一種液晶模組測試裝置及液晶模組測試儀的製作方法

2023-09-18 10:45:00

專利名稱：一種液晶模組測試裝置及液晶模組測試儀的製作方法
技術領域：
本實用新型屬於液晶模組測試技術領域，尤其涉及一種液晶模組測試裝置及液晶 模組測試儀。
背景技術：
液晶模組(Liquid Crystal Module，LCM)是指將液晶顯示器件、連接件、控制與驅 動等外圍電路、PCB電路板、背光源等結構件裝配在一起形成的組件，其以極強的顯示柔性 被廣泛應用於各種消費電子產品(如MP3、MP4、手機、數位相機等)的輸入輸出單元上。在LCM生產過程中，需要對LCM產品進行功能測試，包括測試LCM的顯示顏色是否 正常、LCM的工作電壓、電流等參數是否在可接受範圍等。該功能測試的過程一般包括如下 幾個步驟給LCM提供合適的工作電壓；對LCM初始化；寫入圖像數據到LCM ；人眼觀測LCM 顯示結果，進而判斷LCM的顯示顏色是否正常；反饋測試LCM的工作電流、電壓是否在可接 受範圍，進而判斷LCM的電性能是否正常。現有技術提供的液晶模組測試裝置在對包含MCU接口的LCM產品進行上述功能測 試時，單純使用單片機的單一接口，通過控制線、數據線將LCM的初始化數據及測試圖像數 據寫入LCM，通過人眼判斷LCM的顯示顏色是否正常；同時通過一電源模塊直接提供LCM的 工作電壓，使用電壓表、電流表測試LCM的工作電壓、電流是否正常。由於該液晶模組測試 裝置單獨使用了單片機和電源模塊，使得其結構複雜、操作繁瑣。

實用新型內容本實用新型的目的在於提供一種液晶模組測試裝置，旨在解決現有技術提供的液 晶模組測試裝置由於單獨使用了單片機和電源模塊，使得其結構複雜、操作繁瑣的問題。本實用新型是這樣實現的，一種液晶模組測試裝置，所述裝置包括上電後將存儲的與待測液晶模組相應的初始化數據、參數數據寫入所述待測液晶 模組的控制器、同時向所述待測液晶模組輸出相應的工作電壓的液晶模組測試儀，所述液 晶模組測試儀包括有IDE接口；以及連接所述液晶模組測試儀的所述IDE接口和所述待測液晶模組的MCU接口的轉接 部，所述液晶模組測試儀是順次通過所述IDE接口以及轉接部連接所述待測液晶模組的控 制器的。上述液晶模組測試儀可以包括存儲單元；上電後將從所述存儲單元讀取出的與待測液晶模組相應的初始化數據、參數數據 寫入待測液晶模組的控制器、同時輸出從所述存儲單元讀取出的待測液晶模組輸出相應的 數字工作電壓信號的微處理器，所述微處理器連接所述存儲單元和IDE接口 ；將所述微處理器輸出的所述數字工作電壓信號轉換成模擬工作電壓信號後通過 所述IDE接口輸出給所述待測液晶模組的數模轉換器，所述數模轉換器連接所述微處理器
4和IDE接口。上述液晶模組測試儀還可以進一步包括將所述IDE接口反饋的模擬電壓信號轉換成數字電壓信號並輸出的模數轉換器， 所述模數轉換器連接所述IDE接口和微處理器；當所述微處理器比較得到所述模數轉換器輸出的所述數字電壓信號的電壓值超 過所述存儲單元存儲的預設電壓範圍值時發出報警的提示單元，所述提示單元連接所述微 處理器。上述液晶模組測試儀還可以進一步包括連接所述微處理器的輸入輸出單元。上述存儲單元可以是一電可擦可編程只讀存儲器。本實用新型的另一目的在於提供一種液晶模組測試儀，所述液晶模組測試儀包括 有IDE接口，所述液晶模組測試儀通過一連接所述IDE接口和所述待測液晶模組的MCU接 口的轉接部連接所述待測液晶模組。上述液晶模組測試儀可以進一步包括存儲單元；上電後將從所述存儲單元讀取出的與待測液晶模組相應的初始化數據、參數數據 寫入待測液晶模組的控制器、同時輸出從所述存儲單元讀取出的待測液晶模組輸出相應的 數字工作電壓信號的微處理器，所述微處理器連接所述存儲單元和IDE接口 ；將所述微處理器輸出的所述數字工作電壓信號轉換成模擬工作電壓信號後通過 所述IDE接口輸出給所述待測液晶模組的數模轉換器，所述數模轉換器連接所述微處理器 和IDE接口。