電源裝置以及測試裝置的製作方法

2023-05-31 02:42:36

專利名稱：電源裝置以及測試裝置的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種電源裝置以及測試裝置，特別是涉及一種使電源電流供給至電子裝置中所用的能使電源電流穩定的電源裝置及測試裝置。
本申請案與下記的日本申請案相關聯。就藉由文獻的參照而確認可編入的指定國而言，藉由參照下記的申請案中所記載的內容而編入本申請案中，以作為本申請案記載的一部份。
1.特願2004-288930 申請日 西元2004年09月30日背景技術CMOS半導體等的電子裝置在內部電路動作時，電源電流變化較大。又，先前電子裝置的動作特性測試時施加至負載的電壓的變動不大的電壓產生電路已為人所知(例如，請參照專利文獻1)。
專利文獻1特開平7-333249號公報(第2-4頁，第1-5圖)發明內容發明所要解決的問題藉由近年的微小化技術的向上提升，電子裝置的高速化，低電壓化已有進展，電子裝置的電源電壓變動的容許幅度已變小。因此，就電子裝置測試用的測試裝置而言，需要更高精確度的電源裝置。
於是，本發明的目的是提供一種可解決上述問題的電源裝置和測試裝置。此目的藉由申請專利範圍獨立項中所記載的特徵的組合來達成。又，各附屬項規定了本發明更有利的具體例。
解決問題所用的手段依據本發明的第1形式而提供一種電源裝置，其使電源電流供給至電子裝置中，此電源裝置具備電流輸出部，其使至少一部份含有電源電流的輸出電流被輸出；連接電阻，藉由電流輸出部與電子裝置在電性上相連接，此連接電阻使由電流輸出部所接收的電源電流供給至電子裝置；低通濾波器，其截止(cut-off)頻率較由電子裝置所接收的電源電流變化時的頻率還低，此低通濾波器使較截止頻率還高的頻率成份減少而使電流輸出部的輸出電壓通過；並列負載部，其對該電流輸出部的輸出端而言是與該連接電阻並列而連接著，在指示「電源電流減少」所用的電流減少信號已被接收時，則消耗該電流輸出部的輸出電流的一部份中的部份電流，在指示「電源電流增加」所用的電流增加信號已被接收時，則停止由該電流輸出部接收上述的部份電流；偏移加算部，其使偏移電壓已相加至該低通濾波器的輸出電壓後的電壓輸出；以及差值檢出部，在該連接電阻所在的電子裝置附近的裝置側端部的電位較由該偏移加算部的輸出電壓減掉第1基準電位差後所得的第1基準電壓還小時，使該電流增加信號供給至該並列負載部，該裝置側端部的電位成為較第1基準電壓還大時，使該電流減少信號供給至該並列負載部。該偏移加算部對應於該低通濾波器的輸出電壓的變化而在第1基準電位差增加時使該偏移電壓增加，在第1基準電位差減少時使該偏移電壓減少。
上述差值檢出部在裝置側端部的電位較由該偏移加算部的輸出電壓減掉第2基準電位差後所得的第2基準電壓還大時，使該電流減少信號供給至該並列負載部，該裝置側端部的電位成為較第2基準電壓還小時，使該電流增加信號供給至該並列負載部。該偏移加算部亦可對應於該低通濾波器的輸出電壓的變化而在第2基準電位差增加時使該偏移電壓增加，在第2基準電位差減少時使該偏移電壓減少。
上述差值檢出部具有基準電壓輸出部，其對該偏移加算部的輸出電壓進行分壓，以輸出第1基準電壓或輸出一種較第1基準電壓還小的第2基準電壓中的任一個電壓；第1比較器，其在裝置側端部的電位較該基準電壓還大時使該電流減少信號輸出至輸出信號線，在裝置側端部的電位較該基準電壓還小時使該電流增加信號輸出至輸出信號線；以及基準電壓設定部，其依據第1比較器的輸出而在裝置側端部的電位較第1基準電壓還大時使第2基準電壓輸出至基準電壓輸出部，在裝置側端部的電位較第2基準電壓還小時使第1基準電壓輸出至基準電壓輸出部。該並列負載部亦可依據由第1比較器的輸出信號線所供給的電流增加信號和電流減少信號，在該裝置側端部的電位成為較第1基準電壓還大之後至成為較第2基準電壓還小為止的期間中，使由該電流輸出部所接收的上述的部份電流流經一種與該連接電阻並列的路徑而予以消耗，在該裝置側端部的電位成為較第2基準電壓還小之後至成為較第1基準電壓還大為止的期間中，使該部份電流停止流過上述並列的路徑。
上述偏移加算部亦可具有第1電阻，其連接至較該低通濾波器的輸出電壓還高的第3基準電壓；第2電阻，其連接在第1電阻所在的第3基準電壓未被連接的端部和該偏移加算部的輸出之間；以及第2比較器，其輸入該低通濾波器的輸出電壓和第1電阻及第2電阻的接點的電壓，在該接點的電壓較該低通濾波器的輸出電壓還大時，使該偏移加算部的輸出電壓下降，在該接點的電壓較該低通濾波器的輸出電壓還小時，使該偏移加算部的輸出電壓上升。
該差值檢出部更可具備一種延遲部，其在由電流增加信號的供給開始時直至電流減少信號的供給開始時為止的期間變成更長時，則使電流減少信號開始供給至並列負載部時的時序(timing)延遲更多。
依據本發明的第2形式而提供一種電源裝置，其使電源電流供給至電子裝置中，此電源裝置具備電流輸出部，其使至少一部份含有電源電流的輸出電流被輸出；連接電阻，藉由電流輸出部與電子裝置在電性上相連接，此連接電阻使由電流輸出部所接收的電源電流供給至電子裝置；低通濾波器，其截止(cut-off)頻率較由電子裝置所接收的電源電流變化時的頻率還低，此低通濾波器使較截止頻率還高的頻率成份減少而使電流輸出部的輸出電壓通過；並列負載部，其對該電流輸出部的輸出端而言是與該連接電阻並列而連接著，在指示「電源電流減少」所用的電流減少信號已被接收時，則消耗該電流輸出部的輸出電流的一部份中的部份電流，在指示「電源電流增加」所用的電流增加信號已被接收時，則停止由該電流輸出部接收上述的部份電流；差值檢出部，在該連接電阻所在的電子裝置附近的裝置側端部的電位較由該低通濾波器的輸出電壓減掉一預定的值之後所得的第1基準電壓還小時，使該電流增加信號供給至該並列負載部，該裝置側端部的電位成為較第1基準電壓還大時，使該電流減少信號供給至並列負載部；以及延遲部，其在電流增加信號由該差值檢出部開始供給時直至電流減少信號的供給開始時為止的期間變成更長時，則使電流減少信號開始供給至並列負載部時的時序(timing)延遲更多。
該延遲部亦可在電流增加信號由該差值檢出部開始供給時直至電流減少信號的供給開始時為止的期間變成更長時，使由差值檢出部開始供給該電流減少信號直至此電流減少信號供給至並列負載部為止時的延遲時間在與由差值檢出部開始供給該電流增加信號直至此電流增加信號供給至並列負載部為止時的延遲時間相比較時更加延長。
該延遲部亦可具有基極電流供給部，其在該差值檢出部供給該電流減少信號時供給第1基極電流，在該差值檢出部供給該電流增加信號時此基極電流供給部供給一種較第1基極電流還大的第2基極電流；電晶體，其將該電流供給部所供給的基極電流輸入至基極中，在第2基極電流輸入時此電晶體即飽和；以及電流控制信號輸出部，在該電晶體中輸入第2基極電流期間以及電晶體飽和期間此二期間所構成的電晶體導通期間中，使電流增加信號供給至並列負載部，在該電晶體中輸入第1電流且該電晶體未達飽和時的關閉期間中，使電流減少信號供給至並列負載部。
上述基極電流供給部亦可包含第1閘，其在該差值檢出部供給該電流增加信號時輸出一種高(H)位準的信號，在差值檢出部供給該電流減少信號時輸出一種低(L)位準的信號；第3電阻，其設置在第1閘的輸出和該電晶體的基極之間；以及二極體，其與第3電阻並列而設置著，此二極體的陰極是與第1閘的輸出相連接，且此二極體的陽極是與該電晶體的基極相連接。
依據本發明的第3形式而提供一種電子裝置測試用的測試裝置，其具備電流輸出部，其使至少一部份含有該該電子裝置所應接收的電源電流的輸出電流被輸出；連接電阻，藉由電流輸出部與電子裝置在電性上相連接，此連接電阻使由電流輸出部所接收的電源電流供給至電子裝置；低通濾波器，其截止(cut-off)頻率較由電子裝置所接收的電源電流變化時的頻率還低，此低通濾波器使較截止頻率還高的頻率成份減少且使電流輸出部的輸出電壓通過；並列負載部，其對該電流輸出部的輸出端而言是與該連接電阻並列而連接著，在指示「電源電流減少」所用的電流減少信號已被接收時，則消耗該電流輸出部的輸出電流的一部份中的部份電流，在指示」電源電流增加」所用的電流增加信號已被接收時，則停止由該電流輸出部接收上述的部份電流；偏移加算部，其使偏移電壓已相加至該低通濾波器的輸出電壓後的電壓被輸出；以及差值檢出部，在該連接電阻所在的電子裝置附近的裝置側端部的電位較由該偏移加算部的輸出電壓減掉第1基準電位差後所得的第1基準電壓還小時，使該電流增加信號供給至該並列負載部，該裝置側端部的電位成為較第1基準電壓還大時，使該電流減少信號供給至該並列負載部；圖樣產生部，其產生一種應輸入至該電子裝置中的測試圖樣；信號輸入部，其使該測試圖樣供給至接收該電源電流所用的電子裝置中；以及判定部，其對應於上述的測試圖樣以依據電子裝置所輸出的信號來判定電子裝置的良否。該偏移加算部對應於該低通濾波器的輸出電壓的變化而在第1基準電位差增加時使該偏移電壓增加，在第1基準電位差減少時使該偏移電壓減少。
