調節成像系統的校準的製作方法
2023-10-17 19:58:59 1
專利名稱：調節成像系統的校準的製作方法
技術領域：
本發明涉及一種具有用於在記錄介質上形成圖像的多個成像頭的成像系統。特別地，本發明涉及該成像系統的對齊和校準。
背景技術：
使用各種成像系統在記錄介質上形成圖像。例如，使用計算機直接製版系統(也稱作CTP系統)在印刷版上形成圖像。然後，多個被成像的印刷版被供給到印刷機，在印刷機上，來自於印刷版的圖像被轉印到紙張或其他適當的表面上。為了保證圖像之間的準確套準，多個圖像相對於彼此準確地對齊是非常重要的。為了保證製成的印刷品具有理想的質量特性，每個圖像的幾何正確性以及沒有失真是非常重要的。圖像的幾何特性包括但不限於圖像部分的理想尺寸或者一個圖像部分與另一個圖像部分的理想對齊。形成在記錄介質上的圖像的幾何準確性取決於多個因素。例如，將介質安裝在支撐件上，朝介質引導成像光束以便在介質上形成圖像，通過這樣的方式在記錄介質上形成圖像。通常，在多次掃描過程中以成像光束掃描記錄介質來形成圖像。成像光束相對於記錄介質的定位準確性影響所形成的圖像的幾何正確性。每次掃描過程中成像光束的所需定位的偏差可能導致成像誤差。為了減小成像誤差，通常要校準成像系統。通常在記錄介質上形成測試圖像，分析測試圖像以確定偏差。通常，通過執行成像系統中的各種調節來校正與測試圖像的理想幾何特性相關的偏差。該調節在性質上可以是電子的或機械的。通常，在可包括各種圖像傳感器的專業和專用設備上執行測試圖像的分析。例如，可以使用CCD傳感器來捕捉測試圖像的各種圖像，以及可以使用控制器來分析捕捉的圖像並從中確定位置信息。專業和專用的校準系統是昂貴的，並且其本身需要規律的校準以保證其完善性。 在製造成像系統的工廠中通常採用這樣的系統。基於工廠的校準系統使現場的成像系統的校準複雜化。例如，需要在現場製作測試圖像，然後將其運輸到另一個地點進行分析。這增加了校準所需的時間，並增加了出現成像誤差的機會。共同未審美國專利公開2008/(^99470描述了一種用於改變成像機的校準的系統和方法，以便在機器服務於現場時調節幾何失真。美國專利公開2008/(^99470所述的機器包括單個成像頭。還需要能夠校準具有多個成像頭的成像機的有效和實用的方法和系統，以便校正通過這樣的多頭成像機形成的圖像的幾何失真。
發明內容
本發明涉及一種改變包括多個成像頭的成像系統的校準的方法。該方法包括基於所述多個成像頭的至少第二成像頭的位置，調節所述多個成像頭的第一成像頭的成像。 第一成像頭包括第一多個可尋址通道。調節第一成像頭的成像能夠包括調節所述第一多個通道中的至少一個通道的激活時機，調節第一成像頭的速度，以及調節第一成像頭的位置中的一種或多種調節。本發明的方法包括將第二成像頭設置在第一位置，並確定對第一成像頭的成像進行的第一調節。然後對第二成像頭的不同位置重複該步驟。使用插值來獲得對通過物理方式確定的第二成像頭的位置之間的那些第二成像頭的位置所需進行的調節。對第一成像頭進行的調節與第二成像頭的位置一起被輸入查找表中，該查找表可用於校正第一成像頭的成像。該方法可以延伸到具有多於兩個成像頭的成像裝置。
通過所附的非限制性附圖來說明本發明的實施例和應用。附圖用於說明本發明的觀點，可能不是按比例繪製。圖1是根據本發明的示例性實施例的成像裝置的部分示意圖；圖2是顯示根據本發明的示例性實施例的方法的流程圖；圖3是待形成在記錄介質上的目標圖像的示意性平面圖；圖4是圖3的目標圖像的示意性平面圖，其形成在安裝在介質支撐件上的記錄介質上；圖5A顯示成像光束的投影點的子掃描偏差的可能原因；圖5B顯示成像光束的投影點的主掃描偏差的可能原因；以及圖6是顯示根據本發明的示例性實施例的方法的流程圖。
