用於pcb電氣性能測試的複合治具的製作方法

2023-06-05 02:04:46 2

用於pcb電氣性能測試的複合治具的製作方法
【專利摘要】本實用新型適用於PCB板【技術領域】，提供了一種用於PCB電氣性能測試的複合治具，包括上下相對設置的上、下模，上、下模均設有針盤、線盤及底板，底板上設有針腳，針盤上設有探針，針腳的分布密度與測試機測試針的分布密度相同；線盤上設置有數量與探針數量相同的導線；探針穿出針盤的上下表面，其一端接觸PCB板上的測試點，另一端與導線的一端電連接，導線的另一端與針腳電連接；探針的分布密度與PCB板測試點分布密度相同，且為針腳分布密度的整數倍。上述複合治具，解決了PCB板測試點分布密度與測試機測試針分布密度不匹配的問題，合理稼動了閒置的測試機，節約了費用；同時，針腳直接與測試針接觸測試，無需排線連接，操作簡便。
【專利說明】用於PCB電氣性能測試的複合治具

【技術領域】
[0001]本實用新型屬於PCB板【技術領域】，尤其涉及一種用於PCB電氣性能測試的複合治具。

【背景技術】
[0002]PCB板的電氣性能測試，需要使用測試機及相應的治具來實現，現雙倍密度/四倍密度治具只能在雙倍密度/四倍密度測試機上測試。如圖1所示，為現有的治具100 '，其包括上下相對設置的上模10 '及下模20'。該治具100'只能配合雙倍密度測試機200測試雙倍密度的PCB板30(Γ。隨著PCB產品形態密集轉型，PCB板上的測試點密度越來越大，現有治具已無法滿足生產需求，導致很多雙倍密度/四倍密度測試機閒置，無法稼動生產。
實用新型內容
[0003]本實用新型所要解決的技術問題在於提供一種用於PCB電氣性能測試的複合治具，旨在解決現有技術中的治具無法滿足高密度PCB板生產需要的問題。
[0004]本實用新型是這樣實現的，一種用於PCB電氣性能測試的複合治具，包括上下相對設置的上、下模，所述上、下模均設置有針盤，所述針盤上設置有探針，所述探針穿出所述針盤的上下表面，其一端可接觸PCB板上的測試點，所述上、下模還分別設置有線盤及底板，所述底板上設置有針腳，所述針腳的分布密度與測試機的測試針的分布密度相同；所述線盤上設置有導線，所述導線的數量與所述探針的數量相同，所述探針的另一端與所述導線的一端電連接，所述導線的另一端與所述針腳電連接；所述探針的分布密度與所述PCB板上的測試點分布密度相同，且為所述針腳分布密度的整數倍。
[0005]進一步地，所述導線為彈簧連線。
[0006]進一步地，所述針盤包括若干上下間隔設置的面板、墊圈及支撐柱，所述墊圈設置於相鄰的兩塊所述的面板之間，所述支撐柱穿設於所述墊圈及面板內，所述面板上設置有若干格柵，所述格柵的分布密度與所述PCB板上的測試點分布密度相同，每一格柵上開設有通孔，每一所述通孔內穿設一根所述的探針。
[0007]本實用新型與現有技術相比，有益效果在於:本實用新型的複合治具，其上的針腳分布密度與測試機的測試針的分布密度相同，探針的分布密度與PCB板的測試點分布密度相同，導線的數量與探針的數量相同；而針腳可以通過導線、探針與PCB板上的測試點電連接，從而解決了 PCB板測試點分布密度與雙倍密度/四倍密度測試機的測試針分布密度不匹配的問題，合理稼動了閒置的測試機，從而節約了購買複合測試機的費用；同時，上述複合治具的針腳直接與測試機的測試針接觸測試，不需要排線連接測試機，其操作簡便。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1是現有技術中的一種治具的結構示意圖。
[0009]圖2是本實用新型實施例一提供的六倍密度複合治具的結構示意圖。
[0010]圖3是圖2中的六倍密度針盤的結構示意圖。
[0011]圖4是本實用新型實施例二提供的八倍密度複合治具的結構示意圖。
[0012]圖5是本實用新型實施例三提供的四倍密度複合治具的結構示意圖。