上述所述液晶模組測試儀還可以包括將所述IDE接口反饋的模擬電壓信號轉換成數字電壓信號並輸出的模數轉換器， 所述模數轉換器連接所述IDE接口和微處理器；當所述微處理器比較得到所述模數轉換器輸出的所述數字電壓信號的電壓值超 過所述存儲單元存儲的預設電壓範圍值時發出報警的提示單元，所述提示單元連接所述微 處理器。上述液晶模組測試儀還可以包括連接所述微處理器的輸入輸出單元。上述存儲單元是一電可擦可編程只讀存儲器。本實用新型實施例提供的液晶模組測試裝置中，液晶模組測試儀採用了 IDE接口來 同時向LCM輸出初始化數據、參數數據以及電壓，簡化了液晶模組測試裝置的結構，易於操作。

圖1是本實用新型實施例提供的液晶模組測試裝置的結構原理圖；圖2是圖1的具體結構圖。
具體實施方式
為了使本實用新型的目的、技術方案及優點更加清楚明白，
以下結合附圖及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋 本實用新型，並不用於限定本實用新型。圖1示出了本實用新型實施例提供的液晶模組測試裝置的結構原理，為了便於說 明，僅示出了與本實用新型實施例相關的部分。本實用新型實施例提供的液晶模組測試裝置包括上電後將存儲的與待測液晶模 組相應的初始化數據、參數數據寫入待測液晶模組的控制器、同時向待測液晶模組輸出相 應的工作電壓的液晶模組測試儀1，液晶模組測試儀1包括有IDE接口 ；連接液晶模組測試 儀1的IDE接口和待測液晶模組的MCU接口的轉接部2，液晶模組測試儀1是順次通過IDE 接口以及轉接部2連接待測液晶模組的控制器的。其中，參數數據包括待測液晶模組的MCU接口的時序、待測液晶模組的控制器 的功能寄存器寬度、待測液晶模組的顯示深度、待測液晶模組的顯示尺寸參數、測試圖像數 據。更具體地，待測液晶模組的MCU接口的時序為8080、6800、11(或5 1中的任一種；待測 液晶模組的控制器的功能寄存器寬度為8bit或16bit ；待測液晶模組的顯示深度為黑白顯 示、灰階顯示、256色顯示、4K色顯示、65K色顯示或260K色顯示中的任一種，當待測液晶模 組的顯示深度為260K色顯示時，參數數據還包括待測液晶模組的控制器的功能寄存器的 數據對齊方式，包括頭對齊和尾對齊；待測液晶模組的顯示尺寸參數包括LCM顯示的寬方 向點陣數和高方向點陣數；測試圖像數據一般採用比較規整的測試圖像模式的數據，該測 試圖像模式為除去 all red、all green、all blue、all on、all off 和 color bar 之外的 現有圖像模式中的任一種。由於液晶模組測試儀1採用了 IDE接口來同時向LCM輸出初始化數據、參數數據 以及電壓，簡化了液晶模組測試裝置的結構，易於操作。由於傳統的液晶模組測試裝置是使用固定電壓對LCM供電，一旦電壓固定便無法 改變，且無法實現對LCM電壓、電流的監控，當LCM短路或其它原因導致LCM中有大電流通 過時，現有技術提供的液晶模組測試裝置無法檢測到該狀況並切斷供電，為此，本實用新型 實施例中，液晶模組測試儀1還可以接收IDE接口反饋的電壓，並當電壓值超過預設電壓範 圍值時，停止向待測液晶模組輸出電壓，還可以同時發出報警。此時，參數數據還包括待測 液晶模組的預設電壓範圍值。其中，液晶模組測試儀1在將測試圖像數據寫入待測液晶模組的控制器時，可以 採用自動寫入模式或手動寫入模式。在手動寫入模式下，液晶模組測試儀1是在每次接收 到用戶輸入的寫入信號(如按鍵信號等)後，寫入一次測試圖像數據的；在自動寫入模式 下，液晶模組測試儀1是每隔一預設時延，自動寫入一次測試圖像數據的。