具體實施例方式通過以下描述，呈現特定的細節，從而為本領域技術人員提供更透徹的理解。但是，為了避免不必要導致公開的內容不清楚，沒有詳細顯示或描述公知的元件。相應地，說明書和附圖應被理解為說明性而非限制性的。圖1示意性地顯示了根據本發明的示例性實施例的用於在記錄介質17上形成圖像19A的裝置10。裝置10包括介質支撐件12，在本例中介質支撐件12包括外鼓配置。本發明的其他示例性實施例可以包括其他形式的介質支撐件，例如內鼓配置或平面配置。記錄介質17被支撐在介質支撐件12的表面13上。記錄介質17的一個或多個邊部由夾具 28A和^B固定至表面13。本發明的其他實施例可以通過其他方法將記錄介質17固定至介質支撐件12，包括但不限於在表面13和記錄介質17之間設置低壓源。裝置10包括成像頭16，成像頭16可相對於介質支撐件12移動。在本發明的這個示例性實施例中，成像頭16安裝在可移動託架18上。託架18相對於支撐件20移動的方式是成像頭16沿著與介質支撐件12的鼓的軸對齊的路徑移動。在本發明的這個示例性實施例中，成像頭16沿著與子掃描軸M對齊的路徑移動。裝置10至少還包括一個成像頭46，成像頭46配備有傳感器62和發光體65，並可相對於介質支撐件12移動。在本發明的這個示例性實施例中，成像頭46安裝在可移動託架48上。託架48相對於支撐件20移動的方式是成像頭46沿著與介質支撐件12的鼓的軸對齊的路徑移動。在本發明的這個示例性實施例中，成像頭46沿著與子掃描軸M對齊的路徑移動。
介質支撐件12相對於支撐件20轉動。運動系統22用於提供成像頭16與介質支撐件12之間的相對運動。運動系統22 (其可包括一個或多個運動系統)可以包括要求的運動所需的任何適當的基本推進器。在本發明的這個示例性實施例中，運動系統22用於沿與主掃描軸26對齊的路徑移動介質支撐件12，同時沿與子掃描軸M對齊的路徑移動成像頭 16和成像頭46。引導系統32用於引導託架18和託架48，二者均獨立運動。託架18在傳動構件33的作用下運動，託架48在傳動構件34的作用下運動。在本發明的這個示例性實施例中，傳動構件33和34包括精密絲槓。本領域技術人員可以意識到，根據本發明可以使用其他形式的運動。例如，成像頭16和46可以是靜止的，而介質支撐件12是運動的。在其他情況下，介質支撐件12是靜止的，而成像頭16和46是運動的。在另外的情況下，成像頭16和46以及介質支撐件12都是運動的。一方面，成像頭16和46，或者另一方面，介質支撐件12，或者成像頭16和46以及介質支撐件12三者，可以沿著相應的路逕往復運動。 還可以使用獨立的運動系統來操作裝置10內的不同系統。成像頭16和46包括輻射源(未顯示)，例如雷射器。可以控制成像頭16和46引導能夠在記錄介質17上形成圖像19A的一個或多個成像光束21 (在圖5A中為成像頭16 顯示了成像光束21)。由成像頭16生成的成像光束21掃描過記錄介質17，同時根據指定待寫入的圖像的圖像數據被進行圖像方面的調製。適當地驅動一個或多個成像通道，以便在需要形成圖像部分的位置生成具有活動強度水平的成像光束21。驅動不與圖像部分對應的成像通道，以便對相應的區域不進行成像。以同樣的方式操作成像頭46。可以通過不同的方法在記錄介質17上形成圖像19A。例如，記錄介質17可以包括圖像可變表面，其中當被成像光束照射以形成圖像時，可變表面的性質或特性被改變。可以使用成像光束來燒蝕記錄介質17的表面，以形成圖像。成像光束可用於輔助圖像形成材料轉移到記錄介質17的表面上以形成圖像。成像頭16和46可以包括以陣列形式設置的多個通道。成像通道的陣列可以包括成像通道的一維或二維陣列。成像光束可以穿越從輻射源到記錄介質的直接路徑，或者可以被一個或多個光學元件朝記錄介質偏轉。通道組可形成圖像掃描帶，該圖像掃描帶的寬度與給定掃描中被成像的第一像素和被成像的最後一個像素之間的距離有關。