庫測試電路以及庫測試方法
2023-06-06 23:53:06 2
專利名稱：庫測試電路以及庫測試方法
技術領域：
本發明一般涉及庫測試電路以及庫測試方法，並且更具體地涉及用於驗證多個標準單元庫的邏輯單元的功能的庫測試電路以及庫測試方法。
背景技術：
在使用亞微米技術用於製造集成電路的專用集成電路(ASIC)技術領域中，邏輯電路設計者使用大量邏輯單元，所述邏輯單元在微晶片設計中起重要作用。當使用邏輯單元時，電路設計者從邏輯單元的指定列表(即標準單元庫)中選擇在目標電路要使用的合適的邏輯單元。在這種標準單元庫中列出的所有邏輯單元必須工作在指定的方式，並且電路設計者假定所有邏輯單元將以預想的方式精確地工作。
因而，標準單元庫的提供者必須驗證每個邏輯單元的功能。連續不斷地嘗試去驗證這種功能。
然而，非常需要適用於各種設計規則以及各種標準單元庫的統一測試方法。
發明內容
根據本發明，提供一種庫測試電路以及庫測試方法，本發明在不考慮集成度的情況下，普遍地適用於各種設計規則以及具有各種數目邏輯單元的標準單元庫。
根據優選實施例，提供一種庫測試電路，其用於驗證多個標準單元庫的邏輯單元的功能，該庫測試電路包括核心模塊，其包括多個標準單元庫的邏輯單元，每個邏輯單元具有預定數目個輸入矢量合成，該核心模塊輸出對標準單元庫的測試結果信號；第一開關組，用於將第一輸入信號輸出到該核心模塊，從而選擇對應於各個邏輯單元的單元標識符；以及第二開關組，用於將第二輸入信號輸出到該核心模塊，從而選擇與每個邏輯單元的輸入矢量合成對應的圖形標識符。
根據另一優選實施例，本發明提供一種庫測試電路，其用於驗證多個標準單元庫的邏輯單元的功能，該庫測試電路包括核心模塊，其包括多個標準單元庫的邏輯單元，每個邏輯單元具有預定數目個輸入矢量合成，其中該核心模塊輸出對應於各個邏輯單元的單元標識符，以及與每個邏輯單元的各個輸入矢量合成對應的圖形標識符；其中在自動模式下，自動順序地選擇所有單元標識符，並且向各個邏輯單元輸出與所選擇的單元標識符對應的所有圖形標識符；以及其中該核心模塊為每個單元標識符和每個圖形標識符輸出對標準單元庫的測試結果信號。
根據又一優選實施例，本發明提供一種庫測試方法，該方法包括通過將單元標識符和圖形標識符輸出到包括所述邏輯單元的核心模塊來進行自動模式測試，其中所述單元標識符對應於各個邏輯單元，並且所述圖形標識符對應於各邏輯單元的各個輸入矢量合成；通過控制第一開關組，以在所述邏輯單元中選擇對應於一個或多個邏輯單元的單元標識符，並且將所選擇的單元標識符輸出到該核心模塊，由此來進行半自動模式測試；通過控制第二開關組，以在每個邏輯單元的輸入矢量合成中選擇對應於一個或多個輸入矢量合成的圖形標識符，並且將所選擇的圖形標識符輸出到該核心模塊，由此來進行手動模式測試；以及從該核心模塊接收對標準單元庫的測試結果信號。
根據結合附圖所提供的以下優選實施例的描述，本發明的上述和其它特徵將顯而易見，其中圖1示出根據本發明的庫測試電路的電路框圖。
具體實施例方式
下文將參照附圖詳細描述根據本發明優選實施例的庫測試電路以及庫測試方法，以使本領域的技術人員可以很容易地實現本發明。
根據本發明，其提供一種用於驗證標準單元庫的邏輯單元功能的庫測試電路及測試方法。當備好模塊時，通過將該模塊放置在已實現庫測試電路的印刷電路板(PCB)上可以很容易地進行邏輯單元的驗證。
根據本發明，將稱為單元標識符(單元ID)的唯一編碼分配給標準單元庫的每個邏輯單元，並且記錄每個邏輯單元的輸入/輸出線的數目，從而確定具有最多數目輸入線的邏輯單元以及具有最多數目輸出線的邏輯單元。因而根據最多數目輸入線In將輸入矢量合成的個數設置為2xIn。由於這種輸入矢量合成也是固有的，所以它用作圖形標識符。
圖1示出根據本發明的庫測試電路的電路框圖。
如圖1所示，使用開關組110和112分別選擇特定的單元標識符和特定的圖形標識符，從而對具有相應輸入矢量合成的邏輯單元進行測試。每個開關組110和112具有多個開關，每個輸出信號「1」或「0」，從而選擇單元標識符或圖形標識符。例如，開關組110通過產生7位的單元標識符可以識別庫的128個邏輯單元。
