射頻模塊測試平臺的製作方法

2023-10-05 11:38:49 2

專利名稱：射頻模塊測試平臺的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種射頻模塊測試平臺，尤指一種具有高抗幹擾且提 高測試效率的射頻測試平臺。
背景技術：
隨著通訊技術增進則使移動版圖漸趨擴大，為求實時即地交流信 息與服務，無線通訊發展遂成為全球半導體產業主流，行動電話、個
人數字助理(PDA)、衛星通訊等相關應用市場更是熱絡非凡。然而無線 通訊產品所必需的高頻特性必得依賴射頻集成電路(RFIC)來達成，射頻 集成電路的測試技術與一般傳統數字邏輯集成電路及內存的測試技術 大不相同，其所需的技術層次及障礙均較高。
另一方面，射頻集成電路的應用越來越廣泛，單一晶片的複雜度 也越來越高，將更多的功能整合在單一射頻模塊中， 一定是未來的趨 勢，例如無線網絡(WLAN)整合藍牙(Bluetooth)或衛星導航(GPS)等模 塊；但功能越多、整合程度越高，對於測試而言將會是更大的挑戰， 因為這些射頻模塊必須滿足嚴格的可靠性要求，所以在調節和最終測 試中必須能夠獲得可再現的測量結果。
而現有技術則是利用射頻測試器具置於一隔離箱(shielding box) 作為高頻元件的測試平臺，其缺點在於必須使用人工操作的方式進行 測試作業，測試時程較為冗長而較無效率；另外利用人工置放射頻模 塊易造成誤判的情況；再者目前現有隔離箱的製作成本十分昂貴，故 目前射頻模塊的測試無法有效率的執行，且成本非常高。

發明內容
本發明的主要目的在於克服現有技術的不足與缺陷，提出一種射 頻模塊測試平臺，其可形成一射頻訊號的隔離環境，以有效防止信號 外洩或相互幹擾等影響，進而可達成有效率的測試作業。
本發明的另一目的在於，提供一種射頻模塊測試平臺，其為一成 本較低，且可自動化控制的射頻模塊測試架構。
為了達成上述目的，本發明提供一種射頻模塊測試平臺，其包括 一金屬殼體，其成形一測試空間於該金屬殼體內部，其中該金屬殼體 內表面設有一隔離射頻(RF)訊號的隔離膠層； 一測試模塊，其設置 於該測試空間；以及一壓力模塊，其移動地穿設於該金屬殼體，且該 壓力模塊的一端延伸至該測試空間。其中該壓力模塊可通過一自動化 控制施加一壓力於一置於該測試模塊的射頻模塊，以進行該射頻模塊 的測試。
本發明具有以下有益的效果本發明提出的射頻模塊測試平臺應 用於射頻元件效能的測試，該射頻模塊測試平臺可隔離並遮蔽該射頻 信號的外洩，以達成高抗幹擾，且可提高測試效率。
為使能更進一步了解本發明的特徵及技術內容，請參閱以下有關 本發明的詳細說明與附圖，然而所附圖式僅提供參考與說明用，並非 用來對本發明加以限制。


圖1A為本發明射頻模塊測試平臺的示意圖； 圖1B為本發明射頻模塊測試平臺的剖視圖； 圖2A為本發明壓力模塊的絕緣層的第一實施例； 圖2B為本發明壓力模塊的絕緣層的第二實施例。
圖中符號說明
1射頻模塊測試平臺
10金屬殼體101金屬外殼
1011支撐件1012調整件
102金屬上蓋1021穿孔
11測試空間
2測試模塊
21測試器具211高頻探針
22電路板
3隔離膠層
4壓力模塊41絕緣層
5射頻模塊
具體實施例方式
