檢測光學透鏡支架的設備及相關方法

2023-12-09 11:17:56

專利名稱：檢測光學透鏡支架的設備及相關方法
技術領域：
本發明涉及一種檢測光學透鏡支架的設備，該種類型的設備包括 框架，該框架包括用於固定所述支架的裝置；
轉臺，該轉臺安裝成可在所述框架上圍繞第一軸線旋轉，所述第一軸線 設置為基本垂直於所述支架的平均準線表面；
滑動裝置，該滑動裝置安裝為可在所述轉臺上沿著與所述第一軸線基本 垂直的第二軸線滑動；
傳感器，該傳感器安裝為可在所述滑動裝置中沿著與所述第一軸線基本 平行的第三軸線滑動，所述傳感器安裝有橫向檢測部件，該檢測部件具有用 於與所述支架接觸的接觸面；
傳感器移動裝置，該傳感器移動裝置用於使所述傳感器圍繞所述支架的 緣移動，以在檢測所述支架時使所述接觸面圍繞所述支架移動，該傳感器移 動裝置包括用於驅動所述轉臺圍繞所述第一軸線旋轉的裝置；以及
轉臺移動裝置，該轉臺移動裝置用於使所述轉臺在與所述第一軸線基本 垂直的平面上移動。
背景技術：
這種檢測設備通常與光學透鏡的打磨機連接，以在透鏡被打磨成具有支
架的精確形狀前精確測量支架的三維形狀。
為此，目前在檢測設備中用成對的夾子來固定支架。 一種已知的檢測設備(EP-A-1 090 716)包括安裝在轉臺上的傳感器，
該轉臺可圍繞與支架的平均準線表面相垂直的第一軸線旋轉。該傳感器還可
在轉臺上平行於第一軸線以及垂直於第一軸線移動。在開始檢測前，利用位於與轉臺的旋轉軸線垂直的平面上的移動裝置將 轉臺的旋轉軸線移動到接近第一支架緣的中心。隨後，使轉臺固定，並相對 於轉臺移動傳感器以接觸支架的槽。之後，驅動轉臺圍繞其軸線旋轉至少一 整圈，同時保持傳感器與槽的底部接觸以跟隨支架的形狀。在旋轉期間，轉 臺的旋轉軸線通常保持不動。
檢測設備記錄轉臺的每個旋轉角6 、支架的高度Z和矢量半徑p，艮口， 傳感器的接觸面與轉臺的旋轉軸之間的距離。
支架的尺寸必須非常精確，因為在獲得支架尺寸中的任何誤差都將導致 打磨形狀的缺陷，進而造成在支架上難以組裝透鏡的問題。
當支架是剛性的並基本為圓形時，EP-A-1 090 716中描述的檢測設備基 本可以滿足需求。
然而，目前，鏡片支架正變得更為柔軟，且是具有銳角的細長形。此時， 上述類型的設備將無法令人完全滿意。
如果傳感器在非拐角部分與支架的槽嚴格垂直，那麼只要傳感器一抵達 支架的拐角，它就會認定一個與支架截面的局部軸線幾乎平行的結構。
在此情形下，考慮到在通過拐角時支架局部方向上的突然改變，傳感器 會在支架上施加一個足以使支架移動或局部變形的力。在此情形下，獲得的 支架的尺寸是不精確的，因而會導致打磨時出現缺陷。

發明內容
因此，本發明的目的是提供一種檢測設備，該檢測設備能夠精確可靠地 檢測細長和/或有角形狀的支架。
為此，本發明的目的是提供一種上述類型的檢測設備，其特徵在於，該 設備包括控制裝置，該控制裝置用於在檢測支架時控制用於使轉臺在基本垂 直於第一軸線的基本垂直平面上移動的裝置，並適於在所述轉臺被旋轉驅動裝置驅動而圍繞第一軸線旋轉時，使轉臺在基本垂直於第一軸線的基本垂直
平面上在中心有效位置(central active positon)附近移動。
根據本發明的檢測設備可以包括一個或多個以下特徵，這些特徵可以單 獨使用或以任何可能的技術組合進行使用
-用於使所述轉臺在基本垂直於所述第一軸線的基本垂直平面上移動 的裝置，該裝置包括用於驅動所述轉臺沿著位於該基本垂直平面中的平移軸 相對於所述框架平移的裝置；
-控制裝置，該控制裝置用於控制使所述轉臺在所述基本垂直平面上移 動的裝置，並且該控制裝置包括存儲裝置，該存儲裝置用於存儲在檢測所述 支架時使得所述轉臺在中心有效位置附近的位置與所述轉臺圍繞所述第一 軸線的各個角位相關聯的預定曲線；