此時，參數數據 還包括測試圖像數據傳輸的預設時延。另外，液晶模組測試儀1中存儲的與待測液晶模組相應的初始化數據、參數數據、 待測液晶模組相應的工作電壓可以由用戶預先根據待測液晶模組的需求而直接寫入液晶 模組測試儀1中，也可以是由用戶預先根據待測液晶模組的需求在PC機中設置，再將PC機 中被設置的數據寫入液晶模組測試儀1中。圖2示出了圖1的具體結構。液晶模組測試儀1具體包括連接轉接部2的IDE接口 12 ；存儲與待測液晶模組 相應的初始化數據、參數數據、工作電壓的存儲單元14 ；上電後將從存儲單元14讀取出的與待測液晶模組相應的初始化數據、參數數據寫入待測液晶模組的控制器、同時輸出從存 儲單元14讀取出的待測液晶模組輸出相應的數字工作電壓信號的微處理器13，微處理器 13連接存儲單元14和IDE接口 12 ；將微處理器13輸出的數字工作電壓信號轉換成模擬工 作電壓信號後通過IDE接口 12輸出給待測液晶模組的數模轉換器15，數模轉換器15連接 微處理器13和IDE接口 12。當液晶模組測試儀1還具有對LCM電壓的監控及報警功能時，液晶模組測試儀1 還包括將IDE接口 12反饋的模擬電壓信號轉換成數字電壓信號並輸出的模數轉換器16， 模數轉換器16連接IDE接口 12和微處理器13 ；當微處理器13比較得到模數轉換器16輸 出的數字電壓信號的電壓值超過存儲單元14存儲的預設電壓範圍值時發出報警的提示單 元17，提示單元17連接微處理器13。此外，微處理器13還可以在比較得到模數轉換器16 輸出的數字電壓信號的電壓值超過存儲單元14存儲的預設電壓範圍值時，停止輸出模擬 工作電壓信號。當存儲單元14中存儲的與待測液晶模組相應的初始化數據、參數數據、待測液晶 模組相應的工作電壓是由用戶預先根據待測液晶模組的需求而直接寫入存儲單元14中 時，液晶模組測試儀1還包括；連接微處理器13的輸入輸出單元11。此時，微處理器13 接收用戶根據輸入輸出單元11顯示的內容輸入的設置信號，並根據該設置信號確定與待 測液晶模組相應的初始化數據、參數數據、待測液晶模組相應的工作電壓並將確定的待測 液晶模組相應的初始化數據、參數數據、待測液晶模組相應的工作電壓存儲於存儲單元14。其中的存儲單元14採用一電可擦可編程只讀存儲器(Electrically ErasableProgrammable Read-Only Memory, EEPROM)，避免了現有技術需要根據待測液晶 模組的時序等重新編寫原始碼並寫入單片機時，多次寫入容易導致單片機損壞的問題。本實用新型實施例還提供了一種如上所述的液晶模組測試儀，該液晶模組測試儀 通過一將IDE接口轉換成與待測液晶模組的MCU接口對接的接口的轉接部連接待測液晶 模組。本實用新型實施例提供的液晶模組測試裝置中，液晶模組測試儀1採用了 IDE接 口來同時向LCM輸出初始化數據、參數數據以及電壓，簡化了液晶模組測試裝置的結構，易 於操作；另外，液晶模組測試儀1還可以具有接收IDE接口反饋的電壓，並當電壓值超過預 設電壓範圍值時，停止向待測液晶模組輸出電壓的功能，當LCM短路或其它原因導致LCM中 有大電流通過時可以及時切斷供電，避免燒毀LCM。以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，並不用以限制本實用新型，凡在本 實用新型的精神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等，均應包含在本實用新型 的保護範圍之內。
權利要求一種液晶模組測試裝置，其特徵在於，所述裝置包括上電後將存儲的與待測液晶模組相應的初始化數據、參數數據寫入所述待測液晶模組的控制器、同時向所述待測液晶模組輸出相應的工作電壓的液晶模組測試儀，所述液晶模組測試儀包括有IDE接口；以及連接所述液晶模組測試儀的所述IDE接口和所述待測液晶模組的MCU接口的轉接部，所述液晶模組測試儀是順次通過所述IDE接口以及轉接部連接所述待測液晶模組的控制器的。