請參閱圖1A及1B，本發明提供一種射頻模塊測試平臺1，其包 括 一金屬殼體10，其成形一測試空間11於該金屬殼體10內部，其 中該金屬殼體10內表面設有一隔離射頻(RF)訊號的隔離膠層3; — 測試模塊2，其設置於該測試空間ll;以及一壓力模塊4，其移動地穿 設於該金屬殼體IO，且該壓力模塊4的一端延伸至該測試空間11;由
此，該壓力模塊4施加一壓力於一置於該測試模塊2的射頻模塊5，以 進行該射頻模塊5的測試。此射頻模塊測試平臺1可提供一高抗幹擾 的測試環境，且可自動化操作以加速整體測試速度。
在本實施例中，該金屬殼體10由一金屬外殼101及一金屬上蓋102 所組成，其中該金屬上蓋102蓋合於該金屬外殼101，且形成一測試空 間11;再者為了訊號不會相互幹擾，該金屬上蓋102的一側面與該金 屬外殼101的內壁面均塗布形成一隔離膠層3，該隔離膠層3可通過塗 布、貼附等方式成形於該金屬殼體10的內壁面。此外，該隔離膠層3 具有吸波與隔離訊號的功能，使該金屬殼體10內部的測試空間11可 形成一與外部隔離的測試環境。另一方面，該金屬上蓋102設有一穿孔1021，而上述的該壓力模 塊4則可經由該穿孔1021延伸於該測試空間11中。本實施例中，該 壓力模塊4為一金屬臂，且該金屬臂的外型、尺寸均相對應於該穿孔 1021，使得該測試空間11依然保持與外部隔離的狀態，以避免訊號的 外洩。同時，該壓力模塊4，即本實施例中的金屬臂表面成形有一絕緣 層41，以避免靜電對於該待測的射頻模塊5造成的傷害；而該絕緣層 41可以僅成形於該金屬臂接觸該射頻模塊5的一表面(請參考圖2A 及2B)。換句話說，該絕緣層41設置在該壓力模塊4的表面防止靜電 對電子元件造成影響。
再者，該測試模塊2包含一測試器具21 ，其設有數個高頻探針211; 及一與該測試器具電性連接的電路板22。而一該待測的射頻模塊5即 設置於該測試器具21上，且所述的高頻探針211則用以接收該射頻模 塊5的信號進而進行分析與測試。進一步針對該測試模塊2進行說明， 該電路板22最佳為一可換式的轉接板，故不論維修或測試上的要求必 須加以更換時，即可以快速地進行替換；而該電路板22亦可為固定式 的轉接板，亦即該電路板22可視測試環境的要求加以調整。同時，為 了訊號的測試，該電路板22更進一步連接接口濾波器、射頻濾波器等 其它元件，並與一計算機與射頻測試機臺(圖未示)連接，以進行訊 號的分析與量測。但接口濾波器、射頻濾波器、計算機等相關裝置並 非本發明的重點，故在此不加以詳述。
在本實施例中，該測試模塊2設置於一支撐件1011上，且該支撐 件1011進一步設有一調整件1012;該調整件1012可調整該測試模塊 2的水平狀態，也就是必須將放置於該測試器具21的射頻模塊5調整 為水平，使在該壓力模塊4下壓時，可以平整地壓制該射頻模塊5，使 測試結果最為準確且可信。
在本發明中，該射頻模塊測試平臺1可利用自動化的控制，以更 有效率的進行高頻元件性能的測試。詳細來說，首先將一待測的射頻
模塊5放置於該測試模塊2的測試器具21上，且該測試模塊2設有數 個高頻探針211，用以接收高頻信號；將該金屬上蓋102蓋合於該金屬 外殼101以形成一測試空間11，且該測試空間11的內壁面設置有一隔 離膠層3，故放置於該測試空間11內的射頻模塊5所傳輸的信號會被 該隔離膠層3吸收且加以隔離，而不會干擾到其它測試作業；自動化 控制該壓力模塊4提供一壓力於該射頻模塊5，該壓力模塊4可為一鍍 有絕緣層的金屬臂，以防止靜電對該射頻模塊5的傷害；最後將該射 頻模塊5傳輸的信號經由接口濾波器、射頻濾波器、射頻測試線等傳 送至計算機並進行數據的測試與分析。
