一種天線測試的方法和系統、以及無線終端的製作方法
2023-05-30 02:30:01
一種天線測試的方法和系統、以及無線終端的製作方法
【專利摘要】本發明提供一種天線測試的方法和系統、以及無線終端，涉及天線領域，能夠降低天線測試的誤測率。所述方法應用於無線終端，所述無線終端包括天線和測試電路，所述測試電路的一端電連接所述天線，另一端電連接所述無線終端外部的測試設備，所述方法包括：所述測試電路接收所述測試設備發出的測試信號，並將所述測試信號傳輸給所述天線；所述測試電路接收由所述天線反射的與所述測試信號對應的反射信號，並將所述反射信號傳輸給所述測試設備，以使所述測試設備根據所述測試信號與所述反射信號確定所述天線的參數。本發明用於天線測試技術中。
【專利說明】一種天線測試的方法和系統、以及無線終端
【技術領域】
[0001]本發明涉及天線領域，尤其涉及一種天線測試的方法和系統、以及無線終端。
【背景技術】
[0002]隨著無線應用的豐富，越來越多的天線集成到同一個無線終端上。例如，在手機、平板電腦、多功能播放器等消費類無線終端上，可能會集成有全球定位系統(GlobalPositioning System, GPS)、無線保真(Wireless Fidelity, W1-Fi)、全球移動通信系統(Global System for Mobile Communications,GSM)/碼分多址(Code Division MultipleAccess, CDMA/通用移動通訊系統(Universal Mobile TeI ecommuni ca~ti ons System,UMTS)、近場通信(Near Field Communication,NFC)等多種通信制式及其對應的多個天線。因此，天線測試的工作量比較大。如何高效地檢查各個天線性能是否合格，成為當前研發、生產的一個難題。
[0003]現有技術中提供這樣的一種測試天線的方案:首先，將無線終端及其天線置於屏蔽盒、三角錐等測試環境中的規定位置。然後，計算機發送一組AT (Attention)命令控制天線發射電磁波，測試環境接收天線發射的電磁波並將電磁波通過射頻電纜(RF Cable)發送給模擬基站。接著，模擬基站接收上述的電磁波並分析出天線的發射功率等參數。計算機從模擬基站獲取上述參數並判斷其是否在給定的範圍內，從而確定天線性能是否合格。
[0004]然而，上述方案對天線置於測試環境中的位置的要求非常精確，即使天線的位置相對於規定的位置有細微的偏移，模擬基站分析出的天線的發射功率等參數也會有很大的變化。可見，由於該方案對天線的位置非常敏感，容易導致天線測試的誤測率高。
【發明內容】
[0005]本發明的實施例提供一種天線測試的方法和系統、以及無線終端，能夠降低天線測試的誤測率。
[0006]為達到上述目的，本發明的實施例採用如下技術方案:
[0007]第一方面，提供一種天線測試的方法，應用於無線終端，所述無線終端包括天線，其特徵在於，所述無線終端還包括測試電路，所述測試電路的一端電連接所述天線，另一端電連接所述無線終端外部的測試設備，所述方法包括:
[0008]所述測試電路接收所述測試設備發出的測試信號，並將所述測試信號傳輸給所述天線；
[0009]所述測試電路接收由所述天線反射的與所述測試信號對應的反射信號，並將所述反射信號傳輸給所述測試設備，以使所述測試設備根據所述測試信號與所述反射信號確定所述天線的參數。
[0010]結合第一方面，在第一方面的第一種可能的實現方式中，所述測試電路的通頻帶在所述天線的工作頻帶之外，所述測試信號的頻率為所述天線的工作頻帶之外的頻率。
[0011]結合第一方面的第一種可能的實現方式，在第一方面的第二種可能的實現方式中，所述測試電路包括高通電路、低通電路、帶阻電路中的任意一個。
