電子標籤rfid測試方法
2023-10-08 18:13:44
專利名稱：電子標籤rfid測試方法
技術領域：
]本發明涉及一種電子標籤RFID測試方法。
背景技術：
RFID已經成為IT領域的熱點，許多國家都在不遺餘力地推廣這種 技術。然而，儘管RFID技術在各行各業中正逐步為人們所認識和重視， 但它還是未能走向大規模應用，仍局限於小範圍的示範應用。造成這種 現狀的根本原因在於，無論RFID技術本身還是基於這項技術所衍生出的 各種應用系統都還存在著尚未解決的問題。這些棘手的問題制約了 RFID 技術在眾多行業中應用的全面展開。因此，在實際應用前對RFID系統和 應用環境進行測試，就會降低RFID在企業中部署和應用的困難，從而有 助於促進整個RFID產業鏈的形成和發展。目前，各國都在積極開展RFID技術和設備的測試工作。為了從容
地參與國際竟爭，我國政府和相關企業應仔細著手建立自己的RFID測試
中心，對RFID產業化中的共性基礎和關鍵技術進行針對性研究。 RFID系統測試通過提出RFID技術的系列測試方法，建立開放式
RFID軟硬體產品的聯合測試平臺，制定系列RFID軟^^件產品測試標準與
規範，形成RFID技術的測試標準體系，滿足RFID技術研究測試、應用
測試等公共服務需求。從國際國內RFID測試技術發展的動向來看，RFID測試技術將由功 能測試向性能測試發展。性能測試如測試標籤的一致性、物理特性、 讀取距離、讀取角度、動態讀取率、調製深度、可靠性、貼附強度、材 料特性(阻燃性、扭曲特性、變形特性、溫度穩定性、溼度等)、環境適應性(抗磁場、抗靜電、抗紫外線、抗X射線、抗靜電、交變磁場、交 變電場、振動、波形失真)、使用壽命等；測試讀寫器的覆蓋範圍、發射 功率、發射頻鐠、協議符合性、抗幹擾特性、外觀結構、電源適應能力、 噪聲、安全、EMC無線電幹擾、可靠性、工作溫度、EMS輻射敏感度、環 境適應性(振動、衝擊、碰撞、耐電強度等)、對標籤的適應性、使用壽 命等；測試讀寫器空間布局的合理性、系統動態性能(如傳送帶，分揀 系統)，特殊環境(金屬，液體)下系統性能，系統安全性，可靠性等。
要建立一個標準而權威的RFID測試環境，就必須從硬體和軟體環 境兩方面入手，要綜合考慮位置、跟離、溫度、溼度、幹擾等諸多影響 因素，建立一個多角度的測試環境；另一方面，在測試軟體上，要考慮 到可針對不同廠家的RFID產品的通用測試程序。此外，在測試過程中還 應嚴格遵守一個標準的測試規範進行。
發明內容
本發明目的在於提供一種RFID測試方法。使得RFID測試通過監管 要求並符合所用標準。本發明目的是通過如下技術方案實現的 —種電子標籤RFID測試方法，其特徵在於，包括以下步驟，步驟一，基本信息錄入讀寫器把需檢測電子標籤RFID的基本信息
寫入電子標籤；步驟二，數位訊號發生器產生一數位訊號，通過射頻發生/識別電 路產生符合ISO國際標準的射頻信號，待測試RFID晶片收到該信號後， 在正常情況下會產生一個返回信號，此時射頻信號發射/識別電路的識別 部分即捕獲該信號，並將其轉換成為相應的數位訊號，通過測試系統與 事先保存的期待值進行比較，判別晶片的通訊功能是否實現；
步驟三，測試設備，用於接收待測RFID晶片的檢測數據項目信息， 包括物理特性檢測、靜態性能檢測、動態性能檢測及射頻識別與電子標籤產品應用模擬試驗場，並將測試結果傳輸到主機； [on]主才幾，用於控制測試流程、紀錄和測試數據；電子標籤，由晶片以及耦合元器件組成，晶片上有EEPROM用來儲 存識別碼或其它數據，標籤內含有內置天線，用於完成與讀寫器的通信； [oi5] RFID讀寫器用於控制射頻模塊向標籤發射讀取信號，並接收標籤 的應答，對標籤的對象標識信息進行解碼，將對象標識信息連帶標籤上 其它相關信息傳輸到主機以供處理。