依據本發明的第4形式而提供一種電子裝置測試用的測試裝置，其具備電流輸出部，其使至少一部份含有電源電流的輸出電流被輸出；連接電阻，藉由電流輸出部與電子裝置在電性上相連接，此連接電阻使由電流輸出部所接收的電源電流供給至電子裝置；低通濾波器，其截止(cut-off)頻率較由電子裝置所接收的電源電流變化時的頻率還低，此低通濾波器使較截止頻率還高的頻率成份減少且使電流輸出部的輸出電壓通過；並列負載部，其對該電流輸出部的輸出端而言是與該連接電阻並列而連接著，在指示「電源電流減少」所用的電流減少信號已被接收時，則消耗該電流輸出部的輸出電流的一部份中的部份電流，在指示」電源電流增加」所用的電流增加信號已被接收時，則停止由該電流輸出部接收上述的部份電流；差值檢出部，在該連接電阻所在的電子裝置附近的裝置側端部的電位較由該低通濾波器的輸出電壓減掉預定的值後所得的第1基準電壓還小時，使該電流增加信號供給至該並列負載部，該裝置側端部的電位成為較第1基準電壓還大時，使該電流減少信號供給至該並列負載部；延遲部，其在電流增加信號由該差值檢出部開始供給時直至電流減少信號的供給開始時為止的期間變成更長時，則使電流減少信號開始供給至並列負載部時的時序(timing)延遲更多；圖樣產生部，其產生一種應輸入至該電子裝置中的測試圖樣；信號輸入部，其使該測試圖樣供給至接收該電源電流所用的電子裝置中；以及判定部，其對應於上述的測試圖樣以依據電子裝置所輸出的信號來判定電子裝置的良否。
又，上述發明的概要未列舉本發明的必要特徵的全部，這些特徵群的下位組合(sub-combination)亦屬本發明。
發明的效果依據本發明可提供一種使安定的電源供給至電子裝置所用的電源裝置，使用此電源裝置以高精確度地對此電子裝置進行測試。
為讓本發明的上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。


圖1是本發明的實施形式的測試裝置100的構成。
圖2是本發明的實施形式的電源部106的構成。
圖3是本發明的實施形式的電流消耗部306的構成。
圖4是本發明的實施形式的電流消耗部306的動作的一例。
圖5是本發明的實施形式的電流消耗部306的詳細動作的一例。
圖6是本發明的實施形式的偏移加算部450的構成。
圖7是不具備一偏移加算部450的測試裝置100的基準電位差的一例。
圖8是本發明的實施形式的測試裝置100的基準電位差的一例。
圖9是本發明的實施形式的延遲部452的構成。
圖10是本發明的實施形式的延遲部452的動作的一例。
圖11是本發明的實施形式的測試裝置100的動作和電流輸出部302的輸出電流的關是。
圖12是本發明的實施形式的延遲部452的測試裝置100的詳細動作的一例。
50電子裝置 100測試裝置102圖樣產生器 104信號輸入部106電源部 108判定部110控制部 150使用者介面206連接線 212電阻
214、216電容器 302電流輸出部304並列負載部306電流消耗部402低通濾波器406基準電壓輸出部408基準電壓設定部410負載驅動部412差值檢出部414比較器450偏移加算部452延遲部502、504電阻 506、510電阻508定電壓源 510、514電阻512低速開關 516高速開關518電阻 550定電壓源552、554電阻 558運算放大器950、952反相閘 951基極電流供給部954電阻 956電晶體960電阻 962反及閘964二極體具體實施方式
以下將依據本發明的實施形式來說明本發明，但以下的實施形式不是對申請專利範圍所屬發明的一種限制。又，實施形式中所說明的特徵的組合的全部不限於發明的解決手段所必需者。
圖1是本發明的實施形式的測試裝置100的構成且同時亦顯示一電子裝置50。電子裝置50例如是LSI等的測試對象裝置(DUT)。本例的測試裝置100以高精確度來進行電子裝置50的測試作為目的。測試裝置100具備控制部110，電源部106，圖樣產生部102，信號輸入部104以及判定部108。控制部110控制著電源部106，圖樣產生部102，信號輸入部104以及判定部108。
電源部106是一種使電源電流供給至電子裝置50中所用的電源裝置。圖樣產生部102產生一種應輸入至電子裝置50中的測試圖樣以供給至信號輸入部104。信號輸入部104藉由測試圖樣例如被延遲所定的時間以使預定的時序供給至由電源部106接收電源電流所用的電子裝置50中。判定部108對應於測試圖樣以依據電子裝置50所輸出的信號來判定電子裝置50的良否。
圖2是本發明的實施形式的電源部106的構成且同時亦顯示出電子裝置50。電源部106具有電流輸出部302，連接線206，多個電容器(214，216)以及電阻212。又，本例中電子裝置50接收電容器216的端電壓Vo以作為電源電壓。
本例中，電流消耗部306，電容器214，216和電阻212設置在使用者介面150上。使用者介面150的一種例子是印刷電路基板，其上已形成電流輸出部302和電子裝置50在電性上相連接時所需的配線，例如，使用者介面可為載置此電子裝置50用的操作(performance)埠。又，此測試裝置100例如亦可對晶圓狀態的電子裝置50進行測試。此時，電子裝置50例如經由探針卡而與使用者介面150相連接。
電流輸出部302是一種使電力供給至電子裝置50所用的裝置電源。電流輸出部302例如藉由輸出一種以控制部110的指示為基準的電壓且經由連接線206和電阻212使輸出電流的至少一部份的電源電流iR1施加至電子裝置50中。本例中，電源電流iR1成為電子裝置50應接收的電源電流Io的至少一部份。
由控制部110指示出有」動作」發生時，電流消耗部306使電流輸出部302的輸出電流的一部份中的部份電流IL流經一種與電子裝置50並列的路徑而消耗。此時，電流輸出部302和電流消耗部306使輸出電流中除了該部份電流IL以外的電流供給至電子裝置50以作為電源電流iR1。
電流消耗部306依據電阻212所產生的電壓來檢出「電容器216的端電壓Vo已下降」。然後，「端電壓Vo下降」已檢出時，電流消耗部306停止該部份電流IL的消耗。此時，電流輸出部302和電流消耗部306以幾近全部的輸出電流作為電源電流iR1而供給至電子裝置50中，使電源電流iR1增加以及端電壓Vo上升。因此，依據本例，電容器216的端電壓Vo可安定地保持著且能以高精確度來對電子裝置50進行測試。
連接線206例如可為一種同軸電纜且與電流輸出部302、使用者介面150在電性上相連接。電容器214是一種平滑電容器，其一端經由連接線206而與電流輸出部302相連接，另一端則接地。又，電容器214未接地的一端是與電阻212在電性上相連接。因此，藉由使電流輸出部302所輸出的電源電流iR1平滑化，則電容器214亦可在較電阻212更上流的電流方向中使電子裝置50的電源電流Io平滑化。
電容器216是裝置側電容器的一例且具有一種較電容器214還小的靜電容量。又，電容器216的一端是與電子裝置50相連接且另一端與接地相連接。又，電容器216的一端經由電阻212而與電容器214在電性上相連接。因此，電容器216在較電阻212更下流的電流方向中使電源電流iR1平滑化。電容器216亦可使電阻212施加至電子裝置50時所造成的電源電流Io平滑化。
電阻212是一種連接電阻的例子且設在電容器214和電容器216未接地的端部之間。因此，電阻212使電流輸出部302和電子裝置50在電性上相連接，使電源電流iR1供給至電子裝置50。
又，電阻212對應於電源電流iR1而使兩端所產生的電壓施加至電流消耗部306。此時，電阻212用來檢知電容器216的端電壓Vo的下降(其不是所流過的電流的絕對值)。因此，電阻212亦可以是一種在使用者介面150上所形成的圖樣電阻。電阻212的電阻值例如亦可為5毫歐姆的程度，例如，其可為一種配線的銅的厚度是35微米，圖樣寬度是10毫米，圖樣長度是10釐米程度的圖樣電阻。
又，就作為電源電流Io平滑化用的電容器而言，若不使用電容器214和電容器216而例如只使用1個電容器時，則在電容量的容量較小的情況下伴隨著電源電流Io的變化的電容器端電壓的變動會變大，電子裝置50的電源電壓會不安定。又，電容量的容量較大的情況下，電容器的端電壓發生變化下在回復時需要時間，適當地保持著電子裝置50的電源電壓是因難的。
然而，依據本例，在電子裝置50的附近設置電源電流Io平滑化用的電容器216，且亦設置該電子裝置50的功能測試等進行時的大的電源電流iR1平滑化用的電容器214，則例如在進行功能測試時，可使電源電流Io的變動所對應的電源電壓的變動減低。
此處，電子裝置50的電源電壓例如成為2V時，若電源電壓變動的容許範圍成為5％，更考慮0.5的餘裕度(tolerance)時，則電源電壓的變動需在50毫伏(mv)以下。此時，功能測試中若功能速率(rate)是10n秒，尖峰電流是1A，尖峰電流所流過的期間是4n秒，電流輸出部302和電流消耗部306使輸出電流變化時所需要的應答時間是5微秒時，則電容器214的靜電容量例如可為(0.4A×5u秒)/50mV＝40uF。又，電容器216例如可具有電容器214的10分之1以下的靜電容量。
