一種粒徑小於50微米粉體的取樣方法
2023-10-25 11:48:17
專利名稱：一種粒徑小於50微米粉體的取樣方法
技術領域：
本發明涉及一種超細粉體取樣方法，特別是一種在實施取樣的時候，採用取樣勺取樣的取樣方法。
背景技術：
超細粉體的研究，對於如何得到具有代表性的樣品是一大難題。在實際操作過程中，要化驗的物料是大量的，其組成有的比較均勻，有的很不均勻。化驗時所稱取的分析試樣只是幾克，幾百毫克或更少，而分析結果必須能代表全部物料的平均組成，因此，仔細而正確的採取具有代表性的「平均試樣」，就具有極其重要的意義。一般說，採樣誤差常大於分析誤差，因此如果採樣不正確，分析結果就毫無意義，甚至給生產科研帶來很壞的後果。對顆粒大小不均勻的超細粉體試樣，選取具有代表性的均勻試樣是一項較為複雜的操作。為了採取的試樣具有代表性，必須按一定的程序，自物料的各個不同部位，取出一定數量大小不同的顆粒，取出的分數越多，試樣的組成與被分析物料的平均組成越接近。但考慮以後在試樣處理上所花費的人力、物力等，應該以選用能達到預期準確度的最節約的採樣量為原則。目前，超細粉體的取樣方法有多種，取樣工具以管式採樣器為主，採樣方法為桶內45°C角，兩側對稱取樣。還有定量取樣器、螺旋絞刀取樣器，自動連續取樣器、水泥取樣器，、閉合式取樣器等多種，但因超細粉體的流動性差，這幾種採樣器對超細粉體的適用性低。且超細粉體多為易燃易爆粉體，安全性差。故目前在生產過程中，多採用人工隨手取樣的方式，由於物料量大，取樣點的設置沒有規定，因此取得具有代表性的試樣非常困難。因此確定一種簡便、安全易使用的取樣工具，確定一種多點取樣的方法是在超細粉體生產，特別是易燃易爆粉體生產的採樣方法是勢在必行的。
發明內容
為克服現有技術中存在的取樣點隨意，試樣具備代表性的不足，本發明提出了一種粒徑小於50微米粉體的取樣方法。本發明在取樣時，首先確定各取樣單元中的取樣點。所述的取樣點包括第一系列取樣點和第二系列取樣點，並且第一系列取樣點和第二系列取樣點之間呈十字形交叉。具體是確定第一系列取樣點儲料容器口處取任意一點A，在儲料容器底部取一點B，並使所述儲料容器口處的A點與儲料容器底部的B點之間的連線為對角線。分別以A點、B點，以及AB連線上的1/4點、1/2點和3/4點為取料點。確定第二系列取樣點儲料容器口處取一點C，該C點與第一系列取樣點中的A點之間的角度為90° ;在儲料容器底部取一點D。C點與D點之間的連線為對角線。分別以C點、D點，以及⑶連線上的1/4點和3/4點為取料點。確定各取樣點後，用取樣勺依次進行取樣。對取得的試樣按常規方法進行制樣、測試。本發明提供了一種超細粉體的取樣方法，通過採用取樣勺取樣法對超細粉體實施取樣；取樣點按照確定的多點取樣部位進行取樣試樣，以取得具有代表性的試樣。該方法克服了現有超細粉體的取樣技術缺乏代表性、實施困難、存在安全隱患的不足，確保超細粉體的取樣代表性、使用方便及安全。本方法取樣工具為不鏽鋼取樣勺，安全性能高，是一種直接、簡單、安全、適用性廣、操作簡單的超細粉體取樣工具。為了驗證取樣勺的取樣效果，將白色的粉體盛裝在容器的底部，上面覆蓋黑色煤灰，用取樣勺採取底部的粉體，取上的物料是覆蓋少量一層煤灰的白色超細粉體，通過多次取樣實驗，證明該方法取樣代表性好。為了驗證本發明的效果，對粉體抽取試樣進行粒度測試。同一人員對同一桶物料進行多次取樣，進行粒度測試，測試結果見表I。不同人員對同一桶物料進行單次取樣，進行粒度測試，測試結果見表2。表I對同一桶粉碎產品五次取樣的粒度結果
權利要求
1.一種粒徑小於50微米粉體的取樣方法,其特徵在於， 取樣時，首先確定各取樣單兀中的取樣點；所述的取樣點包括第一系列取樣點和第二系列取樣點，並且第一系列取樣點和第二系列取樣點之間呈十字形交叉；確定各取樣點後，用不鏽鋼取樣勺依次進行取樣。
2.如權利要求1所述一種粒徑小於50微米粉體的取樣方法,其特徵在於,所述第一系列取樣點是在儲料容器口處取任意一點A，在儲料容器底部取一點B，並使所述儲料容器口處的A點與儲料容器底部的B點之間的連線為對角線；分別以A點、B點，以及AB連線上的1/4點、1/2點和3/4點為取料點。
3.如權利要求1所述一種粒徑小於50微米粉體的取樣方法，其特徵在於，所述第二系列取樣點是在儲料容器口處取一點C,該C點與第一系列取樣點中的A點之間的角度為90° ;在儲料容器底部取一點D ；C點與D點之間的連線為對角線；分別以C點、D點，以及CD連線上的1/4點和3/4點為取料點。
全文摘要
一種粒徑小於50微米粉體的取樣方法，確定的取樣點包括第一系列取樣點和第二系列取樣點，並且第一系列取樣點和第二系列取樣點之間呈十字形交叉。所述第一系列取樣點是儲料容器口處的任意一點A與儲料容器底部的點B之間的連線為對角線，並以A點、B點，以及AB連線上的1/4點、1/2點和3/4點為取料點。所述第二系列取樣點是儲料容器口處的任意一點C與儲料容器底部的點D之間的連線為對角線，並以C點、D點，以及CD連線上的1/4點和3/4點為取料點。確定各取樣點後，用取樣勺依次進行取樣。本發明中的取樣點分布科學，在各點獲得的試樣具有代表性，克服了現有技術實施困難、存在安全隱患的不足。
文檔編號G01N1/04GK103063468SQ20121056668
公開日2013年4月24日 申請日期2012年12月24日 優先權日2012年12月24日
發明者劉敏, 楊樹燕, 肖兵, 韓永莉, 李豔娜, 姚曉玲, 王小豔, 王展展 申請人:西安航天化學動力廠