圖1:表示RFID測試系統框圖； 圖2:表示RFID測試方法流程。
發明內容
在技術測試中，需要針對高頻、超高頻和微波頻段的不同設備和產 品分別進行性能和可靠性測試。通過對它們在不同介質、不同材料、不 同磁場、不同速度、不同距離、不同障礙等條件下的讀取率進行記錄和 整理，研究各種標籤及讀寫器的性能，從而得到一份完整全面的系統共 性基礎評測報告。此外，還需要研究多個閱讀器和多個標籤下的信號的 時空分布模型和防幹擾處理算法。在應用測試中，主要需要對實際應用中存在的關鍵技術問題進行研 究，並試圖找到解決方案，包括客戶應用的設備和實際環境；不同頻段 所表現的不同性能；標籤容量大小對業務和系統的影響；主動標籤、半 主動標籤與被動標籤的選擇；系統性能和業務優勢的實現；複雜環境下 的電磁幹擾問題；與現有條形碼的共存問題；以及與企業原有系統，如 ERP等商業應用軟體進行無縫連接等。測試中需要對標籤測試、讀寫器測試、空中接口一致性測試、協議 一致性測試、中間件測試等進行規範。
對於標準符合性測試，測試待測目標是否符合某項國內或國際標準
(例如IS018000標準)定義的空中接口協議。具體內容包括讀寫器功能 測試(讀寫器調製方式測試、讀寫器解調方式和返回時間測試、讀寫器 指令測試)和標籤功能測試(包括標籤解調方式和返回時間測試，標籤 反應時間測試，標籤反向散射測試，標籤返回位準確率測試，標籤返回 速率測試等)。對於可互操作性測試，測試待測設備與其他設備的協同工作能力。
例如待測的讀寫器對其他電子標籤的讀寫能力，待測電子標籤在其他 讀寫器的有效工作距離範圍內的讀寫特性，待測的讀寫器讀取其他讀寫
器寫入標籤的數據等等。測試又可分為單讀寫器對單標籤，單讀寫器對 多標籤，多讀寫器對單標籤，多讀寫器對多標籤等不同的環境。
對於性能測試具體內容有RFID標籤測試、RFID讀寫器測試和RFID 系統測試。RFID標籤測試包括工作距離測試、標籤天線方向性測試、標 籤最小工作場強測試、標籤返回信號強度測試、抗噪聲測試、頻帶寬度 測試、各種環境下標籤讀取率測試、標籤讀取速度測試等；RFID讀寫器 測試包括靈敏度測試，發射頻i普測試等；RFID系統測試包括電子標籤和 讀寫器，測試不同參數(改變標籤的移動速度、附著材質、數量、環境、 方向、操作數據小、以及多標籤的空間組合方案等)的系統通信距離、 系統通信速率。等信息通過電子標籤內置發送天線發送出去；系統接收天線接收到 從射頻電子標籤發送來的載波信號，經天線調節器傳送到讀寫器，讀寫 器對接收的信號進行解調和解碼，然後送到後臺主系統進行相關處理； 主系統根據邏輯運算判斷該電子標籤的合法性，針對不同的設定做出相 應的處理和控制，發出指令信號控制執行機構動作。
讀寫器通過發射天線發送一定頻率的射頻信號，當RFID標籤進入 發射天線工作區域時產生感應電流，RFID標籤獲得能量被激活；RFID標 籤將自身編碼等信息通過電子標籤內置發送天線發送出去；系統接收天線接收到從RFID標籤發送來的載波信號，經天線調節器傳送到讀寫器， 讀寫器對接收的信號進行解調和解碼，然後送到後臺主系統進行相關處 理；主系統根據邏輯運算判斷該電子標籤的合法性，針對不同的設定做 出相應的處理和控制，發出指令信號控制執行機構動作。 U)24]閱讀器和標籤之間可靠的相互作用要求與ISO 18000-6 C類型規範 等產業標準相一致。