記錄介質17通常很大，難以在單個被成像的掃描帶中被成像。通常形成多個被成像的掃描帶以完成記錄介質17上的圖像。控制器30可以包括一個或多個控制器，其用於控制裝置10的一個或多個系統，所述系統包括但不限於介質支撐件12和託架18和48所使用的各種運動系統22。控制器30 還控制介質處理機構，該介質處理機構能夠分別啟動介質17在介質支撐件12上的加載或者從介質支撐件12上的卸載。控制器30還能夠向成像頭16和46提供圖像數據37，並根據該數據控制成像頭16和46發出成像光束21。可以利用各種控制信號或通過執行各種方法來控制各種系統。控制器30是可編程的且可以被配置為執行適當的軟體，且可以包括一個或多個數據處理器以及適當的硬體，所述硬體包括以下非限制性的實例可存取存儲器、 邏輯電路、驅動器、放大器、A/D和D/A轉換器、輸入/輸出埠等。非限制性地，控制器30 可以包括微處理器、單片機、計算機的CPU或任何其他適當的微控制器。控制器30可以與材料處理系統相關聯，但是並非必須與控制成像系統的操作的控制器為相同的控制器。特別地，在大型機器中，引導系統32和傳動構件33、34較長，在成像頭16和46的重量的作用下可能顯著變形。因此，系統的第一成像頭16的幾何校正受到第二成像頭46的位置的影響。雖然兩個成像頭16和46的預計運動是充分獨立的，但是由第二成像頭46 的定位所導致的第一成像頭16的實際定位和定向的定位和定向誤差是顯著的，對於第一成像頭16的給定位置，必須針對第二成像頭46的所有可能位置對該定位和定向誤差進行補償。因此，對第二成像頭46重複該過程，必須以第一成像頭16的位置為函數補償第二成像頭46的誤差。可以為每個成像頭選擇有代表性的位置集，對兩個成像頭16和46的這些位置執行幾何校正。然後可以通過插值以良好的近似值來獲得所選位置之間的位置的校正。圖2顯示了根據本發明示例性實施例的方法的代表性流程圖，所述方法在考慮第二成像頭46的定位所引起的偏差的同時校準圖像記錄裝置10的第一成像頭16，然後在考慮第一成像頭16的定位所引起的偏差的同時校準圖像記錄裝置10的第二成像頭46。參考圖1中顯示的裝置10來描述圖2中說明的各個步驟。其僅用於說明的目的，在本發明中可以使用任何其他適當的成像裝置。如圖2所示，在步驟100，本發明的方法首先將第二成像頭46定位在已知的N個位置中的第一位置，其中N是對在第一成像頭16所執行的成像中由第二成像頭46的變化定位所引起的偏差進行校正的第二成像頭46的不同位置的整數。在步驟110，使用裝置10在記錄介質17上形成目標圖像。在步驟110可以使用各種目標圖像。圖3中顯示了一個這樣的圖像。在本例中，目標圖像40包括由目標單元41 構成的規律的柵格圖案，其中目標單元41由具有理想尺寸的圖像邊界所限定。在本實施例中，目標單元41是正方形的。目標圖像40被表示為與記錄介質17的各個邊理想地對齊。 特別地，希望形成與邊35距離X且與邊36距離Y的目標圖像40。希望形成與主掃描軸沈和子掃描軸M具有對齊關係的目標圖像40。目標圖像40由圖像數據37表示(見圖1)，並被提供給控制器30以在記錄介質 12上形成圖像。控制器30控制成像頭16和46，以便引導成像光束21在掃描過記錄介質 17時形成圖像19A。在本發明的這個示例性實施例中，控制器30控制運動系統22，以便在成像過程中生成一方面的成像頭16和46與另一方面的記錄介質17之間的相對運動。在本發明的這個示例性實施例中，成像頭16和46以配合介質支撐件12的轉動的方式平移， 從而形成螺旋方向的圖像掃描帶。圖4示意性地顯示了響應圖3的目標圖像40的理想成像，對第一成像頭16在記錄介質17上形成的圖像19進行校準的例子。雖然為清楚起見，在此挑選了第一成像頭16， 但是本發明也適用於成像頭46。