-該檢測設備包括記錄裝置，該記錄裝置用於在檢測所述支架時記錄 所述接觸面的多個在先位置，以及計算裝置，該計算裝置用於在檢測同一支 架期間，根據所述記錄裝置記錄的多個在先位置，為所述轉臺的各個角位計 算所述轉臺在垂直於所述第一軸線的基本垂直平面上的連續位置；
-該檢測設備包括採集裝置，該採集裝置用於採集與所述支架的簡化 輪廓相關的數據，以及計算裝置，該計算裝置根據採集裝置所採集的簡化輪 廓的數據，為所述轉臺的各個角位計算所述轉臺在垂直於所述第一軸線的基 本垂直平面上的連續位置；
-所述採集裝置包括用於獲取所述支架的數字圖像的裝置；以及
-滑動裝置，該滑動裝置可在所述轉臺上沿著第二軸線在前進位置和縮 回位置之間平移移動，其中，在前進位置上，所述檢測部件的接觸面在穿過 第一軸線並與第二軸線垂直的中央平面的第一側伸出，在縮回位置上，所述 接觸面全部位於所述中央平面的第二側，該第二側與所述第一側相對。
本發明還提供了一種光學透鏡支架的檢測方法，其特徵在於，該檢測方
8法包括以下步驟
-將所述支架放置在如上所述的檢測設備的固定裝置中；
-定位所述傳感器的接觸面，使該接觸面與所述支架接觸；
-沿所述支架移動所述傳感器，包括圍繞所述第一軸線旋轉所述轉臺，
同時維持所述傳感器的接觸面與所述支架接觸；以及在此旋轉期間
-在基本垂直於第一軸線的基本垂直平面上使轉臺在中心有效位置附
近移動。
根據本發明的檢測方法可包括一個或多個以下特徵，這些特徵可以單獨 使用或以任意技術上可能的組合進行使用
-由控制裝置根據預定曲線控制轉臺在所述基本垂直平面上的移動，該 預定曲線使得所述轉臺圍繞所述第一軸線的各個角位與所述轉臺在垂直於 所述第一軸線的基本垂直平面上的位置相關聯，該預定曲線存儲於所述控制 裝置的存儲裝置中；
-控制步驟，該控制步驟包括在檢測所述支架期間記錄所述傳感器的多 個在先位置，以及在檢測同一支架期間，根據記錄的多個在先位置，為所述 轉臺圍繞所述第一軸線的各個連續角位計算所述轉臺相對於所述框架的位 置；以及
-該檢測方法包括採集與所述支架的簡化輪廓相關的數據的步驟，控制 步驟包括根據釆集步驟所獲得的簡化輪廓數據，為所述轉臺圍繞所述第一軸 線的各個角位計算所述轉臺相對於所述框架的位置。


參照附圖，通過以下僅作為實施例提供的說明，將使本發明更易於理解， 其中
圖1是根據本發明的第一種檢測設備的相關部分的局部立體示意圖；圖2是在細長、有角的鏡片支架的檢測方法的初始階段，圖1的設備的 俯視圖3是在經過支架的拐角時與圖2類似的視圖4是根據轉臺的旋轉角來確定檢測設備的轉臺中心相對於支架中心的
位移的預定曲線圖5是顯示根據本發明的檢測方法的不同步驟的流程圖；以及 圖6是與圖2類似的圖，顯示在根據本發明的檢測設備的變型的轉臺上，
傳感器位置的兩種可能的結構。
具體實施例方式
圖1至圖3顯示根據本發明的第一種檢測設備10。
設備10用於檢測在光學透鏡支架14上限定的凹槽12的精確形狀，該 凹槽12在圖1至圖3中僅部分顯示。檢測設備10設置在光學透鏡的打磨機 16上，例如，設置在申請人在申請FR-A-2 852 878中所描述的那種類型的 打磨機上。
如圖1和圖2所示，支架14包括兩個支架緣18，在這些附圖中，僅其 中一個支架緣18可見。每個支架緣18的內部限定有凹槽12。
在圖1中，每個支架緣18具有基本水平的平均準線表面。在水平面投 影圖上，每個支架緣18具有細長和有角的輪廓。因而，支架緣18包括兩個 部分上部20A和下部20B，該上部20A和下部20B通過兩個長度至少短 1/2倍的側部22A、 22B彼此連接。每個支架緣18包括位於各個部分20A、 20B和相鄰部分22A、 22B之間的拐角部分24，每個拐角部分24形成為大 約90°的角度。