圖3是本發明的實施形式的電流消耗部306的構成。電流消耗部306具有低通濾波器402，偏移加算部450，差值檢出部412，延遲部452，負載驅動部410以及並列負載部304。低通濾波器402，偏移加算部450，差值檢出部412，延遲部452，負載驅動部410以及並列負載部304亦可設置在使用者介面150上(請參閱圖2)。
低通濾波器402含有電阻和電容器。此電阻是與電阻212的連接線206附近的電源側端部以及該電容器的一端相連接。又，此電容器的另一端接地。因此，低通濾波器402接收該電流輸出部302(參閱圖2)的輸出電壓且使高頻成份減少以及經由偏移加算部450而供給至差值檢出部412。
此處，低通濾波器402理想情況下所具有的截止頻率較電子裝置50所接收的電源電流Io變化時的頻率還低。此時，低通濾波器402使較該截止頻率還高的頻率成份減少，使電流輸出部302的輸出電壓通過。又，本例中，低通濾波器402接收電阻212的電源側端部的電壓Vi以作為電流輸出部302的輸出電壓，電壓Vi的高頻成份已減低後的電壓Vref藉由偏移加算部450而施加至差值檢出部412。
偏移加算部450藉由使偏移電壓施加至低通濾波器402之後的電壓被輸出，以調整低通濾波器402的輸出電壓Vref。此處，在進行一種使電子裝置50的電源電壓發生變化的測試時，或電源電壓的試樣不同的電子裝置50作測試時，對應於電源電壓的變化使電源電壓和差值檢出部412的比較電壓的差值發生變化。因此，偏移加算部450藉由電源電壓的變化所對應的偏移電壓相加至低通濾波器402的輸出電壓，以抑制電源電壓和差值檢出部412的比較電壓的差值的變動。
差值檢出部412對該偏移加算部450的輸出電壓(即，由偏移加算部450所調整後的低通濾波器402的輸出電壓Vref)與電阻212所在的電子裝置50附近的裝置側端部的電位Vo進行比較。然後，依據比較結果，藉由並列負載部304以控制「該電流輸出部302的輸出電流的至少一部份是否已消耗」。更具體而言，當端電壓Vo較該低通濾波器402的輸出電壓Vref減去一預定的值之後的第1基準電壓VH還小時，差值檢出部412使電流增加信號供給至並列負載部304，當端電壓Vo較第1基準電壓VH還大時，則使電流減少信號供給至並列負載部304。此電流增加信號是一種對該並列負載部304指示」電源電流增加」所用的信號。
又，當端電壓Vo當端電壓Vo較該低通濾波器402的輸出電壓Vref減去一預定的值之後的第2基準電壓VL還大時，差值檢出部412使電流減少信號供給至並列負載部304，當端電壓Vo較第2基準電壓VL還小時，則使電流增加信號供給至並列負載部304。此電流減少信號是一種對該並列負載部304指示」電源電流減少」所用的信號。此處，設計磁滯(hysteresis)時，第2基準電壓VL設定成一種與第1基準電壓VH比較時還小的值。又，在構成上未使用該偏移加算部450時，低通濾波器402的輸出連接至差值檢出部412。
差值檢出部412包含基準電壓輸出部406，比較器414以及基準電壓設定部408。
基準電壓輸出部406具有多個電阻502，504，506，其以直列方式連接在偏移加算部450的輸出和接地電位之間。基準電壓輸出部406輸出該電阻502和電阻504之間的節點的電位以作為一種施加至比較器414中的基準電壓。因此，基準電壓輸出部406依據多個電阻502，504，506的電阻值之比，以輸出該低通濾波器402的輸出電壓被分壓後的基準電壓。
又，基準電壓輸出部406在電阻504和電阻506之間的節點接收基準電壓設定部408的輸出。因此，基準電壓輸出部406對應於基準電壓設定部408以輸出第1基準電壓或第2基準電壓中任一基準電壓的輸出。
比較器414以未反相方式來接收該基準電壓輸出部406所輸出的基準電壓，且以反相方式來接收電阻212所在的電子裝置50附近的裝置側端部的電位。然後，比較器414對該基準電壓和該裝置側端部的電位進行比較。經由偏移加算部450和基準電壓輸出部406以接收該低通濾波器402的輸出電壓，則差值檢出部412亦可檢出由該偏移加算部450所調整的低通濾波器402的輸出電壓和電阻212的裝置側端部的電位的電位差。然後，比較器414例如藉由集極開路(collector open)的方式使上述的比較結果施加至基準電壓設定部408。例如，比較器414在正輸入端的電位較負輸入端的電位還大時，則使輸出成為開路，在正輸入端的電位較負輸入端的電位還小時，則使輸出接地。
又，本例中，電阻212的裝置側端部是與電容器216的一端相連接。因此，裝置側端部的電位是與電容器216的端電壓Vo相等。在未使用一種抑制磁滯的寬度變動所用的功能時，比較器414亦可採用一種對低通濾波器402的輸出電壓和端電壓Vo進行比較用的構成。
基準電壓設定部408具有定電壓源508和多個電阻510，518。定電壓源508輸出一預定的電壓VCC1。電阻510是與定電壓源508的正極和比較器414的輸出端相連接。電阻518是與比較器414的輸出端和基準電壓輸出部406中的電阻506的上端相連接。
在端電壓Vo較基準電壓還小時，比較器414使輸出成為開路。此時，基準電壓設定部408經由多個電阻510，518而使定電壓源508的輸出電壓VCC1施加至電阻506的上端。因此，基準電壓輸出部406使依據該偏移加算部450的輸出，多個電阻502，504，506，510，518的電阻值之比以及定電壓源508的輸出電壓VCC1所定的第1基準電壓VH輸出至比較器414的正輸入端。在此種情況下，由電阻502所造成的電壓降若成為第1基準電位差V(R11)H，則第1基準電壓VH成為一種由偏移加算部450的輸出電壓減去第1基準電位差V(R11)H之後所得到的電壓。
又，在端電壓Vo較基準電壓還大時，比較器414使輸出接地。此時，基準電壓設定部408使電阻506的上端經由電阻518而接地。因此，基準電壓輸出部406由於電阻506的上端的電位下降而依據該偏移加算部450的輸出以及多個電阻502，504，506，518的電阻值之比所定的較第1基準電壓VH還小的第2基準電壓VL輸出至比較器414的正輸入端。在此種情況下，由電阻502所造成的電壓降若成為第2基準電位差V(R11)L，則第2基準電壓VL成為一種由偏移加算部450的輸出電壓減去第2基準電位差V(R11)L之後所得到的電壓。
因此，基準電壓設定部408依據比較器414的輸出而在電容器216的端電壓Vo較第1基準電壓VH還大時使第2基準電壓VL輸出至基準電壓輸出部406。又，端電壓Vo較第2基準電壓VL還小時，基準電壓設定部408使第1基準電壓VH輸出至基準電壓輸出部406。因此，基準電壓輸出部406依據基準電壓設定部408的輸出而輸出一種具有磁滯的可變化的基準電壓。
又，基準電壓設定部408使電阻510和電阻518之間的節點電位Va經由延遲部452而施加至負載驅動部410。因此，電容器216的端電壓Vo較基準電壓輸出部406所輸出的基準電壓還小時，基準電壓設定部408對應於比較器414的輸出使高位準的信號施加至負載驅動部410。結果，比較器414在端電壓Vo較基準電壓還小時可使高位準的電流增加信號輸出至輸出信號線。
另一方面，端電壓Vo較基準電壓還大時，基準電壓設定部408使低位準的信號施加至負載驅動部410。結果，比較器414在端電壓Vo較基準電壓還大時可使低位準的電流減少信號輸出至輸出信號線。
延遲部452經由負載驅動部410使供給至並列負載部304的信號的至少一部份受到延遲，這樣可防止端電壓Vo的過衝(overshoot)。未使用此延遲部452時，差值檢出部412的輸出可直接連接至負載驅動部410。
負載驅動部410例如可以是一種反相電路，其使經由基準電壓設定部408所接收的比較器414的輸出反相以施加至並列負載部304。因此，負載驅動部410使電容器216的端電壓Vo和基準電壓的比較結果所對應的信號施加至並列負載部304。本例中，端電壓Vo較基準電壓還大時，負載驅動部410使比較器414的電流減少信號反轉以輸出高位準的電流減少信號。又，端電壓Vo較基準電壓還小時，負載驅動部410使比較器414的電流增加信號反轉以輸出低位準的電流增加信號。因此，差值檢出部412檢出該偏移加算部450所調整的低通濾波器402的輸出電壓和電容器216的端電壓Vo的電位差且將已檢出的結果通知該並列負載部304以作為電流增加信號或電流減少信號。
並列負載部304對電流輸出部302的輸出端而言是與電阻212並列連接著，接收該電流減少信號時此並列負載部304消耗該電流輸出部302的輸出電流的一部份中的部份電流，接收該電流增加信號時此並列負載部304停止由該電流輸出部302接收部份電流。並列負載部304包括低速開關512，電阻514以及高速開關516。
低速開關512是一種開閉速率較電流輸出部302的應答速率還低的開關。此開關512的一端藉由與連接線206相連接而與電阻212並列地連接著。低速開關512例如對應於控制部110的指示而進行開閉。因此，控制部110可交替地使電子裝置50的電源電壓的安定化動作起動或停止。
