一種超導導體異型鎧甲內徑檢測裝置的製作方法
2023-12-10 13:50:17

本發明涉及超導導體鎧甲檢測裝置領域,具體是一種超導導體異型鎧甲內徑檢測裝置。
背景技術:
隨著科技的發展,超導磁體技術得到了越來越多的應用,超導磁體的核心是cicc(cable-in-conduit-conductors)超導導體,它具有良好的自支撐、較低的交流損耗、所需低溫冷卻介質少、運行安全可靠、性能高等特點,是目前國際上公認的受控熱核聚變裝置中的大型超導磁體等裝置的首選導體。
其中的不鏽鋼鎧甲是cicc導體的主要部件之一,是一種外方內圓異型截面鎧甲,iter技術要求中對其化學成分、金相組織、力學性能、外觀尺寸等進行了嚴格的要求。其中外觀尺寸中的內孔尺寸因為直接影響到後續的穿纜過程,便成了尺寸檢測中最重要的參數指標。
而普通的導體鎧甲普遍在7m以上,使用現有的測量設備無法對超導鎧甲中間段的內孔尺寸進行測量,無法滿足大批量導體鎧甲的接收測試和驗收要求。
技術實現要素:
本發明的目的是提供一種超導導體異型鎧甲內徑檢測裝置,以解決現有技術cicc導體鎧甲內孔測量無法滿足大批量鎧甲檢測要求的問題。
為了達到上述目的,本發明所採用的技術方案為:
一種超導導體異型鎧甲內徑檢測裝置,其特徵在於:包括短通止規和長通止規,其中短通止規為共用一個錐底的雙平頂圓錐體結構,短通止規中間為錐底,短通止規中間向前、後側分別平滑過渡為平頂圓錐形從而構成雙平頂圓錐體結構,設短通止規中間錐底的直徑為d1,短通止規前、後端平頂處的直徑為d2,則直徑d1略小於超導導體鎧甲內孔內徑下限;
所述長通止規為圓柱體結構,長通止規的軸向長度大於短通止規的軸向長度,設長通止規的直徑為d3,則直徑d3小於超導導體鎧甲內孔內徑下限;
所述短通止規後端通過抗彎性好的連接線與長通止規前端連接,短通止規前端、長通止規後端分別連接有連接線。
所述的一種超導導體異型鎧甲內徑檢測裝置,其特徵在於:直徑d3小於直徑d1、大於直徑d2
所述的一種超導導體異型鎧甲內徑檢測裝置,其特徵在於:短通止規為硬質耐磨塑料製成。
所述的一種超導導體異型鎧甲內徑檢測裝置,其特徵在於:長通止規為鋁製材料製成。
一種超導導體異型鎧甲內徑檢測方法,其特徵在於:將短通止規前端連接線作為引導線穿過超導導體鎧甲內孔,穿過後通過拉拽引導線使短通止規、長通止規先後通過超導導體鎧甲內孔,若超導導體鎧甲內孔尺寸不達標,短通止規、長通止規無法通過時,記錄尺寸不達標的位置,通過拉拽長通止規後端的連接線將長通止規、短通止規依次從超導導體鎧甲內孔中退出。
與已有技術相比,本發明的有益效果體現在:
本發明採用尺寸稍小於鎧甲內孔內徑下限的短通止歸,有效的檢驗了導體鎧甲的內徑,解決了導體鎧甲內孔內徑難以測量的難題;同時結合上述檢驗內徑的短通止規尺寸和導體鎧甲對直線度的要求,採用直徑合適的長通止歸,在檢驗內孔尺寸的同時實現了對內孔直線度的檢測。通過對大量的超導導體鎧甲的檢測數據分析,本發明能夠篩選出絕大部分內孔尺寸不合格的超導導體鎧甲,滿足超導導體鎧甲對內孔尺寸,包括內孔直徑和直線度的檢測要求。
附圖說明
圖1為本發明結構示意圖。
圖2為本發明測量原理圖。
具體實施方式
如圖1所示,一種超導導體異型鎧甲內徑檢測裝置,包括短通止規1和長通止規2,其中短通止規1為共用一個錐底的雙平頂圓錐體結構,短通止規1中間為錐底,短通止規1中間向前、後側分別平滑過渡為平頂圓錐形從而構成雙平頂圓錐體結構,設短通止規1中間錐底的直徑為d1,短通止規1前、後端平頂處的直徑為d2,則直徑d1小於超導導體鎧甲內徑下限的尺寸為0.1mm,;直徑d2小於超導導體鎧甲內徑下限的尺寸為4mm,整個短通止規1的軸向長度為100mm。
長通止規2為圓柱體結構,長通止規2的軸向長度為600mm,大於短通止規1的軸向長度100mm,設長通止規2的直徑為d3,則直徑d3小於超導導體鎧甲內徑下限的尺寸為1mm;
短通止規1後端通過抗彎性好的連接線3與長通止規2前端連接,短通止規1前端、長通止規2後端分別連接有連接線4、5。
短通止規1為硬質耐磨塑料製成。
長通止規2為鋁製材料製成。
一種超導導體異型鎧甲內徑檢測方法,將短通止規1前端連接線4作為引導線穿過超導導體鎧甲內孔,穿過後通過拉拽引導線使短通止規1、長通止規2先後通過超導導體鎧甲內孔,若超導導體鎧甲內孔尺寸不達標,短通止規1、長通止規2無法通過時,記錄尺寸不達標的位置,通過拉拽長通止規2後端的連接線5將長通止規2、短通止規1依次從超導導體鎧甲內孔中退出。
技術特徵:
技術總結
本發明公開了一種超導導體異型鎧甲內徑檢測裝置,包括短通止規和長通止規,短通止規為共用一個錐底的雙平頂圓錐體結構,長通止規為圓柱體結構,短通止規後端通過連接線與長通止規前端連接,短通止規前端、長通止規後端分別連接有連接線。本發明採用尺寸稍小於鎧甲內孔內徑下限的短通止歸,有效的檢驗了導體鎧甲的內徑,解決了導體鎧甲內孔內徑難以測量的難題。
技術研發人員:秦經剛;廖國俊;武玉
受保護的技術使用者:中國科學院合肥物質科學研究院;西北有色金屬研究院
技術研發日:2017.05.09
技術公布日:2017.10.20