凹槽12沿著支架緣18的整個內周緣設置在支架緣18的內部。其橫截 面，例如可以基本呈V形。參照圖1至圖3，檢測設備10包括框架26;夾子28，該夾子28用於 將支架14相對於框架26固定；移動式傳感器30，該移動式傳感器30安裝 在傳感器支座32上；以及裝置34，該裝置34用於使傳感器30相對於框架 26移動。
設備10還包括中央控制計算單元36，該中央控制計算單元36用於在檢 測支架14時控制並記錄傳感器30相對於框架26的位移。
夾子28，例如可以是申請FR-A-2 754 356中描述的那種類型的夾子。 夾子28適於將支架14基本水平地保持在傳感器支座32的上方。
在圖l至圖3所示的實施例中，設備10包括兩對夾子28，該兩對夾子 28位於水平面上，並且分別用於夾持上部20A和下部20B。
傳感器30包括沿著垂直移動軸線A-A'延伸的垂直支撐杆38，以及橫切 於軸線A-A，並固定安裝在支撐杆38上端的傳感器葉片(blade) 40。
葉片40從軸線A-A，徑向向外伸出。並且，該葉片40具有尖銳的或圓 形的末端，該末端限定有用於與支架14的凹槽12接觸的表面42。
傳感器支座32包括轉臺50，該轉臺50可圍繞垂直的轉臺旋轉軸線 B-B，旋轉；以及滑動裝置52，該滑動裝置52由轉臺50支撐，並可沿著垂直 於軸線B-B，的水平滑動軸線C-C，移動。滑動裝置52上安裝有傳感器30，因 而傳感器30可以滑動。
轉臺50包括具有軸線B-B'的水平圓板54，以及用於支撐和引導滑動裝 置52的構架56。
板54的外周上裝配有一組齒58，以使得板54能夠被驅動圍繞軸線B-B' 旋轉。
構架56包括兩個垂直撐架60，該兩個垂直撐架60彼此相對地設置在 板54的邊緣上；以及兩個水平平行杆62，該兩個水平平行杆62在板54的 上方各自安裝在板54的直徑的一側。
ii滑動裝置52包括滑架(carriage) 64，該滑架64安裝為可以沿著軸線 C-C，在杆62上滑行。在轉臺50圍繞軸線B-B，旋轉時，軸線C-C，通過圍繞 軸線B-B'的旋轉而移動。
滑架64帶有沿著軸線A-A'延伸的垂直引導套筒66，該引導套筒66用 於引導傳感器的支撐杆38。套筒66相對於滑架64垂直向上伸出，並具有用 於引導杆38的中心引導通道，在該中心引導通道中，杆38被安裝為可以沿 著其軸線A-A'滑動。
套筒66包括用於對杆38進行角分度的分度裝置(未顯示)，以防止杆 38和傳感器葉片40圍繞軸線A-A'旋轉。因此，葉片40可以相對於軸線B-B' 徑向延伸，並與軸線C-C'平行。
轉臺50可通過圍繞軸線B-B，旋轉而相對於框架26移動。此外，該轉 臺50還通過引導裝置67連接於框架26，以能夠沿著穿過其旋轉軸線B-B' 的水平軸線D-D，相對於框架26移動。正如下文所見，從而，轉臺50可在 遠離夾子28的縮回靜止位置和檢測支架緣18的中心有效位置之間沿著軸線 D-D'朝著各個支架緣18移動。
在各個中心有效位置，轉臺的軸線B-B，在夾子28之間延伸，並基本位 於夾子28之間的中心69上，當支架14安裝在夾子28上時，軸線B-B，即基 本位於支架14的支架緣18的中心上。
正如下文所見，根據本發明，在檢測支架14時，轉臺50的旋轉軸線 B-B，還可沿著水平軸線D-D'在中心有效位置附近局部移動。
如圖1所示，傳感器的移動裝置34包括用於驅動轉臺50圍繞軸線B-B' 旋轉的裝置70、用於使轉臺50的旋轉軸線B-B'沿著水平軸線D-D'移動的 裝置72、用於使滑動裝置52沿著水平軸線C-C，在杆62上移動的裝置74、 以及用於使傳感器30的垂直杆38沿著垂直軸線A-A'在套管66中移動的裝 置76。旋轉驅動裝置70包括致動器，該致動器適於嚙合外周的齒58，以使得 板54圍繞軸線B-B，旋轉。驅動裝置70適於使轉臺50圍繞軸線B-B，連續地 或者以0.1°，尤其是0.18。的規則脈衝旋轉至少360。的角度。