[0012]結合第一方面或第一方面的第一種至第一方面的第二種任一可能的實現方式，在第一方面的第三種可能的實現方式中，所述參數包括至少一種以下參數:回波損耗、電壓駐波比。
[0013]第二方面，提供一種無線終端，所述無線終端包括天線，所述無線終端還包括測試電路，所述測試電路的一端電連接天線，另一端電連接所述無線終端外部的測試設備；
[0014]所述測試電路，用於接收並將所述測試設備發出的測試信號傳輸給所述天線；
[0015]所述天線，用於接收所述測試信號，並反射與所述測試信號對應的反射信號；
[0016]所述測試電路還用於:接收並將所述天線的反射信號傳輸給所述測試設備，以使所述測試設備根據所述測試信號與所述反射信號確定所述天線的參數。
[0017]結合第二方面，在第二方面的第一種可能的實現方式中，所述測試電路的通頻帶在所述天線的工作頻帶之外，所述測試信號的頻率為所述天線的工作頻帶之外的頻率。
[0018]結合第二方面的第一種可能的實現方式，在第二方面的第二種可能的實現方式中，所述測試電路包括高通電路、低通電路、帶阻電路中的任意一個。
[0019]結合第二方面的第二種可能的實現方式，在第二方面的第三種可能的實現方式中，所述測試電路包括至少一組測試電路，所述天線為至少一根天線，所述測試電路與所述天線一一對應，且所述測試電路的通頻帶在其所對應的天線的工作頻帶之外；
[0020]所述測試電路，用於接收並將所述測試設備發出的測試信號傳輸給對應的天線；
[0021]所述天線，用於接收所述測試信號，並反射與所述測試信號對應的反射信號；
[0022]所述測試電路還用於:接收並將對應的天線的反射信號傳輸給所述測試設備，以使所述測試設備根據所述測試信號與所述反射信號確定所述天線的參數。
[0023]結合第二方面的第二種可能的實現方式，在第二方面的第四種可能的實現方式中，所述測試電路為一個通頻帶可調的測試電路，所述天線為多根天線；
[0024]所述測試電路，用於接收並將所述測試設備發出的測試信號傳輸給待測天線，所述待測天線為所述多根天線中當前正在測試的天線；
[0025]所述待測天線，用於接收所述測試信號，並反射與所述測試信號對應的反射信號;
[0026]所述測試電路還用於:接收並將所述待測天線的反射信號傳輸給所述測試設備，以使所述測試設備根據所述測試信號與所述反射信號確定所述天線的參數；
[0027]其中，所述測試電路的通頻帶調整位於所述待測天線的工作頻帶之外。
[0028]結合第二方面或第二方面的第一種至第四種任一可能的實現方式，在第二方面的第五種可能的實現方式中，所述無線終端還包括接口，用於電連接所述測試電路與所述測試設備。
[0029]第三方面，提供一種天線測試的系統，包括無線終端和測試設備，所述無線終端包括天線，所述無線終端還包括測試電路，所述測試電路的一端電連接所述天線，另一端電連接所述測試設備；
[0030]所述測試設備發出測試信號；
[0031 ] 所述測試電路接收並將所述測試信號傳輸給所述天線；
[0032]所述天線接收所述測試信號，並反射與所述測試信號對應的反射信號；[0033]所述測試電路接收並將所述反射信號傳輸給所述測試設備；
[0034]所述測試設備接收所述發射信號並根據所述測試信號與所述反射信號確定所述天線的參數。
[0035]結合第三方面，在第三方面的第一種可能的實現方式中，所述測試電路的通頻帶在所述天線的工作頻帶之外，所述測試信號的頻率為所述天線的工作頻帶之外的頻率。
[0036]結合第三方面的第一種可能的實現方式，在第三方面的第二種可能的實現方式中，所述系統還包括調諧電路，所述調諧電路的一端電連接所述測試電路，另一端電連接所述測試設備；
[0037]所述調諧電路用於:優化所述反射信號。