該要求增加了許多超出基本要求的測試以滿足政府 的頻鐠發射要求。RF—致性測試十分關鍵，有助於確保標籤和閱讀器間 的可靠協同工作。預編程測量能減少進行這些測試所需的建立時間。例如，ISO 18000-6 C類型的一個重要測量是啟動時間和關閉時間。載波能量上升 時間必須足夠快以保證標籤採集到使其正常工作的充足能量。信號也必 須迅速達到穩定狀態。發射結束時，載波能量下降時間必須足夠快，以 防止其它發射受到幹擾。 ISO 18000是一系列標準。此標準是目前最新的也是最熱門的標準， 原因是它可用於商品的供應鏈，其中的部分標準也正在形成之中。其中 ISO 18000-6基本上是整合了一些現有RFID廠商的產品規格和EAN-超CC 所提出的標籤架構要求而訂出的規範。它只規定了空氣接口協議，對數 據內容和數據結構無限制，因此可用於EPC。實際上，若採用ISO 18000-6 對空氣接口的規定加上EPC系統的編碼結構再加上ONS架構，就可以構 成一個完整的供應鏈標準。儘管通過參照本發明的某些優選實施例，已經對本發明進行了圖示 和描述，但本領域的普通技術人員應當理解，可以在形式上和細節上對 其作出各種各樣的改變，而不偏離所附權利要求書所限定的本發明的精
神和範圍。
權利要求
1.一種電子標籤RFID測試方法，其特徵在於，包括以下步驟，步驟一，基本信息錄入讀寫器把需檢測電子標籤RFID的基本信息寫入電子標籤；步驟二，數位訊號發生器產生一數位訊號，通過射頻發生/識別電路產生符合ISO國際標準的射頻信號，待測試RFID晶片收到該信號後，在正常情況下會產生一個返回信號，此時射頻信號發射/識別電路的識別部分即捕獲該信號，並將其轉換成為相應的數位訊號，通過測試系統與事先保存的期待值進行比較，判別晶片的通訊功能是否實現；步驟三，測試設備，用於接收待測RFID晶片的檢測數據項目信息，包括物理特性檢測、靜態性能檢測、動態性能檢測及射頻識別與電子標籤產品應用模擬試驗場，並將測試結果傳輸到主機；電子標籤，由晶片以及耦合元器件組成，晶片上有EEPROM用來儲存識別碼或其它數據，標籤內含有內置天線，用於完成與讀寫器的通信；主機，用於控制測試流程、紀錄和測試數據；RFID讀寫器用於控制射頻模塊向標籤發射讀取信號，並接收標籤的應答，對標籤的對象標識信息進行解碼，將對象標識信息連帶標籤上其它相關信息傳輸到主機以供處理。
2. 根據權利要求1所述的電子標籤RFID測試方法，其特徵在於，所 述ISO國際標準為ISO 18000-6 C產業標準。
全文摘要
本發明涉及一種電子標籤RFID測試方法。該方法流程包括，基本信息錄入讀寫器把需檢測電子標籤RFID的基本信息寫入電子標籤；數位訊號發生器產生一數位訊號，通過射頻發生/識別電路產生符合ISO國際標準的射頻信號，待測試RFID晶片收到該信號後，在正常情況下會產生一個返回信號，此時射頻信號發射/識別電路的識別部分即捕獲該信號，並將其轉換成為相應的數位訊號，通過測試系統與事先保存的期待值進行比較，判別晶片的通訊功能是否實現；測試設備，用於接收待測RFID晶片的檢測數據項目信息，包括物理特性檢測、靜態性能檢測、動態性能檢測及射頻識別與電子標籤產品應用模擬試驗場，並將測試結果傳輸到主機。本發明可實現快速而便捷RFID測試，標準一致性和優化測量。
文檔編號G06K19/07GK101592704SQ20081011335
公開日2009年12月2日 申請日期2008年5月28日 優先權日2008年5月28日
發明者琳 易 申請人:北京中食新華科技有限公司