此處，所謂電流輸出部302的應答速率例如是指電流輸出部302使輸出電流相對於電子裝置50所接收的電源電流Io而變化的速率。低速開關512例如亦可為MOSFET等的半導體開關。此時，低速開關512例如亦可經由電阻來接收該控制部110的輸出SW。
電阻514在低速開關512的下端直接與低速開關512相連接。然後，由電流輸出部302經由高速開關所接收的電流在電阻514中消耗。
高速開關516在電阻514的下端直接與電阻514相連接。此高速開關516是一種在閘極端接收該負載驅動部410的輸出所用的N型MOSFET。然後，高速開關516對應於該差值檢出部412的輸出而開/閉。此處，高速開關516以一種較電流輸出部302的應答速率還高的速率來進行開/閉。在電容器216的端電壓Vo較基準電壓還大時，高速開關516接收該電流減少信號而成為導通。又，在電容器216的端電壓Vo較基準電壓還小時，高速開關516接收該電流增加信號而成為關閉。高速開關516亦可與電阻212並列且與低速開關512直列地連接著。
此處，低速開關512和高速開關516導通時，電阻514中流過該電流輸出部302的輸出電流的一部份中的部份電流IL。並列負載部304消耗此部份電流IL。結果，端電壓Vo上升時，電流消耗部306使流過電阻212中的電流減少，端電壓Vo因此下降。又，高速開關516成為關閉時，並列負載部304停止該部份電流IL的消耗。結果，端電壓Vo下降時，電流消耗部306使流過電阻212中的電流增大，端電壓Vo因此上升。因此，測試裝置100可安定地保持著電子裝置50的電源電壓。
又，例如，未使用電流消耗部306時，若使電流輸出部302的輸出電流供給至電子裝置50，則電容器216的端電壓Vo對應於電子裝置50的電源電流Io的變化而會有變成較大的情況發生。例如，電源電流Io若暫時增大時，則端電壓Vo會有由於下越(undershoot)而暫時地變大下降的情況發生。又，電源電流Io若暫時減少時，則端電壓Vo會有由於過衝(overshoot)而暫時地增大的情況發生。此時，電子裝置50的電源電壓成為不安定，「進行適當的測試」變成較困難。又，由於近年的微型化技術的發展例如會使MOSFET的閘極耐壓下降，此時可能會由於電源電壓的過衝而破壞電子裝置50。
然而，依據本例，藉由使用電流消耗部306，可對應於電子裝置50的電源電流Io的變化以使由電流輸出部302而來的流經電容器216的電流適當地改變。因此，可安定地保持著電子裝置50的電源電壓。
又，測試裝置中由於需要多條連接線206，則例如會有由於組裝上的限制而使連接線206的配線寬度不易變大的情況發生。又，電流輸出部302配置在電子裝置50的附近時亦會有困難的情況發生。此時，即使例如藉由使電容器216的端電壓Vo回復而對電流輸出部302的輸出電壓進行補正，電流輸出部302的應答速率例如仍會依據連接線206的電感而受到限制。然而，依據本例，藉由高速開關516切換成導通或關閉，則能以適當且高速的方式使電容器216所接收的電流發生變化。
又，例如，在測試項目上或每個電子裝置50的種類中此電子裝置50的電源電壓會有不同的情況發生。此時，施加至比較器414中的基準電壓需要因為追蹤電子裝置50的電源電壓而發生變化。此處，該基準電壓例如若輸出至電流輸出部302以外的裝置電源中，則例如會由於測試裝置間或使用者介面間所發生的誤差而不能得到良好的精確度。又，此種誤差補正用的補正電路若以別種方式來設計，則電路規模會增大。
然而，依據本例，基準電壓輸出部406依據電流輸出部302的輸出電壓來產生上述的基準電壓。因此，依據本例，即使在電子裝置50的電源電壓變化時，仍可適當地產生基準電壓。
又，本例中的差值檢出部412經由偏移加算部450和低通濾波器402而接收電流輸出部302的輸出電壓。此時，電阻212的電源側端部的電位Vi例如即使對應於電源電流Io的變化而暫時地改變，仍可穩定地產生基準電壓。此處，低通濾波器402例如具有2仟赫(kHz)程度的截止頻率時，在電源側端部的電位Vi有100毫伏程度的變動的情況下，為了使輸出的變動成為1毫伏的程度，則該低通濾波器402例如亦可具有-40db程度的特性。
此時，像本例的RC段構成的低通濾波器402中，成為-3db的頻率會變成20赫。RC的時間常數τ成為8毫秒的大小。此時，例如，若施加至電子裝置50中的電源電壓變更時，則使基準電壓可在0.1％程度的精度中安定時為止的設定(settling)時間例如由於會成為6.9×τ＝55毫秒，則對測試時間的影響不大。
又，電子裝置50的電源電流Io是1A。電容器216的靜電容量是30微法拉(uF)。電容器216的端電壓Vo例如在大約100奈秒時下降3毫伏的程度。此時，可使用便宜而廣泛使用的比較器作為比較器414。
又，在另一例子中，並列負載部304例如亦可包含能以開關等來選擇的多個電阻514。此時，控制部110對應於電子裝置50的種類等以選取一個電阻514，低速開關512和高速開關516可與已選取的電阻514相連接。又，並列負載部304例如亦可使用定電流電路以取代電阻514。
圖4是本發明的實施形式的電流消耗部306的動作的一例的時序圖。本例中，電流輸出部302中須設定一種應供給至電子裝置50的電源電壓。然後，此電流輸出部302在時刻T1時開始動作，使電源電壓開始輸出。電流消耗部306對應於電源電壓而開始動作。然後，低通濾波器402的輸出電壓Vp安定之後，控制部110在時刻T2時使信號SW切換以使低速開關512導通。接收該輸出電壓Vp之後，此並列負載部304開始消耗上述的部份電流IL。控制部110亦可在該低通濾波器402的輸出電壓Vref和電流輸出部的302的輸出電壓大約相等之後，使低速開關512導通。
又，低速開關512例如亦可經由電阻以接收該信號SW以如圖中的點線所示慢慢地成為導通。並列負載部304亦可由時刻T2至T3此段時間中慢慢地使部份電流IL增大。
然後，等待至時刻T4為止使低速開關512安定化之後，開始對電子開關50進行測試。此測試中該電容器216的端電壓Vo對應於電子裝置50的動作而變化。伴隨著的是此差值檢出部412使「應使端電壓Vo安定化」所用的電流增加信號和電流減少信號被輸出。依據這些信號，高速開關516對應於端電壓Vo的變化而成為導通或關閉。並列負載部304消耗此種與端電壓Vo相對應的部份電流IL。因此，電流消耗部306使電子裝置50的電源電壓安定。
然後，時刻T5電子裝置50測試終了之後，由時刻T6開始至時刻T7為止，低速開關512成為關閉。然後，等待此低速開關512的安定化時間直至時刻T8為止，電流輸出部302使輸出電壓下降至0。然後，對應於此輸出電壓在該低通濾波器402的輸出電壓Vref下降之後，在時刻T9時電流消耗部306動作終了。又，此測試裝置100一旦使電流消耗部306的動作終了之後，亦可等待該低通濾波器402的安定化時間以開始下次的測試。依據本例，可使電子裝置50的電源電壓Vo安定地保持著。
圖5是本發明的實施形式由時刻T4至時刻T5時電流消耗部306的詳細動作的一例的時序圖。此期間中，電容器216的端電壓Vo對應於電子裝置50的動作而重複地增加/減少。
此處，基準電壓輸出部406對應於比較器414的輸出Va以輸出第1基準電壓VH或第2基準電壓VL。例如，就像由時刻T4至時刻T41為止的期間一樣，在端電壓Vo較第2基準電壓VL還大時，比較器414使低位準的電流減少信號供給至並列負載部304。並列負載部304接收此電流減少信號且由於消耗了該部份電流IL而使端電壓Vo徐徐地下降。
然後，如時刻T41所示，在端電壓Vo成為較第2基準電壓VL還小時，比較器414使輸出Va反轉成高位準以供給一種電流增加信號。然後，在較此時刻T41稍微延遲的時刻T42期間，並列負載部304對應於負載驅動部410的輸出以停止該部份電流IL的消耗。
此時，例如，在端電壓Vo成為較第2基準電壓VL還小之後，以及在成為較第1基準電壓VH還大為止的期間中，並列負載部304亦可使電流停止流過一種與電阻212並列的路徑。在差值檢出部412所檢出的電位差成為較預定的值還大時，並列負載部304亦可停止接收由電流輸出部302而來的部份電流IL。
其次，如時刻T42至時刻T43為止的期間所示，端電壓Vo在較第1基準電壓VH還小的期間中，比較器414使高位準的電流增加信號供給至並列負載部304。此時，由電流輸出部302流至電容器216中的電流會增大，電容器216的端電壓Vo會上升。
然後，如時刻T43所示，端電壓Vo成為較第1基準電壓VH還大時，比較器414使輸出Va反轉成低位準以供給一種電流減少信號。然後，在較此時刻T43稍微延遲的時刻T44期間，並列負載部304接收一種由延遲部452所延遲的電流減少信號以開始消耗該部份電流IL。此時，由電流輸出部302流至電容器216中的電流會減少，電容器216的端電壓Vo會下降。
此時，並列負載部304依據該比較器414的輸出而在電容器216的端電壓Vo較第1基準電壓VH還大之後直至較第2基準電壓VL還小為止的期間中，亦可使部份電流IL流經一種與電阻212並列的路徑以消耗此部份電流IL。並列負載部304亦可在差值檢出部412所檢出的電位差較預定的值還小時消耗此部份電流IL。