2.如權利要求1所述的液晶模組測試裝置，其特徵在於，所述液晶模組測試儀包括 存儲單元；上電後將從所述存儲單元讀取出的與待測液晶模組相應的初始化數據、參數數據寫入 待測液晶模組的控制器、同時輸出從所述存儲單元讀取出的待測液晶模組輸出相應的數字 工作電壓信號的微處理器，所述微處理器連接所述存儲單元和IDE接口 ；將所述微處理器輸出的所述數字工作電壓信號轉換成模擬工作電壓信號後通過所述 IDE接口輸出給所述待測液晶模組的數模轉換器，所述數模轉換器連接所述微處理器和 IDE 接口。
3.如權利要求2所述的液晶模組測試裝置，其特徵在於，所述液晶模組測試儀還包括 將所述IDE接口反饋的模擬電壓信號轉換成數字電壓信號並輸出的模數轉換器，所述模數轉換器連接所述IDE接口和微處理器；當所述微處理器比較得到所述模數轉換器輸出的所述數字電壓信號的電壓值超過所 述存儲單元存儲的預設電壓範圍值時發出報警的提示單元，所述提示單元連接所述微處理o
4.如權利要求2所述的液晶模組測試裝置，其特徵在於，所述液晶模組測試儀還包括連接所述微處理器的輸入輸出單元。
5.如權利要求2至4任一項所述的液晶模組測試裝置，其特徵在於，所述存儲單元是一 電可擦可編程只讀存儲器。
6.一種液晶模組測試儀，其特徵在於，所述液晶模組測試儀包括有IDE接口，所述液晶 模組測試儀通過一連接所述IDE接口和所述待測液晶模組的MCU接口的轉接部連接所述待 測液晶模組。
7.如權利要求6所述的液晶模組測試儀，其特徵在於，所述液晶模組測試儀進一步包括存儲單元；上電後將從所述存儲單元讀取出的與待測液晶模組相應的初始化數據、參數數據寫入 待測液晶模組的控制器、同時輸出從所述存儲單元讀取出的待測液晶模組輸出相應的數字 工作電壓信號的微處理器，所述微處理器連接所述存儲單元和IDE接口 ；將所述微處理器輸出的所述數字工作電壓信號轉換成模擬工作電壓信號後通過所述 IDE接口輸出給所述待測液晶模組的數模轉換器，所述數模轉換器連接所述微處理器和 IDE 接口。
8.如權利要求7所述的液晶模組測試儀，其特徵在於，所述液晶模組測試儀還包括將所述IDE接口反饋的模擬電壓信號轉換成數字電壓信號並輸出的模數轉換器，所述 模數轉換器連接所述IDE接口和微處理器；當所述微處理器比較得到所述模數轉換器輸出的所述數字電壓信號的電壓值超過所 述存儲單元存儲的預設電壓範圍值時發出報警的提示單元，所述提示單元連接所述微處理器。
9.如權利要求7所述的液晶模組測試儀，其特徵在於，所述液晶模組測試儀還包括 連接所述微處理器的輸入輸出單元。
10.如權利要求7至9任一項所述的液晶模組測試儀，其特徵在於，所述存儲單元是一 電可擦可編程只讀存儲器。
專利摘要本實用新型適用於液晶模組測試技術領域，提供了一種液晶模組測試裝置及液晶模組測試儀。其中的裝置包括上電後將存儲的與待測液晶模組相應的初始化數據、參數數據寫入待測液晶模組的控制器、同時向待測液晶模組輸出相應的工作電壓的液晶模組測試儀，液晶模組測試儀包括有IDE接口；以及連接液晶模組測試儀的IDE接口和待測液晶模組的MCU接口的轉接部，液晶模組測試儀是順次通過IDE接口以及轉接部連接所述待測液晶模組的控制器的。由於其中的液晶模組測試儀採用了IDE接口來同時向液晶模組輸出初始化數據、參數數據以及電壓，簡化了液晶模組測試裝置的結構，易於操作。
文檔編號G02F1/13GK201765405SQ201020196288
公開日2011年3月16日 申請日期2010年5月18日 優先權日2010年5月18日
發明者謝超英 申請人:創維液晶器件(深圳)有限公司