線以及多條連接導線；至少一電路板，其與該顯示面板的該測試導線以及這些連接導線；至少一驅動晶片，其包括多個連接接點以及至少一測試接點，其分別與該顯示面板的 這些連接導線以及該測試導線電性連接；至少一比較器，其與該測試接點電性連接；以及 至少一判斷邏輯電路，其與該比較器電性連接。
17.根據權利要求16所述的顯示器，其特徵在於，該測試導線包括一測試接墊，其中該 測試接點經由該測試接墊跟該測試導線電性連接。
18.根據權利要求16所述的顯示器，其特徵在於，該驅動晶片更包括一緩存器。
19.根據權利要求16所述的顯示器，其特徵在於，該驅動晶片包括三個測試接點，其分 別設置在該驅動晶片的一左側位置、一中間位置以及一右側位置。
20.根據權利要求16所述的顯示器，其特徵在於，該至少一驅動晶片包括至少一柵極 驅動晶片、至少一源極驅動晶片、至少一整合晶片或是其組合。
21.根據權利要求16所述的顯示器，其特徵在於，該至少一電路板包括至少一軟性電 路板。
全文摘要
本發明公開一種顯示器及其接合阻抗的檢測系統，包括顯示面板、至少一電路板、至少一驅動晶片以及測試板。顯示面板具有至少一測試導線以及多條連接導線。電路板與顯示面板的測試導線以及連接導線電性連接。驅動晶片包括多個連接接點以及至少一測試接點，其分別與顯示面板的連接導線以及測試導線電性連接；至少一比較器，其與測試接點電性連接；以及至少一判斷邏輯電路，其與比較器電性連接。測試板與電路板電性連接。特別是，測試板提供測試信號，且測試信號經電路板與測試導線而傳遞至驅動晶片的測試接點之後，測試信號在比較器中與參考信號比較，再由判斷邏輯電路判斷所述比較器的比較結果。本發明亦公開一種顯示器的檢測方法。
文檔編號G01R27/02GK102122478SQ201010547268
公開日2011年7月13日 申請日期2010年11月12日 優先權日2010年11月12日
發明者林能毅, 陳志明 申請人:友達光電股份有限公司