因此，電流消耗部306使電容器216的端電壓Vo在適當的範圍內獲得穩定。依據本例，電子裝置50的電源電壓於是可安定地保持著。
又，時刻T5中測試終了之後，即使像時刻T51那樣電容器216的端電壓Vo上升時，並列負載部304仍開始消耗該部份電流IL。因此，可防止端電壓Vo過度上升。
圖6是本發明的實施形式的偏移加算部450的構成。偏移加算部450包含定電壓源550，電阻552，電阻554和運算放大器558。定電壓源550可供給一種較低通濾波器402的輸出電壓Vref還高的第3基準電壓VCC2。電阻552連接至第3基準電壓VCC2。電阻554連接在電阻552中未與第3基準電壓VCC2相連接的端部和偏移加算部450的輸出端所在的運算放大器558的輸出端之間。
運算放大器558是本發明的第2比較器的一例，低通濾波器402的輸出電壓Vref輸入至正輸入端，電阻552和電阻554的接點的電壓輸入至負輸入端。當此接點的電壓較低通濾波器402的輸出電壓Vref還大時，運算放大器558使偏移加算部450的輸出電壓下降。又，當此接點的電壓較低通濾波器402的輸出電壓Vref還小時，運算放大器558使偏移加算部450的輸出電壓上升。
當輸入至運算放大器558的負輸入端的位於電阻552和電阻554的接點的電壓是與輸入至運算放大器558的正輸入端的低通濾波器402的輸出電壓Vref一致時，則偏移加算部450的輸出電壓VR獲得穩定。此處，由於第3基準電壓VCC2較低通濾波器402的輸出電壓Vref還高，則低通濾波器402的輸出電壓Vref確實會變高而使電阻552所造成的電壓降減少。結果，電阻554的電壓降由於是由電阻552和電阻554的電阻值之比來決定，則低通濾波器402的輸出電壓Vref確實會變高而使電阻554所造成的電壓降減少。因此，低通濾波器402的輸出電壓Vref更高時，偏移加算部450輸出一種由此輸出電壓Vref減去更小的電壓降(即，加上更接近0的負的偏移電壓)之後的電壓VR。反之，低通濾波器402的輸出電壓Vref更低時，偏移加算部450輸出一種由此輸出電壓Vref減去更大的電壓降(即，加上離0更遠的負的偏移電壓)之後的電壓VR。藉由使用該運算放大器558，則即使在偏移加算部450和基準電壓輸出部406之間未另外設置電壓隨耦器時亦可使輸出電壓Vref穩定。
圖7是不具備一偏移加算部450的測試裝置100的基準電位差藉由計算來求得的一例。不具備一偏移加算部450的測試裝置100中，低通濾波器402的輸出電壓Vref直接輸入至基準電壓輸出部406。以下，將參照圖3的差值檢出部412的電路，在比較器414的輸出分別是高位準及低位準時，將該低通濾波器402的輸出電壓Vref和輸入至比較器414中的基準電壓的差電壓(即，電阻502所造成的電壓降)予以顯示。又，本實施形式中，由基準電壓輸出部406的輸入電壓減去比較器414的基準電壓後的差電壓值稱為基準電壓。
(1)比較器414的輸出是高位準(電流增加信號)時定電壓源508的輸出電壓VCC1成為0V時，由電阻502至所看到的接地點為止的等效阻抗ZH如下式(1)所示。
(數1)ZH＝R12+(R13×(R14+R15)/(R13+R14+R15) (1)此處，R12是電阻504的電阻值，R13是電阻506的電阻值，R14是電阻518的電阻值，R15是電阻510的電阻值。
起因於定電壓源508而使電阻506的兩端所產生的電位差除外時，電阻502和偏移加算部450之間的等效電壓VRH如下式(2)所示。
(數2)VRH＝Vref-(VCC1×R13/(R13+R14+R15)) (2)比較器414的輸出由高位準向低位準變化時的電阻502的差電壓(Vref-Vin)等於電阻502所造成的電壓降V(R11)H(即，第1基準電位差)，如以下(3)式所示。
(數3)V(R11)H＝VRH×R11/(ZH+R11)＝(Vref-(VCC1×R13/(R13+R14+R15)))×R11/(ZH+R11)＝Vref×[R11/(ZH+R11)]-VCC1×[(R13/(R13+R14+R15))×R11/(ZH+R11) (3)此處，由於第1基準電位差V(R11)H成為正，則第1項較第2項還大。又，第2項即使低通濾波器402的輸出電壓Vref變化時仍可保持一定的值。因此，若低通濾波器402的輸出電壓Vref發生變化，第1項變化的結果會使第1基準電位差V(R11)H發生變動。
(2)比較器414的輸出是低位準(電流減少信號)時比較器414的輸出成為低位準(電壓VOL)時，由電阻502至所看到的接地點為止的等效阻抗ZH如下式(4)所示。
(數4)ZL＝R12+(R13×R14)/(R13+R14)(4)起因於比較器414的輸出電壓VOL而使電阻506的兩端所產生的電位差除外時，電阻502和偏移加算部450之間的等效電壓VRL如下式(5)所示。
(數5)VRL＝Vref-(VOL×R13/(R13+R14)) (5)比較器414的輸出由低位準向高位準變化時的電阻502的差電壓(Vref-Vin)等於電阻502所造成的電壓降V(R11)L(即，第2基準電位差)，如以下(6)式所示。
(數6)V(R11)L＝VRL×R11/(ZL+R11)＝(Vref-(VOL×R13/(R13+R14)))×R11/(ZL+R11)＝Vref×[R11/(ZH+R11)]-VOL×[(R13/(R13+R14))×R11/(ZL+R11)](6)此處，由於第1基準電位差V(R11)L成為正，則第1項較第2項還大。又，第2項即使低通濾波器402的輸出電壓Vref變化時仍可保持一定的值。因此，若低通濾波器402的輸出電壓Vref發生變化，則第1項變化的結果會使第1基準電位差V(R11)L發生變動。
如圖7所示，未具備偏移加算部450的測試裝置100中，第1基準電位差V(R11)H和第2基準電位差V(R11)L的差Vth不管低通濾波器402的輸出電壓Vref多少都幾乎保持一定，但各別的值則對應於低通濾波器402的輸出電壓Vref而變大。因此，在使電源電壓Vo變化的測試等的過程中，電源電壓的安定性是對應於供給至電子裝置50中的電源電壓的變化而變化，正確的測試較困難。
圖8是本發明的實施形式的測試裝置100的基準電位差藉由計算而求得的一例。以下，將參照圖3的差值檢出部412及圖6的偏移加算部450的電路，在比較器414的輸出分別是高位準及低位準時，將該低通濾波器402的輸出電壓Vref和輸入至比較器414中的基準電壓的差電壓予以顯示。
(1)比較器414的輸出是高位準(電流增加信號)時偏移加算部450的輸出電壓VR在安定狀態中，電阻552和電阻554的接點的電壓由於成為Vref，則得到下式(7)。
(數7)VR＝Vref-(VCC2-Vref)×(R21/R26)(7)具備此偏移加算部450的測試裝置100中，偏移加算部450的輸出電壓VR輸入至基準電壓輸出部406以取代該低通濾波器402的輸出電壓Vref。此時的電阻502和偏移加算部450之間的等效電壓VRH是將式(2)的Vref置換成VR後所得者。因此，比較器414的輸出由高位準向低位準變化時，低通濾波器402的輸出電壓Vref和輸入至比較器414中的基準電壓之間的電壓差Vref(H)如下式(8)所示。
(數8)Vref(H)＝Vref-VR+V(R11)H＝(Vref×((R11/(ZH+R11)-(R21/R26)×(ZH/(ZH+R11)))+VCC2×(R21/R26)×(ZH/ZH+R11))-VCC1×(R13/(R13+R14+R15))×(R11/(ZH+R11)) (8)式(8)的第1式可變為以下的式(9)。
(數9)Vref(H)＝V(R11)H-(VR-Vref) (9)此處，偏移加算部450將負的偏移電壓(VR-Vref)加至低通濾波器402的輸出電壓Vref而輸出成偏移加算部450的輸出電壓VR。因此，差電壓Vref(H)成為一種由第1基準電位差V(R11)H減去此偏移加算部450的偏移電壓後所得的值。於是，偏移加算部450對應於低通濾波器402的輸出電壓的變化而使第1基準電位差增加時偏移電壓亦增加，第1基準電位差減少時偏移電壓亦減少，這樣可抑制差電壓Vref(H)的變動。偏移加算部450較佳是對該偏移電壓進行調整，使第1基準電位差的變動量和偏移電壓的變動量大約相同。
其次，顯示一種使差電壓Vref(H)的變動成為0時所需的條件。在式(8)中，第2項和第3項即使低通濾波器402的輸出電壓Vref發生變化時仍可保持一定的值。因此，不管低通濾波器402的輸出電壓Vref的變化，為了使Vref(H)保持一定，若使第1項成為0亦可。為了實現此目的，亦可確定此偏移加算部450內的電阻552和電阻554的電阻值，以達成R21/R26＝R11/ZH的關係。又，亦可設定各電阻值，使(第2項-第3項)成為正的值。