記錄介質17顯示為安裝在介質支撐件12的表面13上。 為清楚起見，記錄介質17和介質支撐表面13被繪製在「平」方向中。應理解，在本發明的這個示例性實施例中，介質支撐表面實質上是圓柱形的。如圖4所示，校準圖像19不精確對應於目標圖像40。在校準圖像19的不同區域中存在各種成像失真。例如成像單元42A、 42B、42C和42D的成像單元(總稱為成像單元)不精確對應於目標單元41的圖案。例如， 成像單元42A相對於成像單元42B沿主掃描方向偏移。圖4還顯示與成像單元42C相比， 成像單元42D在尺寸上被拉長。此外，與目標單元41相比，所有的成像單元42A-42D沿子掃描方向在尺寸上被拉長。圖4還顯示成像單元42A-42D的整體比例與目標單元41所要求的比例不匹配。圖4還顯示校準圖像19從邊35和36分別移動距離和Y1，這與理想距離X和Y不同。出現位置和尺寸失真的原因有多種。例如，整體縮放比例問題可能源於溫度變化。 一個或多個記錄介質17、介質支撐件12和諸如傳動構件33的各種傳動部件可能包括具有不同的熱膨脹係數的不同材料組分。不同的膨脹率可能導致縮放比例的問題。託架18沿形狀不完美的引導系統32移動。引導系統32可包括各種適當的導軌和引導構件，引導構件可包括滑動或轉動移動軸承元件。即使使用高精度部件，也可能存在缺陷。機械因素，例如引導構件與導軌之間的間隙、導軌的直度以及支撐件20中的下凹可能導致成像缺陷。當託架18沿著與子掃描軸M對齊的路徑移動時，機械因素可能使第一成像頭16 受到各種附加的運動，這種附加的運動對成像光束21在記錄介質16上的投影產生不利影響。參考圖5A和5B可看出成像缺陷。圖5A顯示成像光束21在記錄介質17上的投影中的子掃描偏差的可能原因。在這種情況下，在託架18沿與子掃描軸M對齊的路徑移動時， 託架18沿偏航方向27承受小的偏航轉動(為清楚起見被誇大)。這導致成像光束21在記錄介質17上的投影變化，從而可能導致形成的圖像沿子掃描方向的失真。出現託架18的偏航運動的原因有多種，包括引導系統32中的間隙。此外，其他部件中的缺陷可導致子掃描偏差。例如，傳動構件33可包括精密絲槓，該精密絲槓在沿其長度的不同點處可能具有微小的螺距不規則性。螺距不規則性可導致形成的圖像沿子掃描方向的失真。圖5B顯示成像光束21在記錄介質17上的投影中的主掃描偏差的可能原因。雖然我們僅挑選了第一成像頭16，但是該偏差和校正方法也適用於成像頭46。主掃描偏差可能來自於不同的原因。例如，當託架18沿引導系統32移動時，其可能承受與主掃描軸沈對齊的小位移。該小位移可能由各種因素導致，包括引導系統32中的間隙、導軌中的偏差 (包括軌道中的重力性下凹和支撐件20中的重力性下凹)。當託架18承受沿俯仰方向四的小俯仰轉動時(為清楚起見被誇大)，以及當託架18沿與子掃描軸M對齊的路徑移動時，可能引起主掃描偏差。俯仰位移可能由多種原因導致，包括引導系統32中的間隙。第一成像頭16自身的質量引起由第一成像頭16所形成的圖像沿主掃描方向的位移，特別是在大型機器中更是如此。由第二成像頭46的定位所引起第一成像頭16所生成的圖像中的主要失真與沿主掃描方向的圖像的位移相同，是由於第二成像頭46的質量引起的。本領域技術人員可以理解，所述的圖像失真實質上是示例性的，也可能出現其他類型的失真。在圖1的雙成像頭設置中，與第一成像頭16相關的圖像失真對於第二成像頭 46的不同位置是不同的。雖然由於託架48和第二成像頭46的重量，大多數變化出現在主掃描方向上，但是影響不限於主掃描方向，可能出現一些子掃描方向的位移。類似地，在圖1 的雙成像頭設置中，與第二成像頭46相關的圖像失真對於第一成像頭16的不同位置是不同的。在步驟120，調節裝置10以校正第一成像頭16所生成的校準圖像19中的偏差。 可以通過各種方法校正偏差。