[0038]根據本發明實施例提供的天線測試的方法和系統、以及無線終端，天線接收由測試設備經由測試電路發送的測試信號，然後，將所述天線反射的與所述測試信號對應的反射信號經由相同的測試電路發送給所述測試設備。這樣，所述測試設備能夠根據所述測試信號與所述反射信號確定所述天線的參數，從而實現天線測試。相比於現有技術中需要將無線終端置於測試環境中進行測試而且要求天線置於測試環境中的位置非常精確，根據本發明提供的天線測試的方法，能夠巧妙地利用無線終端內部的測試電路進行天線測試，從而能夠避免因測試條件要求苛刻等原因造成的誤測率高的問題，因此，能夠降低天線測試的誤測率。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0039]圖1A為本發明實施例一提供的無線終端的結構示意圖；
[0040]圖1B為本發明實施例一的一變形實施例提供的無線終端的結構示意圖；
[0041]圖1C為本發明實施例一的另一變形實施例提供的無線終端的結構示意圖；
[0042]圖1D為本發明實施例一的又一變形實施例提供的無線終端的結構示意圖；
[0043]圖2為本發明實施例二提供的天線測試的方法的流程圖；
[0044]圖3為在本發明實施例三的變形實施例提供的天線測試的系統的示意圖；
[0045]圖4為本發明實施例四提供的天線測試的系統的示意圖。
【具體實施方式】
[0046]下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基於本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬於本發明保護的範圍。
[0047]如圖1A所示，本發明實施例一提供一種無線終端10，無線終端10包括天線11以及測試電路12。其中，測試電路12設置在無線終端10內部，測試電路12的一端電連接天線11，另一端電連接無線終端10外部的測試設備30。具體的，測試電路12的一端例如可以利用導線直接與天線11的電連接，也可以使用耦合器與天線11的電連接。測試設備30舉例而言可以為網絡分析儀或其他能夠測量天線的參數(例如回波損耗、電壓駐波比等)的設備。需要說明的是，上述測試電路12的一端與天線11的具體連接方式，以及測試設備30是網絡分析儀僅為示例，對本發明不做任何限制。[0048]在天線測試的過程中，測試電路12用於接收測試設備30發出的測試信號，並將所述測試信號傳輸給天線11 ;天線11用於接收測試電路12傳輸的測試信號，並反射與所述測試信號對應的反射信號；測試電路12還用於接收天線11反射的反射信號，並將所述反射信號傳輸給測試設備30，以使測試設備30根據所述測試信號與所述反射信號確定天線11的參數。
[0049]其中，優選地，測試電路12的通頻帶在天線11的工作頻帶之外，所述測試信號為頻率在測試電路12的通頻帶內的電信號，也即，所述測試信號為頻率在天線11的工作頻帶之外的電信號。通過設置測試電路12的通頻帶在天線11的工作頻帶之外，無線終端10內部的射頻模塊15 (參照圖1B、1C)發出的信號不能進入測試設備，能夠防止射頻模塊影響天線11的測試，而且，也能夠防止測試電路12影響射頻模塊15的正常工作。
[0050]為了實現測試電路12的通頻帶在天線11的工作頻帶之外，測試電路12可以為高通電路、低通電路、帶阻電路中的任意一個。
[0051]在本實施例中，通過在無線終端10的印刷電路板(Printed Circuit Board, PCB)上進行電路及走線處理得到測試電路12，以使天線11能夠經由測試電路12接收外部的測試設備30發送的測試信號。在阻抗不匹配時，天線11不能全部吸收測試電路12上傳輸的高頻能量，未被吸收的那部分能量將在測試電路12上反射回去形成反射波，即所述反射信號。測試設備30根據所述測試信號和所述反射信號確定所述天線11的參數:回波損耗(return loss)或電壓駐波比(Voltage Standing Wave Ratio, VSWR)。當然，測試設備 30也可以同時確定回波損耗和電壓駐波比。根據天線11的所述參數，能夠檢查天線11的性能是否合格，進而嚴格控制天線來料。