(2)比較器414的輸出是低位準(電流減少信號)時具備此偏移加算部450的測試裝置100中，如上所述，偏移加算部450的輸出電壓VR輸入至基準電壓輸出部406以取代該低通濾波器402的輸出電壓Vref。此時的電阻502和偏移加算部450之間的等效電壓VRL是將式(5)的Vref置換成VR後所得者。因此，比較器414的輸出由低位準向高位準變化時，低通濾波器402的輸出電壓Vref和輸入至比較器414中的基準電壓之間的電壓差Vref(L)如下式(10)所示。
(數10)Vref(L)＝Vref-VR+V(R11)L＝(Vref×((R11/(ZL+R11)-(R21/R26)×(ZL/(ZL+R11)))+VCC2×(R21/R26)×(ZL/ZL+R11))-VOL×(R13/(R13+R14))×(R11/(ZL+R11)) (10)和上述(1)的情況一樣，式(10)的第1式可變為以下的式(11)。
(數11)Vref(L)＝V(R11)L-(VR-Vref) (11)由式(11)可知，差電壓Vref(H)成為一種由第2基準電位差V(R11)L減去此偏移加算部450的偏移電壓後所得的值。於是，偏移加算部450對應於低通濾波器402的輸出電壓的變化而使第2基準電位差增加時偏移電壓亦增加，第2基準電位差減少時偏移電壓亦減少，這樣可抑制差電壓Vref(L)的變動。偏移加算部450較佳是對該偏移電壓進行調整，使第2基準電位差的變動量和偏移電壓的變動量大約相同。
其次，顯示一種使差電壓Vref(L)的變動成為0時所需的條件。在式(11)中，第2項和第3項即使低通濾波器402的輸出電壓Vref發生變化時仍可保持一定的值。因此，不管低通濾波器402的輸出電壓Vref的變化，為了使Vref(L)保持一定，若使第1項成為0亦可。為了實現此目的，亦可確定此偏移加算部450內的電阻552和電阻554的電阻值，以達成R21/R26＝R11/ZL的關係。又，亦可設定各電阻值，使(第2項-第3項)成為正的值。
如上所述，ZH含有R15以作為參數，ZL未含有作為參數用的R15。因此，R15不限於0，低通濾波器402的輸出電壓Vref所對應的Vref(H)和Vref(L)的變動不能同時成為0。因此，亦可對偏移加算部450內的電阻552和電阻554的電阻值進行設定，使輸出電壓Vref所對應的Vref(H)和Vref(L)的變動幅度最小化。又，電阻502的電阻值R15亦可設定成和電阻518的電阻值R14比較時是較小值。又，可使用電壓輸出型的比較器作為比較器414，由於電阻510和定電壓源508已成為不需要，則伴隨著低通濾波器402的輸出電壓Vref的變化的Vref(H)和Vref(L)的變動幅度可同時成為0。
圖8的條件B-1至B-3是在R21/R26＝R11/ZL的情況下伴隨著該低通濾波器402的輸出電壓Vref的變化的Vref(H)的變動幅度成為0時輸出電壓Vref和Vref(H)及Vref(L)的關係。如圖8所示，測試裝置100在使用該偏移加算部450時，對應於低通濾波器402的輸出電壓Vref的變化即使第1基準電壓V(R11)H和第2基準電壓V(R11)L發生變化時，亦可抑制低通濾波器402的輸出電壓Vref和第1基準電壓VRH及第2基準電壓VRL的差電壓的變動。
又，圖8的條件C-1至C-3是使用電壓輸出型的比較器作為比較器414時輸出電壓Vref和Vref(H)及Vref(L)的關係。如圖8所示，測試裝置100使用電壓輸出型的比較器作為比較器414且藉由去除該電阻510的影響，在對應於低通濾波器402的輸出電壓Vref的變化下即使第1基準電壓V(R11)H和第2基準電壓V(R11)L發生變化時，實際上亦可使低通濾波器402的輸出電壓Vref和第1基準電壓VRH及第2基準電壓VRL的差電壓的變動同時成為0。
如上所示，依據本實施形式的測試裝置100，即使低通濾波器402的輸出電壓Vref發生變化，此輸出電壓Vref與第1基準電壓VH的差電壓Vref(H)，以及此輸出電壓Vref與第2基準電壓VL的差電壓Vref(L)的變動可被抑制成大約是0。因此，即使在電子裝置50的電源電壓發生變化時，此測試裝置100仍可供給穩定的電源電壓。
圖9是本發明的實施形式的延遲部452的構成。延遲部452對應於差值檢出部412開始供給該電流增加信號直至開始供給該電流減小信號為止的期間，使開始供給該電流減小信號至並列負載部304所用的時序(timing)發生變化。更具體而言，延遲部452在上述期間更長的情況下使該時序延遲更多。
延遲部452包括反相閘950，基極電流供給部951，電晶體956，電阻960，反及閘962。反相閘950使由差值檢出部412的輸出信號線所供給的電流增加信號和電流減少信號的邏輯值反相。結果，反相閘950輸出低位準的電流增加信號和高位準的電流減少信號。
在該差值檢出部412供給該電流減少信號時，基極電流供給部951供給第1基極電流至電晶體956，在該差值檢出部412供給該電流增加信號時，基極電流供給部951供給一種較第1基極電流還大的第2基極電流至電晶體956。基極電流供給部951包含反相閘952，電阻954和二極體964。
反相閘952是本發明的第1閘的一例，在差值檢出部412供給該電流增加信號時，反相閘952輸出高位準的信號，在差值檢出部412供給該電流減少信號時，反相閘952輸出低位準的信號。因此，反相閘952可防止電晶體956的基極側的電流逆流至反相閘950的輸出信號線。本實施形式中的反相閘952使反相閘950所輸出的電流增加信號和電流減少信號的邏輯值反相。
電阻954設在反相閘952的輸出和電晶體956的基極之間，使以反相閘952的輸出電壓和電晶體956的基極電壓為基準的基極電流供給至電晶體956的基極。反相閘952輸出一種低位準的電流減少信號時，電阻954供給負值的第1基極電流而使基極電壓下降。反相閘952輸出一種高位準的電流增加信號時，電阻954供給一種較第1基極電流還大的第2基極電流至電晶體956而使基極電壓上升。
二極體964是與電阻954並列而設置著，第一閘952的輸出和陰極連接著，電晶體956的基極和陽極連接著。在反相閘952的輸出由高位準向低位準變化時，二極體964藉由電晶體956的寄生電容使電晶體956成為關閉為止時所需要的延遲時間減少。二極體964較佳是一種前向偏壓小且以高速動作的蕭特基(schottky)二極體。
電晶體956的基極連接至二極體964的輸出，集極連接至電阻960和反及閘962之間的接點，射極則接地。由基極電流供給部951所供給的基極電流輸入至電晶體956的基極，第2基極電流輸入時電晶體956即飽和。即，第2基極電流輸入時，電阻954和電阻960的電阻值已確定，使集極電流(IC)/基極電流(IB)在較電晶體956的電流放大率hfe小很多的飽和區域中動作。因此，電晶體956隨著第2基極電流輸入而在飽和區域中動作時的導通時間的變長，使基極電流由切換成第1基極電流開始直至成為關閉為止時的延遲時間亦會變長。
電阻960的一端連接至定電壓源VCC3且另一端連接至電晶體956的集極和反及閘962的1輸入端。在電晶體956導通狀態下，電阻960使依據電壓源VCC3和電阻960所決定的集極電流Ic流至電晶體956。此時，電晶體956的集極側的電位成為低位準。又，電晶體956在關閉狀態時，電阻960使電晶體956的集極側的電位成為高位準。
反及閘962是本發明中電流控制信號輸出部的一例，其對反及閘950的輸出和電晶體956的集極的電位進行否定邏輯和的運算以輸出至負載驅動部410。因此，在一種由電晶體956中輸入第2基極電流時的期間和電晶體956飽和時的期間所構成的電晶體956導通期間中，反及閘962使高位準的電流增加信號供給至並列負載部304。又，電晶體956中輸入第1電流且電晶體956未飽和時的關閉期間中，低位準的電流減少信號供給至並列負載部304。
圖10是本發明的實施形式的延遲部452的動作的一例的時序圖。反相閘950使差值檢出部412的輸出反相後的信號輸出至A點。反相閘952使反相閘950的輸出再反相後的信號輸出至B點。
由時刻T1至T2期間，若由差值檢出部412接收高位準的電流增加信號，則B點的電位成為高位準，第2基極電流供給至電晶體956。因此，電晶體956成為導通且飽和。結果，C點成為低位準，反及閘962輸出高位準的電流增加信號。
在時刻T2時，差值檢出部412的輸出若由高位準的電流增加信號變成低位準的電流減少信號，則電晶體956在電晶體956中輸入第2基極電流期間ton所對應的延遲時間tdoff之後成為關閉狀態。此處，電晶體956即使在接收電流減少信號之後在延遲期間tdoff期間仍成為飽和狀態。因此，直至時刻T3為止的電晶體956飽和期間中，C點仍維持原來的低位準。反及閘962繼續輸出高位準的電流增加信號。然後，時刻T3以後電晶體956中輸入第1電流且電晶體956未飽和期間中A點和C點成為高位準，反及閘962輸出低位準的電流減少信號。
在時刻T4時，差值檢出部412的輸出若變化成高位準的電流增加信號，則反相閘950的輸出被反相，A點成為低位準。因此，反及閘962由時刻T4開始而在反相閘950和反及閘962的邏輯延遲等所決定的短的延遲之後輸出高位準的電流增加信號。