【具體實施方式】
[0013]為了使本實用新型所要解決的技術問題、技術方案及有益效果更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，並不用於限定本實用新型。
[0014]如圖2所示，為本實用新型的實施例一，一種用於PCB電氣性能測試的六倍密度的複合治具100a，包括上下相對設置的上、下模10a、20a。上、下模10a、20a均設置有針盤la、線盤2a及底板3a。
[0015]底板3a上設置有針腳31a，針盤Ia上設置有探針11a，針腳31a的分布密度與測試機200的測試針201的分布密度相同。線盤上2a設置有導線21a，探針I Ia穿出針盤Ia的上下面，其一端接觸PCB板300a上的測試點301，另一端與導線21a的一端電連接，導線21a的另一端與針腳31a電連接。探針Ila的分布密度與PCB板300a上的測試點301分布密度相同，且為針腳31a分布密度的3倍。
[0016]具體地，如圖3所示，針盤Ia包括若干上下間隔設置的面板12a、墊圈13a及支撐柱14a。墊圈13a設置於相鄰的兩面板12a之間，支撐柱14a穿設於墊圈13a及面板12a內。面板12a上設置有若干格柵121a，格柵121a的分布密度與PCB板300a上的測試點301a分布密度相同，每一格柵121a上開設有通孔1211a,每一通孔1211a內穿設一根探針11a。面板12a的數量根據探針Ila的長度決定，面板12a上的通孔1211a可對探針Ila起導向作用，墊圈13a用於隔離相鄰的兩塊面板12a，支撐柱14a為銅柱，其起支撐面板12a的作用。
[0017]於本實施例中，上述導線21a為彈簧連線，測試機200為雙倍密度測試機，待測試的PCB板300a為六倍密度的PCB板300a，複合治具10a為六倍密度治具，複合治具10a上的探針11a、導線21a的數量為針腳31a及測試機200上測試針201數量的3倍。
[0018]如圖4所示，為本實用新型的實施例二，本實施例的複合治具10b的結構與實施例一大致相同，其不同之處在於，本實施例的複合治具10b為八倍密度治具，其用於測試八倍密度的PCB板300b，複合治具10b上的探針lib、導線21b的數量為針腳31b及測試機200上測試針201b數量的4倍。
[0019]如圖5所示，為本實用新型的實施例三，本實施例的複合治具10c的結構與實施例一大致相同，其不同之處在於，本實施例的複合治具10c為四倍密度治具，其用於測試四倍密度的PCB板300c。複合治具10c上的探針11c、導線21c的數量為針腳31c及測試機200上測試針201數量的2倍。
[0020]本實用新型三個實施例中，複合治具的探針的分布密度與PCB板上的測試點分布密度相同，且分別為針腳分布密度的3、4、2倍，當然還可以是其他的整數倍。
[0021]本實用新型解決了 PCB板300測試點301分布密度與測試機200的測試針201分布密度不匹配的問題，合理稼動了閒置的測試機200，從而節約了購買複合測試機的費用。同時，上述複合治具的針腳直接與測試機200的測試針201接觸測試，不需要排線連接測試機，其操作簡便。
[0022]以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，並不用以限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等，均應包含在本實用新型的保護範圍之內。
【權利要求】
1.一種用於PCB電氣性能測試的複合治具，包括上下相對設置的上、下模，所述上、下模均設置有針盤，所述針盤上設置有探針，所述探針穿出所述針盤的上下表面，其一端可接觸PCB板上的測試點，其特徵在於，所述上、下模還分別設置有線盤及底板，所述底板上設置有針腳，所述針腳的分布密度與測試機的測試針的分布密度相同；所述線盤上設置有導線，所述導線的數量與所述探針的數量相同，所述探針的另一端與所述導線的一端電連接，所述導線的另一端與所述針腳電連接；所述探針的分布密度與所述PCB板上的測試點分布密度相同，且為所述針腳分布密度的整數倍。
2.如權利要求1所述的用於PCB電氣性能測試的複合治具，其特徵在於，所述導線為彈簧連線。
3.如權利要求1所述的用於PCB電氣性能測試的複合治具，其特徵在於，所述針盤包括若干上下間隔設置的面板、墊圈及支撐柱，所述墊圈設置於相鄰的兩塊所述的面板之間，所述支撐柱穿設於所述墊圈及面板內，所述面板上設置有若干格柵，所述格柵的分布密度與所述PCB板上的測試點分布密度相同，每一格柵上開設有通孔，每一所述通孔內穿設一根所述的探針。
【文檔編號】G01R1/02GK204086305SQ201420376890
【公開日】2015年1月7日 申請日期:2014年7月9日 優先權日:2014年7月9日
【發明者】陳代樹 申請人:競華電子(深圳)有限公司