在本發明的一些示例性實施例中，可以通過調節成像通道的激活時機校正主掃描失真，例如成像單元42A和42B之間的偏移。雖然用於形成或不形成圖像像素的給定成像通道的激活取決於圖像數據，但是給定通道的激活時機是可調的。可以使用不同通道的激活時機的調節來延遲或提前用於形成或不形成一個或多個圖像像素的那些通道的激活。可以控制不同的通道以便使成像掃描帶的第一部分沿主掃描方向相對於成像掃描帶的其他部分偏移。給定的成像掃描帶的一部分可以相對於額外成像掃描帶的一部分偏移。成像掃描帶的一部分可以包括整個成像掃描帶。當第一成像頭16沿著與子掃描軸M對齊的路徑移動時，可以在不同的位置調節第一成像頭16的不同通道的激活時機。通過在這些位置的激活時機調節，可以校正在這些不同位置處形成的圖像的失真。在本發明的這個示例性實施例中，獨立於圖像數據37進行激活時機的改變。可以對控制器30 進行編程，以便向第一成像頭16提供信號以調節其成像通道的激活時機。運動系統22可以包括適當的傳感器，傳感器可以生成表示第一成像頭16和/或介質支撐件12的位置的各種信號。在本發明的一些示例性實施例中，控制器30可以使用傳感器信號來調節不同通道的激活時機。還可以通過執行激活時機調節來調節校準圖像19距離邊36的位置。可以通過各種方法來校正子掃描失真，例如伸長的成像單元42D。在本發明的一些示例性實施例中，調節託架18的運動。在本發明的一些示例性實施例中，調節傳動構件33 的運動。調節託架18或者傳動構件33的運動可以包括調節託架18或者傳動構件33的速度。例如，在基於鼓的成像系統(例如裝置10)中，當託架18平移同時介質支撐件12旋轉時，形成螺旋形或螺旋狀的圖像掃描帶。通過調節託架18或者傳動構件33的速度，可以調節螺旋形掃描帶的螺距，從而將圖像縮放到理想的尺寸。在本發明的一些示例性實施例中， 可以使用勻速調節來調節所形成的圖像的整體尺寸。在本發明的一些示例性實施例中，可以使用非勻速調節來調節所形成的圖像的一部分的尺寸。例如，在沿託架18的運動路徑的不同點處調節傳動構件33的速度可用於校正與這些點相對應的圖像偏差。在沿託架18的運動路徑的不同點處調節傳動構件33的速度可用於校正螺距差異。在沿託架18的運動路徑的不同點處調節傳動構件33的速度可用於校正頭偏航位移。也可以進行調節以調節子掃描方向的圖像的位置。例如，調節可用於調節校準圖像19距離邊35的位置。可以對控制器30進行編程，以便向運動系統22提供信號以調節託架18或者傳動構件33的移動。在本發明的一些示例性實施例中，控制器30可以使用傳感器信號來調節託架18或者傳動構件33的移動。在步驟130，確定對於第二成像頭46的全部N個位置，是否已經對第一成像頭16 的成像中的偏差進行了校正。如果是，方法前進到步驟150。否則，在步驟140，計數器η被增加到η+1，對於第二成像頭46的該新位置執行步驟120所述的校正校準過程。重複該過程，直到對於第二成像頭46的所有選定位置，第一成像頭16的成像已經被校正，此時，步驟 130記錄結果η = N。在步驟150，通過插值來確定在η與η+1之間的第二成像頭46的位置處對第一成像頭16的成像進行的校正。該校正可以被存儲為查找表，或者被存儲為校正算法或函數。 現在，可以對第一成像頭16的不同位置重複所述方法，從而對於第一成像頭16的每個位置，對於第二成像頭46的所有可能位置的成像校正是已知的。本發明的方法可以延伸到具有多於兩個成像頭的成像系統，在這種情況下，必須對於多於一個的其他成像頭的位置對給定成像頭的成像進行調節。通過操作兩個成像頭16和46使其總是沿子掃描軸M處於已知的相對位置關係中，可以減小操作的複雜性。這樣，僅要求兩個成像頭16和46的校正是正在被校準的特定成像頭的位置的函數，而另一個成像頭的位置可通過函數關係獲知，即使其與第一成像頭的距離不是固定距離。這減少了對所涉及的任何查找表的訪問。