[0052]需要說明的是，為了避免測試設備30與天線11之間的電路(包括測試電路12)與天線11失配造成的反射信號過大問題，需適當調試測試設備30與天線11之間的電路，例如調試預留在PCB上靠近外部接口的匹配電路(屬於測試電路12的一部分)，並且，控制測試設備30與天線11之間的電路阻抗與並控制PCB印刷電路板10上的射頻線阻抗為相等，使得在測試設備30上能夠顯示出天線高頻特性波形。
[0053]在本實施例提供的無線終端中，測試電路用於接收由測試設備發出的測試信號並將該測試信號發送給天線；天線用於接收該測試信號並反射與該測試信號對應的反射信號；測試電路還將天線的反射信號傳輸給測試設備。這樣一來，所述測試設備能夠根據所述測試信號與所述反射信號確定所述天線的參數，從而實現天線測試。相比於現有技術中需要將無線終端置於測試環境中進行測試而且要求天線置於測試環境中的位置的非常精確，根據本發明提供的無線終端，能夠巧妙地利用無線終端內部的測試電路進行天線測試，從而能夠避免因測試條件要求苛刻等原因造成的誤測率高的問題，因此，能夠降低天線測試的誤測率。
[0054]在實施例一提供的無線終端10中，天線11不限於一根，可以包括多根；測試電路12也不限於一個，可以包括多個。其中，天線和測試電路可以一一對應，也可以是多根天線對應一個測試電路。下面，結合圖1B至圖1D，對天線和測試電路的設置情況進行說明，且以下實施例中以天線11是兩根天線111和天線112作為設置終端中包括多根天線的情況為例進行說明。雖然以下實施例的說明中以測試電路12是高通電路13為例，但是本領域技術人員也可以使用低通電路或帶阻電路替換高通電路13得到其他的實施例。[0055]如圖1B所示，在實施例一的一變形實施例中，兩根天線111和天線112分別對應兩個測試電路，其中，測試電路為高通電路13，且高通電路13的通頻帶與其所對應的天線的工作頻帶對應。
[0056]在天線測試過程中，以天線111為例，高通電路13(即圖1B中左側的高通電路)用於接收並將測試設備30發出的測試信號傳輸給對應的天線111 ;天線111用於接收所述測試信號，並反射與所述測試信號對應的反射信號；高通電路13還用於:接收並將對應的天線111的反射信號傳輸給測試設備30，以使測試設備30根據所述測試信號與所述反射信號確定天線111的參數。天線112的測試過程可以根據天線111的測試過程直接得到。
[0057]如圖1C所示，在實施例一的另一變形實施例中，兩根天線111和天線112對應一個測試電路,其中，測試電路為高通電路13a，且高通電路13a為通頻帶可調的高通電路。
[0058]在天線測試過程中，以天線111作為待測天線為例，高通電路13a用於接收並將測試設備30發出的測試信號傳輸給天線111 ;天線111用於接收所述測試信號，並反射與所述測試信號對應的反射信號；高通電路13a還用於:接收並將天線111的反射信號傳輸給測試設備30，以使測試設備30根據所述測試信號與所述反射信號確定天線111的參數。其中，高通電路13a的通頻帶調整位於天線111的工作頻帶之外。同理，在測試天線112時，高通電路13a的通頻帶可以調整位於天線112的工作頻帶之外。
[0059]在圖1B及圖1C所示的實施例中，通過設置高通電路13或13a使得所述測試信號與所述反射信號均能夠通過高通電路13或13a，並且，無線終端10自身的射頻模塊15 (例如發射機)向天線11發送的輸入信號不能通過高通電路13或13a。因此，通過設置高通電路，使得射頻模塊15不影響天線的測試，而且，高通電路也不影響射頻模塊15自身的正常工作。
[0060]如圖1D所示，在上述任一實施例的基礎上，本發明實施例一的又一變形實施例提供的無線終端10還包括接口 14，用於電連接所述測試電路12與測試設備30。