依據以上所示的延遲部452，在差值檢出部412由開始供給電流增加信號至開始供給電流減少信號為止的期間更長時，則由差值檢出部412開始供給電流減少信號直至電流減少信號供給至並列負載部304為止時的延遲時間在與由差值檢出部412開始供給電流增加信號直至電流增加信號供給至並列負載部304為止時的延遲時間相比較時變成更長。因此，延遲部452使輸出由高位準的電流增加信號切換成低位準的電流減少信號時的時序(timing)得以延遲，對差值檢出部412而來的輸出以輸出該電流增加信號時的期間因此可變長。
圖11是本發明的實施形式的測試裝置100的動作和電流輸出部302的輸出電流的關係。電子裝置50若流過電源電流Io，則該測試裝置100控制該電容器216的端電壓Vo使其介於第1基準電壓VH和第2基準電壓VL之間。此測試裝置100以動作的穩定作為目的，且將第1基準電壓VH和第2基準電壓VL設定成較電子裝置50的電源電壓還低。因此，電流輸出部302的輸出電壓以較電子裝置50的電源電壓還低的電壓而發生變動。
此處，電流輸出部302使輸出電壓負回授至比較器以實現高精確度。然後，電流輸出部302由於電流檢出部302的輸出電壓亦以較電子裝置50的電源電壓還低的電壓而變動，則此輸出電壓直至成為電子裝置50的電源電壓為止都具有使輸出電流徐徐地增加的特性。
圖11(a)顯示一未具有延遲部452的測試裝置100的動作和電流輸出部302的輸出電流的關係的時序圖。未具有該延遲部452時，電容器216的端電壓Vo在成為較第1基準電壓VH還大之後，差值檢出部412所輸出的電流減少信號供給至並列負載部304，以開始消耗一部份電流。因此，電流輸出部302由於輸出電壓Vo2的平均值較目標電壓所在的電子裝置50的電源電壓還低而使輸出電流IDPS徐徐地增加。結果，隨著電源電流Io流過電子裝置50的期間變長，電流輸出部302所供給的輸出電流IDPS會增加。
然後，電子裝置50的電源電流Io若急速地減少，則電流輸出部302不能使反應良好的輸出電流IDPS下降，即使藉由並列負載部304亦不能吸收該輸出電流IDPS的全部，於是電流輸出部302的輸出電壓Vo2中會發生大的過衝(overshoot)Vp現象。
圖11(b)顯示一種具有延遲部452的測試裝置100的動作和電流輸出部302的輸出電流的關係的時序圖。由電容器216的端電壓Vo成為較第1基準電壓VH還大開始，在經過高速開關516的關閉期間所對應的延遲時間之後，延遲部452使電流減少信號供給至並列負載部304。因此，電容器216的端電壓Vo成為較第1基準電壓VH大很多時，開始消耗一部份電流。輸出電壓Vo2的平均值由於接近目標電壓所在的電子裝置50的電源電壓，電流輸出部302使輸出電流IDPS的增加量下降。結果，電源電流Io流過電子裝置50的期間即使變長，電流輸出部302所供給的輸出電流IDPS的增加在與未具有該延遲部452時比較下會變少。
因此，即使電子裝置50的電源電流Io急速地減少，藉由並列負載部304仍可吸收該輸出電流IDPS，使輸出電壓Vo2的過衝(overshoot)Vp減低。
圖12是本發明的實施形式的延遲部452的測試裝置100的詳細動作的一例。首先，電子裝置50處於未消耗該電源電流Io的狀態中，電流輸出部302的輸出電流IDPS的全部成為部份電流IL而消耗在並列負載部304中。
其次，電子裝置50若開始消耗作為電源電流Io用的Idd[A]，則由電容器214和電容器216開始流出Idd[A]的電流。端電壓Vo以對應於電容器214和電容器216的容量的合計值CL[F]和Idd的值所決定的速率而下降。若端電壓Vo成為較第2基準電壓VL還小，則差值檢出部412使輸出切換成電流增加信號。以下，應供給至電子裝置50中的電源電壓Vo2和第2基準電壓VL的差以VLd[V]來表示。
差值檢出部412由輸出切換成電流增加信號開始而經過一延遲時間td之後，並列負載部304內的高速開關516成為關閉。藉由該延遲時間td所造成的電流增加信號的延遲，則電源電壓Vo由第2基準電壓VL開始更下降VLx[V]之後才開始上升。
高速開關516在關閉狀態時，(IL-Idd)[A]的電流流入電容器214和電容器216中，端電壓Vo以對應於電容器214和電容器216的容量的合計值CL[F]和(IL-Idd)的值所決定的速率而上升。若端電壓Vo成為較第1基準電壓VH還大，則差值檢出部412使輸出切換成電流減少信號。以下，電源電壓Vo2和第1基準電壓VH的差以VHd[V]來表示。
差值檢出部412由輸出切換成電流減少信號開始而經過一延遲時間tdoff之後，並列負載部304內的高速開關516成為導通。藉由該延遲時間tdoff所造成的電流減少信號的延遲，則電源電壓Vo由第1基準電壓VH開始更上升VHx[V]之後才開始下降。
如圖12(a)所示，(2×Idd)較IL還小時，由於Idd＜(IL-Idd)，則端電壓Vo的上升速率較下降速率還快。因此，即使延遲部452所造成的延遲量tdoff成為0，電流輸出部302的輸出電壓仍可達成一種應供給至電子裝置50中的電源電壓。於是，電流輸出部302所供給的輸出電流IDPS的增加會變小，過衝Vp會較小。
另一方面，如圖12(b)所示，Idd＜IL＜(2×Idd)時，由於Idd＞(IL-Idd)，則端電壓Vo的上升速率較下降速率還慢。因此，即使延遲部452未造成延遲，電流輸出部302的輸出電壓仍未能達成一種應供給至電子裝置50中的電源電壓。於是，延遲部452使該電流減少信號延遲一延遲時間tdoff，使電流輸出部302的輸出電壓能達成一種應供給至電子裝置50中的電源電壓。於是，電流輸出部302所供給的輸出電流IDPS的增加可受到抑制，過衝Vp會減低。
由端電壓Vo開始上升至達到第1基準電壓VH為止的時間t2可藉由以下的式(12)來求得。
(數12)t2＝CL×(VLx+Vth)/(IL-Idd)(12)然而，Vth是VL和VH的差電壓。
端電壓Vo達到第1基準電壓VH之後進而更上升VHx時所需的延遲時間tdoff可由以下的式(13)來求得。
(數13)tdoff＝CL×VHx/(IL-Idd) (13)由式(12)和(13)可得以下的式(14)(數14)tdoff/t2＝VHx/(VLX+Vth) (14)由式(14)，若VHx、VLx和Vth已確定，則可算出t2所對應的toff的值。因此，藉由滿足上述關係或藉由近似於上述關係的toff實現用的電阻954和電阻960的電阻值的確定，則延遲部452能以適當的時序使電流減少信號延遲，使過衝Vp減低。
又，電容器214和電容器216的合計容量CL的最小值是依據電子裝置50的電源電流Idd，並列負載部304的動作的延遲時間td以及第1基準電壓以下的電壓降的容許量VLx來決定。更具體而言，CL的最小值可依據以下的式(15)來求得。
(數15)CL＝Idd×td/VLx (15)例如，Idd是1A，td是300ns，VLx是10mV時，CL成為30uF以上。
以上，雖然使用本發明的實施形式來說明，但本發明的技術範圍不限於上述實施形式中所記載的範圍。上述實施形式中可施加多樣化的變更或改良，此為此行的專家所明白。施加此種變更或改良後的形式亦屬本發明的技術範圍中可得到者，這由申請專利範圍的記載即可明白。
產業上的可利用性依據本發明以提供一種電源裝置，其供給穩定的電源電壓至電子裝置，且本發明提供一種測試裝置，其使用上述的電源裝置以高精確度來對電子裝置進行測試。
雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，因此本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
權利要求
1.一種電源裝置，其使電源電流供給至電子裝置中，其特徵在於該電源裝置具備電流輸出部，其使至少一部份含有電源電流的輸出電流被輸出；連接電阻，藉由電流輸出部與電子裝置在電性上相連接，此連接電阻使由電流輸出部所接收的電源電流供給至電子裝置；低通濾波器，其截止頻率較由電子裝置所接收的電源電流變化時的頻率還低，此低通濾波器使較截止頻率還高的頻率成份減少而使電流輸出部的輸出電壓通過；並列負載部，其對該電流輸出部的輸出端而言是與該連接電阻並列而連接著，在指示「電源電流減少」所用的電流減少信號已被接收時，則消耗該電流輸出部的輸出電流的一部份中的部份電流，在指示「電源電流增加」所用的電流增加信號已被接收時，則停止由該電流輸出部接收上述的部份電流；偏移加算部，其使偏移電壓已相加至該低通濾波器的輸出電壓後的電壓輸出；以及差值檢出部，在該連接電阻所在的電子裝置附近的裝置側端部的電位較由該偏移加算部的輸出電壓減掉第1基準電位差後所得的第1基準電壓還小時，使該電流增加信號供給至該並列負載部，該裝置側端部的電位成為較第1基準電壓還大時，使該電流減少信號供給至該並列負載部，以及該偏移加算部對應於該低通濾波器的輸出電壓的變化而在第1基準電位差增加時使該偏移電壓增加，在第1基準電位差減少時使該偏移電壓減少。