在圖1的測試電路中，核心模塊100包括作為功能驗證對象的標準單元庫的邏輯單元。核心模塊向顯示裝置114和116輸出對各個邏輯單元的測試結果信號，從而在單元標識符顯示裝置114和圖形標識符顯示裝置116上顯示測試結果。例如，可以將美國德州的TAOS公司製造的十六進位顯示裝置用作顯示裝置114和116。
根據本發明的驗證算法包括三個運行模式，即自動模式、半自動模式以及手動模式，從而提供更精確的驗證結果，並且縮短驗證所需的時間。對於圖1的核心模塊，可以使用兩個開關(未示出)的組合選擇所述三種運行模式，所述兩個開關分別提供輸出A0和A1。在所述三種運行模式中，自動模式使用最廣泛。
當選擇自動模式時，向核心模塊100輸入用於各個邏輯單元的所有輸入矢量合成的圖形標識符以及用於所有邏輯單元的單元標識符。即，在自動模式，由於順序自動選擇所有單元標識符以及所有圖形標識符，因此不再使用開關組110和112。
通過選擇對應於特定邏輯單元的單元標識符開始自動模式中的算法。當選定特定單元標識符時，就順序自動選擇對應於該單元標識符的所有可能的圖形標識符，然後將它們輸入到核心模塊100。如果已將所選擇的單元標識符的所有圖形標識符輸入到核心模塊100，則自動選擇隨後的單元標識符被，並且重複相同的算法。
在這個過程期間，如果檢測到在特定單元中有錯誤，則激活從核心模塊100輸出的測試結果信號的特定位，以指示該錯誤，並且激活發光二極體(LED)118，以顯示錯誤狀態信號。因此，該被檢測到錯誤的單元的標識編碼顯示在顯示裝置114和116上。
自動模式的優點包括1)可以一次驗證所有單元的所有輸入矢量合成；2)可以分別指示具有功能錯誤的單元；以及3)可以檢測具有功能錯誤的單元的總數。
同時，如果完成自動模式的測試，則優選地執行半自動模式的驗證，以重新驗證檢測到錯誤的特定單元。
在半自動模式的算法中，用戶通過控制開關組110選擇對應於特定邏輯單元的單元標識符。當用戶選定特定的單元標識符時，順序自動選擇對應於該單元標識符的圖形標識符，從而選擇對應於該單元標識符的特定邏輯單元的所有輸入矢量合成。然後該圖形標識符被輸入到核心模塊100並且被核心模塊100驗證。在該過程期間，如果在特定輸入矢量合成中檢測到錯誤，則激活從核心模塊100輸出的該測試結果信號的特定位，以指示錯誤，並且激活發光二極體(LED)118，以顯示錯誤狀態信號。因此，檢測到錯誤的該輸入矢量合成的標識編碼顯示在顯示裝置116上。
半自動模式的優點包括1)可以驗證所選擇的邏輯單元的所有輸入矢量合成；以及2)在所選擇的邏輯單元的輸入矢量合成中，可以分別指示檢測到錯誤的輸入矢量合成。
同時，如果完成半自動模式的測試，則優選執行手動模式的驗證，以重新驗證檢測到錯誤的特定邏輯單元的特定輸入矢量合成。
在手動模式中，如果用戶通過控制各個開關組110和112分別選擇對應於特定邏輯單元的單元標識符和對應於所選擇的邏輯單元的特定輸入矢量合成的圖形標識符，並且將所選擇的單元標識符和圖形標識符發送到核心模塊100，則核心模塊100向顯示裝置114和116輸出該邏輯單元的對應輸入矢量合成的測試結果信號。
同時，核心模塊可以輸出核心狀態信號，該核心狀態信號指示該庫測試電路正工作於何種工作狀態，即自動、半自動或手動模式。該庫測試電路還可以安裝LED，以顯示這種核心狀態信號。
如上所述，根據本發明的庫測試電路以及庫測試方法包括以下優點。
第一，該測試電路普遍適用於各種設計規則以及包括各種數目個邏輯單元的標準單元庫，而與集成度無關。
第二，該驗證算法包括三種工作模式，即自動模式、半自動模式以及手動模式，從而提供更精確的驗證結果並且縮短驗證所需的時間。
雖然本發明已示出並描述優選實施例，但是本領域的技術人員應該理解在不脫離以下權利要求書限定的本發明的精神和範圍的情況下可以做出各種變化和修改。如果所述變化和修改落入權利要求書或其等同物的範圍內，則它們應被解釋為落入本發明的範圍內。
