一種edfa瞬態測試方法
2023-09-19 21:42:20 1
一種edfa瞬態測試方法
【專利摘要】一種EDFA瞬態測試方法，用於測試EDFA的瞬態特性，ASESource產生平坦的寬譜ASE光，經過一個1X2的波長選擇光開關後，產生兩路多波長信號光源，對產生的兩路多波信號光源，一路進行強度調製，作為上下波通道，另外一路用作待監控通道。兩路信號光用光耦合器合波後，用作瞬態特性測試的信號光源。產生的信號光源經過待測的EDFA後，進入一個2X1的波長選擇光開關，濾出需要求檢測的波長光信號，經過光電轉換，進入對數轉換電路或者跨導轉換電路，用數字示波器進行檢測；採用ASE光源和波長選擇光開關產生多波光源，成本低廉，測試波長可任意選擇。
【專利說明】一種EDFA瞬態測試方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種測試方法，尤其是一種EDFA瞬態測試方法。
【背景技術】
[0002]摻鉺光纖放大器(EDFA)的出現加速了光通信得發展。EDFA自身具有以下優點:對數據格式和速率透明；增益大噪聲小；直接對光信號進行放大，省去了電再生中繼器，節省成本；增益帶寬大，擴大了傳輸容量。
[0003]EDFA作為DWDM系統及未來高速系統、全光網絡不可缺少的重要器件，必然需要適應光網絡的新需求。例如在DWDM系統中，當輸入EDFA的光信號強度放生較大變化，比如發生16dB的掉波或者上波時，並且瞬態持續時間在微秒級時，餌纖中的能量會瞬間轉移到剩餘的信號波長中，使該剩餘信號波長產生過衝或者欠衝。過衝和欠衝在多級EDFA級聯時會嚴重影響網絡的穩定性，所以對EDFA的瞬態特性測試就變得非常重要。一種低成本，功能全的EDFA瞬態測試方法及裝置十分必要。
【發明內容】
[0004]現有技術不能滿足人們的需要，為彌補現有技術不足，本發明旨在提供一種EDFA瞬態測試方法。
[0005]為實現上述目的，本發明採用以下技術方案:一種EDFA瞬態測試方法，該方法及裝置可以準確的測試EDFA的瞬態特性，並可以滿足各種測試條件，還具有裝置成本低廉的優點。
[0006]本發明提出一種EDFA瞬態測試方法，其中的信號光源產生裝置包括:1X2的波長選擇開關(wss-l)，ASE光源，聲光調製器，信號發生器，可調光衰減器。ASE光源經過一個1X2的波長選擇光開關(WSS-1)後，產生兩路多波長信號光源，多波信號源的每個波長的線寬由WSS的每個衰減通道帶寬決定。兩路信號的波長選擇可以通過WSS-1完成，WSS-1兩臂上的V0A-1和V0A-2可以對調製信道和監控信道上的光功率進行調節。瞬態信號檢測裝置包括:光耦合器，光電二極體，2X1波長選擇開關(WSS-2)，對數轉換電路或者跨導轉換電路，數字示波器。產生的信號光源經過待測的EDFA後，進入一個2X1的WSS-2後濾出待檢測波長光信號，經過光電轉換，進入對數轉換電路或者跨導轉換電路，用數字示波器進行檢測。
[0007]作為本發明的僅有技術方案:ASE光源進入1X2的波長選擇光開關後產生兩路波長可選擇的多波光源，一路用作上下波(add/drop)光信號，另外一路用作監控波長光信號。
[0008]平坦的ASE光源進入1X2的波長選擇光開關後，通過設置1X2的波長選擇光開關的各個通道的電壓來調節各個通道的光衰減值來選擇兩臂輸出的光信號波長，並且能對兩臂輸出的多波信號的斜率根據測試需求進行調節。
[0009]與現有技術相比，本發明的有益效果是:該EDFA瞬態測試方法進行測試時具有如下特點: 採用ASE光源和波長選擇光開關產生多波光源，成本低廉，測試波長可任意選擇；採用波長選擇光開關來濾出待檢測波長，濾波通道可靈活選擇。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0010]圖1為本發明的整體結構框圖；
其中:101:ASE光源；102:1X2波長選擇光開關；103:信號發生器；104:聲光調製器；105和106:可調光衰減器；107:對數轉換電路或者跨導轉換電路；108:數字示波器；109:2X1波長選擇光開關；110:光耦合器。
【具體實施方式】
[0011]下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基於本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例，都屬於本發明保護的範圍。
[0012]請參閱圖1，本發明實施例中，本發明提出一種EDFA瞬態測試方法，該裝置可以準確的測試EDFA的瞬態特性，並可以滿足各種測試條件，還具有裝置成本低廉的優點。