[0061]具體地，在所述PCB上進行電路及走線處理時，巧妙地利用無線終端10的接口 14(例如通用串行總線(Universal Serial Bus, USB)接口)，能夠將測試電路12與測試設備30連接起來。其中，優選的是，利用無線終端10中現有的接口作為接口 14。因此，在測試天線11時，只需利用接口 14連接測試設備30，即可進行天線測試。可見，天線測試系統的組裝過程非常簡單，便於提高天線測試的效率。
[0062]如圖2所示，本發明實施例二提供一種天線測試的方法，應用於上述實施例一及其變形實施例提供的無線終端，所述無線終端包括天線，所述無線終端還包括測試電路，所述測試電路的一端電連接所述天線，另一端電連接所述無線終端外部的測試設備，所述方法包括:
[0063]步驟21、測試電路接收測試設備發出的測試信號，並將測試信號傳輸給天線。
[0064]開始測試時，測試者可以操作測試設備發出測試信號。由於無線終端中的測試電路的一端與測試設備電連接，因此測試電路能夠接收該測試設備發出的測試信號。又由於測試電路的另一端與無線終端中的天線電連接，因此測試電路能夠將接收到的測試信號傳輸給無線終端中的天線。這樣一來，天線經由所述測試電路能夠接收由所述測試設備發送的測試信號。
[0065]步驟22、測試電路接收由天線反射的與測試信號對應的反射信號，並將反射信號傳輸給測試設備，以使測試設備根據測試信號與反射信號確定天線的參數。
[0066]在此步驟中，天線在接收到測試設備發出的測試信號之後，一方面，以電磁波的形式向外輻射出能量，另一方面，以反射波的形式在測試電路上反射與測試信號對應的反射信號。一端與天線電連接的測試電路接收天線的反射信號，並將該反射信號傳輸給電路另一端的測試設備。這樣，測試設備能夠接收到天線的反射信號並根據所述測試信號與所述反射信號確定天線的參數。所述參數包括回波損耗、電壓駐波比中的至少一種。
[0067]由於無線終端及其天線無需置於測試環境中，因此，在天線檢測的過程中，對測試環境以及測試精度的要求都不苛刻。這樣，不僅能夠避免待測無線終端置於測試環境中的位置不當等人為因素引起的誤判，提高直通率，而且，能夠提高測試效率乃至生產效率。
[0068]在步驟21和步驟22中，優選地，可以設置測試信號的頻率在測試電路的通頻帶之內，且設置測試電路的通頻帶在所述天線及其對應的射頻模塊(例如發射機)的工作頻帶之夕卜，由此測試信號能夠通過測試電路，且所述射頻模塊向天線發送的信號不能通過測試電路。例如，在所述射頻模塊工作，即所述射頻模塊向所述天線發送輸入信號的情況下，由於所述輸入信號的頻率不在所述測試電路的通頻帶內，因此所述輸入信號不能經由所述測試電路發送給所述測試設備。這樣一來，既能夠防止射頻模塊對天線測試的幹擾，又能防止測試電路對射頻模塊和天線的正常工作造成影響。
[0069]進一步地，為了實現測試電路的通頻帶在天線的工作頻帶之外，測試電路可以為高通電路、低通電路、帶阻電路中的任意一個。
[0070]根據本發明實施例提供的天線測試的方法，測試電路接收所述測試設備發出的測試信號，並將該測試信號傳輸給天線；在天線接收到該測試信號並發射與所述測試信號對應的反射信號之後，測試電路接收並將該反射信號傳輸給所述測試設備。這樣，所述測試設備能夠根據所述測試信號與所述反射信號確定所述天線的參數，從而實現天線測試。相比於現有技術中需要將無線終端置於測試環境中進行測試而且要求天線置於測試環境中的位置非常精確，根據本發明提供的天線測試的方法，能夠巧妙地利用無線終端內部的測試電路進行天線測試，從而能夠避免因測試條件要求苛刻等原因造成的誤測率高的問題，因此，能夠降低天線測試的誤測率。
[0071]如圖1A所示，本發明實施例三提供一種天線測試的系統，所述系統包括無線終端10和測試設備30，所述無線終端10包括天線11和測試電路12。測試電路12的一端電連接天線11，另一端電連接測試設備30。無線終端10可以為上述任一實施方式的無線終端。