用於使轉臺沿著軸線D-D'移動的裝置72包括，例如螺杆螺母系統，或 齒輪齒條系統。
裝置72適於使轉臺50在其縮回位置和各個中心有效位置之間迅速移動。
此外，裝置72還適於使轉臺50在各個中心有效位置附近精確地連續或 以O.Olmm的脈衝移動位移p。
滑動裝置52的移動裝置74適於使滑架64沿著杆62朝支架14的凹槽 12移動。該裝置74適於使接觸面42以預定的力，例如以10g至50g之間的 力壓靠在凹槽12的底部。
用於使杆38移動的裝置76適於使杆38和傳感器葉片40垂直地沿著軸 線A-A'移動，以使得無論支架相對於水平面發生何種局部傾斜，傳感器葉片 40均可與凹槽保持接觸。
中央單元36包括用於控制旋轉驅動裝置70的控制裝置80、用於控制轉 臺50的軸線B-B'沿著軸線D-D，水平移動的控制裝置82、用於控制使滑動 裝置52移動的裝置74的控制裝置84、以及用於控制使杆38移動的裝置76 的控制裝置86。中央單元36還包括記錄裝置88，該記錄裝置88用於記錄 傳感器30的位置。
控制裝置80適於在檢測時操作旋轉驅動裝置70，以使得傳感器葉片在 圍繞並沿著支架移動時以0.1。的脈衝旋轉360°。
控制裝置82適於促動移動裝置72，以使得轉臺50在其縮回位置和與支 架緣18對應的各個有效位置之間移動。
根據本發明，控制裝置82還適於操作移動裝置72，以使得在檢測支架
1314的支架緣18時，當接觸面42圍繞支架14的支架緣18在凹槽12中移動 時，轉臺50能夠沿著軸線D-D'在其中心有效位置附近局部移動。
為此，在本發明的第一實施方式中，控制裝置82包括存儲裝置90，該 存儲裝置90用於存儲預定的曲線92，該曲線92是在檢測支架14的支架緣 18時，取檢測初始階段轉臺50的原始角位為基準，根據轉臺的旋轉角e確 定轉臺50的旋轉軸線B-B'在中心有效位置附近的位移p而形成的。例如， 該種曲線可以是圖4中顯示的正弦類型的曲線。
控制裝置82適於讀取存在於存儲裝置90中的數據，以對應於由控制裝 置80測得的轉臺50圍繞其軸線B-B'的每個旋轉角e ，通過移動裝置72使 轉臺50沿著軸線D-D'相對於中心有效位置移動相應的位移p。
記錄裝置88適於記錄檢測期間傳感器30的位置，具體地，記錄轉臺相 對於其初始基準位置的每一旋轉角e 、轉臺圍繞其軸線B-B'的旋轉角e 、在 滑架64沿著杆62移動時接觸面42相對於轉臺50的軸線B-B'的徑向位置p、 在杆38在套管66中沿著軸線A-A'移動時接觸面42的高度z、以及根據本 發明，轉臺50的軸線B-B，相對於基本處於夾子28中央的中心有效位置沿著 軸線D-D'的位移p。
參看圖5所示的流程圖，現在描述根據本發明的、在檢測設備10中用 於檢測支架14的支架緣18的檢測方法。
最初，轉臺50位於遠離夾子28的縮回靜止位置。待檢測的支架14插 入夾子28中，以相對於框架26固定。
然後，操作者開始檢測。中央單元36啟動用於使轉臺沿著軸線D-D'移 動的裝置82，以使得轉臺50從其靜止位置移動到第一中心有效位置，其中， 轉臺50的旋轉軸線B-B'基本位於夾子28和支架緣18的中心69處。
此時，如圖5中的步驟100所示，轉臺的旋轉角e相對於基準位置為0°。
隨後，在步驟104中，對於e的初始值和各個連續值e而言，控制裝置82以存儲在存儲裝置90中的曲線92為依據，確定與該e值對應的、轉臺 50的旋轉軸線B-B，相對於中心有效位置的位移p。
在步驟106中，控制裝置82根據步驟104得到的值p操作裝置72，以 使得轉臺50沿著軸線D-D'移動。