在本發明的一個實施例中，託架18和48並不是沿子掃描方向連續前進以使成像頭16和46運行螺旋形路徑的，相反，託架18和48移動到離散的子掃描位置並且介質支撐件12旋轉從而使成像頭16和46運行圓形路徑。這被稱作「分步重複」系統。通過調節指示託架18和48所要遷移的位置，而不是通過調節託架18和48的子掃描速度，來執行「分步重複」系統的成像頭16和46的成像調節。共同未審美國專利公開2008/(^99470描述了一種通過考慮幾何失真來調節成像校正從而調整裝置10的校準的方法，其全部內容被包含於本文。為此，永久參考特徵50被設置在介質支撐件12的表面13上。在圖6所示的本發明的實施例中，使用發光器55和傳感器52來檢測第一成像頭16的位置處或附近的參考特徵50，通過這種方式確定位於特定的子掃描位置的第二成像頭46所導致的位於給定子掃描位置的第一成像頭16的成像校正。 控制器30比較參考特徵50的新確定的位置與先前確定的位置。如果在該比較過程中，注意到檢測到的參考特徵50的預期位置的變化，則控制器30根據該變化調節成像校正。從而獲得參考特徵50的確定的位置。然後，比較參考特徵的確定的位置與相同參考特徵的預期位置。從確定的位置和預期位置之間的差異推斷出位於給定的子掃描位置的成像頭16 的成像校正。在第一成像頭16被保持在給定的子掃描位置時，對第二成像頭46的不同位置重複該方法。對位於其他子掃描位置的第一成像頭16重複該過程。通過相同的方法，對於第二成像頭46的所有可能位置，可以進行由於第一成像頭16位於不同的可能位置而導致的第二成像頭46的成像校正。該方法包括通過互換第一成像頭16和第二成像頭46的角色來應用相同的過程， 從而在每種情況下對於第一成像頭16的不同位置在一組子掃描位置上為成像頭46提供成像校正。在這種情況下，使用了發光體65和傳感器62。圖6是本發明的方法的該實施例的流程圖。在步驟200，第二成像頭46位於第η 個位置，其中η = 1，2，…N。在步驟210，使用傳感器52確定參考特徵50距離預期位置的偏差。在步驟220進行成像頭16的圖像校正，以校正第一成像頭46的定位所引起的參考特徵50的偏差。在步驟230，確定是否對於第二成像頭46的所有N個位置已經對第一成像頭16的成像偏差進行了校正。如果是，則該方法前進到步驟250。否則，在步驟Μ0，計數器η被增加到η+1，並對第二成像頭46的新位置執行步驟210和220所描述的校正校準過程。重複該過程，直到對於第二成像頭46的所有選定位置已經對第一成像頭16的成像進行了校正， 此時，步驟230記錄結果η = N。在步驟250，通過插值確定在η和η+1之間的第二成像頭46的位置處對第一成像頭16的成像進行的校正。該校正可以存儲為查找表，或者可以存儲為校正算法或函數。現在，可以對於第一成像頭16的不同位置重複該方法，從而對於第一成像頭16的每個位置， 對於第二成像頭46的所有可能位置的成像校正是已知的。通過同樣的方法，對於第二成像頭46的所有可能位置，執行處於不同可能位置的第一成像頭16所導致的第二成像頭46的成像校正。在本發明的各個實施例中，傳感器52和62可以包括用於檢測參考特徵50的任意適當的傳感器，在本發明的一些示例性實施例中，發光體陽和65用於在檢測參考特徵50 時照亮參考特徵50。在本發明的一些實施例中，使用成像頭16發出的一個或多個成像光束21檢測參考特徵50。還可以採用來自於成像頭46的成像光束來檢測參考特徵50。參考特徵50可以包括適於被傳感器52和62檢測的各種形狀和形式。非限制性地，參考特徵 50可以包括各種套準標記或基準標記。參考特徵50可以包括十字線、菱形、圓形等。部件列表
10裝置
12介質支撐件