[0072]所述系統進行天線測試的過程如下:
[0073]測試設備30發出測試信號；
[0074]測試電路12接收並將所述測試信號傳輸給天線11 ;
[0075]天線11接收所述測試信號，並反射與所述測試信號對應的反射信號；
[0076]測試電路12接收並將所述反射信號傳輸給測試設備30 ；
[0077]測試設備30接收所述發射信號並根據所述測試信號與所述反射信號確定天線11的參數。
[0078]測試電路12可以為高通電路、低通電路、帶阻電路中的任意一個。優選地，測試電路12的通頻帶在天線11的工作頻帶之外，且測試信號的頻率為天線11的工作頻帶之外的頻率。[0079]由上可以看出，相比於現有技術中需要將無線終端置於測試環境中進行測試而且要求天線置於測試環境中的位置非常精確，根據本發明提供的天線測試的系統，通過在無線終端內部設置測試電路連接天線和無線終端外部的測試設備以進行天線測試，能夠避免因測試條件要求苛刻等原因造成的誤測率高的問題，因此，能夠降低天線測試的誤測率。
[0080]如圖3所示，在本發明實施例三的變形實施例中，所述天線測試的系統還包括調諧電路，所述調諧電路31的一端電連接測試電路12，另一端電連接測試設備30 ;調諧電路31用於:優化所述反射信號。利用經過調諧電路31優化後的反射信號，測試設備30進行測試時在其上的顯示屏上顯示的檢測波形變得更加理想，因此測試設備30能夠確定精度更高的天線參數。
[0081]如圖4所示，本發明實施例四為本發明實施例三及其變形實施例的具體實施例，在圖4所示的系統中，無線終端10通過接口 14與調諧電路31電連接，調諧電路31通過同軸電纜41與測試設備30電連接,測試設備30通用接口總線(General Purpose InterfaceBus, GPIB)43與計算機42電連接。在本實施例中，接口 14以USB接口 14為例，測試設備30以網絡分析儀30為例。
[0082]在無線終端10中，測試電路12通過PCB走線到USB接口 14的引腳上，利用USB接口 14的引腳來充當天線11中轉的橋梁，當天線111 (或天線112)的反射信號由PCB阻抗線到達USB接口 14後，利用天線111 (或天線112)自身產生的高次諧振的波形，最終在網絡分析儀30上進行顯示，進行如回波損耗或電壓駐波比等指標的測量。
[0083]計算機42通過通用接口總線43讀取網絡分析儀30的回波損耗或電壓駐波比的數值，並且判斷所述數值是否在設置的範圍內，從而能夠快速穩定地判決天線性能的一致性，達到檢測天線的目的。相比於現有技術中需要將無線終端置於測試環境中進行測試而且要求天線置於測試環境中的位置非常精確，根據本發明提供的天線測試的系統，能夠避免因測試條件要求苛刻等原因造成的誤測率高的問題，因此，能夠降低天線測試的誤測率。
[0084]由上可以看出，由於採用天線無源檢測方案(測試信號由無線終端外部的測試設備發出)，相對於現有技術採用天線有源檢測方案(測試信號由無線終端內部的射頻模塊發出)，能夠減少軟體的工作量，無需針對每一款產品去寫相應的AT命令。而且，從整個操作過來來看，從插入USB，啟動AT命令，到程序運行結束的周期來看，檢測時間相對於現有技術得到極大的減少，因此能夠提聞生廣效率。
[0085]以上所述，僅為本發明的【具體實施方式】，但本發明的保護範圍並不局限於此，任何熟悉本【技術領域】的技術人員在本發明揭露的技術範圍內，可輕易想到變化或替換，都應涵蓋在本發明的保護範圍之內。因此，本發明的保護範圍應所述以權利要求的保護範圍為準。
【權利要求】
1.一種天線測試的方法，應用於無線終端，所述無線終端包括天線，其特徵在於，所述無線終端還包括測試電路，所述測試電路的一端電連接所述天線，另一端電連接所述無線終端外部的測試設備，所述方法包括: 所述測試電路接收所述測試設備發出的測試信號，並將所述測試信號傳輸給所述天線.所述測試電路接收由所述天線反射的與所述測試信號對應的反射信號，並將所述反射信號傳輸給所述測試設備，以使所述測試設備根據所述測試信號與所述反射信號確定所述天線的參數。