在圖2所示的實施例中，轉臺的軸線B-B'與e值等於0的中心基準位置 一致，如曲線92所示。
另一方面，在圖3所示的角e基本等於45。的實施例中，轉臺50已經朝 著左邊的部分22A移動了一個非零距離p，該距離p基本等於支架緣18的 中心69與外部22A之間距離的一半。
同時，如圖2所示，控制裝置84和控制裝置86分別操作使所述滑動裝 置徑向移動的裝置74和使所述杆垂直移動的裝置76，，以維持檢測葉片40 的接觸面42與凹槽12的底部接觸。
在步驟108中，記錄裝置88記錄轉臺50的旋轉角9 、接觸面42的徑 向位置p、接觸面42的高度z以及轉臺軸線B-B，的中心在框架26上相對於 基準位置的位移p。然後，在步驟109中，修正角e的位置，只要角e小於 360。即重複步驟104至步驟108。
根據本發明，對於轉臺圍繞軸線B-B'的每個旋轉角e來說，均由控制裝
置82操作移動裝置72，以使得在與接觸面42接觸的點上，由各個部分20A、 20B、 22B的法線與檢測葉片40的徑向軸線C-C'局部形成的角度a的值接 近於0° ，並且無論如何保持在-45°到+45°之間。
當角度e等於360°時，停止對支架緣18的檢測。隨後單元36計算支架 緣18的形狀，並傳送至打磨機16，以將透鏡加工成具有支架14的尺寸。
一旦這個完成，移動裝置72將轉臺50朝著第二支架緣18 (未顯示)移 動，以在第二支架緣18上的相似的方式執行檢測方法。
在第一個變型中，檢測設備10不具有存儲裝置90，該存儲裝置90用於存儲根據轉臺圍繞其軸線B-B，的旋轉角6來確定轉臺50沿著軸線D-D'的位 移p的預定曲線。
此外，控制裝置包括用於在檢測支架緣18時記錄傳感器30的多個在先 位置的裝置、以及用於僅對低於傳感器30在特定時刻所採取的角度e的角
度e計算支架的局部曲率的裝置。
因而，計算局部曲率的裝置適於確定傳感器30是否處於支架14的基本 線性區域中，或反之，處於拐角區域中，例如以獲得的同一支架14上的角
度e在最近十次變化期間的值d、 p、 p和z為基礎，計算支架的局部曲率半徑。
並且，控制裝置82包括用於根據計算的局部曲率來自動控制位移p的 裝置，該自動控制位移p的裝置還適於調節軸線B-B，與中心有效位置的距 離，以使得在檢測葉片40的軸線C-C，與位於接觸面42的接觸點上的支架的 法線之間形成的角a (該角a由局部曲率計算得出)維持在-45°和+45°之間。
從而，對每個角e來說，根據本發明的第二方法的實施包括，在根據預 定的控制規則獲得的數個之前得到的角度e和轉臺中心的位移p的值的基礎
上，計算支架14的局部曲率。
在第二個變型中，設備IO包括用於採集支架14的數字圖象以確定不如 檢測輪廓精確的、支架14的簡化輪廓的裝置。例如，簡化輪廓可以是二維 的，包括數個點，這些點比利用驅動裝置70使轉臺圍繞其軸線B-B，轉動360° 所必需的脈衝數量少。
控制裝置82包括用於根據由數字圖象確定的簡化輪廓來計算對應於每 個旋轉角e的轉臺中心的位置p。
因而，位移p可從簡化輪廓計算得到，例如，可通過使在檢測葉片40 的軸線C-C，與位於接觸面42的理論接觸點上的支架的簡化輪廓的法線之間 形成的角a的值維持在-45°和+45°之間，而從簡化輪廓計算得到。
16因此，根據本發明的第三方法包括採集支架緣18的數字圖象，然後在
對圖象進行數字處理的基礎上計算緣18的簡化輪廓，以及規定根據角e來
確定位移p的控制規則，以使在傳感器與簡化輪廓的法線之間形成的角(X維
持在-45°和+45°之間。