13表面
16成像頭
17記錄介質
18託架
19A圖像
19校準圖像
20支撐件
21成像光束
22運動系統
24子掃描軸
26主掃描軸
27偏航方向
^A夾具
^B夾具
四俯仰方向
30控制器
32引導系統
33傳動構件(用於託架18)
34傳動構件(用於託架48)
35邊
36邊
37圖像數據
40目標圖像
41目標單元
42A成像單元
42B成像單元
42C成像單元
42D成像單元
46成像頭
48託架
50參考特徵
52傳感器
55發光體
62傳感器
65發光體
100步驟
110步驟
120步驟
130步驟
140步驟
150步驟
200步驟
210步驟
220步驟
230步驟
240步驟
250步驟
X距離
X1距離
Y距離
Y1距離。
說明書9/9頁
1權利要求
1.一種改變包括多個成像頭的成像系統的校準的方法，所述方法包括基於所述多個成像頭的至少第二成像頭的位置，調節所述多個成像頭的第一成像頭的成像。
2.根據權利要求1所述的方法，其中所述第一成像頭包括第一多個可尋址通道，以及調節所述第一成像頭的成像包括調節所述第一多個通道中的至少一個通道的激活時機。
3.根據權利要求1所述的方法，其中調節所述第一成像頭的成像包括調節所述第一成像頭的位置和速度的至少其中之一。
4.根據權利要求1所述的方法，包括基於所述多個成像頭的至少第一成像頭的位置， 調節所述多個成像頭的第二成像頭的成像。
5.根據權利要求1所述的方法，其中對所述第一成像頭進行的調節以及所述至少第二成像頭的位置被輸入查找表中。
6.根據權利要求1所述的方法，包括將所述至少第二成像頭設置在第一位置，並確定對所述第一成像頭的成像進行的第一調節；將所述至少第二成像頭設置在第二位置，並確定對所述第一成像頭的成像進行的第二調節；以及通過在所述第一調節和所述第二調節之間進行插值，確定對所述第一成像頭的成像進行的第三調節。
7.根據權利要求1所述的方法，包括通過解析關係和算法的至少其中之一，將對所述第一成像頭進行的調節與所述至少第二成像頭的位置相關聯。
8.根據權利要求1所述的方法，其中對所述第一成像頭進行的調節是根據檢測到的參考特徵的預期位置的變化。
9.根據權利要求1所述的方法，其中對所述第一成像頭進行的調節是根據所述第一成像頭所寫特徵的預期位置的變化。
10.一種調節成像系統的校準以校正幾何失真的裝置，包括支撐件；用於接收記錄介質的鼓，所述鼓可轉動地安裝在所述支撐件上；多個託架和成像頭，每個託架具有一個相連的成像頭，每個託架安裝在支撐件上並用於沿著平行於鼓的軸的路徑移動相連的成像頭，同時引導來自於相連的成像頭的多個可尋址通道的成像光束以便在記錄介質上形成圖像；以及控制器，所述控制器包括查找表，所述查找表包含將對多個成像頭的第一成像頭的成像進行的調節與多個成像頭的至少第二成像頭的位置相關聯的信息。
11.根據權利要求10所述的裝置，其中所述調節是以下調節的至少其中之一與所述第一成像頭相關聯的託架的速度的調節；所述第一成像頭的多個可尋址通道的至少其中之一的激活時機的調節；以及所述第一成像頭的位置的調節。
全文摘要
本發明涉及一種調節成像系統的校準以校正幾何失真的裝置(10)，包括用於接收記錄介質(17)的轉動鼓；多個託架(18)，每個託架具有包含多個可尋址成像通道的成像頭(16)；控制器，所述控制器被編程有查找表、解析關係或算法，所述查找表、解析關係或算法基於其他成像頭的位置將對給定成像頭的成像進行的校正調節相關聯。本發明描述用於獲得查找表、解析關係或算法的方法。該方法特別涉及大型成像系統。
文檔編號H04N1/00GK102439961SQ201080021987
公開日2012年5月2日 申請日期2010年5月7日 優先權日2009年5月29日
發明者A·沃內斯, G·西爾頓 申請人:伊斯曼柯達公司