2.根據權利要求1所述的方法，其特徵在於，所述測試電路的通頻帶在所述天線的工作頻帶之外，所述測試信號的頻率為所述天線的工作頻帶之外的頻率。
3.根據權利要求2所述的方法，其特徵在於，所述測試電路包括高通電路、低通電路、帶阻電路中的任意一個。
4.根據權利要求1-3所述的方法，其特徵在於，所述參數包括至少一種以下參數:回波損耗、電壓駐波比。
5.一種無線終端，所述無線終端包括天線，其特徵在於，所述無線終端還包括測試電路，所述測試電路的一端電連接天線，另一端電連接所述無線終端外部的測試設備； 所述測試電路，用於接收並將所述測試設備發出的測試信號傳輸給所述天線； 所述天線，用於接收所述測試信號，並反射與所述測試信號對應的反射信號； 所述測試電路還用於:接收並將所述天線的反射信號傳輸給所述測試設備，以使所述測試設備根據所述測試信號與所述反射信號確定所述天線的參數。
6.根據權利要求5所述的無線終端，其特徵在於，所述測試電路的通頻帶在所述天線的工作頻帶之外，所述測試信號的頻率為所述天線的工作頻帶之外的頻率。
7.根據權利要求6所述的無線終端，其特徵在於，所述測試電路包括高通電路、低通電路、帶阻電路中的任意一個。
8.根據權利要求7所述的無線終端，其特徵在於，所述測試電路包括至少一組測試電路，所述天線為至少一根天線，所述測試電路與所述天線一一對應，且所述測試電路的通頻帶在其所對應的天線的工作頻帶之外； 所述測試電路，用於接收並將所述測試設備發出的測試信號傳輸給對應的天線； 所述天線，用於接收所述測試信號，並反射與所述測試信號對應的反射信號； 所述測試電路還用於:接收並將對應的天線的反射信號傳輸給所述測試設備，以使所述測試設備根據所述測試信號與所述反射信號確定所述天線的參數。
9.根據權利要求7所述的無線終端，其特徵在於，所述測試電路為一個通頻帶可調的測試電路，所述天線為多根天線； 所述測試電路，用於接收並將所述測試設備發出的測試信號傳輸給待測天線，所述待測天線為所述多根天線中當前正在測試的天線； 所述待測天線，用於接收所述測試信號，並反射與所述測試信號對應的反射信號；所述測試電路還用於:接收並將所述待測天線的反射信號傳輸給所述測試設備，以使所述測試設備根據所述測試信號與所述反射信號確定所述天線的參數； 其中，所述測試電路的通頻帶調整位於所述待測天線的工作頻帶之外。
10.根據權利要求5至9任一所述的無線終端，其特徵在於，所述無線終端還包括接口，用於電連接所述測試電路與所述測試設備。
11.一種天線測試的系統，包括無線終端和測試設備，所述無線終端包括天線，其特徵在於，所述無線終端還包括測試電路，所述測試電路的一端電連接所述天線，另一端電連接所述測試設備； 所述測試設備發出測試信號； 所述測試電路接收並將所述測試信號傳輸給所述天線； 所述天線接收所述測試信號，並反射與所述測試信號對應的反射信號； 所述測試電路接收並將所述反射信號傳輸給所述測試設備； 所述測試設備接收所述發射信號並根據所述測試信號與所述反射信號確定所述天線的參數。
12.根據權利要求11所述的系統，其特徵在於，所述測試電路的通頻帶在所述天線的工作頻帶之外，所述測試信號的頻率為所述天線的工作頻帶之外的頻率。
13.根據權利要求12所述的系統，其特徵在於，所述系統還包括調諧電路，所述調諧電路的一端電連接所述測試電路，另一端電連接所述測試設備； 所述調諧電路用於:優化所述反射信號。
【文檔編號】G01R27/26GK103728502SQ201310750806
【公開日】2014年4月16日 申請日期:2013年12月31日 優先權日:2013年12月31日
【發明者】陳揚邦 申請人:華為終端有限公司