在第三種變型中，例如，通過快速地預先檢測支架緣18，並且同時在快 速檢測期間保持轉臺50的中心軸線不移動來確定簡化輪廓，或通過根據第 一控制規則移動該軸線來確定簡化輪廓。此外，該方法包括在快速預先檢測 時所確定的簡化輪廓的基礎上，規定根據角e來確定位移p的新控制規則。
如圖6所示，在另一種變型中，滑動裝置52被構建成可在圖6中右邊 所示的前進位置和圖6中左邊所示的縮回位置之間移動，其中，在前進位置， 檢測表面42和檢測葉片40在中央垂直平面P的第一側徑向伸出，該中央垂 直平面P通過轉臺的軸線B-B'並與滑架的移動軸線C-C'垂直，在縮回位置， 杆38、葉片40和接觸面42全部位於中央平面P第一側的相對一側。
滑動裝置52的此種結構允許檢測側部22A、 22B非常短的支架。
1權利要求
1. 一種用於檢測光學透鏡的支架(14)的檢測設備(10)，該檢測設備包括框架(26)，該框架(26)包括用於固定所述支架(14)的固定裝置(28)；轉臺(50)，該轉臺(50)安裝為能夠在所述框架(26)上圍繞第一軸線(B-B』)旋轉，所述第一軸線(B-B』)設置為基本垂直於所述支架(14)的平均準線表面；滑動裝置(52)，該滑動裝置(52)安裝為能夠在所述轉臺(50)上沿著基本垂直於所述第一軸線(B-B』)的第二軸線(C-C』)滑動；傳感器(30)，該傳感器(30)安裝為能夠在所述滑動裝置(52)中沿著基本平行於所述第一軸線(B-B』)的第三軸線(A-A』)滑動，所述傳感器(30)裝配有橫向檢測部件(40)，該橫向檢測部件(40)具有用於與所述支架(14)接觸的接觸面(42)；傳感器移動裝置(34)，該傳感器移動裝置(34)用於使所述傳感器(30)圍繞所述支架(14)的緣(18)移動，以在檢測所述支架時使所述接觸面(42)圍繞所述支架(14)移動，該傳感器移動裝置(34)包括用於驅動所述轉臺(50)圍繞所述第一軸線(B-B』)旋轉的旋轉驅動裝置(70)；以及轉臺移動裝置(72)，該轉臺移動裝置(72)用於使所述轉臺(50)在基本垂直於所述第一軸線(B-B』)的基本垂直平面上移動；其特徵在於，所述檢測設備(10)包括控制裝置(82)，該控制裝置(82)用於在檢測所述支架時控制用於使所述轉臺(50)在基本垂直於所述第一軸線(B-B』)的所述基本垂直平面上移動的轉臺移動裝置(72)，並適於在所述旋轉驅動裝置(70)驅動所述轉臺(50)圍繞所述第一軸線(B-B』)旋轉的同時，使所述轉臺(50)在基本垂直於所述第一軸線(B-B』)的所述基本垂直平面上在中心有效位置附近移動。
2. 根據權利要求1所述的檢測設備(10)，其特徵在於，用於使所述轉臺(50)在基本垂直於所述第一軸線(B-B')的所述基本垂直平面上移動的 所述轉臺移動裝置(72)包括用於驅動所述轉臺(50)沿著位於所述基本垂 直平面中的平移軸線(D-D')相對於所述框架(26)平移的裝置。
3. 根據權利要求1或2所述的檢測設備(10)，其特徵在於，用於控制 使所述轉臺在所述基本垂直平面上移動的所述轉臺移動裝置(72)的所述控 制裝置(82)包括存儲裝置(90)，該存儲裝置(90)用於存儲在檢測所述 支架時使得所述轉臺(50)在所述中心有效位置附近的位置(p)與所述轉 臺(50)圍繞所述第一軸線(B-B')的各個角位(e)相關聯的預定曲線。
4. 根據權利要求1或2所述的檢測設備(10)，其特徵在於，該檢測設 備(10)包括記錄裝置，該記錄裝置用於記錄在檢測所述支架(14)時所 述接觸面(42)的多個在先位置；以及計算裝置，該計算裝置用於在檢測同 一支架(14)期間，根據所述記錄裝置記錄的多個在先位置，為所述轉臺(50) 的各個角位(e )計算所述轉臺(50)在基本垂直於所述第一軸線(B-B') 的所述基本垂直平面上的連續位置。