[0013]本發明提出一種EDFA瞬態測試方法。其中的信號光源產生裝置包括:1X2的波長選擇開關(wss-l)，ASE光源，聲光調製器，信號發生器，可調光衰減器。ASE光源經過一個1X2的波長選擇光開關(WSS-1)後，產生兩路多波長信號光源，多波信號源的每個波長的線寬由WSS的每個衰減通道帶寬決定。兩路信號的波長選擇可以通過WSS-1 (102)完成，WSS-1 (102)兩臂上的V0A-1 (105)和V0A-2 (106)可以對調製信道和監控信道上的光功率進行調節。瞬態信號檢測裝置包括:光耦合器，光電二極體，2X1波長選擇開關(WSS-2)，對數轉換電路或者跨導轉換電路，數字示波器。產生的信號光源經過待測的EDFA後，進入一個2X1的WSS-2 (109)後濾出待檢測波長光信號，經過光電轉換，進入對數轉換電路或者跨導轉換電路(107 )，用數字示波器(108 )進行檢測。
[0014]本發明的作用原理為:ASE Source (101)產生平坦的寬譜ASE光，經過一個1X2的波長選擇光開關(102)後，產生兩路多波長信號光源，對產生的兩路多波信號光源，一路利用信號發生器(103)和聲光調製器(104)進行調製，用作上下波通道，另外一路用作監控通道。兩路信號光用光耦合器(110)合波後，用作瞬態特性測試的信號光源。產生的信號光源經過待測的EDFA後，利用入一個2X1的波長選擇光開關(109)濾出需要檢測是波長光信號，經過光電轉換，進入對數轉換電路或者跨導轉換電路(107)，用數字示波器(108)進行檢測。
[0015]對於本領域技術人員而言，顯然本發明不限於上述示範性實施例的細節，而且在不背離本發明的精神或基本特徵的情況下，能夠以其它的具體形式實現本發明。因此，無論從哪一點來看，均應將實施例看作是示範性的，而且是非限制性的，本發明的範圍由所附權利要求而不是上述說明限定，因此旨在將落在權利要求的等同要件的含義和範圍內的所有變化囊括在本發明內。不應將權利要求中的任何附圖標記視為限制所涉及的權利要求。
[0016]以上所述，僅為本發明的較佳實施例，並不用以限制本發明，凡是依據本發明的技術實質對以上實施例所作的任何細微修改、等同替換和改進，均應包含在本發明技術方案的保護範圍之內。
【權利要求】
1.一種EDFA瞬態測試方法，用於測試EDFA的瞬態特性，其特徵在於:ASE Source(1l)產生平坦的寬譜ASE光，經過一個1X2的波長選擇光開關(102)後，產生兩路多波長信號光源，對產生的兩路多波信號光源，一路進行強度調製，作為上下波通道，另外一路用作待監控通道；兩路信號光用光耦合器(110)合波後，用作瞬態特性測試的信號光源；產生的信號光源經過待測的EDFA後，進入一個2X1的波長選擇光開關(109)，濾出需要求檢測的波長光信號，經過光電轉換，進入對數轉換電路或者跨導轉換電路(107)，用數字示波器(108)進行檢測。
2.根據權利要求1所述的瞬態測試方法，其特徵在於:ASE光源(101)進入1X2的波長選擇光開關(102)後產生兩路波長可選擇的多波光源，一路用作上下波(add/drop)光信號，另外一路用作監控波長光信號。
3.根據權利要求1所述的瞬態測試方法，其特徵在於:平坦的ASE光源進入1X2的波長選擇光開關(102)後，通過設置1X2的波長選擇光開關(102)的各個通道的電壓來調節各個通道的光衰減值來選擇兩臂輸出的光信號波長，並且能對兩臂輸出的多波信號的斜率根據測試需求進行調節。
4.根據權利要求1所述的瞬態測試方法，其特徵在於:經過1X2的波長選擇光開關(101)產生的兩路多波光信號，一路經過聲光調製器(104)調製，信號發生器(103)產生測試要求的瞬態上下路(add/drop)波形，用作調製信道；另一路用作存在波長信道(監控波長信道)。
5.根據權利要求1所述的瞬態測試方法，其特徵在於:待測EDFA的輸出光信號，直接進入2X1的波長選擇光開關(109)，通過調節2X1的波長選擇光開關(109)各個通道的衰減值來濾出待分析的波長的信號光；具體方法為:將待分析波長通道的衰減值調節到最小，並將其他波長信道的衰減值調節到最大。
【文檔編號】G01M11/00GK104296966SQ201410574964
【公開日】2015年1月21日 申請日期:2014年10月24日 優先權日:2014年10月24日
【發明者】周仲謀, 陳智凱, 劉婕, 徐桂芹, 徐曉忠, 呂華龍, 張水興 申請人:國家電網公司, 國網江西省電力公司贛西供電分公司