故本發明可利用自動化控制下壓力臂的功能配合一低成本的測試 環境，以構成一快速且可防止幹擾的射頻測試機臺。
綜上所述，本發明具有下列優點
1、 由於本發明利用具有吸波及隔離信號的隔離膠，可建構一可抗
幹擾的測試機臺；另一方面，由於測試環境之間不會相互幹擾，故可 以同時進行多組射頻元件的測試。
2、 再者，本發明利用自行設計開發的可隔離訊號的隔離盒，配合 可自動化控制的壓力模塊4，可解決人工操作費時的缺點，進一步提高 測試效率；同時自動化測試更可提高測試數據的可信度，以解決人工 測試可能出現的誤判。
3、 本發明所提出的射頻模塊測試平臺1，其中該測試模塊2內含 一可拆換式的電路板22，故在維修或是需要更換時，均可快速地進行 替換，而不會大幅地影響測試作業的進行。
以上所述僅為本發明的較佳實施例，非意欲局限本發明的專利保 護範圍，故舉凡運用本發明說明書及附圖內容所為之等效變化，均同 理皆包含於本發明的權利保護範圍內。
權利要求
1.一種射頻模塊測試平臺，其特徵在於，包含一金屬殼體，其成形一測試空間於該金屬殼體內部，其中該金屬殼體內表面設有一隔離射頻訊號的隔離膠層；一測試模塊，其設置於該測試空間；以及一壓力模塊，其移動地穿設於該金屬殼體，且該壓力模塊的一端延伸至該測試空間；由此，該壓力模塊施加一壓力於一置於該測試模塊的射頻模塊，以進行該射頻模塊的測試。
2. 如權利要求l所述的射頻模塊測試平臺，其特徵在於，該金屬 殼體包含一金屬外殼及一蓋合於該金屬外殼的金屬上蓋，該金屬上蓋 內表面設有一隔離射頻訊號的隔離膠層。
3. 如權利要求2所述的射頻模塊測試平臺，其特徵在於，該金屬 上蓋設有一穿孔，且該壓力模塊經由該穿孔延伸於該測試空間中。
4. 如權利要求1所述的射頻模塊測試平臺，其特徵在於，該測試 模塊包含一測試器具，其設有數個高頻探針；及一與該測試器具電性 連接的電路板。
5. 如權利要求4所述的射頻模塊測試平臺，其特徵在於，該測試 模塊設置於一支撐件上，且該支撐件包含一調整該測試器具的水平狀 態的調整件。
6. 如權利要求l所述的射頻模塊測試平臺，其特徵在於，該壓力 模塊為一金屬臂。
7. 如權利要求6所述的射頻模塊測試平臺，其特徵在於，該金屬 臂表面成形有一絕緣層。
8. 如權利要求7所述的射頻模塊測試平臺，其特徵在於，該金屬 臂與該射頻模塊接觸的表面成形有一絕緣層。
9. 如權利要求l所述的射頻模塊測試平臺，其特徵在於，該隔離膠具有吸波與隔離訊號的功能。
全文摘要
本發明涉及一種射頻模塊測試平臺，其包括一金屬殼體，其成形一測試空間於該金屬殼體內部，其中該金屬殼體內表面設有一隔離射頻(RF)訊號的隔離膠層；一測試模塊，其設置於該測試空間；以及一壓力模塊，其移動地穿設於該金屬殼體，且該壓力模塊的一端延伸至該測試空間。其中該壓力模塊可通過一自動化控制施加一壓力於一置於該測試模塊的射頻模塊，以進行該射頻模塊的測試。通過上述的測試平臺，可建構一高抗幹擾的測試機臺且可有效提升測試的效率。
文檔編號G01R1/02GK101368981SQ200710140089
公開日2009年2月18日 申請日期2007年8月14日 優先權日2007年8月14日
發明者陳聖文, 黃忠諤 申請人:海華科技股份有限公司