5. 根據權利要求1或2所述的檢測設備(10)，其特徵在於，該檢測設 備(10)包括採集裝置，該採集裝置用於採集與所述支架(14)的簡化輪 廓相關的數據；以及計算裝置，該計算裝置用於根據由所述採集裝置採集的 簡化輪廓的數據，為所述轉臺(50)的各個角位(e)計算所述轉臺(50) 在基本垂直於所述第一軸線(B-B，)的所述基本垂直平面上的位置。
6. 根據權利要求5所述的檢測設備(10)，其特徵在於，所述採集裝置包括用於獲取所述支架的數字圖象的裝置。
7. 根據上述任一項權利要求所述的檢測設備，其特徵在於，所述滑動裝置(52)能夠在所述轉臺上沿著所述第二軸線(C-C，)在前進位置和縮回 位置之間平移移動，其中，在所述前進位置上，所述橫向檢測部件(40)的 接觸面(42)在中央平面(P)的第一側伸出，該中央平面(P)穿過所述第 一軸線(B-B')並垂直於所述第二軸線(C-C，)，在所述縮回位置上，所述 接觸面(42)全部位於所述中央平面(P)的第二側，該第二側與所述第一 側相對。
8. —種光學透鏡的支架(14)的檢測方法，其特徵在於，該檢測方法 包括以下步驟-將所述支架(14)設置在根據權利要求1至7中任一項所述的檢測設 備(10)的固定裝置(28)中；-對傳感器(30)的接觸面(42)進行定位，使所述接觸面(42)與所 述支架(14)接觸；-使所述傳感器(30)沿著所述支架(14)移動，包括在維持所述傳感 器(30)的接觸面(42)與所述支架(14)接觸的同時，使轉臺(50)圍繞 第一軸線(B-B，)旋 轉；以及在此旋轉期間-使所述轉臺(50)在基本垂直於所述第一軸線(B-B')的基本垂直平 面上在中心有效位置附近移動。
9. 根據權利要求8所述的檢測方法，其特徵在於，控制裝置(82)根 據預定曲線來控制用於使所述轉臺(50)在所述基本垂直平面上移動的轉臺 移動裝置(72)，所述預定曲線使得所述轉臺(50)圍繞所述第一軸線(B-B')的各個角位(e)與所述轉臺(50)在基本垂直於所述第一軸線(B-B，)的 所述基本垂直平面上的位置(p)相關聯，並且該預定曲線存儲在所述控制 裝置(82)的存儲裝置(90)中。
10. 根據權利要求8所述的檢測方法，其特徵在於，控制步驟包括在檢 測所述支架(14)時記錄所述傳感器(30)的多個在先位置，以及在檢測同 一個支架(14)期間，根據所記錄的多個在先位置，為所述轉臺(50)圍繞 所述第一軸線(B-B')的各個連續角位計算所述轉臺(50)相對於框架(26) 的位置。
11. 根據權利要求8所述的檢測方法，其特徵在於，該方法包括採集與 所述支架(14)的簡化輪廓相關的數據的步驟，控制步驟包括根據在所述採 集步驟中獲得的簡化輪廓的數據，為所述轉臺(50)圍繞所述第一軸線(B-B') 的各個角位計算所述轉臺(50)相對於框架(26)的位置。
全文摘要
設備(10)包括可圍繞第一軸線(B-B』)旋轉的轉臺(50)、安裝在轉臺(50)上的滑動裝置(52)和安裝為可在滑動裝置(52)中沿著基本平行於第一軸線(B-B』)的第三軸線(A-A』)滑動的傳感器(30)。該設備包括傳感器移動裝置(34)，以在檢測支架時使傳感器的接觸面(42)沿著支架(14)移動。該移動裝置(34)包括驅動轉臺(50)圍繞第一軸線(B-B』)旋轉的裝置(70)。該設備包括控制裝置(82)，該控制裝置(82)用於控制使轉臺在垂直於第一軸線(B-B』)的平面上移動的裝置(72)，並適於在檢測支架期間，當轉臺被驅動圍繞第一軸線(B-B』)旋轉時，使轉臺(50)在所述平面上移動。
文檔編號G01B11/24GK101487697SQ20091011873
公開日2009年7月22日 申請日期2009年1月4日 優先權日2008年1月2日
發明者J·J·魏代科契, J·M·默尼耶 申請人:布其蒙國際公司