表面形貌測量儀的製作方法
2023-06-19 12:32:26 2
專利名稱：表面形貌測量儀的製作方法
技術領域：
本實用新型專利涉及一種測量儀，尤其涉及一種表面形貌測量儀，主要用於對輪轂單元二維形貌的測量。
背景技術：
目前現有技術的輪轂單元在製造後，往往存在一定的不足，導致產品質量的下降。中國專利201120569166.7，公開一種三維表面形貌的測量臺架，包括一測量儀、一測量平臺、一 X軸移動裝置以及一 Y軸移動裝置，所述的X軸移動裝置安裝在測量平臺上；所述的Y軸移動裝置安裝在X軸移動裝置上；所述三維表面形貌的測量臺架還包括一 Z軸移動裝置，所述的Z軸移動裝置安裝在Y軸移動裝置上；所述的測量儀設在Z軸移動裝置上。此結構相對複雜，而且測量精度低。
發明內容本實用新型主要是解決現有技術中存在的不足，提供一種結構緊湊，同時測量精度好，提升產品質量的表面形貌測量儀。本實用新型的上述技術問題主要是通過下述技術方案得以解決的:一種表面形貌測量儀，包括儀器測量基座，所述的儀器測量基座上部的右側設有立柱導軌，所述的立柱導軌上設有測量升降臺，所述的測量升降臺通過Z向傳動系統相升降，所述的Z向傳動系統通過Z向電機相傳動,所述的Z向傳動系統的底部與Z向編碼器相連接，所述的測量升降臺中設有X向高精度導軌，所述的X向高精度導軌與電感傳感器相滑動連接，所述的電感傳感器的外側壁設有金鋼石探針，所述的測量升降臺通過X向傳動系統相水平位移，所述的X向高精度導軌的上方設有X向信號採集光柵和傳感器驅動箱，所述的儀器測量基座上部的左側設有多維工作檯，所述的多維工作檯上設有旋轉工作檯，所述的金鋼石探針與旋轉工作檯相對應分布，所述的傳感器驅動箱與顯示器相連接。作為優選，所述的Z向電機設在立柱導軌的上部，所述的Z向電機的上部設有Z向手動調整旋鈕，所述的電感傳感器通過X向限位裝置相定位，所述的X向限位裝置設在測量升降臺上。作為優選，所述的儀器測量基座設在電機箱的上部，所述的電機箱的底部通過地腳螺釘相定位。因此，本實用新型的表面形貌測量儀，結構緊湊，使用效果好，提升產品質量，測量精度高。
圖1是本實用新型的結構示意圖。
具體實施方式
[0011]下面通過實施例，並結合附圖，對本實用新型的技術方案作進一步具體的說明。實施例1:如圖1所示，一種表面形貌測量儀，包括儀器測量基座1，所述的儀器測量基座I上部的右側設有立柱導軌2，所述的立柱導軌2上設有測量升降臺3，所述的測量升降臺3通過Z向傳動系統4相升降，所述的Z向傳動系統4通過Z向電機5相傳動，所述的Z向傳動系統4的底部與Z向編碼器6相連接，所述的測量升降臺3中設有X向高精度導軌7，所述的X向高精度導軌7與電感傳感器8相滑動連接，所述的電感傳感器8的外側壁設有金鋼石探針9，所述的測量升降臺3通過X向傳動系統10相水平位移，所述的X向高精度導軌7的上方設有X向信號採集光柵11和傳感器驅動箱12，所述的儀器測量基座I上部的左側設有多維工作檯13，所述的多維工作檯13上設有旋轉工作檯14，所述的金鋼石探針9與旋轉工作檯14相對應分布，所述的傳感器驅動箱12與顯示器15相連接。所述的Z向電機5設在立柱導軌2的上部，所述的Z向電機5的上部設有Z向手動調整旋鈕17，所述的電感傳感器8通過X向限位裝置18相定位，所述的X向限位裝置18設在測量升降臺3上。所述的儀器測量基座I設在電機箱19的上部，所述的電機箱19的底部通過地腳螺釘20相定位。
權利要求1.一種表面形貌測量儀，其特徵在於:包括儀器測量基座(1)，所述的儀器測量基座(I)上部的右側設有立柱導軌(2)，所述的立柱導軌(2)上設有測量升降臺(3)，所述的測量升降臺(3)通過Z向傳動系統(4)相升降，所述的Z向傳動系統(4)通過Z向電機(5)相傳動，所述的Z向傳動系統(4)的底部與Z向編碼器(6)相連接，所述的測量升降臺(3)中設有X向高精度導軌(7)，所述的X向高精度導軌(7)與電感傳感器(8)相滑動連接，所述的電感傳感器(8)的外側壁設有金鋼石探針(9)，所述的測量升降臺(3)通過X向傳動系統(10)相水平位移，所述的X向高精度導軌(7)的上方設有X向信號採集光柵(11)和傳感器驅動箱(12)，所述的儀器測量基座(I)上部的左側設有多維工作檯(13)，所述的多維工作檯(13)上設有旋轉工作檯(14),所述的金鋼石探針(9)與旋轉工作檯(14)相對應分布,所述的傳感器驅動箱(12)與顯示器(15)相連接。
2.根據權利要求1所述的表面形貌測量儀，其特徵在於:所述的Z向電機(5)設在立柱導軌(2)的上部，所述的Z向電機(5)的上部設有Z向手動調整旋鈕(17)，所述的電感傳感器(8)通過X向限位裝置(18)相定位，所述的X向限位裝置(18)設在測量升降臺(3)上。
3.根據權利要求1或2所述的表面形貌測量儀，其特徵在於:所述的儀器測量基座(I)設在電機箱(19)的上部，所述的電機箱(19)的底部通過地腳螺釘(20)相定位。
專利摘要本實用新型專利涉及一種測量儀，尤其涉及一種表面形貌測量儀，主要用於對輪轂單元二維形貌的測量。儀器測量基座上部的右側設有立柱導軌，立柱導軌上設有測量升降臺，測量升降臺通過Z向傳動系統相升降，Z向傳動系統的底部與Z向編碼器相連接，測量升降臺中設有X向高精度導軌，X向高精度導軌與電感傳感器相滑動連接，電感傳感器的外側壁設有金鋼石探針，測量升降臺通過X向傳動系統相水平位移，儀器測量基座上部的左側設有多維工作檯，多維工作檯上設有旋轉工作檯，金鋼石探針與旋轉工作檯相對應分布。表面形貌測量儀結構緊湊，使用效果好，提升產品質量，測量精度高。
文檔編號G01B21/20GK202974243SQ201220595248
公開日2013年6月5日 申請日期2012年11月13日 優先權日2012年11月13日
發明者李威 申請人:浙江大銘汽車零部件有限公司