權利要求
1.一種庫測試電路，其用於驗證多個標準單元庫的邏輯單元的功能，該庫測試電路包括核心模塊，其包括多個標準單元庫的邏輯單元，每個邏輯單元具有預定數目個輸入矢量合成，該核心模塊輸出對標準單元庫的測試結果；第一開關組，用於將第一輸入信號輸出到該核心模塊，從而選擇對應於各個邏輯單元的單元標識符；以及第二開關組，用於將第二輸入信號輸出到該核心模塊，從而選擇與每個邏輯單元的輸入矢量合成對應的圖形標識符。
2.如權利要求1所述的庫測試電路，其中以半自動模式控制該第一開關組，並且以手動模式控制該第二開關組。
3.如權利要求1所述的庫測試電路，還包括第一顯示裝置，用於顯示該核心模塊的第一測試的測試結果信號；以及第二顯示裝置，用於顯示該核心模塊的第二測試的測試結果信號。
4.如權利要求3所述的庫測試電路，其中在各個邏輯單元上進行該核心模塊的第一測試，並且在每個邏輯單元的各個輸入矢量合成上進行該核心模塊的第二測試。
5.一種庫測試電路，其用於驗證多個標準單元庫的邏輯單元的功能，該庫測試電路包括核心模塊，其包括多個標準單元庫的邏輯單元，每個邏輯單元具有預定數目的輸入矢量合成；其中該核心模塊輸出對應於各個邏輯單元的單元標識符，以及與每個邏輯單元的各個輸入矢量合成對應的圖形標識符；其中在自動模式下，自動順序地選擇所有所述單元標識符，並且向各個邏輯單元輸出與所選擇的單元標識符對應的所有所述圖形標識符；以及其中該核心模塊為每個單元標識符和每個圖形標識符輸出對標準單元庫的測試結果信號。
6.如權利要求5所述的庫測試電路，其中該核心模塊輸出用於指示與邏輯單元或輸入矢量合成對應的測試失敗結果的錯誤狀態信號。
7.如權利要求6所述的庫測試電路，還包括用於顯示該錯誤狀態信號的發光二極體。
8.如權利要求5所述的庫測試電路，其中該核心模塊輸出用於指示其工作狀態的核心狀態信號，
9.如權利要求8所述的庫測試電路，還包括用於顯示該核心狀態信號的發光二極體。
10.一種庫測試方法，其用於驗證多個標準單元庫的邏輯單元的功能，每個邏輯單元具有預定數目個輸入矢量合成，該庫測試方法包括通過將單元標識符和圖形標識符輸出到包括所述邏輯單元的核心模塊來進行自動模式測試，其中所述單元標識符對應於各個邏輯單元，並且所述圖形標識符對應於各邏輯單元的各個輸入矢量合成；通過控制第一開關組，以在所述邏輯單元中選擇對應於一個或多個邏輯單元的單元標識符，並且將所選擇的單元標識符輸出到該核心模塊，由此來進行半自動模式測試；通過控制第二開關組，以在每個邏輯單元的輸入矢量合成中選擇對應於一個或多個輸入矢量合成的圖形標識符，並且將所選擇的圖形標識符輸出到該核心模塊，由此來進行手動模式測試；以及從該核心模塊接收對標準單元庫的測試結果信號。
11.如權利要求10所述的庫測試方法，其中在進行該半自動模式和該手動模式的測試之前進行該自動模式的測試。
12.如權利要求10所述的庫測試方法，其中在該自動模式的測試之後並且在該手動模式的測試之前進行該半自動模式的測試。
13.如權利要求10所述的庫測試方法，其中對從該核心模塊接收到指示失敗的測試結果信號的邏輯單元進行該半自動模式的測試。
14.如權利要求10所述的庫測試方法，其中對從該核心模塊接收到指示失敗的測試結果信號的邏輯單元和輸入矢量合成進行該手動模式的測試。
全文摘要
本發明公開一種庫測試電路以及庫測試方法，該庫測試電路用於驗證多個標準單元庫的邏輯單元的功能，其包括多個標準單元庫的邏輯單元，每個邏輯單元具有預定數目個輸入矢量合成，該核心模塊輸出對標準單元庫的測試結果信號；第一開關組，用於將第一輸入信號輸出到該核心模塊，從而選擇對應於各個邏輯單元的單元標識符；以及第二開關組，用於將第二輸入信號輸出到該核心模塊，從而選擇與每個邏輯單元的輸入矢量合成對應的圖形標識符。
文檔編號G06F17/50GK1991850SQ20061017277
公開日2007年7月4日 申請日期2006年12月26日 優先權日2005年12月29日
發明者尼廷·薩爾古南 申請人:東部電子股份有限公司