2.根據權利要求1所述的電源裝置，其特徵在於其中所述的差值檢出部在裝置側端部的電位較由該偏移加算部的輸出電壓減掉第2基準電位差後所得的第2基準電壓還大時，使該電流減少信號供給至該並列負載部，該裝置側端部的電位成為較第2基準電壓還小時，使該電流增加信號供給至該並列負載部，以及該偏移加算部亦可對應於該低通濾波器的輸出電壓的變化而在第2基準電位差增加時使該偏移電壓增加，在第2基準電位差減少時使該偏移電壓減少。
3.根據權利要求2所述的電源裝置，其特徵在於其中所述的差值檢出部具有基準電壓輸出部，其對該偏移加算部的輸出電壓進行分壓，以輸出第1基準電壓或輸出一種較第1基準電壓還小的第2基準電壓中的任一個電壓；第1比較器，其在裝置側端部的電位較該基準電壓還大時使該電流減少信號輸出至輸出信號線，在裝置側端部的電位較該基準電壓還小時使該電流增加信號輸出至輸出信號線；以及基準電壓設定部，其依據第1比較器的輸出而在裝置側端部的電位較第1基準電壓還大時使第2基準電壓輸出至基準電壓輸出部，在裝置側端部的電位較第2基準電壓還小時使第1基準電壓輸出至基準電壓輸出部，以及該並列負載部亦可依據由第1比較器的輸出信號線所供給的電流增加信號和電流減少信號，在該裝置側端部的電位成為較第1基準電壓還大之後至成為較第2基準電壓還小為止的期間中，使由該電流輸出部所接收的上述的部份電流流經一種與該連接電阻並列的路徑而予以消耗，在該裝置側端部的電位成為較第2基準電壓還小之後至成為較第1基準電壓還大為止的期間中，使該部份電流停止流過上述並列的路徑。
4.根據權利要求3所述的電源裝置，其特徵在於其中所述的偏移加算部具有第1電阻，其連接至較該低通濾波器的輸出電壓還高的第3基準電壓；第2電阻，其連接在第1電阻所在的第3基準電壓未被連接的端部和該偏移加算部的輸出之間；以及第2比較器，其輸入該低通濾波器的輸出電壓和第1電阻及第2電阻的接點的電壓，在該接點的電壓較該低通濾波器的輸出電壓還大時，使該偏移加算部的輸出電壓下降，在該接點的電壓較該低通濾波器的輸出電壓還小時，使該偏移加算部的輸出電壓上升。
5.根據權利要求1所述的電源裝置，其特徵在於其中所述的差值檢出部更具備一種延遲部，其在由電流增加信號的供給開始時直至電流減少信號的供給開始時為止的期間變成更長時，則使電流減少信號開始供給至並列負載部時的時序延遲更多。
6.一種電源裝置，其使電源電流供給至電子裝置中，其特徵在於該電源裝置具備電流輸出部，其使至少一部份含有電源電流的輸出電流被輸出；連接電阻，藉由電流輸出部與電子裝置在電性上相連接，此連接電阻使由電流輸出部所接收的電源電流供給至電子裝置；低通濾波器，其截止頻率較由電子裝置所接收的電源電流變化時的頻率還低，此低通濾波器使較截止頻率還高的頻率成份減少而使電流輸出部的輸出電壓通過；並列負載部，其對該電流輸出部的輸出端而言是與該連接電阻並列而連接著，在指示「電源電流減少」所用的電流減少信號已被接收時，則消耗該電流輸出部的輸出電流的一部份中的部份電流，在指示「電源電流增加」所用的電流增加信號已被接收時，則停止由該電流輸出部接收上述的部份電流；差值檢出部，在該連接電阻所在的電子裝置附近的裝置側端部的電位較由該低通濾波器的輸出電壓減掉一預定的值之後所得的第1基準電壓還小時，使該電流增加信號供給至該並列負載部，該裝置側端部的電位成為較第1基準電壓還大時，使該電流減少信號供給至並列負載部；以及延遲部，其在電流增加信號由該差值檢出部開始供給時直至電流減少信號的供給開始時為止的期間變成更長時，則使電流減少信號開始供給至並列負載部時的時序延遲更多。
7.根據權利要求6所述的電源裝置，其特徵在於其中所述的延遲部亦可在電流增加信號由該差值檢出部開始供給時直至電流減少信號的供給開始時為止的期間變成更長時，使由差值檢出部開始供給該電流減少信號直至此電流減少信號供給至並列負載部為止時的延遲時間在與由差值檢出部開始供給該電流增加信號直至此電流增加信號供給至並列負載部為止時的延遲時間相比較時更加延長。
8.根據權利要求7所述的電源裝置，其特徵在於其中所述的延遲部具有基極電流供給部，其在該差值檢出部供給該電流減少信號時供給第1基極電流，在該差值檢出部供給該電流增加信號時此基極電流供給部供給一種較第1基極電流還大的第2基極電流；電晶體，其將該電流供給部所供給的基極電流輸入至基極中，在第2基極電流輸入時此電晶體即飽和；以及電流控制信號輸出部，在該電晶體中輸入第2基極電流期間以及電晶體飽和期間此二期間所構成的電晶體導通期間中，使電流增加信號供給至並列負載部，在該電晶體中輸入第1電流且該電晶體未達飽和時的關閉期間中，使電流減少信號供給至並列負載部。
9.根據權利要求8所述的電源裝置，其特徵在於其中所述的基極電流供給部包含第1閘，其在該差值檢出部供給該電流增加信號時輸出一種高位準的信號，在差值檢出部供給該電流減少信號時輸出一種低位準的信號；第3電阻，其設置在第1閘的輸出和該電晶體的基極之間；以及二極體，其與第3電阻並列而設置著，此二極體的陰極是與第1閘的輸出相連接，且此二極體的陽極是與該電晶體的基極相連接。
10.一種電子裝置測試用的測試裝置，其特徵在於該測試裝置具備電流輸出部，其使至少一部份含有該電子裝置所應接收的電源電流的輸出電流被輸出；連接電阻，藉由電流輸出部與電子裝置在電性上相連接，此連接電阻使由電流輸出部所接收的電源電流供給至電子裝置；低通濾波器，其截止頻率較由電子裝置所接收的電源電流變化時的頻率還低，此低通濾波器使較截止頻率還高的頻率成份減少且使電流輸出部的輸出電壓通過；並列負載部，其對該電流輸出部的輸出端而言是與該連接電阻並列而連接著，在指示「電源電流減少」所用的電流減少信號已被接收時，則消耗該電流輸出部的輸出電流的一部份中的部份電流，在指示「電源電流增加」所用的電流增加信號已被接收時，則停止由該電流輸出部接收上述的部份電流；偏移加算部，其使偏移電壓已相加至該低通濾波器的輸出電壓後的電壓被輸出；差值檢出部，在該連接電阻所在的電子裝置附近的裝置側端部的電位較由該偏移加算部的輸出電壓減掉第1基準電位差後所得的第1基準電壓還小時，使該電流增加信號供給至該並列負載部，該裝置側端部的電位成為較第1基準電壓還大時，使該電流減少信號供給至該並列負載部；圖樣產生部，其產生一種應輸入至該電子裝置中的測試圖樣；信號輸入部，其使該測試圖樣供給至接收該電源電流所用的電子裝置中；以及判定部，其對應於上述的測試圖樣以依據電子裝置所輸出的信號來判定電子裝置的良否，以及該偏移加算部對應於該低通濾波器的輸出電壓的變化而在第1基準電位差增加時使該偏移電壓增加，在第1基準電位差減少時使該偏移電壓減少。
11.一種電子裝置測試用的測試裝置，其特徵在於該測試裝置具備電流輸出部，其使至少一部份含有電源電流的輸出電流被輸出；連接電阻，藉由電流輸出部與電子裝置在電性上相連接，此連接電阻使由電流輸出部所接收的電源電流供給至電子裝置；低通濾波器，其截止頻率較由電子裝置所接收的電源電流變化時的頻率還低，此低通濾波器使較截止頻率還高的頻率成份減少且使電流輸出部的輸出電壓通過；並列負載部，其對該電流輸出部的輸出端而言是與該連接電阻並列而連接著，在指示「電源電流減少」所用的電流減少信號已被接收時，則消耗該電流輸出部的輸出電流的一部份中的部份電流，在指示「電源電流增加」所用的電流增加信號已被接收時，則停止由該電流輸出部接收上述的部份電流；差值檢出部，在該連接電阻所在的電子裝置附近的裝置側端部的電位較由該低通濾波器的輸出電壓減掉預定的值後所得的第1基準電壓還小時，使該電流增加信號供給至該並列負載部，該裝置側端部的電位成為較第1基準電壓還大時，使該電流減少信號供給至該並列負載部；延遲部，其在電流增加信號由該差值檢出部開始供給時直至電流減少信號的供給開始時為止的期間變成更長時，則使電流減少信號開始供給至並列負載部時的時序延遲更多，圖樣產生部，其產生一種應輸入至該電子裝置中的測試圖樣；信號輸入部，其使該測試圖樣供給至接收該電源電流所用的電子裝置中；以及判定部，其對應於上述的測試圖樣以依據電子裝置所輸出的信號來判定電子裝置的良否。
全文摘要
本發明是有關於一種電源裝置，其包括連接電阻，其使電子裝置的電源電流供給至電子裝置；低通濾波器，其使電流輸出部的輸出電壓通過；並列負載部，其在接收電流減少信號時消耗該輸出電流的一部份中的部份電流，在接收電流增加信號時停止接收上述的部份電流；偏移加算部，其使偏移電壓已相加至該低通濾波器的輸出電壓後的電壓輸出；以及差值檢出部，在該連接電阻的裝置側端部的電位較由該偏移加算部的輸出電壓減掉基準電位差後所得的基準電壓還小時，使該電流增加信號供給至該並列負載部，該裝置側端部的電位成為較基準電壓還大時，使該電流減少信號供給至該並列負載部。該偏移加算部對應於該低通濾波器的輸出電壓的變化而在第1基準電位差變化時調整該偏移電壓。
文檔編號G01R31/28GK101031806SQ20058003274
公開日2007年9月5日 申請日期2005年9月21日 優先權日2004年9月30日
發明者橋本好弘 申請人:愛德萬測試株式會社